专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]接触高速胶阀-CN202022705532.9有效
  • 陈晓峰;陶军军 - 苏州特瑞特机器人有限公司
  • 2020-11-20 - 2021-07-30 - B05C5/02
  • 本实用新型公开一种非接触高速胶阀,包括具有容置腔的阀本体、压杆、摆动杆、撞针和进胶机构,所述进胶机构安装于阀本体的下端面,所述阀本体的容置腔内具有一压电陶瓷堆栈柱体;所述阀本体上部安装有一旋调组件,所述压杆左端上表面具有一上凸条,所述压杆右端下表面与挂架之间设置有第一弹簧;所述压电陶瓷堆栈柱体位于压杆、摆动杆之间且靠近左端一侧,压电陶瓷堆栈柱体上端与压杆靠近其左端处接触,所述压电陶瓷堆栈柱体下端面的凹槽供摆动杆的定位凸条嵌入并可旋转地连接
  • 接触高速点胶阀
  • [实用新型]一种高精确度三接触硅片承载盘-CN201922041347.1有效
  • 许震宇 - 苏州飞鹊精密机械有限公司
  • 2019-11-24 - 2020-10-30 - H01L21/673
  • 本实用新型公开了一种高精确度三接触硅片承载盘,包括承载盘本体、承载盘固定槽、硅片容纳穴、接触柱,所述硅片容纳穴数量为八个,所述接触柱高出硅片容纳穴底面0.5mm,所述每个硅片容纳穴中点接触柱的数量为三个通过接触柱高出硅片容纳穴底面0.5至1.0mm,每个硅片容纳穴中点接触柱的数量为三个,呈等边三角形分布,使硅片和承载盘为三接触,避免硅片出现翘曲,保证硅片的平面度,由于接触面积变小,可以提高硅片的纯度
  • 一种精确度三点式接触硅片承载
  • [发明专利]用于补偿CMM接触测头的三角形行为的方法-CN201510598644.X有效
  • 波·佩特尔松;帕斯卡尔·乔迪尔 - 赫克斯冈技术中心
  • 2015-09-18 - 2018-09-25 - G01B21/00
  • 用于补偿CMM接触测头的三角形行为的方法。利用包括接触测头的CMM补偿与要测量物体处的测量的测量有关的测量误差的方法,包括:在CMM的测量空间中的已知位置处设置已知形状和尺寸的三维参照体;在参照体处限定要测量的多个参照;根据多个参照沿限定的接触方向用接触测头接触参照体并确定多个参照的位置;以及基于参照体的形状和尺寸及参照的位置导出接触测头的三角形误差信息,该误差信息提供与接触测头的相应接触方向有关的误差值。利用接触测头对要测量物体处的期望测量执行的测量通过以下步骤补偿:向限定测量方向分配对应接触方向,该测量方向根据利用接触测头接近物体的方向限定;考虑与分配的接触方向有关的误差值。
  • 用于补偿cmm接触式测头三角形行为方法
  • [发明专利]一种考虑测头半径的复杂曲面测量云数据配准方法-CN202211344520.5在审
  • 程云勇;覃海波;林昇;冶文广;窦浩;蔺田苗;范欣欣 - 西北工业大学
  • 2022-10-31 - 2023-03-14 - G06T7/30
  • 本发明公布了一种考虑测头半径的复杂曲面测量云数据配准方法,用于实现复杂曲面接触测量与非接触测量数据高精度配准,云配准过程包括以下步骤:步骤一:数据预处理:对接触测量和非接触测量数据进行预处理,首先去除两种原始点云数据中的离群噪;对非接触测量数据进行下采样,降低点的密度,提高算法运行效率;步骤二:数据粗配准:以预处理后的接触测量云作为目标点云,非接触测量云作为源点云,采用SAC‑IA配准算法对源点云数据进行变换,得到粗配准转换矩阵,利用所述粗配准转换矩阵对所述源点云数据进行变换而得到粗配准后的云数据;步骤三:数据精配准:采用基于对应点距离均方差改进的迭代最近点算法对所述粗配准后的云数据进行多次迭代本发明避免了复杂曲面接触测量数据测头半径补偿带来的补偿误差,提出了一种基于对应点距离均方差的改进迭代最近优化算法用于精配准,实现较精准、快速的复杂曲面接触测量与非接触测量云数据高精度配准。
  • 一种考虑半径复杂曲面测量数据方法
  • [发明专利]探针补系统及方法-CN201310559452.9在审
  • 张旨光;吴新元;杨宗涛 - 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
  • 2013-11-12 - 2015-05-20 - G01B11/00
  • 一种探针补系统,包括探针测量模块、计算模块、影像获取模块及输出模块。利用上述模块可根据多个标志建立接触探针的三维坐标系统并确定标志及球心的初始坐标;利用该接触探针接触待测产品时,拍摄所述接触探针的影像;计算所述影像中标志的二维坐标,并将该二维坐标转换为三维坐标;确定所述标志的变化参数,及根据所述球心在所述接触探针的三维坐标系统中的初始三维坐标及所述标志的变化参数,确定所述球心的当前坐标;及输出所述球心的当前坐标。本发明还提供一种探针补方法。利用本发明可对产品的云进行修补。
  • 探针系统方法

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