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[发明专利]一种发光材料的检测方法-CN201711379300.5在审
发明人：谷亚男 -专利权人：大连智讯科技有限公司
申请日： 2017-12-20 - 公布日： 2018-06-19 - 主分类号： G01N23/207 文献下载
摘要：本发明提供一种发光材料的检测方法，包括：(1)取待测的发光材料，进行研磨；(2)对发光材料进行XRD检测：将研磨后的发光材料置于XRD检测仪中进行检测，得到发光材料的XRD图谱，将XRD图谱与标准卡片进行比对，确定发光材料的基质成分；(3)对发光材料进行激发光谱检测：将研磨后的发光材料置于荧光光谱仪中进行激发光谱检测，得到发光材料的激发光谱；(4)对发光材料进行发射光谱检测：将研磨后的发光材料置于荧光光谱仪中进行发射光谱检测，得到发光材料的发射光谱；(5)对发光材料的激发光谱和发射光谱进行分析，确定发光材料的掺杂成分以及发光性质。本发明方法能够减小发光材料检测误差、提高实验效率。
发光材料检测发射光谱激发光谱研磨荧光光谱仪标准卡片发光性质检测误差实验效率检测仪比对基质减小掺杂分析

[发明专利]一种长余辉材料的检测方法-CN201711379299.6在审
发明人：谷亚男 -专利权人：大连智讯科技有限公司
申请日： 2017-12-20 - 公布日： 2018-05-08 - 主分类号： G01N23/20 文献下载
摘要：本发明提供一种长余辉材料的检测方法，包括：(1)取待测的长余辉材料，进行研磨；(2)对长余辉材料进行XRD检测；(3)对长余辉材料进行激发光谱检测和发射光谱检测：将研磨后的长余辉材料置于荧光光谱仪中分别进行激发光谱检测和发射光谱检测，得到长余辉材料的激发光谱和发射光谱；对长余辉材料的激发光谱和发射光谱进行分析，确定长余辉材料的发光性质；(4)对长余辉材料进行余辉发射光谱检测：将研磨后的长余辉材料置于荧光光谱仪中进行余辉发射光谱检测，得到长余辉材料的余辉发射光谱；对长余辉材料的余辉发射光谱进行分析，确定长余辉材料的余辉性质。
一种余辉材料检测方法

[发明专利]吸收归一化光致发光激发光谱仪-CN01130186.4无效
发明人：赖天树;林位株 -专利权人：中山大学
申请日： 2001-12-30 - 公布日： 2003-11-05 - 主分类号： G01N21/63 文献下载
摘要：本发明涉及一种光学仪器，是一种光致发光激发光谱仪。该光谱仪由连续光谱点光源、激发单色仪、宽光谱带低反射分束镜、样品架、光电转换探测器、样品发光收集透镜和发光色散单色仪等元件组成，可以实现一种新的激发光谱—吸收归一化光致发光激发光谱(ANPLES光谱)测量这种光谱直接反映被激发能级到被探测发光的初始能级的能量转移效率，是一种直接实验测量发光初始态能级的有力工具。非掺杂GaN薄模的黄光发射的实验结果表明了本方案的优异的效果。ANPLES光谱仪还具有吸收/透射光谱仪和发光光谱仪的功能，可以替代这两种传统的光谱仪。
吸收归一化光致发光激发光谱仪

[实用新型]吸收归一化光致发光激发光谱仪-CN02225087.5无效
发明人：赖天树;林位株 -专利权人：中山大学
申请日： 2002-01-04 - 公布日： 2003-01-15 - 主分类号： G01N21/63 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种光学仪器，是一种光致发光激发光谱仪。该光谱仪由连续光谱点光源、激发单色仪、宽光谱带低反射分束镜、样品架、光电转换探测器、样品发光收集透镜和发光色散单色仪等元件组成，可以实现一种新的激发光谱—吸收归—化光致发光激发光谱(ANPLES光谱)测量这种光谱直接反映被激发能级到被探测发光的初始能级的能量转移效率，是一种直接实验测量发光初始态能级的有力工具。非掺杂GaN薄模的黄光发射的实验结果表明了本方案的优异的效果。ANPLES光谱仪还具有吸收/透射光谱仪和发光光谱仪的功能，可以替代这两种传统的光谱仪。
吸收归一化光致发光激发光谱仪

[发明专利]球状荧光体、波长转换型太阳能电池封固材料、太阳能电池组件以及它们的制造方法-CN201410647652.4在审
发明人：冈庭香;山下刚;泽木琢 -专利权人：日立化成株式会社
申请日： 2011-11-18 - 公布日： 2015-04-01 - 主分类号： H01L31/042 文献下载
摘要：本发明的球状荧光体含有最大激发波长为400nm以上的荧光物质和包含所述荧光物质的透明材料，并且激发光谱中的340nm以上且380nm以下的波长区域内的激发光谱强度为所述球状荧光体在最大激发波长下的激发光谱强度的
球状荧光波长转换太阳能电池材料组件以及它们制造方法

[发明专利]球状荧光体、波长转换型太阳能电池封固材料、太阳能电池组件以及它们的制造方法-CN201180058560.7有效
发明人：冈庭香;山下刚;泽木琢 -专利权人：日立化成株式会社
申请日： 2011-11-18 - 公布日： 2013-08-07 - 主分类号： C09K11/06 文献下载
摘要：本发明的球状荧光体含有最大激发波长为400nm以上的荧光物质和包含所述荧光物质的透明材料，并且激发光谱中的340nm以上且380nm以下的波长区域内的激发光谱强度为所述球状荧光体在最大激发波长下的激发光谱强度的
球状荧光波长转换太阳能电池材料组件以及它们制造方法

[发明专利]吸收光谱扫描流动血细胞计数-CN201280031089.7有效
发明人： P·O·诺顿;陈永琴 -专利权人：贝克顿·迪金森公司
申请日： 2012-05-31 - 公布日： 2014-02-26 - 主分类号： G01N21/64 文献下载
摘要：本发明提供了用于分析流动流中的荧光粒子的激发光谱的系统和方法。该系统使用白光激光器和颜色分离光学器件来提供用于照明流动流的区域的空间分布的、连续的颜色光谱激发光系统。穿过探测区域的粒子横穿激发光的全色散光谱，并且在粒子穿过探测区域时连续地测量来自粒子的荧光发射。所测量的在激发光的每个波长下的荧光发射提供了粒子的激发光谱，该激发光在粒子穿过探测区域时改变通过激发光的全光谱。
吸收光谱扫描流动血细胞计数

[发明专利]一种长余辉材料磷光激发光谱测量系统及方法-CN201711242248.9有效
发明人：徐章程;覃焕昌 -专利权人：百色学院;天津天华光子科技有限公司
申请日： 2017-11-30 - 公布日： 2020-08-04 - 主分类号： G01N21/64 文献下载
摘要：本发明提供一种长余辉材料磷光激发光谱测量系统及方法，所述系统包括激发光源1、第一聚光元件2、电动光快门3、光栅分光单色器4、第二聚光元件5、光学长波通滤光片6、样品架7、第三聚光元件8、光学带通滤光片9系统中通过控制单元设定照射时间、激发波长、光强采集间隔等参数；所述方法中先测量不同激发波长下的磷光衰减曲线，再得到不同衰减时刻的磷光强度随激发波长的变化曲线，即磷光激发光谱曲线。本发明的一种长余辉材料磷光激发光谱测量系统及方法，比荧光激发光谱能提供更多的信息，有利于长余辉材料发光机理的研究。
一种余辉材料磷光激发光谱测量系统方法

[发明专利]吸收光谱扫描流动血细胞计数-CN201610070577.9有效
发明人： P·O·诺顿;陈永琴 -专利权人：贝克顿·迪金森公司
申请日： 2012-05-31 - 公布日： 2019-08-13 - 主分类号： G01N21/64 文献下载
摘要：本发明涉及吸收光谱扫描流动血细胞计数。本发明提供了用于分析流动流中的荧光粒子的激发光谱的系统和方法。该系统使用白光激光器和颜色分离光学器件来提供用于照明流动流的区域的空间分布的、连续的颜色光谱激发光系统。穿过探测区域的粒子横穿激发光的全色散光谱，并且在粒子穿过探测区域时连续地测量来自粒子的荧光发射。所测量的在激发光的每个波长下的荧光发射提供了粒子的激发光谱，该激发光在粒子穿过探测区域时改变通过激发光的全光谱。
吸收光谱扫描流动血细胞计数

[发明专利]基于微分谱的多组份三维荧光混叠光谱数据处理方法-CN201210438581.8有效
发明人：赵南京;于绍慧;张玉钧;肖雪;段静波;殷高方;马明俊;刘文清;刘建国 -专利权人：中国科学院安徽光学精密机械研究所
申请日： 2012-11-06 - 公布日： 2013-03-13 - 主分类号： G01N21/64 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于微分谱的有效解决多组份重叠三维荧光光谱的数据处理方法，通过对三维荧光光谱进行二维扩展并展开为激发光谱和发射光谱，分别计算激发光谱和发射光谱的微分谱；在对激发光谱和发射光谱进行微分谱计算处理前，对激发光谱进行三次样条插值，对发射光谱进行粗糙惩罚平滑处理；最后以独立分量分析实现多组份混合物的成分准确识别和单一成分提取；由此实现对多组份三维荧光严重重叠光谱的精确分离与成分的准确识别提取。本发明适用于所有以三维荧光光谱技术为分析手段的多组份三维荧光混叠光谱的数据处理，本发明将为三维荧光光谱技术的进一步应用提供了方法基础，有着非常广阔的应用前景。
基于微分多组份三维荧光光谱数据处理方法

[发明专利]光谱扫描测试装置及其测试方法-CN201510216938.1在审
发明人：张敏;顾泓;周桃飞;张志强;刘磊;田飞飞;郑树楠;徐科 -专利权人：中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
申请日： 2015-04-30 - 公布日： 2016-12-07 - 主分类号： G01N21/63 文献下载
摘要：本发明公开了一种光谱扫描测试装置，包括：用于向待测样品提供一预定温度的测试环境的制冷样品室；设置于制冷样品室中且用于承载待测样品的样品台，其以预定数量级的位移精度进行移动；至少包括显微镜及激光光源的显微光路系统，其中，激光光源发出的激光经由显微镜传递至待测样品，以产生激发光谱；用于接收并测试激发光谱的光谱测试系统。该测试装置为实现待测样品在最低温度为4K下的微结构光谱扫描测试提供了可能性。本发明还公开了上述测试装置的测试方法，包括步骤：待测样品置于制冷样品室中的样品台上进行制冷；激光光源发射的激光经由显微镜传递至待测样品，以产生激发光谱；光谱测试系统接收并测试激发光谱。
光谱扫描测试装置及其方法

[发明专利]无需参考光谱的多色高速荧光激发光谱显微成像系统-CN202310421506.9在审
发明人：严锦鸿;陈琨 -专利权人：电子科技大学
申请日： 2023-04-19 - 公布日： 2023-07-07 - 主分类号： G01N21/64 文献下载
摘要：本发明公开了一种无需参考光谱的多色高速荧光激发光谱显微成像系统，该系统包括宽带光源、激发波长选择器件、激发光扩束单元、滤波单元、信号控制与同步单元、显微激发和荧光探测系统，以及图像采集存储和图像分解部分本发明在单一光源的基础上极大地简化了荧光激发光谱显微成像系统，实现了激发波长与相机的同步以及快速扫描，能够对荧光样品进行高速宽场成像；克服了传统光谱成像中需要首先探测参考光谱的瓶颈问题，显著提高了图像采集速度和多色图像分解精度
无需参考光谱多色高速荧光激发显微成像系统

[实用新型]模拟深空环境的样品激发光谱信息装置-CN200620044880.3无效
发明人：吕刚;舒嵘;亓洪兴;何志平 -专利权人：中国科学院上海技术物理研究所
申请日： 2006-08-17 - 公布日： 2007-09-05 - 主分类号： G01N21/63 文献下载
摘要：本实用新型涉及模拟深空环境的样品激发光谱信息装置，该装置由真空样品室、置于真空样品室顶部的会聚透镜、由真空室内穿墙而过的探测等离子体光谱的光纤探测组件、置于真空样品室内固定光纤探测组件中的探头的微调支架本实用新型的优点在于：样品激发在真空室内进行，光纤探头深入真空室内部，可以直接在真空状态下探测激发光谱，模拟了深空环境条件下的激发光谱信息，可以验证激光诱导离解光谱探测技术应用于深空探测的可行性。
模拟环境样品激发光谱信息装置

[发明专利]光纤化活体荧光激发光谱成像装置-CN201310045110.5有效
发明人：付玲;袁菁;张红明;曾绍群;骆清铭 -专利权人：华中科技大学
申请日： 2013-02-05 - 公布日： 2013-06-05 - 主分类号： G01N21/64 文献下载
摘要：本发明涉及一种光纤化活体荧光激发光谱成像装置。光纤束内窥单元输出的光照射在样品上，样品经照射后发出的荧光信号，经光纤束内窥单元收集后返回进入显微成像单元，显微成像单元的一端口与计算机相连，所述计算机用于处理所述显微成像单元的电信号以获得目标的荧光激发光谱成像结果本发明既可以提供样品成像空间形态分布，又能提供成像空间各点精确的荧光激发光谱信息。实现了对生物样品自身不同生物化学成分或多种外源荧光标记物激发光谱的同时观测，为活体细胞功能研究的可视化提供新的实验工具。
光纤活体荧光激发光谱成像装置

[发明专利]金属刻蚀缺陷侦测装置及其侦测方法-CN200610029464.0无效
发明人：宓守刚;罗来青 -专利权人：上海宏力半导体制造有限公司
申请日： 2006-07-27 - 公布日： 2008-01-30 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本发明提供一种金属刻蚀缺陷侦测装置及其侦测方法，它整合了光谱装置、记录装置及处理装置，兼具侦测、记录、运算能力的装置；本发明金属刻蚀缺陷侦测方法，其撷取金属刻蚀缺陷结构的光激发光谱信息，并将光谱信息予以储存，最后运算光谱信息输出可供分析的图表，当中可适当引入磁场周期参数，可整合应用于强化光激发光谱的分析技术，达到快速测定金属刻蚀缺陷，并可与磁场周期同步。
金属刻蚀缺陷侦测装置及其方法

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