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- [实用新型]一种电池测试台-CN202222757486.6有效
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程德山;郑克;唐晨;孟超
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深圳市日图科技有限公司
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2022-10-19
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2023-05-12
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G01M13/00
- 本实用新型提出了一种电池测试台，包括测试台座，所述测试台座内开设有测试腔，所述测试台座上安装有竖直设置的安装架，所述安装架上安装有位于测试腔上方位置的装配块以及用于驱动装配块向测试腔靠近或远离的驱动件，所述装配块上靠近测试腔的一侧安装有固定杆且固定杆远离装配块的一端安装有冲压块，所述冲压块上设置有单点冲压件，所述测试台座的顶部开设有与测试腔连通的进料口，所述测试台座上设有用于封堵进料口的密封板，所述测试台座上安装有与测试腔连通的热风件本实用新型提出了一种电池测试台，解决了电池测试不全面，不便于变换测试环境的问题。
- 一种电池测试
- [实用新型]一种电机功率测试装置-CN202221177338.0有效
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苏银胜;魏超华;杨耀华
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上海派泰自动化有限公司
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2022-05-16
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2023-01-10
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G01R31/34
- 本实用新型公开了一种电机功率测试装置，包括测试台座、移动车架、测试模块与电机装夹模块，移动车架具有上下相接的箱壳、底盘，其中底盘底侧装有行走轮，箱壳呈矩形箱状且其内侧设有一用于收纳测试用具的收纳腔；测试台座装于箱壳上，测试台座内侧设有一腔体，测试台座顶侧设有一与腔体连通的开口；测试模块装于测试台座开口一侧，测试模块包括测试端口，以及连接于测试端口的测试夹，测试台座一侧设有与测试夹连接的控制面板；所述电机装夹模块装于腔体底侧且其用于固定待测电机本实用新型的测试装置集测试台座、移动车架为一体，移动性强，方便电机测试。
- 一种电机功率测试装置
- [实用新型]按压测试装置-CN202120385335.5有效
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张政;纪慧敏;徐昊
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歌尔科技有限公司
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2021-02-20
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2021-11-02
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G01M13/00
- 本实用新型公开了一种按压测试装置，包括测试台座，测试台座上设置有用于放置待测件的台板和用于按压待测件的压头组件，压头组件可上下往复运动，台板可沿测试台座纵向往复移动，台板连接有传动组件，驱动装置驱动传动组件带动台板沿测试台座纵向往复移动本实用新型的按压测试装置使得产品的按键测试或触屏按压测试更加便捷，保证了按压测试的一致性，确保测试条件一致的，会让测试更加稳定和准确，确保产品质量的同时利于产品的标准化生产。
- 按压测试装置
- [实用新型]电能表测试台-CN201620685822.2有效
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过官辉;朱梦华;过晓风
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珠海泰易自动化设备有限公司
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2016-06-30
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2016-12-21
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G01R35/04
- 本实用新型提供一种接线简便且能通用的电能表测试台,包括测试台基座和可拆卸安装在测试台基座上的接线端子模块，测试台基座包括台座和第一端子，第一端子设置在台座上，台座的内部设有连接电路。接线端子模块包括第二端子和探针，第二端子设置在接线端子模块的第一端，探针设置在接线端子模块第二端，接线端子模块通过第二端子可拆卸的安装在测试台基座上的第一端子上。不同的接线端子模块对应不同的电能表，通过更换接线端子模块可以在一台电能表测试台上对多种电能表进行上电检测，操作简便。
- 电能表测试
- [实用新型]光电式高填土方沉降量测试装置-CN201320524201.2有效
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朱大勇;沈银斌;汪哲荪
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合肥工业大学
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2013-08-27
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2014-02-19
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E02D1/00
- 本实用新型公开了一种光电式高填土方沉降量测试装置，包括顶面沉降测试装置、土内沉降测试装置，顶面沉降测试装置的水平激光基准器安置在相对不位移处的测试台座a上，顶面沉降测试装置的光导丝式位移传感器安置在高填土方顶面的测试台座b上，水平激光基准器向光导丝式位移传感器发出水平激光，光导丝式位移传感器输出高填土方顶面沉降量的信号；测试台座b处有土内沉降测试装置，在该测试台座b下方高填土方铅直的钻孔内有圆形的护管，护管管底外沿中心线的测试点处土内有展翼锚头该沉降量测试装置具有量程大、精度高、对工程施工无干扰、操作方便、实时输出测量数据等特点，是一种能测试高填土方顶面、内部测试点沉降量的装置。
- 光电式高填土方沉降测试装置
- [发明专利]一种封装半导体芯片的全自动测试设备-CN202111448100.7有效
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吴龙军
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徐州领测半导体科技有限公司
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2021-11-29
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2023-06-02
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G01R31/28
- 本发明公开了一种封装半导体芯片的全自动测试设备，包括半导体芯片测试设备，半导体芯片测试设备包括输送机一、测试台、横向导料机构、测试机构、翻转导出器和输送机二，输送机一的末端与测试台相连接，测试台包括台座和内置于台座内的PLC控制器，台座的上方安装有数据显示屏且下方开设有导向口，横向导向料机构安装于输送机一与台座的连接处，测试机构包括开设于导向口表面的测试内腔和设置于测试内腔正上方的测试板，测试板的上端水平设置有顶板，顶板与测试板之间对称设置有两组电动推杆。本发明所设计的芯片测试设备可以对芯片的规格以及线路的通常程度进行检测，提高了芯片的测试种类，并且采用自动化的测试方式，大大提高了测试的效率。
- 一种封装半导体芯片全自动测试设备
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