专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种用于触摸屏的ITO薄膜制造方法-CN200810072132.X有效
  • 钟定锋 - 深圳市航泰光电有限公司
  • 2008-11-17 - 2010-06-16 - G06F3/041
  • 本发明公开一种用于触摸屏的ITO薄膜制造方法,该方法包括:设置蚀刻保护,在ITO薄膜的正面设置蚀刻保护;蚀刻处理,对ITO薄膜正面进行蚀刻;清洁处理,对蚀刻后的ITO薄膜进行清洗;剥离蚀刻保护,将经过清洁处理的ITO薄膜的蚀刻保护去除;设置正面保护,在ITO薄膜的正面可视区域设置保护;印制银线,在ITO薄膜的正面四周印制银线。由于经过蚀刻处理步骤后,ITO薄膜正面蚀刻保护对ITO薄膜进行保护,可以在对ITO薄膜进行清洁处理时,提供较高的洁净度,同时可以避免ITO薄膜刮伤、氧化,从而可以提高触摸屏成品率。
  • 一种用于触摸屏ito薄膜制造方法
  • [实用新型]一种邦定电阻-CN202320319180.4有效
  • 罗卓明;何志江;陈洁峰;欧阳铁英;杨理强;林瑞芬;李沛洪;莫雪琼 - 广东风华高新科技股份有限公司
  • 2023-02-23 - 2023-08-22 - H01C7/00
  • 邦定电阻包括绝缘基板、正面电极、背面电极、电阻和保护正面电极设有两个,两个正面电极间隔设置在绝缘基板的上表面,背面电极设于绝缘基板的下表面;电阻设置在绝缘基板的上表面,且电阻连接在两个正面电极之间,电阻的上部边缘设有凸沿,凸沿搭接于两个正面电极的上表面;保护设有两个,其分别为第一保护和第二保护,第一保护覆盖在电阻的上表面,第一保护具有与两个正面电极的上表面相贴合的第一结合部,电阻处于两个第一结合部的内侧;第二保护覆盖在第一保护的上表面,第二保护具有与两个正面电极的上表面贴合的第二结合部,第一保护处于两个第二结合部的内侧。
  • 一种电阻
  • [发明专利]一种FS型IGBT器件的制造方法-CN201710007355.7在审
  • 程炜涛;訾彤彤;杨晓鸾;王海军;叶甜春 - 江苏中科君芯科技有限公司
  • 2017-01-05 - 2017-06-13 - H01L29/739
  • 本发明涉及一种FS型IGBT器件的制造方法,包括以下步骤将硅片背面减薄;在硅片的背面注入N型杂质;在硅片的背面生长氧化保护;对硅片的正面进行常规步骤直至ILD淀积;在硅片的正面淀积SIN介质保护;在硅片的正面涂覆光刻胶并将光刻胶烘干;去除硅片背面氧化保护;去除硅片正面保护用光刻胶;在硅片的背面注入P型重掺杂集电区的离子;在硅片的背面淀积氧化保护;去除硅片正面的SIN保护;对硅片的正面从淀积步骤开始继续进行常规的步骤;去除硅片背面的氧化保护;对硅片的背面进行常规的背金以及合金步骤。本发明可以对硅片背面的P型离子注入进行良好的激活,又不至于对正面结构引入其他影响进而导致电学参数的漂移。
  • 一种fsigbt器件制造方法
  • [发明专利]半导体芯片的封装方法-CN201910176971.4有效
  • 周辉星 - 矽磐微电子(重庆)有限公司
  • 2019-03-08 - 2022-11-01 - H01L21/56
  • 该封装方法包括:在已制作好半导体芯片的晶圆的正面形成第一预设厚度的保护;在保护远离晶圆的一面形成一表面层;对形成有表面层的晶圆的背面减薄至预设厚度;将减薄后具有保护的晶圆切割成若干具有保护的半导体芯片该封装方法通过在晶圆正面保护上形成一表面层,通过该表面层可有效保护该晶圆正面保护在晶圆切割成半导体芯片的过程中不受污染或者损害,利于切割好的半导体芯片的正面附着该保护进行入半导体芯片面板级封装
  • 半导体芯片封装方法
  • [发明专利]一种抗环境气体腐蚀的电阻-CN201910972410.5有效
  • 汤华 - 安徽翔胜科技有限公司
  • 2019-10-14 - 2021-09-28 - H01C7/00
  • 本发明公开了一种抗环境气体腐蚀的电阻,包括陶瓷基板,陶瓷基板下表面设置有背面导体印刷,陶瓷基板上表面设置有正面导体印刷,陶瓷基板上表面中心线处设置有电阻体印刷,电阻体印刷上表面设置有玻璃保护,玻璃保护上方设置有环氧树脂保护正面导体印刷分布于陶瓷基板上表面位于电阻体印刷的两侧处,正面导体印刷上表面设置有抗腐蚀保护。本发明适用于电阻,通过在正面导体印刷上表面设置有抗腐蚀保护,有效防止了外界气体从环氧树脂保护与电镀层之间的缝隙渗入电阻内部腐蚀正面导体印刷,极大地增加了该电阻的抗腐蚀能力和使用寿命。
  • 一种环境气体腐蚀电阻
  • [实用新型]一种高焊线质量的芯片框架-CN201620024994.5有效
  • 许兵;樊增勇;李宁;崔金忠 - 成都先进功率半导体股份有限公司
  • 2016-01-12 - 2016-06-08 - H01L23/495
  • 本实用新型涉及一种芯片框架,具体涉及一种高焊线质量的芯片框架,包括框架本体,所述框架本体分为用于封装芯片的框架正面和与框架正面对应的框架背面,所述框架正面涂敷有钯银金镍合金保护,所述框架背面涂敷有镍钯金保护将芯片框架的正面和背面分别涂敷不同的保护,框架正面涂敷钯银金镍合金保护,框架背面涂敷镍钯金保护,利用钯银金镍合金涂层使封装在框架正面的芯片引线焊接时速度快、质量好,并利用框架背面涂敷的镍钯金保护保护框架和引线脚不变色,进而使整个框架的焊线质量高、焊接速度快且框架和引线脚不会变色,解决该领域长期存在的技术缺陷,具有较优的技术效果。
  • 一种高焊线质量芯片框架
  • [发明专利]半导体封装方法及半导体封装结构-CN202010231981.6在审
  • 周辉星 - 矽磐微电子(重庆)有限公司
  • 2020-03-27 - 2021-11-30 - H01L21/56
  • 其中,半导体封装方法包括在被动元件具有电性连接键的表面形成第一保护,并在所述第一保护上形成第一保护开口;其中,所述第一保护开口与所述被动元件的电性连接键相对应。在待封装的裸片正面形成第二保护,并在所述第二保护上形成第二保护开口;其中,所述待封装的裸片正面设有焊垫,所述第二保护开口与所述待封装的裸片正面的焊垫相对应。将所述被动元件和所述待封装的裸片间隔贴装于载板上;其中,所述待封装的裸片的正面朝向所述载板,所述被动元件具有电性连接键的表面朝向所述载板。形成包封,所述包封至少包封所述待封装芯片和所述被动元件。
  • 半导体封装方法结构

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