专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种显微表面测量装置及测量方法-CN202110335304.3在审
  • 王道档;阮旸;孔明;刘维;许新科;刘璐;郭天太 - 中国计量大学
  • 2021-03-29 - 2021-06-25 - G01B11/24
  • 本发明公开了一种显微表面测量装置,包括投影屏、基座、显微物镜、成像透镜及CCD探测器,以所述投影屏、显微物镜、成像透镜和CCD探测器构建离轴光学系统,所述基座用于放置所述测试元件,其中,所述处理器连接所述投影屏和所述CCD探测器,所述处理器根据预存设置使所述投影屏产生一正弦条纹光信号,该正弦条纹光信号以一特定角度投射至测试元件上,经过所述测试元件的表面反射至所述显微物镜形成一汇聚光束,该汇聚光束经过所述成像透镜,在所述CCD探测器中呈现一变形条纹光信号,所述处理器对所述变形条纹光信号进行分析,获取所述测试元件的面形信息。
  • 一种显微表面测量装置测量方法
  • [发明专利]手术成像与切割控制装置及其方法-CN201811404302.X有效
  • 何冠楠;张道森;关烨峰 - 广东顺德工业设计研究院(广东顺德创新设计研究院)
  • 2018-11-23 - 2020-11-13 - A61B17/32
  • 本发明涉及一种手术成像与切割控制装置及其方法,所述装置包括:切割单元、光学相干层析模块、图像采集模块和处理控制模块;光学相干层析模块用于通过第一光发射端发出第一光信号,并接收由第一光发射端接收的第一光反馈信号;光学相干层析模块还用于获取第二光反馈信号,并将第一光反馈信号和第二光反馈信号进行耦合,产生干涉条纹;图像采集模块用于接收干涉条纹的图像;处理控制模块用于从图像采集模块获取干涉条纹的图像,根据干涉条纹的图像计算获得深度图像上述手术成像与切割控制装置及其方法能够对病变组织实时成像,医生能够针对待切割组织的深度图像进行深度切割,实现精准切割。
  • 手术成像切割控制装置及其方法
  • [发明专利]基于机器学习的结构光照明超分辨显微成像方法-CN201910477092.5有效
  • 龚薇;斯科;吴晨雪 - 浙江大学
  • 2019-06-03 - 2020-10-16 - G02B21/06
  • 本发明公开了一种基于机器学习的结构光照明超分辨显微成像系统和方法。系统沿光路方向依次分布为数字微镜器件DMD、反射镜M、第一透镜L1、主动调相系统APM、第二透镜L2和电荷耦合器件CCD;方法利用畸变的条纹图样和其对应的散射相位重构系数,形成训练数据集,再通过深度卷积神经网络算法构建出对应的学习模型,从而对未知散射相位重构系数的畸变条纹图样进行快速校正,获得高精度的校正条纹图样。本发明对结构光照明显微镜中的条纹结构光进行了像差校正,速度快、精度高,能够提高显微系统的成像深度并优化成像质量,拓展结构光照明显微镜的应用范围。
  • 基于机器学习结构照明分辨显微成像方法
  • [发明专利]三维成像系统的成像方法、设备、系统和存储介质-CN202211424492.8在审
  • 何懂;郭佳苗;胡盈盈;陈宇轩;吴炳炎;钟奕翰;杨洋 - 深圳信息职业技术学院
  • 2022-11-15 - 2023-02-28 - G06T7/80
  • 本申请实施例公开了一种三维成像系统的成像方法、计算机设备、三维成像系统和计算机可读存储介质。其中,方法包括通过移动位移平台以采集不同位置的编码条纹图像,根据编码条纹图像获取不同位置上标志点的三维坐标、第一坐标和第二坐标;根据三维坐标对成像系统进行标定,以构建双目成像线性数学系统和误差补偿查找表;将第一坐标和第二坐标代入双目成像线性数学系统中确定标志点的三维初始坐标;根据偿三维初始坐标查询误差补查找表确定标志点的三维精确坐标。因此,本申请能够在标定过程中建立误差补偿查找表,利用误差补偿查找表使得仅投射单项的编码条纹即可完成系统成像,使得本方案能够利用在更多实施场景中。
  • 三维成像系统方法设备存储介质
  • [发明专利]一种二次谐波高分辨率成像方法及系统-CN201610700687.9有效
  • 邵永红;屈军乐;汪磊 - 深圳大学
  • 2016-08-22 - 2022-01-11 - G01N21/63
  • 本发明适用于光学显微成像领域,提供了一种二次谐波高分辨率成像方法,包括以下步骤:产生激发光;对所述激发光进行调制,形成条纹激发光斑;移动所述条纹激发光斑,并且在每移动一次之后,将所述条纹激发光斑在样品上进行时间空间聚焦本发明还提供了一种二次谐波高分辨率成像方法及成像系统,包括:激发光源、空间光调制器、移动控制单元、光栅、物镜及探测器。本发明提供的二次谐波高分辨率成像方法及系统,可以获得高空间分辨率的二次谐波显微成像,扩大了二次谐波显微成像应用范围。
  • 一种二次谐波高分辨率成像方法系统
  • [发明专利]一种外观缺陷多模式视觉检测传感器-CN202110919485.4有效
  • 卢荣胜;胡海兵 - 合肥工业大学
  • 2021-08-11 - 2023-08-08 - G01N21/88
  • 本发明公开了一种外观缺陷多模式视觉检测传感器,是由壳体、二维成像单元、三维成像单元、多模式LED光源模块和安装连接板构成;其中,二维成像单元是由二维成像相机、镜头、条纹投影光学引擎固定座、条纹投影光学引擎俯仰调整块、条纹投影光学引擎、分光镜与反射镜支撑架、光学引擎投影镜头、平面反射镜、半透半反镜和投影仪窗口镜片组成;三维成像单元是由双目左相机成像与光路装置和双目右相机成像与光路装置组成。
  • 一种外观缺陷模式视觉检测传感器
  • [实用新型]成像光源-CN201320335800.X有效
  • 王岩松;王郑;谌伟 - 北京征图新视科技有限公司
  • 2013-06-09 - 2013-12-18 - F21S2/00
  • 本实用新型公开了一种成像光源,所述光源为管光源,所述管光源的周壁的下部设有开口,所述管光源的周壁的上部设有长条形的缺口且所述缺口沿所述管光源的轴线方向延伸。根据本实用新型的成像光源,避免产生亮暗条纹,且避免了光线穿过缺口成的像出现类似彩虹的干涉条纹,提高了成像质量。
  • 成像光源
  • [发明专利]一种对焦方法及系统-CN201710128650.8有效
  • 倪军;余涛 - 中国计量大学
  • 2017-03-06 - 2019-05-31 - H04N5/232
  • 通过对测试卡进行裁剪并划分区域,对测试卡进行拍照,提取测试卡图像中心区域的图像,对其进行条纹清晰度分析,如果清晰,则获取更高等级的条纹;如果不清晰,则电机驱动成像镜头步进步长,重新对测试卡进行拍照,并获取当前等级的条纹,判断其条纹清晰度。当高等级条纹清晰时,则获取测试卡图像四角区域的图像,判断当前等级条纹的清晰度是否全部清晰,如果清晰表示对焦完成,若不清晰,则调整成像镜头镜面与测试卡平面平行,重新拍照并判断四角区域当前等级条纹是否清晰。
  • 一种对焦方法系统

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