专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种晶体粉末衍射的指标化方法-CN201810449561.8有效
  • 刘雪涛;马健;张佩宇;赖力鹏;温书豪 - 深圳晶泰科技有限公司
  • 2018-05-11 - 2020-10-16 - G01N23/2055
  • 本发明提供一种晶体粉末衍射的指标化方法,包括:(1):预设参数;(2):根据预设的试探空间群序列,指定试探空间群;(3):生成初始的晶胞参数;(4):根据空间群的消光条件,对每组晶胞均计算其对应的理想衍射峰位,与实验粉末衍射峰一并作为输入,计算代价函数值;(5):对每个晶胞进行晶胞约化,然后进行固定空间群的晶胞局域优化;(6):检查最佳的匹配度是否达到预设的阈值;(7):记录最终的匹配度评分最佳的一个晶胞,回到步骤(2),或者生成新的晶胞参数并回到步骤(4);步骤(8):对记录里的所有晶胞过滤后获得最终的推荐晶胞。本发明可以在给出晶胞参数和密勒指标的同时也解出空间群,减少额外的空间群确定工作。
  • 一种晶体粉末衍射指标化方法
  • [发明专利]石墨化度测试方法-CN202211715630.8在审
  • 肖金伟;移光耀;姚凌峰 - 蜂巢能源科技(马鞍山)有限公司
  • 2022-12-29 - 2023-03-31 - G01N23/207
  • 包括以下步骤:S1、获取石墨材料的XRD衍射数据;S2、在晶体结构数据库中获取标准石墨的晶体结构文件;S3、在数据精修软件中导入所述XRD衍射数据,以及所述晶体结构文件,并对所述晶型结构数据进行精修,得到晶胞参数的数值;S4、将所述晶胞参数代入石墨化度计算公式,得到所述石墨材料的石墨化度。本发明所述的石墨化度测试方法,通过数据精修软件中导入XRD衍射数据,以及晶体结构文件,并对晶型结构数据进行精修得到晶胞参数的数值,即可带入石墨化度计算公式而得到石墨的石墨化度,无需在石墨中添加硅内标,从而利于提高石墨化度的精度
  • 石墨测试方法
  • [发明专利]搜索化学反应过渡态的方法-CN201510148295.1在审
  • 曹宵鸣;黄健;胡培君 - 华东理工大学
  • 2015-03-31 - 2015-07-08 - G06F17/50
  • 计算出待计算的参与化学反应的反应物和中间体的结构数据文件;S2,获得反应能量最小化的反应物结构数据文件和能量最小化的中间体的结构数据文件;S3,获得化学反应过渡态初始结构模型,并导出该过渡态初始结构的原子分数坐标及晶胞参数信息;S4,采用限制性结构优化方法搜索获得过渡态初始结构的原子分数坐标及晶胞参数信息;S5,通过数值Hessian矩阵对角化计算对经过第四步处理的过渡态初始结构的原子分数坐标及晶胞参数信息进行频率分析计算,
  • 搜索化学反应过渡方法

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