专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]介质层可靠评估方法和评估介质层可靠的测试系统-CN202210043050.2在审
  • 胡健;唐伟;石晓;熊阳 - 长鑫存储技术有限公司
  • 2022-01-14 - 2023-07-25 - G01N27/92
  • 本公开实施例涉及半导体领域,提供一种介质层可靠评估方法和评估介质层可靠的测试系统,方法包括:提供存储器,存储器包括多个子字线驱动器和多条子字线,每个子字线驱动器包括多个晶体管,每个晶体管包括栅极、源极给至少一个子字线驱动器进行预充电,且所有子字线处于关断状态,至少一个子字线驱动器经历至少一次预充电,实时获取每一预充电所经历的实际时长;进行预充电的子字线驱动器中的介质层为目标介质层,基于实际时长实现对目标介质层的可靠评估本公开实施例至少可以实现对子字线驱动器中目标介质层的可靠评估。
  • 介质可靠性评估方法测试系统

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