专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]扫描探针标定方法-CN201710641861.1有效
  • 郝镇齐;徐穆清;江嵩;程子嘉;王亚愚 - 清华大学
  • 2017-07-31 - 2019-07-09 - G01Q40/00
  • 本发明涉及一种扫描探针标定方法,用于对扫描隧道显微镜扫描探针进行标定。所述方法包括:通过所述扫描探针获取标定样品的形貌图;通过数据分类模块对所述形貌图进行标准化判断;若所述数据分类模块判断所述形貌图合格,则通过所述扫描探针获取所述标定样品的能谱图;通过所述数据分类模块对所述能谱图进行标准化判断;若所述数据分类模块判断所述能谱图合格,则所述扫描探针标定合格。上述方法,能够快速、高精度的检测扫描探针是否合格,实现探针标定。所述探针标定方法,采用数据分类模块分析判断扫描探针是否合格,减少了扫描探针标定过程的耗费时间长、标定难度大的问题。
  • 扫描探针标定方法
  • [发明专利]一种原子力显微探针针尖修饰方法-CN202310844483.2在审
  • 曾毅波;邹颖;沈亮 - 厦门大学
  • 2023-07-11 - 2023-10-17 - G01Q60/30
  • 本发明属于原子力显微测量技术领域,具体公开了一种原子力显微探针针尖修饰方法,包括如下步骤:高分子聚合物原液经合成制得初步凝固的凝胶状高分子聚合物;原子力显微探针放入特制的硅片夹具中微槽内,通过氧等离子清洗原子力显微探针,并实现针尖的亲水化处理;基于原子力显微的接触模式,将清洗并亲水化处理后的探针针尖压入凝胶状高分子聚合物进行修饰;将修饰后的原子力显微探针装入特制的硅片夹具中微槽内,加热以实现完全凝固,最终在探针针尖处包覆一层高分子聚合物薄膜本发明实现了将高分子聚合物同成分修饰至普通的Si基探针针尖上,并可准确测试高分子聚合物与蛋白之间的粘附行为,为测定高分子聚合物和其他物质相互作用提供了方法。
  • 一种原子显微镜探针针尖修饰方法
  • [发明专利]一种低拷贝生化反应的方法-CN200710036291.X无效
  • 周化岚;张益;胡钧 - 中国科学院上海应用物理研究所
  • 2007-01-09 - 2008-07-16 - C12N15/09
  • 本发明公开了一种低拷贝生化反应的方法,其包括将低拷贝的反应物引入扫描探针显微的纳米探针针尖上后进行反应。本发明以纳米针尖为载体,以周遭的水膜为支撑,造就一个新型的纳米反应空间。在此局限的针尖表面区域,低拷贝反应物分子在如此小的限定空间里,大大增加了彼此之间的碰撞几率,从而提高了反应的效率。结合以扫描探针显微为基础的纳米操纵技术的发展,本发明方法可以用于单分子生化反应以及单分子检测等方面的研究,具有广阔的应用前景。
  • 一种拷贝生化反应方法
  • [发明专利]一种分子结光学近场显微系统及其构造方法-CN201610648871.3有效
  • 毕海 - 苏州华莱德电子科技有限公司
  • 2016-08-10 - 2019-04-02 - G01N21/65
  • 本发明的分子结光学近场显微系统,包括显微、高真空腔体、光谱分析仪、电流测试系统、高压放大器、电脑以及石英玻璃针尖,所述的显微分别与高真空腔体、光谱分析仪以及电脑相连接,所述的电流测试系统和高压放大器分别连接在高真空腔体和电脑之间,所述的光谱分析仪还与电脑相连接,所述的石英玻璃针尖通过支架设置在高真空腔体的顶部并位于显微的下方。通过上述,本发明的分子结光学近场显微系统及其构造方法,通过利用电子隧穿效应和近场针尖尖端增强两种技术原理构筑了新型分子结光学近场显微系统,成功实现了原位单分子结的电学信号及光学信号的协同测试,光学近场显微可以用于多种基于单分子有机光电特性器件的分析和研究
  • 一种分子光学近场显微镜系统及其构造方法
  • [发明专利]扫描探针显微系统及其测量方法-CN202110245433.3有效
  • 杨天保;陈建;丁喜冬;赵亮兵;罗永震;付青 - 中山大学;广州中源仪器技术有限公司
  • 2021-03-05 - 2023-04-07 - G01Q60/38
  • 本申请涉及一种扫描探针显微系统及其测量方法,首先根据实际工作模式向导电针尖自感应探针发送对应的探针激发信号使其振动,之后采集导电针尖自感应探针工作振动时的压电响应信号进行分析,得到探针本征机械振动频率变化量最终进行反馈分析得到实际检测时所需的样品偏压信号和扫描控制信号发送至样品扫描组件,实现待测样品的测量操作。上述方案,采用带导电针尖的自感应探针来实现大气环境的扫描探针显微测量成像功能,并且在测量过程中利用探针本征机械振动频率变化量实现频率调制,可提高导电针尖自感应探针测量成像时的机械振动的稳定性,有利于减小导电针尖自感应探针与样品的间距
  • 扫描探针显微镜系统及其测量方法
  • [发明专利]利用单壁碳纳米管测量原子力显微针尖半径的方法-CN200510009716.9无效
  • 王铀 - 哈尔滨工业大学
  • 2005-02-06 - 2005-08-03 - G01N13/16
  • 本发明公开一种测量原子力显微针尖半径的方法。利用单壁碳纳米管测量原子力显微针尖半径的方法通过以下步骤实现::把直径为1~5nm的单壁碳纳米管沉淀在云母片表面上;用原子力显微测出单壁碳纳米管的测量宽度w和高度h,该原子力显微上用于测量单壁碳纳米管的针尖就是待测针尖;根据单壁碳纳米管的测量宽度w及高度h计算出待测针尖的半径。本发明利用单壁碳纳米管作为标准样品测量评估原子力显微针尖半径,具有数学模型简单、直观,物理含义明确,测量评估精确、高效、实时等优点。可以测量1nm以上的针尖半径。
  • 利用单壁碳纳米测量原子显微镜针尖半径方法

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