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[发明专利]存储器失效点的定位方法-CN201911393029.X有效
发明人：徐静;王君易;刘慧丽;卜丽丽 -专利权人：长江存储科技有限责任公司
申请日： 2019-12-30 - 公布日： 2021-12-17 - 主分类号： G11C29/56 文献下载
摘要：本发明提供一种存储器失效点的定位方法，其包括如下步骤：初步定位失效点，获得失效点的初始位置；将失效点的初始位置所在区域标定为目标区域；去除所述目标区域表面的金属层；再次定位失效点，获得失效点的最终位置。本发明存储器失效点的定位方法简单易行，且大大提高了失效点的定位准确度。
存储器失效定位方法

[发明专利]一种电容失效分析检测方法-CN201811437172.X在审
发明人：刘超伟;刘超勇;戈统;宋国飞 -专利权人：苏州天标检测技术有限公司
申请日： 2018-11-28 - 公布日： 2019-03-12 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明涉及一种电容失效分析检测方法，包括如下步骤：外观检查；内视检测，通过探伤检测设备对失效电容进行失效点定位，并确定失效点位置；初步确认失效原因，根据失效点位置列出可能的失效原因；模拟试验，根据失效原因对良品电容进行针对性的通电模拟，验证可能的失效原因，并将良品电容在失效损毁后的失效点情况与失效电容的失效点位置进行比对，确定失效原因；金相检测，将失效电容制成失效点位置的金相切片并在金相显微镜下观察确认，再使用扫描电镜和能谱分析仪对金相切片进行扫面分析，验证确定电容失效损毁原因并给出分析结论。本发明能够快速、高效地确认电容失效的根本原因，通过电容失效分析实现对于电子系统的工作可靠性的提高。
电容失效原因失效点位置失效分析失效点切片良品损毁检测验证工作可靠性金相显微镜能谱分析仪电子系统根本原因金相检测模拟试验扫描电镜探伤检测外观检查再使用比对分析通电观察

[发明专利]一种芯片静电损伤的定位方法及装置-CN202010114630.7有效
发明人：肖彪;张家华;符超;曹竟元;林思岚 -专利权人：珠海格力电器股份有限公司
申请日： 2020-02-24 - 公布日： 2020-12-04 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种芯片静电损伤的定位方法及装置，该方法包括：对于芯片的失效样品，采用锁相缺陷定位热发射显微镜对失效样品中的缺陷位置进行定位评估，以得到失效样品的初始失效点；调节锁相缺陷定位热发射显微镜的定位参数后，再次采用锁相缺陷定位热发射显微镜对失效样品中的缺陷位置进行定位评估，以得到失效样品的新增失效点；采用扫描电子显微镜，对初始失效点和新增失效点的特征信息进行分析，以将初始失效点和新增失效点中特征信息与设定的静电损伤信息相同的部分失效点，确定为样品的静电损伤点。
一种芯片静电损伤定位方法装置

[发明专利]一种确定飘降失效点的方法-CN201610986644.1有效
发明人：张伟;张洁;赵克良 -专利权人：中国商用飞机有限责任公司;中国商用飞机有限责任公司上海飞机设计研究院
申请日： 2016-11-09 - 公布日： 2019-02-26 - 主分类号： G06F17/50 文献下载
摘要：本公开涉及确定飘降失效点的方法，包括对于每个关键障碍物，基于该关键障碍物影响边界距航路起始地距离与该关键障碍物影响边界距失效点距离来计算该关键障碍物对应的失效点位置；以及将全部关键障碍物的对应失效点中能越过所有关键障碍物的失效点确定为飘降失效点
一种确定失效方法

[发明专利]一种基于多次失效分析的故障点预测方法及系统-CN202211234727.7在审
发明人：刘丁枭;马晋辰;肖东宝;柳孟阳;胡浩江;吴浩;张鹏;王绍兰;王笑尘 -专利权人：北京智谱华章科技有限公司
申请日： 2022-10-10 - 公布日： 2022-12-27 - 主分类号： G06F11/07 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于多次失效分析的故障点预测方法及系统，属于失效分析技术领域，解决了现有失效分析不全面和准确率低的问题。包括分析历史维修记录得到故障点中的异常点，基于检测步骤关联的零件及其所属线路，删除异常点相关的检测步骤，补入属于同一线路的其它零件关联的检测步骤，得到实际检测步骤；根据待检测组装件的诊断数据进行失效分析，如果是初次失效分析，获取实际检测步骤，否则根据上一次失效分析的故障点，更新实际检测步骤；根据实际检测值得到故障点，若故障点正确，结束失效分析，否则迭代直至达到最大失效分析次数，得到最终故障点；若最终故障点不正确，根据已训练好的分类模型预测出故障点。实现了失效分析准确率的提升。
一种基于多次失效分析故障预测方法系统

[发明专利]瓷外壳功率型电阻器开封分析方法-CN202111460764.5在审
发明人：范士海 -专利权人：航天科工防御技术研究试验中心
申请日： 2021-12-02 - 公布日： 2022-04-29 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本申请提供一种瓷外壳功率型电阻器开封分析方法，所述方法包括：失效点位置及失效原因分析方法；失效点位置及失效原因分析方法包括：获取电阻器的问题外观图像和问题内部图像；根据问题外观图像和问题内部图像确定疑似失效点位置；对电阻器的外壳进行化学溶解暴露出电阻膜；获取电阻膜的问题图像；结合问题图像和疑似失效点位置确定失效点位置；根据问题图像确定失效点位置的疑似失效原因；对电阻膜进行能谱分析得到能谱分析结果；结合能谱分析结果和疑似失效原因确定失效原因通过结构定位、物理测试和化学腐蚀相结合的方式进行开封分析，解决了瓷外壳功率型电阻器的失效分析问题，具有针对性强，操作简单的特点。
外壳功率电阻器开封分析方法

[发明专利]一种器件失效点的定位系统及方法-CN202010110552.3在审
发明人：肖彪;邓梦;符超;曹竟元;林思岚 -专利权人：珠海格力电器股份有限公司
申请日： 2020-02-24 - 公布日： 2020-06-23 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明公开了一种器件失效点的定位系统及方法，该方法包括：开封装置，用于对待进行失效点定位的器件进行开封，以得到开封后的样品器件；偏置电源，用于对开封后的样品器件施加偏置电压；位置确定装置，用于在对开封后的样品器件施加偏置电压的情况下，对已施加偏置电压的样品器件的失效点的位置进行确定；位置显示装置，用于在已确定样品器件的失效点的位置的情况下，对已确定的器件的失效点的位置进行显示。本发明的方案，可以解决对失效器件的失效点进行定位的难度较大的问题，达到降低对失效器件的失效点进行定位的难度的效果。
一种器件失效定位系统方法

[发明专利]兴趣点地址校验方法、装置、服务器及存储介质-CN201711058531.6在审
发明人：王玉川;金鑫;刘燕云 -专利权人：百度在线网络技术（北京）有限公司
申请日： 2017-11-01 - 公布日： 2018-03-13 - 主分类号： G06F17/30 文献下载
摘要：本发明实施例公开了一种兴趣点地址校验方法、装置、服务器及存储介质，其中该方法包括获取失效兴趣点；根据所述失效兴趣点的位置信息获取所述失效兴趣点附近预设距离内的兴趣点地址，得到所述失效兴趣点对应的待校验集合；根据所述失效兴趣点的名称判断所述待校验集合中的待校验兴趣点地址是否正确。本发明实施例能够有效校验兴趣点地址是否正确，提升兴趣点地址准确率，减少了错误数据对用户的影响，改善用户体验。
兴趣地址校验方法装置服务器存储介质

[发明专利]一种蒸汽吞吐有效期的定量测定方法-CN201710065386.8在审
发明人：郑伟;朱国金;谭先红;李南;郑强;袁忠超;张利军;李延杰;王泰超;贾振 -专利权人：中国海洋石油总公司;中海油研究总院
申请日： 2017-02-06 - 公布日： 2017-05-31 - 主分类号： E21B43/24 文献下载
摘要：所述测定方法包括如下步骤测定热采井的井底温度和米采油指数，得到井底温度和米采油指数与时间之间的变化曲线；根据井底温度失效判别标准和井底温度与时间之间的变化曲线得到的时间为第一热采效果失效点；根据米采油指数失效判别标准和米采油指数与时间之间的变化曲线得到的时间为第二热采效果失效点；当第一热采效果失效点与第二热采效果失效点的绝对时间差不超过50天时，第一热采效果失效点和第二热采效果失效点之和的中间值为热采井的有效期；当第一热采效果失效点与第二热采效果失效点的绝对时间差超过50天时，第二热采效果失效点为热采井的有效期。
一种蒸汽吞吐有效期定量测定方法

[发明专利]一种构建软件失效区域模式的方法及系统-CN201811525574.5在审
发明人：黄如兵;孙伟峰;陈宗岳;陈锦富 -专利权人：江苏大学;斯威本科技大学
申请日： 2018-12-13 - 公布日： 2019-06-21 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本发明公开了一种构建软件失效区域模式的方法及系统，实现对程序错误的定位，提高软件测试技术性能，包括：步骤1，根据软件系统的输入域，采用高效的ART算法群，获取软件中存在的第一个失效点，即能够使程序异常输出的输入；步骤2，根据第一个失效点，在有限的测试资源下，陆续获得其他的失效区域点；步骤3，利用之前已存在的失效点集合，获得更多的失效区域信息，用于构建失效区域模式。步骤4，采用多维凸包算法，针对步骤2或者步骤3获得的失效点集合，确定失效区域的面积，采用线性规划的方法，确定失效区域的范围，明确失效区域的类型，生成失效区域信息文件。本发明在软件测试中节省成本，填补了获取软件失效区域领域的空白。
失效区域失效点构建算法集合软件测试技术测试资源程序异常软件测试软件系统线性规划信息文件输入域多维凸包输出填补

[发明专利]半导体器件失效分析方法、装置、设备及存储介质-CN202010826866.3在审
发明人：蔡小龙 -专利权人：中兴通讯股份有限公司;西安电子科技大学
申请日： 2020-08-17 - 公布日： 2022-02-22 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明实施例提供的半导体器件失效分析方法、装置、设备及存储介质，通过物理检测获取正常半导体器件的目标检测参数，目标检测参数包括正常半导体器件对应失效半导体器件上的失效点区域的检测参数，其包括失效点区域的表面检测参数、失效点区域的元素浓度检测参数、失效点区域的剖面检测参数；然后将获取到的目标检测参数作为预设仿真算法的输入参数输入，通过预设仿真算法结合预测失效结果，从而得到失效半导体器件的失效原因。也即本发明实施例实现了对失效半导体器件失效原因的逆向分析，以真实的失效半导体器件作为直接的分析对象，分析结果为全面、准确。
半导体器件失效分析方法装置设备存储介质

[发明专利]基于2.4G无线通信连接方法、系统、电子设备及介质-CN202310971029.3在审
发明人：裘波 -专利权人：宁波方太厨具有限公司
申请日： 2023-08-03 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： H04W76/19 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于2.4G无线通信连接方法、系统、电子设备及介质，其中，基于2.4G无线通信连接方法包括：响应于设备跳频通信失败，记录通信失败的第一频点和第一频点的失效总次数；失效总次数为所有设备通过第一频点跳频通信失败的次数；根据失效总次数确定第一频点的失效时长；在失效时长后，重新通过第一频点进行跳频通信。本发明通过根据失效总次数确定第一频点的失效时长，从而在失效时长内，尽可能避免使用失效频点进行通信，从而保障无线通信的稳定性，响应延时较低，设备在长时间无法进行通信连接的情况下，可以通过新频点重新通信连接
基于 2.4 无线通信连接方法系统电子设备介质

[发明专利]芯片自动测试方法及系统-CN201710052105.5有效
发明人：钟汝军;刘元才;陈乐欢 -专利权人：珠海全志科技股份有限公司
申请日： 2017-01-20 - 公布日： 2019-12-10 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明涉及一种芯片自动测试方法及系统，所述方法包括实时记录被测试芯片在各测试时间点的各管脚的测试值；提取所述测试值；将所述测试值与期望值进行比较，并根据所述比较结果生成对比报告；根据所述对比报告定位所述被测试芯片的失效信息，所述失效信息包括失效管脚和所述失效管脚的失效时间点。本发明可以获取全部失效管脚的失效时间点，便于根据失效管脚的失效时间点，对失效位置和失效原因进行定位分析，还可以通过设置不同的期望值等，对测试值进行全面的分析，给出更加详细更加准确的测试结果，保证测试成功率
芯片自动测试方法系统

[发明专利]快速定位集成电路失效位置的方法及装置-CN202111268376.7在审
发明人：丁德建;高金德 -专利权人：上海华力集成电路制造有限公司
申请日： 2021-10-29 - 公布日： 2022-02-11 - 主分类号： G01R31/311 文献下载
摘要：本发明公开了一种快速定位集成电路失效位置的方法，包括：步骤S1，导通集成电路中的任意一个包含PN结的器件，并对所述集成电路失效点施加测试信号；步骤S2，使用热发射显微镜从正面和背面分别获取所述PN结和所述失效点的深度信息；步骤S3，通过比较所述PN结和所述失效点的深度信息来判断所述失效点的失效位置。能够快速定位失效位置是在芯片内部还是在封装上，提高失效分析的效率。
快速定位集成电路失效位置方法装置

[发明专利]一种芯片的失效分析方法及系统-CN202211194766.9有效
发明人：俞佩佩;王丽雅;胡明辉 -专利权人：合肥晶合集成电路股份有限公司
申请日： 2022-09-29 - 公布日： 2022-12-09 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本发明公开了一种芯片的失效分析方法及系统，其中所述芯片的失效分析方法至少包括：提供一失效芯片，在失效芯片上标记出失效点的位置；根据失效点到失效芯片的侧边的距离，在失效芯片上设置取样图形，使失效点的投影位于取样图形的中央；沿着取样图形的边线，分裂失效芯片，获得失效图形芯片和多个辅助图形芯片；拼接失效图形芯片和辅助图形芯片，获得组合图形芯片；以及研磨组合图形芯片，至失效点露出，并通过探针测试失效芯片的失效区域。本发明提供了一种芯片的失效分析方法及系统，能够提升芯片失效分析的准确性和分析效率。
一种芯片失效分析方法系统

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