专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种集成自旋赫兹赫兹超表面生物传感器-CN202111259481.4在审
  • 周俊;吴书婷;钱佳佳;葛振振 - 电子科技大学
  • 2021-10-28 - 2022-02-01 - G01N21/3586
  • 本发明属于生物传感技术领域,涉及赫兹生物传感技术,具体提供一种集成自旋赫兹赫兹超表面生物传感器,将由铁磁层/非铁磁层构成的赫兹与超表面金属微结构分别集成于衬底的上下表面,在测试过程中,由赫兹出射的赫兹波直接到达超表面金属微结构表面,无需经过自由空间,有效提高传感的灵敏度;同时,自旋赫兹结构简单,没有光电导天线赫兹的光路校准问题;由于低成本宽带赫兹的集成,测试过程中不再需要额外的赫兹,大大降低测试成本;并且,赫兹出射的赫兹信号调节便利;综上,本发明的集成自旋赫兹赫兹超表面生物传感器具有低成本、易集成、灵敏度高、可扩展的优点。
  • 一种集成自旋赫兹表面生物传感器
  • [发明专利]一种赫兹波成像系统-CN201610370305.0有效
  • 吴昕;曾明朋;李先东;季凡;曾大章 - 成都曙光光纤网络有限责任公司
  • 2016-05-30 - 2019-03-22 - G01N21/47
  • 本申请公开了一种赫兹波成像系统,用于对待测样品进行成像,包括赫兹、聚光镜、物镜、赫兹探测器、处理装置和中心遮挡装置。赫兹用于发射赫兹波,聚光镜用于对赫兹发射的赫兹波进行准直和聚焦,并将赫兹波照射到待测样品上,物镜用于收集从待测样品上散射出来的赫兹波,赫兹探测器用于接收物镜汇聚的赫兹波,并根据接收到的赫兹波生成赫兹波信号,处理装置用于对赫兹波信号进行处理,得到待测样品的赫兹波图像。中心遮挡装置位于赫兹波进入待测样品前的传输路径上,用于遮挡经过聚光镜的中心区域的赫兹波,能够解决明场成像方式下不易体现待测样品的表面纹理、凸高和缺陷等细节部分的问题。
  • 一种赫兹成像系统
  • [实用新型]一种赫兹波成像系统-CN201620518550.7有效
  • -
  • 2016-05-30 - 2017-01-11 - G01N21/47
  • 本申请公开了一种赫兹波成像系统,用于对待测样品进行成像,包括赫兹、聚光镜、物镜、赫兹探测器、处理装置和中心遮挡装置。赫兹用于发射赫兹波,聚光镜用于对赫兹发射的赫兹波进行准直和聚焦,并将赫兹波照射到待测样品上,物镜用于收集从待测样品上散射出来的赫兹波,赫兹探测器用于接收物镜汇聚的赫兹波,并根据接收到的赫兹波生成赫兹波信号,处理装置用于对赫兹波信号进行处理,得到待测样品的赫兹波图像。中心遮挡装置位于赫兹波进入待测样品前的传输路径上,用于遮挡经过聚光镜的中心区域的赫兹波,能够解决明场成像方式下不易体现待测样品的表面纹理、凸高和缺陷等细节部分的问题。
  • 一种赫兹成像系统
  • [发明专利]赫兹赫兹探测器-CN202211109944.3在审
  • 陈建发;郝成龙;谭凤泽;朱健 - 深圳迈塔兰斯科技有限公司
  • 2022-09-13 - 2022-11-11 - H01S1/02
  • 本申请实施例提供了一种赫兹赫兹探测器,属于赫兹的技术领域。该赫兹包括衬底和赫兹脉冲;其中,所述衬底的一侧直接设置有周期性排布的纳米结构,以使所述衬底具有准直光相位;所述赫兹脉冲被设置于所述衬底背离所述纳米结构的一侧。根据光路可逆,本申请实施例还提供了一种赫兹探测器,包括上述衬底。该赫兹不需要贴合超半球透镜使用,解决了现有技术对准难度高不利于小型化的问题。
  • 赫兹探测器
  • [实用新型]一种基于超透镜的赫兹光谱测试系统-CN202222376035.8有效
  • 姜雯;郝成龙;谭凤泽;朱健 - 深圳迈塔兰斯科技有限公司
  • 2022-09-07 - 2023-01-03 - G01N21/3581
  • 一种基于超透镜的赫兹光谱测试系统,包括:赫兹赫兹探测器以及同光轴依次排列的第一衬底、第一超透镜表面、第二超透镜表面和第二衬底;在所述第一超透镜表面与第二超透镜表面之间能够设置待测样品;所述赫兹位于第一衬底且远离第一超透镜表面的一侧;所述赫兹探测器位于第二衬底且远离第二超透镜表面的一侧;所述赫兹发出赫兹波;所述第一超透镜表面用于对赫兹发出的赫兹波进行准直;第二超透镜表面用于将射入第二超透镜表面的赫兹波会聚至赫兹探测器本申请利用平面的超透镜进行赫兹光路的准直与聚焦,使整个赫兹光路更加紧凑,赫兹光谱测试系统得到简化,方便光路调节,抗干扰能力得到提升。
  • 一种基于透镜赫兹光谱测试系统
  • [发明专利]一种赫兹成像装置-CN202210592193.9有效
  • 陈高翔;王镭;余建辉;王明;范耀文 - 深圳市英宝硕科技有限公司
  • 2022-05-27 - 2023-03-24 - G01V8/10
  • 本发明属于赫兹扫描技术领域,公开了一种赫兹成像装置。本发明包括赫兹赫兹用于发射赫兹波;反射装置,反射装置能将赫兹波导向至工作区;赫兹阵列相机,赫兹阵列相机安装在工作区下端,赫兹阵列相机用于接受赫兹波;赫兹成像装置还包括传送装置和承载装置,传送装置能带动承载装置沿直线往复移动,承载装置能穿过工作区,承载装置上内设置有第一通孔,承载装置能放置信封,赫兹波穿过第一通孔。解决现有的赫兹波会穿越传送带导致干扰太大,造成赫兹成像装置检测效果不准确的问题。
  • 一种赫兹成像装置

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