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[发明专利]一种紫外至短波红外菲索干涉激光波长计-CN202310253752.8在审
发明人：马世帮;解琪;腾国奇;陈科社;乌龙辉;刘伟光;张建付;李宏光;范纪红 -专利权人：西安应用光学研究所
申请日： 2023-03-16 - 公布日： 2023-07-07 - 主分类号： G01J9/02 文献下载
摘要：本发明属于光学计量测试技术领域，公开了一种紫外至短波红外菲索干涉激光波长计，包括：光纤底座、准直镜、平面镜组Ⅰ、平面镜组Ⅱ、波段选择光阑、紫外可见干涉腔体、短波红外干涉腔体、紫外可见柱面镜、短波红外柱面镜、挡片Ⅰ、挡片Ⅱ、紫外可见面阵CCD、短波红外面阵CCD和计算机。本发明解决了192nm～2100nm波段范围激光波长解决了不能在一台波长计上完成测量的难题，提高了不同波段激光波长的测量速度，降低了成本，具有广阔的应用前景。
一种紫外短波红外干涉激光波长

[发明专利]一种亚皮米量级近红外至中波红外波长校准系统及方法-CN202211691978.8在审
发明人：马世帮;李宏光;刘瑞星;康臻;张灯;陈娟;解琪 -专利权人：西安应用光学研究所
申请日： 2022-12-28 - 公布日： 2023-05-30 - 主分类号： G01J5/80 文献下载
摘要：本发明属于光学计量测试技术领域，公开了一种亚皮米量级近红外至中波红外波长校准系统及方法，首先利用激光拍频测量模块和频率锁定反馈模块将窄线宽激光器频率锁定至频率梳其中一根梳齿上，测量频率锁定后窄线宽激光器的输出激光频率，然后利用气压计和温湿度计测量当前环境的气压、温度和湿度，计算当前环境空气折射率，根据锁定之后的输出频率和当前环境空气折射率计算窄线宽激光器输出波长，使频率锁定后的激光器入射至被校波长仪器之中，比较频率锁定后的窄线宽激光器输出波长和被校波长测量仪器的波长测量示值，完成被校波长测量仪器的校准。本发明实现了波长校准问题，并引入实时空气折射率，避免空气折射率变化对波长的影响。
一种亚皮米量级红外中波波长校准系统方法

[发明专利]太赫兹波段光谱漫反射比校准装置-CN202011535885.7有效
发明人：李宏光;解琪;杨鸿儒;王乐;董再天 -专利权人：西安应用光学研究所
申请日： 2020-12-23 - 公布日： 2023-03-14 - 主分类号： G01N21/47 文献下载
摘要：本发明属于光学计量技术领域，主要涉及一种太赫兹校准装置，尤其涉及一种太赫兹波段光谱漫反射比校准装置。其采用连续太赫兹辐射发射系统、太赫兹漫反射积分球传递标准和高莱太赫兹探测系统构成连续太赫兹辐射型光谱漫反射比校准装置；采用太赫兹脉冲发射系统、时间延迟系统、太赫兹漫反射积分球传递标准和太赫兹脉冲探测系统构成脉冲太赫兹辐射型光谱漫反射比校准装置；从而实现对(0.1～3)THz波段范围内材料太赫兹漫反射比参数测试设备的校准，解决了目前广泛应用的多种非极性材料太赫兹漫反射比准确测试的难题，具有广阔的应用前景。
赫兹波段光谱漫反射校准装置

[发明专利]菲索干涉型波长计中柱面成像压缩系统的匹配调试方法-CN202210482690.3在审
发明人：马世帮;张灯;腾国奇;刘瑞星;解琪;康臻;孙宇楠;李宏光;袁林光 -专利权人：西安应用光学研究所
申请日： 2022-05-05 - 公布日： 2022-08-26 - 主分类号： G01J9/02 文献下载
摘要：本发明属于光学计量测试技术领域，公开了一种柱面压缩成像系统最佳匹配调试方法，首先匹配柱面镜和线阵CCD，通过观察线阵CCD的输出至示波器的波形，当输出波形接近一条直线且信号的幅值最大时，完成柱面镜和线阵CCD的匹配；然后将柱面镜和线阵CCD作为一个整体与干涉模块进行匹配，通过观察线阵CCD输出至示波器的波形，当输出波形的占空比接近1:1且信号峰谷值最大时，干涉模块与柱面镜线阵CCD整体匹配完成。本发明解决了菲索激光波长计中的柱面压缩成像系统的调式难题，有效保证菲索波长计的波长测量精度。
干涉波长柱面成像压缩系统匹配调试方法

[发明专利]一种小型化微光夜视仪分辨力和视场测试系统-CN202210482712.6在审
发明人：解琪;赵俊成;董再天;马世帮;腾国奇;李宏光;刘瑞星;刘建平;孙宇楠 -专利权人：西安应用光学研究所
申请日： 2022-05-05 - 公布日： 2022-08-23 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种小型化微光夜视仪分辨力和视场测试系统，其，包括：光源系统、测试靶组、弱光照度计、辐亮度计、成像物镜组件和被测微光夜视仪；光源系统布置在测试靶组前方，为测试靶组提供均匀照明；测试靶组包括分辨力靶和视场靶；弱光照度计和辐亮度计并列排布于测试靶组空位后侧对应位置，用于测量及监测靶面处的辐亮度和照度值；成像物镜组件和被测微光夜视仪依次布置在测试靶组后方，对测试靶组成像并投射于被测微光夜视仪上，测试人员观测分辨力靶或视场靶的图像，给出最终分辨力值或视场值。本发明解决了在现场条件下，工作于可见光波段的夜视仪及近红外波段新型夜视仪分辨力和视场参数的评价问题，具有广阔的应用前景。
一种小型化微光夜视仪分辨力视场测试系统

[发明专利]一种测井仪中子源装卸装置及方法-CN202011183237.X有效
发明人：林涛;韩壮科;邓红卫;王增平;崔宁;解琪;王瑞清;张金西 -专利权人：中国石油天然气集团有限公司;中国石油集团测井有限公司
申请日： 2020-10-29 - 公布日： 2022-03-29 - 主分类号： B25B27/14 文献下载
摘要：本发明公开了一种测井仪中子源装卸装置及方法，包括外管、套筒、内杆和六方手柄；套筒设置在外管顶端，套筒为内六方结构，外管顶端端面设置有径向的卡槽，外管底端设置有锁紧装置；内杆设置在外管内部，与外管滑动连接，内杆顶端伸出外管顶端，位于套筒内部，内杆顶端设置有外螺纹，外螺纹区域底端设置有径向伸出的限位销，内杆底端伸出外管底端，与六方手柄连接；外管底端与六方手柄顶端通过弹簧连接，弹簧嵌套在内杆上，六方手柄底端为外六方结构，外六方结构顶部两侧设置有提拉销。通过一个装置，实现中子源的快速装卸，提高装卸效率。
一种测井中子源装卸装置方法

[发明专利]具备自校准功能的太赫兹源发散角测量装置及测量方法-CN201810589391.3有效
发明人：李宏光;马世帮;解琪 -专利权人：西安应用光学研究所
申请日： 2018-06-08 - 公布日： 2020-05-19 - 主分类号： G01J1/42 文献下载
摘要：本发明提供了一种具备自校准功能的太赫兹源发散角测量装置及方法，采用带有发散角自校准模块的太赫兹探测器转动测量方式，将弧形导轨二维扫描、角规标定和太赫兹发散角标准源校准相结合，实现太赫兹源发散角的测量。该装置由圆弧导轨刻度系统、探测系统、太赫兹发散角标定模块、太赫兹发散角标准源和计算机系统组合组成了太赫兹源发散角测量装置，提高了太赫兹发散角测量准确度。该发散角测量方法相比于源绕探测器旋转的发散角测量方案，避免了三种辐射源互换过程中带来的角度定位误差，提高发散角测量精度。
具备校准功能赫兹发散测量装置测量方法

[发明专利]针对傅立叶变换型太赫兹源波长测量仪的校准装置及方法-CN201911186031.X在审
发明人：解琪;李宏光;汪建刚;董再天;陈娟;赵俊成;王乐;刘瑞星 -专利权人：西安应用光学研究所
申请日： 2018-12-24 - 公布日： 2020-03-27 - 主分类号： G01J9/04 文献下载
摘要：本发明提出针对傅立叶变换型太赫兹源波长测量仪的校准装置及方法，该校准方法基于太赫兹特征波长标准器法对其进行校准，实现了傅立叶变换型太赫兹源波长测量仪的校准；在校准中根据被校太赫兹源波长测量仪的波长测量范围，在测量范围的(0～1/3)、(1/3～2/3)和(2/3～1)处选择了三个校准点，提高了太赫兹源波长测量仪器校准的准确性。
针对傅立叶换型赫兹波长测量仪校准装置方法

[发明专利]基于光子计数法的紫外弱光探测器辐射灵敏度校准装置-CN201911141013.X在审
发明人：王生云;解琪;李宏光;孙宇楠;俞兵;王乐;史继芳;曹锋;吴李鹏;张玫 -专利权人：西安应用光学研究所
申请日： 2019-11-20 - 公布日： 2020-02-21 - 主分类号： G01J1/44 文献下载
摘要：本发明属于光学计量技术领域，具体涉及一种基于光子计数法的紫外弱光探测器辐射灵敏度校准装置，其采用紫外光源、滤光及衰减组件、石英透镜、光栅单色仪、积分球、微电流计、标准紫外光子计数器和计算机实现待校紫外弱光探测器的校准。该校准装置采用激光驱动白光光源作为紫外光源，并提出基于光子计数法的紫外弱光探测器辐射灵敏度校准装置，实现了紫外弱光探测器辐射灵敏度参数的准确校准，具有广阔的应用前景。
基于光子计数紫外弱光探测器辐射灵敏度校准装置

[发明专利]太赫兹源波长测量仪校准装置及方法-CN201811577098.1在审
发明人：解琪;李宏光;汪建刚;董再天;陈娟;赵俊成;王乐;刘瑞星 -专利权人：西安应用光学研究所
申请日： 2018-12-24 - 公布日： 2019-03-22 - 主分类号： G01J9/04 文献下载
摘要：本发明出太赫兹源波长测量仪校准装置及方法，针对傅立叶变换型太赫兹源波长测量仪和除傅立叶变换型太赫兹源波长测量仪之外的其它类型的波长测量仪，采用相应的校准装置及方法进行校准，实现不同测量原理太赫兹源波长测量仪的校准。对应除傅立叶变换型太赫兹源波长测量仪之外其它类型的太赫兹源波长测量仪，采用太赫兹标准频率源法对其进行校准；对应傅立叶变换型类型的太赫兹源波长测量仪，采用太赫兹特征波长标准器法对其进行校准；该校准方法解决了(0.1～5)THz波段范围内太赫兹源波长测量仪的校准难题，具有广阔的应用前景。
太赫兹源波长测量仪校准校准装置波长测量标准频率源测量原理特征波长标准器应用

[发明专利]太赫兹源波长测量装置及方法-CN201610531988.3有效
发明人：赵宝珍;解琪;李宏光;杨鸿儒;马世帮;孙宇楠;汪建刚 -专利权人：西安应用光学研究所
申请日： 2016-07-07 - 公布日： 2018-08-28 - 主分类号： G01J9/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种太赫兹源波长测量装置及方法，属于光学测量与计量技术领域。其特点是，用太赫兹源、太赫兹光谱标定器、太赫兹反射光学系统、太赫兹法珀干涉腔体、太赫兹信号采集探测系统和计算机构建了太赫兹源波长测试装置，实现对(0.3～10)THz波段范围内太赫兹源波长参数的准确测试，解决了目前多种太赫兹源波长参数准确测试的难题，具有广阔的应用前景。
赫兹波长测量装置方法

[发明专利]微光ICCD分辨力测量装置及测量方法-CN201610268331.2有效
发明人：史继芳;解琪;王生云;孙宇楠;李琪;李宏光;曹锋;王乐;张博妮 -专利权人：西安应用光学研究所
申请日： 2016-04-27 - 公布日： 2018-07-31 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明提出一种微光ICCD分辨力测量装置及测量方法，属于光学测量与计量领域。其特点是，用光源系统、分辨力靶、共轭透镜组、测量暗箱、视频图像采集系统、和计算机构建了分辨力测量装置，共轭透镜组对经光源系统照射的分辨力靶成像，并投射到被测微光ICCD上，被测微光ICCD视频输出线连接至视频图像采集系统，视频图像采集系统采集被测微光ICCD输出的分辨力靶图像并送入计算机，计算机用于显示视频图像采集系统传输的分辨力靶图像。本发明解决了微光ICCD分辨力测量问题，可推广至EMCCD分辨力测量等其它需要建立分辨力测量装置及研究分辨力测量方法的领域，具有广阔的应用前景。
微光 iccd 分辨力测量装置测量方法

[发明专利]光学镜头残余偏振测试装置-CN201711038614.9在审
发明人：王雷;阴万宏;许荣国;张博妮;汪建刚;马世邦;解琪 -专利权人：西安应用光学研究所
申请日： 2017-10-30 - 公布日： 2018-03-06 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种光学镜头残余偏振测试装置，该装置采用三端开口的积分球和卤钨灯作为光源，并采用聚焦透镜对光束进行聚焦，采用由消色差滤光片、偏振器和1/4波片组成的起偏光学系统提供特定偏振状态特定波长的测量光束；采用大口径离轴抛物面反射镜对测量光束进行准直后再通过被测光学镜头；并利用光电探测器对经过放大器放大的偏振光信号进行测量，从而实现了波长范围0.45μm∽1.1μm、偏振度测量范围0.1∽0.9的光学镜头残余偏振度测量。
光学镜头残余偏振测试装置

[发明专利]基于太赫兹吸收光谱数据处理的混合物成分识别方法-CN201510133780.1有效
发明人：李宏光;韩占锁;杨鸿儒;刘瑞星;俞兵;于东钰;解琪;陈娟;康登魁 -专利权人：西安应用光学研究所
申请日： 2015-03-25 - 公布日： 2017-04-19 - 主分类号： G01N21/3581 文献下载
摘要：本发明提出一种基于太赫兹吸收光谱处理的混合物成分识别方法，属于光学测量领域。本发明用于利用太赫兹吸收光谱检测混合物的组分，首先获取混合物样品太赫兹吸收光谱的，在扣除环境噪声、背景噪声，消除随温度变化的水蒸气吸收造成的影响后，获得用于识别的太赫兹吸收光谱，然后调用太赫兹光谱数据库，采用模板匹配和吸收峰比对的方法，依次判断、识别并扣除各样品的太赫兹吸收光谱；判定扣除后的吸收光谱数据，直到检测出混合物所有组分。本发明将实验环境下的太赫兹光谱和普通环境下的太赫兹光谱相结合，可以用于普通环境下的太赫兹光谱识别，为太赫兹光谱识别技术的应用提供了保障。
基于赫兹吸收光谱处理混合物成分识别方法

[发明专利]基于标准面源黑体的红外辐射计标定方法-CN201410001199.X有效
发明人：胡铁力;郭羽;辛舟;杨峰;孙婷;刘伟光;吴沛;范纪红;马世帮;李四维;解琪;阴万宏;刘瑞星;吴李鹏;常伟军 -专利权人：西安应用光学研究所
申请日： 2014-01-01 - 公布日： 2014-04-23 - 主分类号： G01J5/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于标准面源黑体的红外辐射计比例常数标定方法，属于红外光学辐射领域。该标定方法针对目前红外辐射计斩波器喷涂高发射率黑漆和带有四个温度探头的特点，在斩波器温度与内置控温参考黑体温度相等时采集信号，避免斩波器的附加辐射进入探测器，此外，还要求在采集信号时，环境温度、壳体内部温度与斩波器温度相等，使得环境、壳体与斩波器之间的辐射动态平衡，这样就可以消除斩波器、壳体内部以及环境等附加辐射的影响。另外，该标定方法还在常用环境温度范围内进行了多个温度点的标定，弥补了传统方法中以一个温度点标定而代替多个温度点进行标定的以点带面的不足之处。与传统方法相比，这种红外辐射计比例常数标定方法的精度更高。
基于标准黑体红外辐射计标定方法

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