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- [发明专利]一种测试二阶系统试验装置-CN201310571496.3在审
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杨光
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杨光
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2013-11-17
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2015-05-27
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G01D21/00
- 一种测试二阶系统试验装置,包括测试二阶系统试验装置阻尼杆(1),测试二阶系统试验装置壳体结构(2),测试二阶系统试验装置固定结构(3),测试二阶系统试验装置阻尼杆(1)与测试二阶系统试验装置壳体结构(2)采用可拆卸的方式连接,测试二阶系统试验装置固定结构(3)与测试二阶系统试验装置壳体结构(2)采用可拆卸的方式连接;所述的测试二阶系统试验装置壳体结构(2),为直筒形结构,两端光滑;所述的测试二阶系统试验装置固定结构(3)为带柄的活塞,其与测试二阶系统试验装置壳体结构(2)采用螺纹连接。本发明的优点:本发明所述的测试二阶系统试验装置能够重复使用,节约资源,避免浪费,降低成本。
- 一种测试系统试验装置
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