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[发明专利]考虑相位空变的天基干涉成像雷达高度计定标方法及系统-CN202310331076.1在审
发明人：谭洪;李盛阳;吕艺璇;郭威龙 -专利权人：中国科学院空间应用工程与技术中心
申请日： 2023-03-30 - 公布日： 2023-07-28 - 主分类号： G01S7/40 文献下载
摘要：本发明公开了一种考虑相位空变的天基干涉成像雷达高度计定标方法及系统，包括：利用天基干涉成像雷达高度计获取包含每个参考目标的干涉相位图像，并计算每个参考目标所在干涉相位图像像素中心位置的雷达视角；利用初始雷达干涉参数分别和每个参考目标的雷达视角进行处理，得到每个参考目标的相位误差，并基于多项式拟合模型、每个参考目标的雷达视角和相位误差，确定多项式拟合系数；基于多项式拟合系数和相位误差模型，得到包含天基干涉成像雷达高度计的基线长度误差、等效基线倾角误差和相位空变误差的估计值的干涉定标结果
考虑相位基干成像雷达高度计定标方法系统

[发明专利]基于条纹级数不准度的解包裹相位误差检测与校正方法-CN201910791454.8有效
发明人：张春伟;赵宏;张振洋;乔嘉成 -专利权人：西安交通大学
申请日： 2019-08-26 - 公布日： 2021-01-19 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于条纹级数不准度的解包裹相位误差检测与校正方法，该方法定义了一种新参量——条纹级数不准度，用于实现对相位图快速、准确的边缘检测，进而进行解包裹相位误差校正。所提方法的主要步骤包括：综合多频相位解包裹中的不同频率相位，计算得到条纹级数不准度，作为相位图边缘检测的媒介；基于条纹级数不准度的空间分布特征，制定相位图边缘判定准则，据此建立相位图边缘逐点检测方案，实现对解包裹相位图的边缘检测；对检测得到的相位图边缘及边缘所包围区域进行解包裹相位误差校正，得到正确的相位分布。本发明所公开方法将解包裹相位误差的检测与校正两个过程相分离，在保证解包裹相位误差校正鲁棒性的前提下，显著提高了对不连续表面相位进行误差校正的效率。
基于条纹级数不准包裹相位误差检测校正方法

[发明专利]相位图像数据组中背景相位的确定方法-CN201010591712.7有效
发明人：拉里斯·萨洛米尔;马加利·维亚隆;乔格·罗兰;帕特里克·格罗斯 -专利权人：西门子公司
申请日： 2010-12-16 - 公布日： 2011-06-22 - 主分类号： G01R33/48 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于确定对检查对象所记录的相位图像数据组的相位值中的背景相位的方法，其中，在相位图像数据组的子区域(34)中确定所述背景相位，包括以下步骤：记录检查对象的相位图像数据组；围绕所述子区域(34)在相位图像数据组中确定至少近似闭合的平面轮廓(31)，其中，所述平面轮廓具有宽度为相位图像数据组的至少一个图像点的轮廓面积；通过假定背景相位的空间上的曲线是调和的或准调和的函数来确定子区域中的相位值，其中，根据在所述平面轮廓(31)中的相位值来确定子区域中的图像点的相位值。
相位图像数据背景确定方法

[发明专利]针对不连通区域基于残差点校正的最小二乘相位解包裹方法-CN202310661873.6在审
发明人：马骏;沈中昊;魏聪;王念枫;郭瑞 -专利权人：南京理工大学
申请日： 2023-06-06 - 公布日： 2023-09-29 - 主分类号： G06T5/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种针对不连通区域基于残差点校正的最小二乘解包裹方法，所述方法包括：采集四幅包含不连通区域的被测样品原始干涉图；通过四步移相法提取原始包裹相位图；添加数字载频以获得参考相位图；采用样本块匹配方法对原始包裹相位图中的不连通区域进行修复，并与参考相位比较，反复迭代获得最终包裹相位图；采用基于残差点校正的最小二乘解包裹算法获得解包裹相位图；获得修正系数并得到最终重建相位图。本发明结合了样本块匹配和残差点校正的优势，对不连通、大陡度、高噪声的包裹相位解缠效果好，解包裹相位精度高，对靶丸检测、光学元件面型检测等领域有重要意义。
针对连通区域基于差点校正最小相位包裹方法

[发明专利]用于在保持晶片翘曲覆盖率时使用不太有效像素增强数据处理吞吐量的系统及方法-CN202080049425.5在审
发明人：海伦·刘;张国庆 -专利权人：科磊股份有限公司
申请日： 2020-07-29 - 公布日： 2022-02-25 - 主分类号： G01B9/02 文献下载
摘要：所述控制器经配置以：从所述干涉仪子系统接收所述干涉图；基于所接收的干涉图来产生所述样本的相位图，其中所述相位图包含多个像素；选择所述相位图的所述多个像素的像素子集用于相位展开程序；对所述相位图的所述像素子集执行一或多个相位展开程序以产生展开相位图；以及基于所述展开相位图来产生所述样本的表面高度图。
用于保持晶片覆盖率使用有效像素增强数据处理吞吐量系统方法

[发明专利]空气等离子体产生太赫兹波的频谱调制方法及光路系统-CN201610879364.0有效
发明人：孙文峰;张颖;王新柯;张岩 -专利权人：首都师范大学
申请日： 2016-10-08 - 公布日： 2019-05-21 - 主分类号： G01N21/3586 文献下载
摘要：该方法包括：包括：步骤一、设计透镜相位图，透镜相位图是透镜相位因子的相位分布图；步骤二、在空气等离子体产生太赫兹波的光路系统上加载透镜相位图，产生等离子体细丝，辐射太赫兹波；步骤一中，设计透镜相位图的步骤包括：a、调节透镜相位图的相位分布，利用空气等离子体产生太赫兹波的光路系统产生太赫兹波；b、研究产生的太赫兹波的频谱与产生的等离子体形态之间的关系；c、设定预期产生的太赫兹波的频谱，计算产生该太赫兹波的两个等离子体之间的间距；d、计算透镜相位图的等效焦距f₁；e、设计透镜相位图。
空气等离子体产生赫兹频谱调制方法系统

[发明专利]一种基于多尺度注意力机制网络的相位解析方法-CN202110566297.8有效
发明人：段智涓;朱江平;黄怡洁;游迪 -专利权人：四川大学
申请日： 2021-05-24 - 公布日： 2022-06-07 - 主分类号： G06T7/521 文献下载
摘要：本发明涉及本发明涉及光学三维测量领域，特别是涉及一种基于多尺度注意力机制网络的相位解析方法，包括以下步骤：S1向被测对象投影三频N步相移条纹图像，相机同步拍摄被待测对象面形调制的变形条纹图像；S2基于相移法，将变形条纹图像转换为不同频率的截断相位图；S3从不同频率的截断相位图中提取出最高频率的截断相位图，并将最高频率的截断相位图输入预先训练好的多尺度注意力机制网络中，输出对应的连续相位图；S4将连续相位图映射为三维面形深度采用本发明的方法，将截断相位图像输入预先训练好的网络模型即可快速预测出连续相位，能够抑制误差扩散与累积，不受实际相位不连续、戴眼镜等区域的影响。
一种基于尺度注意力机制网络相位解析方法

[发明专利]校正磁化率误差的磁共振温度成像方法-CN202110184183.7有效
发明人：吴朝;刘文博;韩萌;旷雅唯 -专利权人：华科精准（北京）医疗科技有限公司
申请日： 2021-02-08 - 公布日： 2023-05-30 - 主分类号： G06T11/00 文献下载
摘要：本申请公开了一种校正磁化率误差的磁共振温度成像方法，使用含有i个不同回波时间的梯度回波序列获取目标部位的磁共振影像数据，选取至少一个回波时间对应的相位图作为第一组相位图，其他回波时间对应的相位图为第二组相位图；使用所述第一组相位图计算得到第一组相位差图或温度差图，使用所述第二组相位图计算得到第二组相位差图或温度差图；对比相应像素中第二组相位差图或温度差图中的相位差或温度差与所述第一组相位差图或温度差图中的相位差或温度差的差值的绝对值是否超过预设阈值，如果超过预设阈值，则对第二组相位差图或温度差图中的相位差或者温度差进行校准。
校正磁化率误差磁共振温度成像方法

[发明专利]一种多工位全场条纹图相移辅助散斑大长宽比间隙测量方法-CN202111584824.4有效
发明人：杨树明;赵洪伟;张国锋;胡鹏宇;邓惠文;李霖 -专利权人：西安交通大学
申请日： 2021-12-22 - 公布日： 2022-10-25 - 主分类号： G01B11/14 文献下载
摘要：针对飞机结构大长宽比间隙和阶差在多工位上布置单组间隙测量系统，进行全场间隙和阶差测量；使用投影仪将三步相移条纹图案和散斑图案先后投射到间隙及其上下缘上，提取间隙上下缘图像并校正，进行匹配与重构；搜索左右包裹相位图中每个有效像素的立体对应和绝对条纹顺序，生成初始视差图和绝对相位图；对视差错误的像素进行补偿；使用立体结构光模型，充分利用三视图信息，借助视差图和绝对相位图计算间隙上下缘特征点的三维坐标，进行三重扫描，测得结构间隙与阶差。
一种多工位全场条纹相移辅助散斑大长宽间隙测量方法

[发明专利]一种基于堆排序的质量图相位解缠方法-CN201510136369.X有效
发明人：陈彦;王世钦;童玲 -专利权人：电子科技大学
申请日： 2015-03-26 - 公布日： 2017-07-18 - 主分类号： G06T5/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于堆排序的质量图相位解缠方法，先通过去平地效应以及滤波得到待解缠相位图像，然后从待解缠相位图像中提取相位质量图，并使用堆排序法对相位质量图进行排序，即确定出待解缠相位图像中待解缠点的解缠顺利，最后，根据解缠顺序对待解缠点解缠，直至整幅待解缠相位图像解缠完毕。本发明利用待解缠相位图像的质量信息引导像待解缠点进行积分解缠，同时又添加堆排序的法对相位质量图进行排序，从而缩短相位解缠所需时间，最终快速、高精度的完成相位解缠，生成相位解缠图像。
一种基于排序质量相位方法

[发明专利]一种侧边抛磨光纤剩余包层厚度检测方法-CN201510379682.6在审
发明人：钟永春;陈哲;汪峰;罗瑛 -专利权人：暨南大学
申请日： 2015-06-30 - 公布日： 2015-10-14 - 主分类号： G01B11/06 文献下载
摘要：本发明公开了一种侧边抛磨光纤剩余包层厚度检测方法，其特征在于具备步骤如下：（1）采用马赫曾德型透射式离轴全息成像系统，拍摄包括抛磨光纤结构信息的离轴全息图；（2）对离轴全息图进行相位重构；（3）对重构后的相位进行解包裹得到相位图；（4）相对于步骤（1）中，移除抛磨光纤，拍摄背景全息图，并依照步骤（2）和（3）进行相位重构和解包裹，得到背景相位图；（5）用步骤（4）得到的背景相位图对步骤（3）得到的相位图进行补偿以消除相位倾斜，得到抛磨光纤的相位图；（6）在抛磨光纤的相位图中提取结构信息，得到抛磨面与纤芯的距离，即剩余包层厚度。
一种侧边磨光剩余包层厚度检测方法

[发明专利]光输入输出装置-CN201380063891.9有效
发明人：中岛光雅;山口庆太;山口城治;石井雄三;叶玉恒一;根本成;桥本悦;妹尾和则;铃木贤哉;神好人 -专利权人：日本电信电话株式会社
申请日： 2013-12-06 - 公布日： 2018-09-18 - 主分类号： G02F1/31 文献下载
摘要：该光输入输出装置具备：进行信号光的输入输出的端口；排列成矩阵状的多个像素；相位调制元件，生成在各像素上设定的相位值的组合即相位图，以使光在预期的输入输出端口间进行光耦合，将相位图变换成各像素的驱动信号，并根据驱动信号驱动像素，施加与相位图对应的驱动信号，改变信号光的光相位；以及光学元件，改变信号光的出射方向，以使信号光从输入端口照射到各像素上，其中，相位图生成部具有在相位调制元件的平面内的至少一个方向上重叠具有规定的周期的周期性的相位图的重叠单元和控制周期性的相位图的振幅的单元，在与重叠的周期性的相位图的周期对应的位置上将信号光衍射，使其光强度色散。
输入输出装置

[发明专利]包括确定物体的定量色散图像的方法和数字同轴全息显微镜扫描仪-CN202180047415.2在审
发明人：保罗·斯普林格;蒂莫·埃梅里希;佐尔坦·法丘斯;马蒂亚斯·辛泽尔 -专利权人：索尼集团公司
申请日： 2021-07-09 - 公布日： 2023-03-28 - 主分类号： G02B21/14 文献下载
摘要：一种包括基于定量相位图像组确定物体的定量色散图像的方法。定量相位图像组中的每个定量相位图像利用相应的不同的照明光波长获得。
包括确定物体定量色散图像方法数字同轴全息显微镜扫描仪

[发明专利]一种基于数理分析的结构光相位展开方法-CN201810888929.0有效
发明人：易京亚;卢盛林 -专利权人：广东奥普特科技股份有限公司
申请日： 2018-08-07 - 公布日： 2020-12-08 - 主分类号： G01B11/25 文献下载
摘要：本发明属于结构光三维测量技术领域，具体涉及一种基于数理分析的结构光相位展开次级表构建方法，包括如下步骤：包括如下步骤：S1、采用不同频率条纹进行投影测量，其中频率指单幅条纹图中条纹数目，各频率之间满足一定关系，确保通过外差法最终能获得单频相位图；S2、利用外差法对相机捕获的多频变形条纹图进行计算，获得两种频率为相邻整数的截断相位图；S3、将所获的两种相邻整数频率，代入次级表构建公式，快速构建相位展开次级表；S4、检索次级表对截断相位进行相位展开。该方法生成过程简单、快捷，满足3D重建对精度和速度的要求，其中对初始频率的约束要求在大多数情况下容易满足。
一种基于数理分析结构相位展开方法

[发明专利]一种时序干涉相位解缠方法、装置及存储介质-CN202210208257.0在审
发明人：黄会宝;柯虎;江德军;彭涛;郭家成;鲁晨阳;刘恒;巨淑君;熊敏 -专利权人：国能大渡河流域水电开发有限公司
申请日： 2022-03-03 - 公布日： 2022-06-24 - 主分类号： G01S13/90 文献下载
摘要：本发明提供了一种可提高相位解缠准确度的时序干涉相位解缠方法、装置及存储介质。时序干涉相位解缠方法，包括：采集历史干涉相位图数据，干涉相位图数据包括残差点和非残差点；基于历史干涉相位图数据训练残差点分类模型；通过训练好的残差点分类模型提取测试干涉相位图数据中的目标残差点；根据目标残差点和枝切线长度函数确定最优枝切线；基于最优枝切线对测试干涉相位图进行相位解缠。本发明通过历史干涉相位图数据训练残差点分类模型，训练好的残差点分类模型能够识残差点和非残差点，从而避免相位解缠过程中因残差点识别错误造成传递影响；根据残差点和枝切线长度函数确定最优枝切线，保证最优枝切线的长度尽可能短，提高相位解缠的准确度。
一种时序干涉相位方法装置存储介质