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[发明专利]光学组件、光发射模组、深度相机及电子设备-CN202210254417.5在审
发明人：戴阳;刘海亮;顾标平 -专利权人： OPPO广东移动通信有限公司
申请日： 2022-03-15 - 公布日： 2022-07-05 - 主分类号： G01S17/48 文献下载
摘要：本申请公开了一种光学组件、光发射模组、深度相机及电子设备。光学组件包括衍射光学元件、抗反射膜及检测元件。衍射光学元件包括第一区及环绕第一区的第二区。抗反射膜设于衍射光学元件的第一区，抗反射膜用于减小衍射光学元件在第一区接收到的光线的反射率。检测元件用于检测衍射光学元件，并位于衍射光学元件的第二区。本申请在衍射光学元件上设置抗反射膜及检测元件，如此既能够减小光线的反射率，降低杂光干扰，还能够通过检测元件检测射光学元件，以避免用户使用异常的衍射光学元件，从而提高用户使用光学组件的安全性。此外，由于将抗反射膜和检测元件设于衍射光学元件不同区，有利于进一步地减降低杂光干扰，还能够降低光学组件制作难度。
光学组件发射模组深度相机电子设备

[发明专利]基于运行时间的距离测量中的TDC共享的装置和方法-CN201910762660.6在审
发明人：麦克·比尔;奥拉夫·舒雷;克里斯蒂安·尼塔 -专利权人：弗劳恩霍夫应用研究促进协会
申请日： 2019-08-16 - 公布日： 2020-03-03 - 主分类号： G01S17/10 文献下载
摘要：提供了一种用于距离测量的装置，包括一个或数个光学检测器模块和读出模块。每个光学检测器模块包括多个光学检测器元件，所述光学检测器元件包括一个或数个光学检测器和计数器，每个光学检测器元件处于活动状态或处于非活动状态。另外，每个光学检测器模块包括定时器元件和存储器元件，定时器元件被配置为确定当前时间值，定时器元件被配置为连续地更新当前时间值，存储器元件用于存储所存储的多个时间值。读出模块被配置为：对于每个检测器模块，至少对于该光学检测器模块的处于非活动状态的的每个光学检测器元件，根据该光学检测器元件的计数器的计数值以及根据存储在存储器元件中的多个时间值，确定和输出针对该光学检测器元件的时间值
基于运行时间距离测量中的 tdc 共享装置方法

[实用新型]物体检测装置及传送带-CN202320857203.7有效
发明人：王顺章;郑熙 -专利权人：松下神视电子（苏州）有限公司
申请日： 2023-04-17 - 公布日： 2023-08-08 - 主分类号： G01V8/12 文献下载
摘要：本实用新型涉及物体检测技术领域，具体地涉及一种物体检测装置及传送带。本实用新型的技术方案中提供的一种物体检测装置，用于检测目标位置是否存在转动的待检测物体，包括：信号发射单元，具有第一光学元件；信号接收单元，具有第二光学元件；光学元件刷，光学元件刷的一端固定于待检测物体，另一端伴随待检测物体的转动间歇性地擦拭第一光学元件表面或第二光学元件表面。物体检测装置在对待检测物体进行检测时，待检测物体上设置的光学元件刷随待检测物体的转动扫过第一光学元件或第二光学元件并对其进行清扫，以避免光学元件上累积灰尘，提高物体检测装置检测物体的准确性。
物体检测装置传送带

[发明专利]一种检测方法-CN201811070085.5有效
发明人：王小明 -专利权人：深圳阜时科技有限公司
申请日： 2018-09-13 - 公布日： 2022-05-13 - 主分类号： G01N21/95 文献下载
摘要：本申请适用于光学和电子技术领域，提供了一种检测方法，用于检测一光学装置内设置的光学元件是否破损，所述光学装置包括光源及对应的光学元件，所述检测方法包括如下步骤：发出检测光束照射整个被测光学元件；感测经由被测光学元件反射的检测光束的光学特性；比较所感测的被测光学元件的光学特性与预设的完好光学元件所测得的标准光学特性；若所感测到的光学特性与标准光学特性的差异值超出预设的误差范围，则判断被测光学元件存在瑕疵。
一种检测方法

[发明专利]电池外观检测系统-CN202211353275.4有效
发明人：殷延祥;艾坤;夏银生;刘海峰;王子磊 -专利权人：合肥中科类脑智能技术有限公司
申请日： 2022-11-01 - 公布日： 2023-03-10 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明公开了一种电池外观检测系统。电池外观检测系统包括机架、检测装置和连接组件，检测装置包括第一光学元件和第二光学元件，第一光学元件和第二光学元件设置在机架上并用于检测电池的外观，连接组件设置在机架上，连接组件包括翻转支座，翻转支座与第二光学元件连接，翻转支座能够带动第二光学元件在竖直方向旋转，进而调节检测装置和电池的方位和角度。连接组件可以实时调节检测装置和电池的位置，以对电池进行全面检测并保证检测精度，同时针对不同型号的电池可以连接组件可以及时调节检测装置的位置，避免第一光学元件和第二光学元件与电池位置干涉，通过光学元件对电池的外观进行检测以提高检测的效率和精度
电池外观检测系统

[发明专利]一种用于光学元件检测的调心方法、装置及系统-CN202210950098.1有效
发明人：邓聪;刘青蓝 -专利权人：四川至臻光电有限公司
申请日： 2022-08-09 - 公布日： 2022-11-18 - 主分类号： G01B21/24 文献下载
摘要：本发明属于光学元件的精密检测技术领域，其目的在于提供一种用于光学元件检测的调心方法、装置及系统。其中的方法包括：获取用于装配光学元件的调心平台的中心坐标；获取所述光学元件的表面的多个检测点坐标，并根据所述光学元件的多个检测点坐标，得到所述光学元件的面型数据；根据所述光学元件的面型数据，得到所述光学元件的中心坐标；根据所述光学元件的中心坐标和所述调心平台的中心坐标，得到所述光学元件的中心偏移值；根据所述中心偏移值，驱动所述光学元件和/或所述调心平台进行位置调节，以使所述光学元件的中心坐标和所述调心平台的中心坐标重合本发明可实现对光学元件的自动调心，可提高对光学元件的调心效率。
一种用于光学元件检测方法装置系统

[发明专利]光学元件的老化装置-CN201610367897.0有效
发明人：刘显荣;李巍 -专利权人：海信集团有限公司
申请日： 2016-05-27 - 公布日： 2019-09-17 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明实施例提供一种光学元件的老化装置。本发明光学元件的老化装置，包括：光学元件放置架用于设置光学元件；温度加热模块用于对光学元件放置架进行加热；温度检测模块用于检测所述光学元件的温度；温度加热模块还用于根据温度检测模块检测到的所述光学元件的温度，控制加热温度，使得光学元件的温度维持在预设值，并控制光源模块向光学元件提供照射光源，以使所述光学元件在所述光源模块提供的光源照射下发生老化。从而可以实现在一定温度条件对光学元件进行老化，能够更加实际的模拟光学元件在显示产品中的使用环境，使得获取的光学元件的衰减特性更为准确。
光学元件老化装置

[发明专利]一种用于检测平板光学元件面形误差的装置及方法-CN201410103178.9无效
发明人：李云;贾辛;徐富超;邢廷文 -专利权人：中国科学院光电技术研究所
申请日： 2014-03-19 - 公布日： 2014-06-04 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于检测平板光学元件面形误差的装置及方法。所述装置包括光学元件支架，匹配液体，匹配液体盛放槽。所述装置可在使用立式干涉仪测量平板光学元件时，消除平板光学元件后光学表面反射光对前光学表面面形误差检测造成的干扰，进而检测出可靠的光学表面面形误差分布。本装置及方法能有效解决普通立式干涉仪无法检测平板光学元件面形误差的问题，且装置及方法原理简单、制造及使用成本较低，在不改变原立式干涉仪结构的情况下能完成对平板光学元件面形误差的检测。采用非接触的方式检测光学元件面形误差，对光学元件无损伤，无夹持应力。检测光学元件面形误差，过程中对光学元件的清洗用自来水清洗即可，不需要特殊的清洗溶剂及方法。
一种用于检测平板光学元件误差装置方法

[发明专利]检测系统、检测方法以及检测设备-CN202011460075.X在审
发明人：陈鲁;方一;黄有为;魏林鹏;张嵩 -专利权人：深圳中科飞测科技股份有限公司
申请日： 2020-12-11 - 公布日： 2022-06-14 - 主分类号： G01N21/958 文献下载
摘要：本申请实施例公开了一种检测系统、检测方法以及检测设备，该检测系统包括：光学元件、检测元件和处理元件，其中，所述光学元件设置在所述检测系统的光路中，用于对所述光路中的光线进行处理，输出光信号；所述检测元件用于获取所述光学元件处理所述光线输出的所述光信号的性能值；所述处理元件其与所述检测元件通信连接，并且配置为基于所述检测元件获取的所述光学元件处理所述光线输出的所述光信号的性能值生成对应的处理指令，以便于在保证所述检测系统的检测精度的前提下，提高光学元件的使用率，进而提高光学元件的使用寿命。
检测系统方法以及设备

[发明专利]大口径光学元件表面损伤检测装置和相应的检测方法-CN201310723796.9有效
发明人：史亚莉;张正涛;张峰;陶显;徐德 -专利权人：中国科学院自动化研究所
申请日： 2013-12-24 - 公布日： 2014-03-26 - 主分类号： G01N21/958 文献下载
摘要：本发明公开了一种大口径光学元件表面损伤检测装置，该装置主要包括：专用夹具，对待检测光学元件进行定位和夹紧；激光自准直仪，安装于可检测到待检测光学元件的位置，用于检测待检测光学元件的姿态信息；线阵相机组件，安装于可观测到待检测光学元件的位置，用于获取待检测光学元件表面局部缩小的线阵图像；显微镜组件，安装于可观测到待检测光学元件的位置，用于获取待检测光学元件表面局部放大的面阵图像；扫描聚焦组件，对于待检测光学元件表面进行扫描
口径光学元件表面损伤检测装置相应方法

[发明专利]一种光学投影模组-CN201811070668.8在审
发明人：王小明 -专利权人：深圳阜时科技有限公司
申请日： 2018-09-13 - 公布日： 2018-12-18 - 主分类号： G03B21/20 文献下载
摘要：本申请适用于光学和电子技术领域，提供了一种光学投影模组，可检测所使用的光学元件的完整性。所述光学投影模组包括光源、光学元件及检测单元。所述检测单元包括检测发光体、感测器及处理器。所述检测发光体向被测光学元件发出检测光束。所述感测器感测经被测光学元件反射回来的检测光束的光学特性。所述处理器与感测器相连接并根据所述感测器所感测到的检测光束的光学特性来判断被测光学元件是否存在瑕疵。
光学元件感测器光学投影检测光束模组检测光学特性发光体处理器感测电子技术领域可检测瑕疵反射光源申请

[发明专利]一种检测单元-CN201811069379.6在审
发明人：王小明 -专利权人：深圳阜时科技有限公司
申请日： 2018-09-13 - 公布日： 2019-01-25 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本申请适用于光学和电子技术领域，提供了一种检测单元，用于检测一光学装置内设置的光学元件是否破损。所述光学装置包括光源及对应的光学元件。所述检测单元包括检测发光体、感测器及处理器。所述检测发光体向被测光学元件发出检测光束。所述感测器感测经被测光学元件反射回来的检测光束的光学特性。所述处理器与感测器相连接并根据感测器所感测到的检测光束的光学特性来判断被测光学元件是否存在瑕疵。
光学元件感测器检测光束检测光学特性光学装置发光体种检测处理器感测电子技术领域瑕疵反射光源破损申请

[实用新型]一种检测单元-CN201821502343.8有效
发明人：王小明 -专利权人：深圳阜时科技有限公司
申请日： 2018-09-13 - 公布日： 2019-08-30 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本实用新型适用于光学和电子技术领域，提供了一种检测单元，用于检测一光学装置内设置的光学元件是否破损。所述光学装置包括光源及对应的光学元件。所述检测单元包括检测发光体、感测器及处理器。所述检测发光体向被测光学元件发出检测光束。所述感测器感测经被测光学元件反射回来的检测光束的光学特性。所述处理器与感测器相连接并根据感测器所感测到的检测光束的光学特性来判断被测光学元件是否存在瑕疵。
光学元件感测器检测光束检测光学特性光学装置发光体种检测处理器感测电子技术领域本实用新型瑕疵反射光源破损

[发明专利]一种采用三点支撑检测光学元件的方法-CN201810132280.X有效
发明人：尹小林;胡海翔;邓伟杰;唐瓦;薛栋林;张峰;张学军 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2018-02-09 - 公布日： 2019-09-10 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本发明实施例公开了一种采用三点支撑检测光学元件的方法。该三点支撑检测光学元件的方法包括根据光学元件尺寸及有限元分析结果，确定三个支撑点的位置及放置所述光学元件所需的基准面的位置；将所述光学元件参照所述基准面的位置放置于检测装置上；采用修正有限元分析模型的面形检测方法检测所述光学元件该三点支撑检测光学元件的方法不仅解决了现有多点支撑检测超薄型光学元件的检测方法高成本、难操作等问题；优选地，还解决了在检测过程中由于重力及机械振动等原因而引入检测误差的问题。
光学元件检测三点支撑多点支撑分析模型机械振动检测误差检测装置面形检测位置放置超薄型支撑点优选修正引入

[发明专利]一种基于相位解析的光学元件自动对心方法-CN201910304374.5有效
发明人：胡小川;全海洋;徐富超;付韬韬;侯溪;李声 -专利权人：中国科学院光电技术研究所
申请日： 2019-04-16 - 公布日： 2020-11-03 - 主分类号： G02B7/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于相位解析的光学元件自动对心方法，该方法包括以下步骤：1)初始化光学元件对心装置，将光学元件放置于检测平台；2)调节成像相机和检测平台，使成像区域覆盖光学元件边缘且成像清晰；3)旋转检测平台，使用成像相机采集光学元件表面数据；4)使用相位解析方法处理采集数据，根据解算结果调整待测光学元件与检测平台的相对位置，从而将光学元件中心与检测平台旋转中心对准，在此基础上通过迭代操作实现成像相机的位置修正，进而完成光学元件的自动对心。本发明通过相位解析方法，实现了光学元件的自动对心。
一种基于相位解析光学元件自动对心方法

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