专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种矩形激光照明器-CN201410130325.1无效
  • 祝传省;陶小凯;罗倩倩;李明;赵莹;孙建军 - 山东神戎电子股份有限公司
  • 2014-04-02 - 2014-07-23 - G02B27/09
  • 本发明公开了一种矩形激光照明器,本发明包括依次排列的激光器、单一方向的第一发散压缩透镜、单一方向的第二发散压缩透镜和变焦透镜组,第一发散压缩透镜、第二发散压缩透镜和变焦透镜组均处在激光器的光轴上,第一发散压缩透镜的压缩方向与第二发散压缩透镜的压缩方向垂直。本发明的激光器发射出的圆形光斑经过第一发散压缩透镜后,将光斑压缩成椭圆型,再经过第二发散压缩透镜后,变成近似矩形,从而使光斑与摄像机成像器件的视场比例相对应,使得摄像视场能够正好被激光照明,既不会浪费激光又不会造成部分视场无激光照明
  • 一种矩形激光明器
  • [实用新型]一种矩形激光照明器-CN201420157114.2有效
  • 祝传省;陶小凯;罗倩倩;李明;赵莹;孙建军 - 山东神戎电子股份有限公司
  • 2014-04-02 - 2014-08-20 - G02B27/09
  • 本实用型公开了一种矩形激光照明器,本实用新型包括依次排列的激光器、单一方向的第一发散压缩透镜、单一方向的第二发散压缩透镜和变焦透镜组,第一发散压缩透镜、第二发散压缩透镜和变焦透镜组均处在激光器的光轴上,第一发散压缩透镜的压缩方向与第二发散压缩透镜的压缩方向垂直。本实用新型的激光器发射出的圆形光斑经过第一发散压缩透镜后,将光斑压缩成椭圆型,再经过第二发散压缩透镜后,变成近似矩形,从而使光斑与摄像机成像器件的视场比例相对应,使得摄像视场能够正好被激光照明,
  • 一种矩形激光明器
  • [发明专利]一种模块-CN202010350124.8在审
  • 吴涛;邵乾;慕建伟;刘维伟 - 青岛海信宽带多媒体技术有限公司
  • 2020-04-28 - 2021-10-29 - G02B6/42
  • 本申请公开了一种模块,包括电路板和发射次模块。发射次模块内设有发射器件,第二、第三透镜。发射器件内设有发射器和第一透镜,以使发射器件与单模光纤的发散之差小于0°至15°。第一透镜将发射器发出的发散较大的发散光束整理为与单模光纤发散接近的光束。第二透镜将与单模光纤发散接近的光束汇聚为平行光束。第三透镜将平行光束汇聚耦合至光纤适配器中。发射器件的发散与单模光纤发散接近,发射器件发射出与单模光纤发散接近的光束,系统的放大倍数约为1。
  • 一种模块
  • [发明专利]芯片测试装置及芯片发散的测量方法-CN202310859038.3在审
  • 黄忠志;杨强;罗骏 - 镭神技术(深圳)有限公司
  • 2023-07-13 - 2023-09-05 - G01M11/02
  • 本申请涉及芯片测试装置及芯片发散的测量方法,检测平台将待检测芯片输送到目标加电位置;定位检测相机定位待检测芯片的准确位置;加电探针结构使加电探针导电接触待检测芯片的加电部位;第一远场扫描摆臂具有于第一预设角度范围之内绕第一转动轴向往复转动的状态,感应获得待检测芯片的测量数据,确定待检测芯片的第一方向发散。适用于芯片的发散测量,通过定位检测相机配合实现加电探针的精准定位,保证了测量发散的准确性,可在测量时保护待检测芯片,避免因发散测量而造成二次损伤,有利于保证芯片的无损检测,配合控制方式还可实现芯片产品发散的全自动或者半自动测量
  • 芯片测试装置发散测量方法
  • [发明专利]光纤合成器以及使用了该光纤合成器的装置-CN201280059155.1有效
  • 野口善清;岛研介 - 株式会社藤仓
  • 2012-11-06 - 2014-08-06 - G02B6/287
  • 本发明提供能够抑制的损失的光纤合成器以及使用了该光纤合成器的激光装置。光纤合成器(1)具备:多个输入用光纤(20);多个发散降低部件(50),被射入从各个输入用光纤(20)射出的,并将来自输入用光纤(20)的发散减小的状态射出;桥接光纤(30),被射入从各个发散降低部件(50)射出的,具有随着传播的部位远离发散降低部件(50)侧而逐渐缩径的锥形部(34);以及输出用光纤(40),被射入从桥接光纤(30)的与发散降低部件(50)侧相反侧射出的
  • 光纤合成器以及使用装置
  • [发明专利]一种雷达测距方法及激光雷达-CN202011167455.4在审
  • 郑凯;疏达;李远 - 北醒(北京)光子科技有限公司
  • 2020-10-27 - 2021-02-05 - G01S17/08
  • 本申请激光雷达采用不同发散角度的信号,第一测量距离使用第一发散的信号,第二测量距离使用第二发散的信号,第三测量距离使用第三发散的信号,不同发散角度信号的转换通过不同光源切换或同一种光源信号经光学元件处理实现因为信号探测距离越大,发散越大,其所需要的信号光能量越大,本申请通过选用发散较小的信号对远距离进行探测,在现有信号光能量不变的情况下,可以有效的增加探测距离;或者在需求的探测距离不变的情况下,有效的降低信号光能量和整机功耗
  • 一种雷达测距方法激光雷达
  • [实用新型]一种激光雷达-CN202022419690.8有效
  • 郑凯;疏达;李远 - 北醒(北京)光子科技有限公司
  • 2020-10-27 - 2021-09-28 - G01S17/08
  • 本申请激光雷达采用不同发散角度的信号,第一测量距离使用第一发散的信号,第二测量距离使用第二发散的信号,第三测量距离使用第三发散的信号,不同发散角度信号的转换通过不同光源切换或同一种光源信号经光学元件处理实现因为信号探测距离越大,发散越大,其所需要的信号光能量越大,本申请通过选用发散较小的信号对远距离进行探测,在现有信号光能量不变的情况下,可以有效的增加探测距离;或者在需求的探测距离不变的情况下,有效的降低信号光能量和整机功耗
  • 一种激光雷达
  • [实用新型]一种激光合装置以及光源-CN202221779338.8有效
  • 陈彬;付锦江 - 深圳市绎立锐光科技开发有限公司
  • 2022-07-08 - 2023-02-14 - F21V7/00
  • 本申请公开了一种激光合装置以及光源。激光合装置包括分光元件及波长转换元件,其中,分光元件用于反射部分从分光元件背离波长转换元件一侧入射的激光,以形成第一波长光束,并将激光的未反射部分透射至波长转换元件;波长转换元件用于对激光的未反射部分进行波长转换,以形成第二波长光束,并将第二波长光束反射至分光元件,以使第二波长光束与第一波长光束形成合,第一波长光束的发散和第二波长光束的发散均大于激光的发散。通过上述方式,第一波长光束的发散和第二波长光束的发散均大于激光的发散,使得经由第一波长光束和第二波长光束形成的合的颜色均匀性较高;同时形成合的方法简单,结构紧凑,制造成本较低。
  • 一种激光装置以及光源
  • [发明专利]光学系统以及光学显微镜-CN200810000403.0无效
  • 田名纲健雄;杉山由美子 - 横河电机株式会社
  • 2006-05-10 - 2008-07-16 - G02B27/09
  • 本发明公开一种将入射的强度分布校正为平坦的强度分布的光学系统,所述入射光在平面的X方向和Y方向上具有不同的发散,所述光学系统包括:第一透镜组,其包括至少一个柱面透镜,并且在发散的较大发散方向上具有正折射率,在垂直于所述较大发散方向的方向上没有折射率;第二透镜组,其包括至少一个柱面透镜,并且在发散的较小发散方向上具有正折射率,在垂直于所述较小发散方向的方向上没有折射率,在所述入射方向上所述第二透镜组位于所述第一透镜组之后在该光学系统中,使得所述入射准直,并且利用所述第一透镜组的球面像差和所述第二透镜组的球面像差将所述入射的强度分布校正为平坦的强度分布。
  • 光学系统以及光学显微镜
  • [发明专利]基于一维发散光束的光波导显示模组-CN202310201196.X在审
  • 滕东东;刘立林 - 中山大学
  • 2023-03-02 - 2023-07-14 - G02B30/20
  • 本发明公开基于一维发散光束的光波导显示模组,该显示模组包括发散光束投射单元、发散垂向约束器件、利用二个反射面的反射引导入射传输的光波导结构、会聚器件、及控制单元。其中发散光束投射单元所投射的至少一个发散光束,入射发散垂向约束器件;于包含光波导结构反射面法线的垂向面内,来自同一发散光束的光线,经发散垂向约束器件,仅沿一个方向具有较大发散地入射光波导结构;然后经光波导结构反射传播,于光波导结构反射面上覆盖扩展的二维分布区域后出射,并被会聚器件调制会聚至各自对应视区。本发明设计仅沿一个方向具有较大发散的一维发散光束,无需入射于光波导结构内的转向传输,即可实现二维视图向对应视区的投射。
  • 基于发散光束波导显示模组
  • [发明专利]泵浦源检测装置及检测方法-CN201410436705.8有效
  • 樊仲维;黄科;赵天卓;何建国;麻云凤;肖红;刘洋 - 中国科学院光电研究院
  • 2014-08-28 - 2014-11-26 - G01M11/02
  • 本发明提供了一种泵浦源检测装置,通过改变泵浦源组件、选器组件和发散测试组件的位置,使发散测试组件接收选器组件选出的单线Bar的辐射,实现对单线Bar的辐射发散的测试;通过改变泵浦源组件、选器组件和光强测试组件的位置,使光强测试组件接收选器组件选出的单线Bar的辐射,实现对单线Bar的辐射光光强测试;通过改变泵浦源组件、选器组件和光谱测试组件的位置,使光谱测试组件接收选器组件选出的单线Bar的辐射,实现对单线Bar的辐射光光谱测试,从而对单线Bar的辐射的发射强度、发散、光谱特性检测,提高环形半导体泵浦源的使用效率和使用寿命。
  • 泵浦源检测装置方法

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