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专利名称

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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]一种亮点缺陷检测方法、装置、计算机设备和存储介质-CN202210933346.1在审
发明人：王丽盼;林品杰;陈郁中 -专利权人：合肥欣奕华智能机器股份有限公司
申请日： 2022-08-04 - 公布日： 2022-11-11 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本申请涉及亮点缺陷检测技术领域，尤其涉及一种亮点缺陷检测方法、装置、计算机设备和存储介质。该亮点缺陷检测方法，包括：获取待处理图像；根据待处理图像中灰度值最大的像素点，确定待处理图像中的目标区域，目标区域中任意像素点的灰度值，与灰度值最大的像素点的灰度值之差在预设数值范围内；基于至少一个目标区域，确定待处理图像中的亮点缺陷。解决了相关技术下亮点缺陷检测技术通过对基础方法进行排列组合，以得到某一类亮点缺陷的检测算法，不能广泛适用于多类亮点缺陷的技术问题。
一种亮点缺陷检测方法装置计算机设备存储介质

[发明专利]一种微米级热镀锌汽车板冲压亮点缺陷分析方法-CN202011000726.7在审
发明人：陈一鸣;孙伟华;胡宽辉;王俊霖;祝洪川 -专利权人：武汉钢铁有限公司
申请日： 2020-09-22 - 公布日： 2020-12-29 - 主分类号： G01N23/2251 文献下载
摘要：本发明涉及钢铁材料表面质量分析方法领域，尤其涉及一种微米级热镀锌汽车板冲压亮点缺陷分析方法。本发明通过模拟冲压获得冲压试样，然后油石打磨冲压试样使微米级冲压亮点缺陷显现出来，再对冲压亮点缺陷区域进行脱锌处理后电镜扫描和能谱分析，最后确定冲压亮点缺陷的形成原因。本发明的设计科学严谨，能够准确找出冲压亮点缺陷以及其形成原因，对于热镀锌汽车板的生产改进提供了重要的依据。
一种微米镀锌汽车冲压亮点缺陷分析方法

[发明专利]液晶显示器亮点缺陷的修补方法-CN03153079.6无效
发明人：陈世伟;许宽义;林冠颖;廖唯伦 -专利权人：友达光电股份有限公司
申请日： 2003-08-12 - 公布日： 2005-02-16 - 主分类号： G02F1/1335 文献下载
摘要：本发明公开了一种液晶显示器亮点缺陷的修补方法，包括下列步骤：首先，提供一显示面板，该显示面板包括数组基板，一位于该数组基板下的下偏光板，一位于该数组基板上的彩色滤光片基板及一位于该彩色滤光片基板上的上偏光板；检查液晶显示器的一亮点缺陷，并确定亮点缺陷的亮点位置；最后，根据亮点位置在上偏光板上形成一遮蔽物以遮住亮点缺陷，使其变为一暗点，以修补该显示面板的亮点缺陷。
液晶显示器亮点缺陷修补方法

[发明专利]显示装置及其制造方法-CN200880103216.3有效
发明人：吉田裕志;中岛睦 -专利权人：夏普株式会社
申请日： 2008-03-28 - 公布日： 2010-07-21 - 主分类号： G02F1/1368 文献下载
摘要：本发明提供一种显示装置及其制造方法，该显示装置包括通过使成为亮点缺陷的像素进行黑显示而对成为亮点缺陷的像素进行修正的修正工序，在修正工序中，使成为亮点缺陷的像素中的TFT的漏极部与栅极配线短路，并且，在成为亮点缺陷的像素中
显示装置及其制造方法

[实用新型]液晶显示面板的亮点缺陷去除装置-CN201420091912.X有效
发明人：境野哲雄 -专利权人：株式会社V技术
申请日： 2014-02-28 - 公布日： 2014-07-30 - 主分类号： G02F1/13 文献下载
摘要：本实用新型提供一种液晶显示面板的亮点缺陷去除装置，其对像素内局部存在的亮点缺陷，通过进行局部的暗点化，能够在不影响周边正常像素的情况下，用短暂的处理时间进行亮点缺陷的去除处理。该装置具备：亮点缺陷检测装置，从滤色片侧观察液晶显示面板，检测存在于液晶显示面板像素(P)内的亮点缺陷(Db)；激光束照射装置，将在对应于检测出的亮点缺陷(Db)的滤色片基板上的位置对准激光束照射装置的光轴并进行照射的激光束的射束焦点尺寸与亮点缺陷
液晶显示面板亮点缺陷去除装置

[发明专利]用于修复显示装置中的亮点缺陷的设备-CN201080020038.5有效
发明人：金僊株;辛相孝;金政宪;姜翼俊 -专利权人：株式会社COWINDST
申请日： 2010-05-07 - 公布日： 2012-04-11 - 主分类号： G02F1/1335 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于修复显示装置的亮点缺陷的设备，尤其是，涉及一种激光束的能量密度在整个激光束照射区域均匀的，用于修复显示装置的亮点缺陷的设备。根据本发明的修复亮点缺陷的设备包括：激光单元，其用于照射激光束至具有亮点缺陷的滤色器；扫描器，其用于在所述滤色器的照射区域中扫描所述激光束；及，光束处理面控制构件，其用于过滤扫描的激光束，以防止在加速区域或减速区域中照射至所述滤色器
用于修复显示装置中的亮点缺陷设备

[发明专利]液晶显示装置的缺陷修补方法及缺陷修补装置-CN200510099027.1无效
发明人：梅津一成 -专利权人：精工爱普生株式会社
申请日： 2005-09-05 - 公布日： 2006-03-15 - 主分类号： G02F1/13 文献下载
摘要：本发明的目的在于提供一种亮点缺陷的修补方法，可不影响周围的像素，采用简易的工序使亮点黑点化，即便时间经过，也不恢复亮点而被维持。本发明修补具备液晶面板的液晶显示装置的亮点缺陷像素(B)，该液晶面板由一对基板(20a、20b)、介于该一对基板间的液晶层(10)和设置在基板与液晶层之间，限制液晶层的液晶取向的取向膜(12a、12b)构成，其特征在于：包含对应于取向膜的亮点缺陷像素的范围照射激光，使取向膜的取向限制力局部降低或消失的工序；在使液晶显示时，通过降低透过使所述取向限制力降低或消失的范围的光的强度，来修补亮点缺陷像素。
液晶显示装置缺陷修补方法装置

[发明专利]一种LCD显示屏轻微亮点缺陷检测方法-CN202310207930.3有效
发明人：蒲大杭 -专利权人：信利光电股份有限公司
申请日： 2023-03-06 - 公布日： 2023-10-03 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种LCD显示屏轻微亮点缺陷检测方法，方法包括步骤：在暗场环境中，将工业相机镜头朝向LCD显示屏进行固定；在工业相机取像过程中，增加LCD显示屏的背光亮度并延长曝光时间，以获取规定背光增益的检测画面；步骤300、利用缺陷图像处理算法提取亮点缺陷。通过将测试平台及其治具置于暗场环境中，避免了外界光对检测造成影响，通过将LCD显示屏的检测画面切换为黑色画面并提高灰度值，实现了轻微亮点缺陷的检测，通过利用Otsu阈值分割法对轻微亮点缺陷进行阈值分割，
一种 lcd 显示屏轻微亮点缺陷检测方法

[发明专利]平面显示面板与光电装置及其亮点修补方法-CN200910134098.9有效
发明人：尹学敏;黄信彰;林荣祥;黄胜意 -专利权人：友达光电股份有限公司
申请日： 2009-04-03 - 公布日： 2009-08-19 - 主分类号： G02F1/13 文献下载
摘要：本发明提供一种平面显示面板与光电装置及其亮点修补方法，其包括利用能量光束照射发生亮点缺陷的部分彩色滤光片或彩色图案层，使其具有引线孔结构，且厚度达至少一半以上的液晶层间隙，以使发生亮点缺陷的次像素区形成灰点或暗点
平面显示面板光电装置及其亮点修补方法

[发明专利]改善渗氮取向硅钢表面亮点缺陷的工艺方法-CN202010831225.7有效
发明人：田文洲;王雄奎;丁哲;肖光润;陈博;胡伟东 -专利权人：武汉钢铁有限公司
申请日： 2020-08-18 - 公布日： 2022-10-04 - 主分类号： C23F17/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种改善渗氮取向硅钢表面亮点缺陷的工艺方法，属于炼钢技术领域。探究发现采用两段式或三段式干气渗氮退火工艺，不能彻底解决亮点缺陷的产生，其控制合适表面状态的工艺区间非常小，质量稳定性差，统计的亮点缺陷发生率在40％以上，因此在现有低温取向硅钢制造工艺基础上进行大量改进和优化量及组织的均匀性和稳定性都得到明显提高，尤其是氧化层结构更加合理，其FeO/SiO2/FeSiO4的组分比例控制在更加合适的水平，成品的亮点缺陷发生率大幅下降，经统计，其亮点缺陷的发生率在5％以下。
改善取向硅钢表面亮点缺陷工艺方法

[发明专利]平面显示器的修补方法与系统-CN201010531727.4有效
发明人：张光博;林岑盈;郑中纬;简志维;沈威志 -专利权人：财团法人工业技术研究院
申请日： 2010-11-04 - 公布日： 2012-05-23 - 主分类号： G02F1/13 文献下载
摘要：本发明提供平面显示器的修补方法与系统，其主要是利用飞秒激光修补具有亮点缺陷的平面显示器。该平面显示器具有透光基底，且具有亮点缺陷。本发明利用飞秒激光照射于对应亮点的透光基底上，使得透光基底产生非线性多光子吸收的效应而改性，进而将该亮点转换成暗点。
平面显示器修补方法系统

[发明专利]液晶显示装置及其制造方法-CN200780050910.9无效
发明人：池田正晖;川口久雄 -专利权人：夏普株式会社
申请日： 2007-09-14 - 公布日： 2009-12-09 - 主分类号： G02F1/13 文献下载
摘要：该液晶显示面板具备设置在显示用光的入射侧的第一基板及隔着液晶材料与该第一基板相向地设置在显示用光的射出侧的第二基板，包括并列设置有多种颜色的长条状彩色层的彩色滤光片，并且在内部具有亮点缺陷部。第一基板，在该第一基板的与亮点缺陷部相对应的区域形成有遮光部。第二基板，在该第二基板的与亮点缺陷部相对应的区域，形成有仅将彩色滤光片的与该亮点缺陷部相对应的彩色层延伸的方向上的入射光会聚起来的聚光部。
液晶显示装置及其制造方法

[发明专利]液晶显示装置及其制造方法-CN200780041299.3有效
发明人：池田正晖;川口久雄 -专利权人：夏普株式会社
申请日： 2007-07-26 - 公布日： 2009-09-16 - 主分类号： G02F1/13 文献下载
摘要：一种液晶显示装置，其包括液晶显示面板，所述液晶显示面板由设置在显示用光的入射侧的第一基板和以与第一基板隔着液晶材料相对的方式设置在显示用光的出射侧的第二基板构成，内部具有亮点缺陷部，所述第一基板在其对应于所述亮点缺陷部的区域形成有遮光部，所述第二基板在其对应于所述亮点缺陷部的区域形成有聚光部。
液晶显示装置及其制造方法

[发明专利]一种显示面板点类缺陷过检挽救方法、存储介质及设备-CN202211068519.4在审
发明人：方锑;林松;刘洒 -专利权人：武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司
申请日： 2022-09-02 - 公布日： 2022-12-27 - 主分类号： G02F1/13 文献下载
摘要：本发明公开了一种显示面板点类缺陷过检挽救方法、存储介质及设备，属于显示面板检测技术领域，其通过在L0画面下获取第一目标图像，识别亮点缺陷及其位置信息，再通过在UP画面和DP画面下获取对应的目标图像，得到两目标图像中各亮点缺陷处的像素灰阶值，利用两像素灰阶值与第一目标图像组合分析，进而判断亮点缺陷的真假。本发明的显示面板点类缺陷过检挽救方法、存储介质及设备，能够实现亮点与灰尘重合时亮点真假的判断，对点类缺陷进行过检挽救，提高了显示面板点类缺陷检出的准确率，保证了显示面板AOI检测的效率和精度，具有较好的实用价值和应用前景
一种显示面板缺陷挽救方法存储介质设备

[发明专利]液晶显示装置和其制造方法-CN200880024734.6有效
发明人：池田正晖 -专利权人：夏普株式会社
申请日： 2008-04-02 - 公布日： 2010-06-16 - 主分类号： G02F1/1333 文献下载
摘要：包括在一对玻璃基板21、31之间设置液晶层40而形成的液晶面板11和对该液晶面板11供给照明光的照明装置12，所述液晶显示装置的特征在于：在上述一对玻璃基板21、31中的至少一方玻璃基板21中，在能对成为亮点缺陷原因的亮点缺陷产生部X进行遮光的位置上形成光子晶体50，该光子晶体50能够吸收能在该亮点缺陷产生部X中显示的颜色的光。
液晶显示装置制造方法

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