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[发明专利]一种采用金属薄膜透射电镜样品研究其氧化过程的方法-CN202010280185.1有效
发明人：于鹏飞;闫志刚;郑春雷 -专利权人：燕山大学
申请日： 2020-04-10 - 公布日： 2022-04-19 - 主分类号： G01N23/04 文献下载
摘要：本发明公开了一种采用金属薄膜透射电镜样品研究其氧化过程的方法，属于检测技术领域。通过对金属材料进行两次透射电镜观察的结果，对比研究金属材料的氧化过程。本发明提供的一种采用金属薄膜透射电镜样品研究其氧化过程的方法，制备透射电镜样品方便，仪器简单，试验步骤简单，操作方便。
一种采用金属薄膜透射样品研究氧化过程方法

[发明专利]一种高分辨透射电镜用薄膜样品的制备方法-CN201310684009.4无效
发明人：娄艳芝 -专利权人：中国航空工业集团公司北京航空材料研究院
申请日： 2013-12-12 - 公布日： 2014-04-02 - 主分类号： G01N1/28 文献下载
摘要：本发明属于一种用离子减薄仪加工高分辨透射电镜用薄膜样品的制备方法。其特征在于：通过对粘的方式将特殊样品上的被观察位置置于对粘试样的中部，配以合理的离子减薄工艺，制备成高分辨透射电镜用薄膜样品，实现对特殊样品组织结构的高分辨透射电镜观察。本发明提供的特殊样品的高分辨透射电镜用薄膜样品的制备方法的优点在于：实现了特殊样品（如表面变质层样品、裂纹尖端样品）的高分辨透射电镜用薄膜样品的制备，制样快、节省费用、成功率高且简单易行。
一种分辨透射电镜用薄膜样品制备方法

[发明专利]一种磁性粉末颗粒透射电镜样品的制备方法-CN202110023221.0在审
发明人：谢锐;吕铮;徐长伟;王晴;李晓;刘春明 -专利权人：沈阳建筑大学
申请日： 2021-01-08 - 公布日： 2021-05-11 - 主分类号： H01F1/06 文献下载
摘要：一种磁性粉末颗粒透射电镜样品的制备方法，属于透射电镜样品制备技术领域，包括如下步骤：将磁性粉末颗粒镶嵌于透射电镜样品托网中，利用离子减薄专用树脂进一步固定，上下层分别设置薄膜材料，利用夹具施加压力，使离子减薄专用树脂均匀分布，完全包裹透射电镜样品托网和磁性粉末颗粒，排出存在的空气，加热保温后冷却，取出托网，制备出薄区，制得磁性粉末颗粒透射电镜样品。本发明可以使磁性粉末颗粒进行透射电镜微观组织观察，保证磁性粉末颗粒能够在高强度磁场条件下稳定不动，使磁性粉末颗粒微观组织结构的透射电镜观察成为可能。
一种磁性粉末颗粒透射样品制备方法

[发明专利]一种具有特殊结构的透射电镜载网及其制备方法-CN202210385779.8有效
发明人：陆盈盈;张魏栋;陈芳 -专利权人：浙江大学
申请日： 2022-04-13 - 公布日： 2022-11-18 - 主分类号： G01N1/36 文献下载
摘要：本发明公开了一种具有特殊结构的透射电镜载网及其制备方法，该透射电镜载网包括金属载网骨架和所述金属载网骨架的镂空孔上部分覆盖有碳纳米管自交织薄膜层。制备方法，包括：将碳纳米管、分散剂与溶剂混合，得到分散液；将分散液滴在金属载网骨架的单侧，单向刮涂至金属载网骨架的另一侧；清除表面多余分散液后，加热烘干得到具有特殊结构的透射电镜载网。本发明公开的透射电镜载网，针对将金属沉积物通过电沉积至该透射电镜载网并在冷冻电镜下对金属沉积物进行表征观察的操作时，可以保证金属沉积物均匀沉积于碳纳米管自交织薄膜层上，且特殊的部分覆盖结构为透射电镜表征提供了有利的观察区域
一种具有特殊结构透射电镜载网及其制备方法

[发明专利]一种基于深度学习的透射电镜薄膜样品相分布分析方法-CN202210353194.8在审
发明人：王超伦;程之恒;钱允涵;叶长青;毕恒昌;吴幸 -专利权人：华东师范大学
申请日： 2022-04-06 - 公布日： 2022-11-01 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于深度学习的透射电镜薄膜样品相分布分析方法，包括以下步骤：提取透射电镜图片中薄膜样品区域；对所述薄膜样品区域进行选区处理，并对每个选区进行快速傅里叶变换获得多个频谱图像；将所述多个频谱图像输入至训练好的神经网络中进行分析，得到所述薄膜样品的相分布。本发明能够高效、准确地识别透射电镜薄膜材料的相分布。
一种基于深度学习透射薄膜样品分布分析方法

[发明专利]一种机器学习识别纳米器件中多晶薄膜的晶相分布的方法-CN202211508296.9在审
发明人：郑勇辉;成岩;郑赟喆;许亦琳;辛天骄 -专利权人：华东师范大学
申请日： 2022-11-29 - 公布日： 2023-03-03 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种机器学习识别纳米器件中多晶薄膜的晶相分布的方法。通过自动调整透射电镜模拟软件的模拟参数，得到一系列纳米多晶功能薄膜的模拟透射电镜图片作为数据库文件。针对多晶功能薄膜的晶体结构、倾转方向、样品厚度等晶体学参数分别构建深度学习卷积神经，以模拟透射电镜图片数据库训练构建的神经网络，当神经网络训练完成后对实际多晶功能薄膜中不同位置晶粒的透射电镜照片进行晶相分布识别本发明可以替代人工方法，实现对多晶功能薄膜内部纳米晶的晶相自动、快速且可靠的识别。
一种机器学习识别纳米器件多晶薄膜分布方法

[发明专利]一种多层薄膜的透射电镜样品及其制备方法-CN202111343001.2在审
发明人：李超;杨生春 -专利权人：西安交通大学
申请日： 2021-11-12 - 公布日： 2022-02-25 - 主分类号： G01N23/20008 文献下载
摘要：本发明公开了一种多层薄膜的透射电镜样品及其制备方法：针对多层薄膜常规透射电镜样品制备过程中，出现不同膜层厚度不均等难点，本发明采用楔形透射电镜样品制备方法，可制备表面平整，基底与各膜层厚度均匀，且有大面积薄区的透射电镜样品本发明适用于除金刚石以外多层薄膜材料的制备，能通过机械抛光使样品厚度降低到电子束能够透过的厚度，或者样品只需要很短时间的离子减薄就能使样品减薄到电子能够透过的厚度，可显著降低离子减薄过程中择优溅射现象，可实现更大范围电镜观察区域。
一种多层薄膜透射样品及其制备方法

[发明专利]原位透射电镜加热芯片及其制备方法-CN202111656100.6在审
发明人：韩晓东;王梦龙;毛圣成;栗晓辰;马东锋;张剑飞;李志鹏;张晴;杨晓萌;田志永 -专利权人：北京工业大学
申请日： 2021-12-30 - 公布日： 2022-04-01 - 主分类号： G01N23/04 文献下载
摘要：本发明提供一种原位透射电镜加热芯片及其制备方法，原位透射电镜加热芯片包括：基底，中部开设有通孔，外周设置有多个定位孔；薄膜绝缘层，薄膜绝缘层对应通孔的外周设置有隔热凹槽；加热电阻层，设置于薄膜绝缘层的顶部本发明提供的原位透射电镜加热芯片及其制备方法，通过设置通孔，减少了加热电阻层的加热体积，降低了原位透射电镜加热芯片的加热功率，减少了加热过程中芯片产生的热漂移，使得透射电镜成像更加稳定清晰；超大视场范围用于试验观察，制样更加简单、方便；隔热凹槽有效约束了加热电阻层的温度扩散，使温度尽可能集中，减少加热电阻层在加热过程中对外部电镜配件的热影响。
原位透射加热芯片及其制备方法

[发明专利]一种透射电镜用薄膜样品的制备方法-CN200410021024.1无效
发明人：于洪波;刘实;郑华;马爱华;王隆保;戎利建 -专利权人：中国科学院金属研究所
申请日： 2004-01-09 - 公布日： 2005-07-20 - 主分类号： C23C14/34 文献下载
摘要：本发明提供一种透射电镜用薄膜样品的制备方法，其特征在于：采用磁控溅射镀膜方法，镀膜的衬料是铜网。本发明提供的透射电镜用薄膜样品的制备方法的优点在于：简化了电镜薄膜样品的制备工艺，避免了薄膜电镜样品制备过程中引入一些假象的问题。
一种透射电镜用薄膜样品制备方法

[发明专利]一种基于超薄切片的透射电镜薄膜材料截面样品制备方法-CN202110677807.9在审
发明人：张斌;张益帆;周虹鹏;郑思康;周小元 -专利权人：重庆大学
申请日： 2021-06-18 - 公布日： 2021-09-24 - 主分类号： G01Q30/20 文献下载
摘要：本发明属于透射电子显微镜技术领域，公开了一种基于超薄切片的薄膜材料透射电镜截面样品制备方法，包括以下步骤：S1、获取薄膜材料；S2、将所述薄膜材料与目标衬底粘合；S3、将带有薄膜材料的目标衬底进行修块和超薄切片；S4、将超薄切片后的样品转移至透射电镜进行检测。本发明的制备方法简单，得到的样品可观察区域广，制备过程中设备及耗材价格低，既满足透射电镜薄膜材料样品的观察，同时又降低了制样成本。
一种基于超薄切片透射薄膜材料截面样品制备方法

[发明专利]一种薄膜材料的透射电镜样品的制备方法-CN200610012016.X无效
发明人：张波萍;焦力实;丁昕祯;陈灿 -专利权人：北京科技大学
申请日： 2006-05-26 - 公布日： 2006-11-22 - 主分类号： G01N1/28 文献下载
摘要：一种薄膜材料的透射电镜样品的制备方法，属于电镜样品制备技术领域。制备步骤为：制备片状的NaCl晶体片，用匀胶机在NaCl晶体基片上制备样品薄膜，把得到的NaCl晶体片固定在匀胶机的托盘上，用甩胶的方法将Sol－Gel法配置的前驱体溶液均匀的涂在NaCl晶体片上，制得厚度在5～200nm的样品薄膜；在热处理炉中进行退火处理；将得到的薄膜试样放在铜栅上至蒸馏水中浸泡，保证NaCl晶体完全溶解后使薄膜吸附在铜栅上，得到透射电镜观察用样品，适用于溶胶凝胶法制备的厚度在5～200nm之间的各种薄膜。优点在于；解决了透射电镜用薄膜样品易受污染、破碎和引入假象的问题。适合制备溶胶－凝胶法制备的各种薄膜样品的透射电镜试样，成本低，应用非常广泛。
一种薄膜材料透射样品制备方法

[发明专利]原位透射电镜电学液体芯片及其制备方法-CN202211528368.6在审
发明人：韩晓东;王梦龙;张剑飞;杨晓萌;田志永 -专利权人：北京工业大学
申请日： 2022-11-30 - 公布日： 2023-06-09 - 主分类号： G01N23/04 文献下载
摘要：本发明涉及原位透射电镜技术领域，提供一种原位透射电镜电学液体芯片及其制备方法。原位透射电学液体芯片包括：功能芯片、盖板芯片和盖板；功能芯片包括：第一基底、第一薄膜承载层和金属电极层，金属电极层包括工作电极、对电极和参比电极导线；钝化保护层，部分覆盖第一薄膜承载层和金属电极层；盖板芯片包括：第二基底和第二薄膜承载层；盖板设置于功能芯片的顶部，覆盖储液槽。本发明提供的原位透射电镜电学液体芯片及其制备方法，在实现液体环境施加的基础上，将传统电化学领域的三电极测试体系引入透射电镜，可对液体环境中样品的电化学行为进行原子尺度原位动态观测的同时，完成电学信号的精确控制及采集
原位透射电学液体芯片及其制备方法

[实用新型]原位透射电镜电学液体芯片-CN202223206546.1有效
发明人：韩晓东;王梦龙;张剑飞;杨晓萌;田志永 -专利权人：北京工业大学
申请日： 2022-11-30 - 公布日： 2023-10-03 - 主分类号： G01N23/04 文献下载
摘要：本实用新型涉及原位透射电镜技术领域，提供一种原位透射电镜电学液体芯片，包括：功能芯片、盖板芯片和盖板；功能芯片包括：第一基底、第一薄膜承载层和金属电极层，金属电极层包括工作电极、对电极和参比电极导线；钝化保护层，部分覆盖第一薄膜承载层和金属电极层；盖板芯片包括：第二基底和第二薄膜承载层；盖板设置于功能芯片的顶部，覆盖储液槽。本实用新型提供的原位透射电镜电学液体芯片，在实现液体环境施加的基础上，将传统电化学领域的三电极测试体系引入透射电镜，可对液体环境中样品的电化学行为进行原子尺度原位动态观测的同时，完成电学信号的精确控制及采集
原位透射电学液体芯片

[实用新型]透射电镜原位流体样品杆-CN202223360873.2有效
发明人：郑中光 -专利权人：盐城德禹光学仪器设备有限公司
申请日： 2022-12-14 - 公布日： 2023-05-23 - 主分类号： H01J37/16 文献下载
摘要：本申请公开了透射电镜原位流体样品杆，包括透射电镜原位手握柄、透射电镜原位流体样品杆、连接结构一、保护结构、连接结构二和限位结构，所述透射电镜原位手握柄的底部固定连接透射电镜原位流体样品杆，所述透射电镜原位手握柄的底部外侧壁上设置有连接结构一本申请通过保护壳体和保护盖可将透射电镜原位流体样品杆的杆头保护在内部，保护垫一和保护垫二可对碰撞的冲击进行缓冲，便于有效的保护透射电镜原位流体样品杆的杆头，本申请把手带动螺纹套筒转动上升，将透射电镜原位流体样品杆的杆头露出，通过螺纹杆和螺纹套筒之间的螺纹连接，可使得保护壳体不会随意落下
透射原位流体样品

[发明专利]一种精制非晶态固体合金三维重构透射电镜样品的工艺方法及评价方法-CN201711260494.7有效
发明人：王岩国 -专利权人：南京腾元软磁有限公司;中兆培基南京新材料技术研究院有限公司;江苏非晶电气有限公司
申请日： 2017-12-04 - 公布日： 2020-04-21 - 主分类号： G01N23/2202 文献下载
摘要：本发明涉及一种精制非晶态固体合金三维重构透射电镜样品的工艺方法及评价方法。本发明的工艺方法包括步骤1，制备形状呈薄膜状或具有纳米尺度针尖状端部的非晶态固体合金透射电镜样品；步骤2，测量非晶态固体合金透射电镜样品的材料中原子结合键断裂能量；步骤3，去除非晶态固体合金透射电镜样品的表面损伤层；步骤4，对去除表面损伤层的非晶态固体合金透射电镜样品的效果评价。本发明能够将非晶态固体合金三维重构透射电镜样品制备过程中产生的表面损伤层去除，并对表面损伤层的去除效果进行准确评价，为非晶态固体合金的原子团簇形貌和空间分布的准确表征提供了保障，进而为改善非晶态固体合金材料的宏观性能奠定了基础
一种精制晶态固体合金三维透射样品工艺方法评价

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