专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]对折射率的测量的新型迈克干涉-CN201621161998.4有效
  • 陈旭阳 - 陈旭阳
  • 2016-10-25 - 2017-04-19 - G01B9/02
  • 本实用新型涉及光学实验仪器,具体地说是一种对折射率的测量的新型迈克干涉仪,其特征在于设有光源、分光板、补偿板、反射镜M2、光屏,其中所述分光板和补偿板为L型一体式结构,分光板上涂有半透半反膜,在左边靠近光源的位置的是分光板,在另一边的是补偿板,分光板和补偿板两板所形成的直角指向光屏的位置,本实用新型相对于现有技术,通过利用L型构造的分光板和补偿板的新型迈克干涉仪,通过干涉原理测量测量透明介质的折射率在理论上将会变得更加有效
  • 折射率测量新型迈克干涉仪
  • [发明专利]基于双声光调制器的迈克外差干涉仪的位移测量方法-CN201910886293.0有效
  • 赵冬娥;马亚云;李沅;王思育;李诺伦 - 中北大学
  • 2019-09-19 - 2022-03-25 - G01B11/02
  • 本发明公开了一种基于双声光调制器的迈克外差干涉纳米位移测量方法,采用迈克干涉结构,两臂分别加入声光调制器件产生移频;将一级干涉光斑通过一维探测器转变为电信号,将其与信号发生器产生的基准信号用锁相器比较获得两者的相位差,当物体产生纳米位移,信号光一级衍射光斑携带其变化量,含有变化量的一级干涉信号与基准信号的相位差发生变化,通过计算相位差的变化量,可以得到纳米位移引起的相位变化量,根据相位差与位移公式可得到位移量;本发明系统光路简单,易于调节,可有效解决现有技术方案中外差干涉存在光路复杂、调整困难等问题,在超精密位移、振动测量领域具有显著的技术优势。
  • 基于双声调制器迈克外差干涉仪位移测量方法
  • [发明专利]一种电击穿细胞的形态在线监测装置-CN201910233882.9在审
  • 薛亮;朱岳岳;李梦莹 - 上海电力学院
  • 2019-03-26 - 2020-10-09 - G01N15/14
  • 本发明涉及一种电击穿细胞的形态在线监测装置,包括电击穿脉冲的发生装置:雷击浪涌发生器、由He‑Ne激光器与迈克干涉仪组成的光学监测系统,以及干涉条纹的捕获与传输装置:CCD相机;迈克干涉仪由分光镜以及两个反射镜M1、M2构成,细胞培养基被放置于干涉仪的物光路中,通过设置雷击浪涌发生器对细胞培养基施加电脉冲,利用不同强度的脉冲对细胞进行电击穿,CCD相机可捕获干涉仪与被测系统构成的监测装置中所形成的干涉条纹,并传输至计算机并对干涉条纹进行处理
  • 一种击穿细胞形态在线监测装置
  • [实用新型]基于光电相移压电陶瓷驱动的纳米定位控制系统-CN201220678969.0有效
  • 梁宇恩;许素安;付祥 - 浙江机电职业技术学院
  • 2012-12-11 - 2013-05-01 - G05D3/12
  • 一种基于光电相移压电陶瓷驱动的纳米定位控制系统,包括高频相移信号发生器,高频相移信号发生器的S1端口依次连接激光器、迈克干涉仪、移动镜和压电陶瓷,所述高频相移信号发生器的S2端口依次连接混频器、数字PID调节器和压电陶瓷,所述S1端口与迈克干涉仪输出的S3端口之间连接有干涉仪测量电子柜,所述S3端口与混频器之间连接有光电探测器。本实用新型运用光电步进相移法控制压电陶瓷运动,定位系统位移精度和重复性不受压电陶瓷自身的非线性和蠕变的影响;该定位方法可溯源至国际度量衡委员会推荐的米定义标准;控制方法简单,控制系统带宽大,实时性强。
  • 基于光电相移压电陶瓷驱动纳米定位控制系统

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