专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种线宽方法和线宽-CN201911206960.2有效
  • 徐登基 - 苏州精濑光电有限公司
  • 2019-11-29 - 2021-09-17 - G01B11/02
  • 本发明实施例公开了一种线宽方法和线宽机。该方法包括:摄像组件采集产品的视野图像;截取视野图像,得到产品的第一图像;根据第一图像内标记的偏差进行对位,截取第二图像;根据第二图像和预设图像,计算图像偏差;根据图像偏差,截取第三图像;其中,第三图像包括产品的部;根据部的图像,计算部的线宽。本发明实施例解决了线宽机在自动量过程中,产品的线宽失败的问题,提高了产品的线宽的成功率,保证了检测产品的生产效率。
  • 一种线宽量测方法线宽量测机
  • [实用新型]一种测量系统辅助治具-CN201921417995.6有效
  • 张廷力 - 捷西迪(广州)光学科技有限公司
  • 2019-08-28 - 2020-06-02 - G01B11/00
  • 本实用新型公开了一种测量系统辅助治具,包括:部件、用于竖直支承放置的辅助治具、用于调节所述辅助治具的测量选定位置的调节装置以及用于提供所述的基准面中心与所述部件的光轴之间的相对位置信息的测试装置,所述部件可拆卸地设置于所述的基准面上,所述辅助治具与所述调节装置相连接,所述测试装置设置于所述辅助治具的上方。相比于传统技术,本实用新型能够实时获取的基准面测量平坦情况并根据实际情况来对应调节辅助治具的位置,可为提供更佳的测量位置,从而减少测量误差,使的加工及改善工序更加优化。
  • 一种测量系统辅助
  • [实用新型]一种用于矩形的几何精密测量装置-CN202223016177.X有效
  • 丁文;姚兴宇;于佃清;张瑜;韩翘楚 - 辽宁省计量科学研究院
  • 2022-11-11 - 2023-04-28 - G01B5/02
  • 本实用新型公开了一种用于矩形的几何精密测量装置,包括测量板、支撑杆、测量小方;所述测量小方有多个,安装于测量板内部;所述支撑杆有多个,所述支撑杆顶部连接测量板底部;本实用新型的用于矩形的几何精密测量装置,通过将被放置在测量小方所在空间上,并向施压,使在大平面上均匀受力后,将测量小方压下,读取测量小方伸出装置的高度数据,以获取高度数据;避免通过夹具的方式进行几何测量时,力度控制失误导致的较薄的损坏,还可以通过设置不同精度的刻度条、测量小方,不同大小的测量板,达到对多种尺寸的矩形测量的灵活应变,结构简单,制作成本低,后期维护费低,应用性好。
  • 一种用于矩形被测物几何精密测量装置
  • [发明专利]一种平行间距快速检测方法及装置-CN202310244292.2在审
  • 刘锋;蒋世奇;张雪原;李云冀 - 成都信息工程大学
  • 2023-03-14 - 2023-06-06 - G01B11/14
  • 本发明公开了一种平行间距快速检测方法,属于非接触检测的技术领域,包括将被放置于基准面上,将至少一条激光照射在被上,并与的表面具有夹角;水平移动,获取移动前后激光的偏移和激光的明暗变化;根据激光的偏移、夹角和激光的明暗关系,得到表面的高度起伏。本发明采用线扫描相机获取光条的明暗图像来的深度信息,无需提取光条中心线,高效的重构表面形态三维特征;高速,高精度检测表面的微小起伏。
  • 一种平行间距快速检测方法装置
  • [发明专利]聚合光固化过程的监测方法、系统、储存介质及装置-CN202011331046.3有效
  • 董博;白玉磊;何昭水;谢胜利 - 广东工业大学
  • 2020-11-24 - 2023-04-25 - G01N21/25
  • 本发明针对现有技术无法对聚合光固化过程进行非接触式在线实时监测的技术问题,提出了一种聚合光固化过程的监测方法、系统、储存介质及装置,其中方法包括以下步骤:S01,通过预设的光学设备对聚合进行谱域光学相干层析成像,实时获取聚合物产生的干涉光谱信号;所述干涉光谱信号中包括相位以及光学深度的信息;S02,通过提取所述干涉光谱信号中的相位以及光学深度,对固化过程引发的相位变化进行计算;根据所述相位变化量计算出聚合上表面以及下表面各自的光学深度变化;S03,根据聚合上表面以及下表面各自的光学深度变化,计算出聚合的折射率变化和收缩应变。
  • 聚合物光固化过程监测方法系统储存介质装置
  • [发明专利]表面系统-CN201711136676.3有效
  • 邱奕昌;蔡政廷;潘世耀;杨兰昇;郭修玮;锺绍恩 - 致茂电子(苏州)有限公司
  • 2017-11-16 - 2021-04-09 - G01B11/24
  • 一种表面系统,用以具低反射的表面的待。表面系统包含结露装置与装置。结露装置用以形成一液体层于待的表面上。结露装置包含腔体、控温气体源与增湿气体源。腔体用以容纳待。控温气体源连接至腔体,用以提供控温气体至腔体中以控制待的温度。增湿气体源连接至腔体,用以提供水气至腔体中以形成液体层于待的表面上。装置包含平台、光源与影像撷取装置。平台用以放置具有液体层的待。光源用以提供光束以照射平台上的待。影像撷取装置用以侦测自平台上的待散射的光束。通过在表面上形成液体层,可增加光束照射于表面上的散射。因此影像具有高信噪比,表面能够精准与提升测速度。
  • 表面系统
  • [发明专利]用于彩色共焦测量的颜色标定方法-CN201810186622.6有效
  • 余卿;崔长彩;章明;叶瑞芳;王寅;周瑞兰;张昆 - 华侨大学
  • 2018-03-07 - 2020-05-15 - G01B11/24
  • 本发明公开的用于彩色共焦测量的颜色标定方法,包括以能够完全反射入射光的面作为标准反射面,得到彩色共焦测量系统的基本“位移‑波长”曲线;以色卡为,得到各波长的“位移‑波长”曲线;计算各波长的“位移‑波长”曲线相对于基本“位移‑波长”曲线的偏移Δi的大小和方向,将这些偏移和中心波长制成颜色偏移表;利用光谱仪获取面上各颜色的中心波长信息,从颜色偏移表找到相对应的偏移Δi;利用已标定的基本“位移‑波长”曲线,得到对应面上各颜色的“位移‑波长”曲线;根据步骤四得到的“位移‑波长”曲线,计算有颜色的面的形貌特征。本发明能够修正因为颜色给彩色共焦测量系统带来的测量误差。
  • 用于彩色测量颜色标定方法

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