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[发明专利]芯片验证-CN201280077619.1在审
发明人： E.贝内德蒂 -专利权人：爱迪德技术有限公司
申请日： 2012-10-11 - 公布日： 2015-08-12 - 主分类号： G06F21/57 文献下载
摘要：描述了一种芯片，其包括可编程来存储芯片配置数据的一次可编程（OTP）存储器和可操作来访问OTP存储器的验证模块。验证模块可操作来接收关于OTP存储器的指定部分的验证请求，该验证请求包括限定OTP存储器的指定部分的掩模数据。响应于验证请求，验证模块可操作来使用掩模数据和OTP存储器以生成关于OTP存储器的指定部分的验证数据，该验证数据还基于芯片的秘密密钥而被生成。还描述了一种生成关于芯片的一次可编程（OTP）存储器的指定部分的验证数据的芯片实现的方法。还描述了用于初级或次级验证系统验证上面提到的芯片的OTP存储器的指定部分的配置的方法。
芯片验证

[发明专利]芯片验证系统、芯片验证方法-CN202110543610.6在审
发明人：田玉利 -专利权人：北京奕斯伟计算技术有限公司;广州全盛威信息技术有限公司
申请日： 2021-05-19 - 公布日： 2021-08-06 - 主分类号： G06F11/26 文献下载
摘要：本申请提供一种芯片验证系统、芯片验证方法，芯片验证系统包括：配置模块，其用于接收用户输入的第一配置激励；激励模块，其用于根据第一配置激励生成第一激励数据，第一激励数据的封装格式与待验证芯片所要求的封装格式相同；待验证模块，其用于放置待验证芯片，使得待验证芯片生成第一输出数据；参考模块，其内置有参考模型，参考模块用于生成第二输出数据；对比模块，其用于根据第一输出数据与第二输出数据的对比结果确定待验证芯片的待验证功能是否通过验证，能够确定待验证芯片的待验证功能是否在其特殊格式要求下是否通过验证，提高芯片验证系统进行功能验证的准确性。
芯片验证系统方法

[发明专利]一种芯片验证方法、装置及存储介质-CN202210285404.4在审
发明人：李维杰 -专利权人：山东云海国创云计算装备产业创新中心有限公司
申请日： 2022-03-23 - 公布日： 2022-06-17 - 主分类号： G06F30/3308 文献下载
摘要：一种芯片验证方法、装置及存储介质，其中，方法包括：获取用于芯片验证的验证激励以及芯片的实际输出结果；将验证激励输入预设的神经网络模型，获得预测概率以及预测结果；其中，预设概率为神经网络模型预测的验证激励输入芯片具有输出结果的概率，预测结果为神经网络模型预测的验证激励输入芯片的输出结果；根据预设的激励筛选规则、芯片的实际输出结果、预测概率以及预测结果对验证激励进行筛选，并将筛选后的验证激励送入芯片的验证环境以进行芯片验证。本发明通过神经网络模型的加入，使得输入的验证激励更加偏向于验证芯片中那些不容易验证到的或者没有验证到的区域，从而不但能够实现芯片验证效率的提升，而且还能够更加全面的覆盖验证。
一种芯片验证方法装置存储介质

[发明专利]一种芯片、验证装置、芯片验证方法和芯片验证系统-CN202110585228.1在审
发明人：刘杏肖;其他发明人请求不公开姓名 -专利权人：广州众诺电子技术有限公司
申请日： 2021-05-27 - 公布日： 2021-08-10 - 主分类号： G06F21/44 文献下载
摘要：本申请公开了一种芯片、验证装置、芯片验证方法和芯片验证系统，其中芯片验证方法包括：当获取到验证装置发送的第一验证指令时，获取存储于第一地址中的芯片UID号和第一数据；通过预置接口发送所述芯片UID号和所述第一数据至所述验证装置，使得所述验证装置根据所述芯片UID号和所述第一数据，进行所述第一验证指令对应的验证；当所述第一验证指令对应的验证结果为验证成功时，获取所述验证装置发送的第二验证指令；运行所述第二验证指令对应的第二数据，以进行所述第二验证指令对应的验证。解决了现有技术在对芯片进行验证时，需要使用多台验证装置，验证成本较高，且芯片需要在不同机器之间进行流转，验证耗时较长的技术问题。
一种芯片验证装置方法系统

[发明专利]三维芯片、三维芯片集成验证方法、验证装置、电子设备-CN202011248344.6在审
发明人：龙晓东;薛小飞;韩彦武 -专利权人：西安紫光国芯半导体有限公司
申请日： 2020-11-10 - 公布日： 2021-02-12 - 主分类号： G06F30/392 文献下载
摘要：本发明公开了一种三维芯片、三维芯片集成验证方法、验证装置、电子设备及计算机可读存储介质，三维芯片包括上层芯片、中间连线层、下层芯片，中间连线层用于连接上层芯片和下层芯片，所述集成验证方法包括：将中间连线层和上层芯片进行立体验证；将中间连线层和下层芯片进行立体验证；当中间连线层和上层芯片之间的立体验证通过、且中间连线层和下层芯片之间的立体验证通过时，确定上层芯片和下层芯片之间的立体验证通过。本申请解决了现有技术中现有技术中仅可对单层芯片进行验证，无法对三维芯片进行验证的技术问题。
三维芯片集成验证方法装置电子设备

[发明专利]一种芯片验证系统、方法、设备及存储介质-CN202310443162.1有效
发明人：权敏辉;李丹;王振 -专利权人：南京芯驰半导体科技有限公司
申请日： 2023-04-23 - 公布日： 2023-09-12 - 主分类号： G06F30/3308 文献下载
摘要：本公开提供了一种芯片验证系统、方法、设备及存储介质，所述系统包括：验证平台用于确定指令发送条件被触发时，向待验证芯片的中断控制器发送目标验证指令；当待验证芯片监测到验证平台发送的目标验证指令时，根据当前待执行的各个验证指令的优先级，确定是否执行目标验证指令。采用该系统，在待验证芯片主动向验证平台发送仿真信息和控制指令的基础上，还使验证平台主动向待验证芯片发送验证指令，拓宽了验证芯片针对待测试芯片的验证场景。
一种芯片验证系统方法设备存储介质

[发明专利]一种用于芯片验证的方法和装置-CN202010053292.0在审
发明人：崔金安;张卓洲;习刚 -专利权人：源源通科技（青岛）有限公司
申请日： 2020-01-17 - 公布日： 2020-06-19 - 主分类号： G06K17/00 文献下载
摘要：本申请的目的是提供一种用于芯片验证的方法、设备与系统。所述方法包括：获取用户的基础验证信息以及多个待验目标信息；将所述多个待验目标信息中的至少一个以及所述基础验证信息写入待验证芯片中，以作为芯片待验信息；当所述用户将所述待验证芯片经由验证设备进行验证时，从所述验证设备处获取所述芯片待验信息，或所述芯片待验信息以及所述验证设备的检验目标信息，并对所述待验证芯片进行验证；若所述验证通过，指示所述验证设备对所述待验证芯片中的芯片待验信息进行更新。与现有技术相比，本申请实现了一芯多用，并解决了当前的验证机制仅基于当次验证、易于破解的问题，并且使得待验证芯片难以仿制与复制，提高了认证的安全性与可靠性。
一种用于芯片验证方法装置

[发明专利]一种芯片验证方法及系统-CN202010186942.9在审
发明人：周晨露;李泓渊 -专利权人：上海仁童电子科技有限公司
申请日： 2020-03-17 - 公布日： 2020-07-14 - 主分类号： G06F21/50 文献下载
摘要：本发明提供了一种芯片验证方法及系统，通过将加密基准芯片标识预先存储在目标设备中，在获取待验证芯片对应的待验证芯片标识后，获取预先存储的加密基准芯片标识，加密基准芯片标识是服务器利用随机数序列对与目标设备对应的基准芯片的标识进行加密得到的；然后对所述加密基准芯片标识进行解密，得到解密后的基准芯片标识；通过比较所述待验证芯片标识与解密后的基准芯片标识是否一致，对待验证芯片进行验证。本发明能够利用预先存储在目标设备中的基准芯片标识对待验证芯片的合法性进行验证，并且，本发明中的预先存储在目标设备中的基准芯片标识是呈现加密状态，确保基准芯片标识的安全性，进一步保证待验证芯片合法性验证的准确性
一种芯片验证方法系统

[发明专利]静电放电失效验证方法-CN201810240769.9有效
发明人：何胜宗;王有亮;梁晓思;陈选龙;季启政;高志良;杨铭 -专利权人：中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））;北京东方计量测试研究所
申请日： 2018-03-22 - 公布日： 2020-10-30 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明涉及一种静电放电失效验证方法，包括步骤：对待验证芯片进行失效分析，记录待验证芯片的损伤信息；获取与待验证芯片同批次的良品芯片的损伤信息，良品芯片的损伤信息根据良品芯片通过静电放电模拟损伤测试分析得到；将良品芯片的损伤信息与待验证芯片的损伤信息进进行对比分析，判断待验证芯片是否发生静电放电失效；当良品芯片的损伤信息与待验证芯片的损伤信息一致时，则待验证芯片发生静电放电失效。上述静电放电失效验证方法，在进行静电放电失效分析之前，对疑似静电放电失效的芯片进行静电放电失效验证，避免直接采用静电放电失效分析得到不准确的结果，提高了静电放电失效分析的可靠性。
静电放电失效验证方法

[发明专利]神经网络处理器关键标准与验证芯片的应用方法-CN202111309570.5在审
发明人：曹小伍;曹景溢;雷铭杰;赢义;欧阳思奕;李德胜 -专利权人：杭州翔毅科技有限公司
申请日： 2021-11-06 - 公布日： 2021-12-24 - 主分类号： G06F30/27 文献下载
摘要：本发明提供神经网络处理器关键标准与验证芯片的应用方法，涉及芯片开发技术领域。该方法，包括以下步骤：建立用于模拟验证芯片的芯片功能的参考模型；根据验证芯片的参考模型建立芯片模型；将随机测试用的神经网络模型在参考模型中运行；将芯片的实际运行值从芯片中扫描出来；将从芯片中扫描出来的实际运行值与参考模型的标准参考值进行比较，通过确定参考模型与芯片模型的指令与数据的格式，获得对芯片模型的验证结果。通过获取验证芯片参考模型的神经网络功能的正确性，通过按任务形成对被验证芯片模型的激励数据，获得对芯片模型的验证结果，缩短了验证的开发时间和调试时间，提高验证芯片的测试效果。
神经网络处理器关键标准验证芯片应用方法

[发明专利]一种芯片中内核模块的验证方法、系统、芯片和设备-CN202310677765.8在审
发明人：鲁占朝;蔡权雄;牛昕宇;熊超 -专利权人：深圳鲲云信息科技有限公司
申请日： 2023-06-08 - 公布日： 2023-09-05 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本发明公开了一种芯片中内核模块的验证方法、系统、芯片和设备。芯片中内核模块的验证方法包括：获取芯片中待测内核模块的模块验证环境信息，根据验证环境信息获取用于验证待测内核模块的验证中间文件；在集成了待测内核模块的SOC芯片的芯片验证环境新建验证用例，在验证用例中根据验证中间文件对待测内核模块进行配置操作、启动操作和对比操作，获取待测内核模块的对比结果；基于对比结果判断待测内核模块是否验证通过。本发明能够有效提升对芯片中的内核模块进行验证的效率、减少代码修改的工作量、降低验证的成本，减少对芯片验证环境的改动，并且实现了模块验证环境和芯片验证环境的解耦。
一种芯片内核模块验证方法系统设备

[发明专利]无源无线通信芯片验证平台、构建方法及芯片验证方法-CN202011290063.7有效
发明人：李萌;李德建;苏萌;郝燚;冯文楠;唐晓柯 -专利权人：北京智芯微电子科技有限公司;国网信息通信产业集团有限公司
申请日： 2020-11-18 - 公布日： 2021-02-09 - 主分类号： G06F11/26 文献下载
摘要：本发明提供一种无源无线通信芯片验证平台、构建方法及芯片验证方法。所述无源无线通信芯片验证平台包括：序列单元，用于提供用于无源无线通信芯片验证的三层验证序列；验证顶层单元，用于建立测试接口与被测无源无线通信芯片之间的信号连接，并启动仿真验证；环境层单元，用于在启动仿真验证后向被测无源无线通信芯片发送目标验证序列，并进行响应结果比较计分，得到验证结果；测试接口，用于连接被测无源无线通信芯片。该验证平台结构简洁，运行效率高，可以有效提升无源无线通信芯片的验证质量和验证效率，序列单元提供的三层验证序列可以根据验证的不同芯片和不同环境进行组合调用，不需要重复编写状态进入部分，提高了验证序列编写的效率
无源无线通信芯片验证平台构建方法

[发明专利]基于BFM快速验证大型互连芯片地址的方法及系统-CN201510927414.3在审
发明人：丁雪 -专利权人：浪潮（北京）电子信息产业有限公司
申请日： 2015-12-14 - 公布日： 2016-05-11 - 主分类号： G06F11/26 文献下载
摘要：本发明实施例公开了一种基于BFM快速验证大型互连芯片地址的验证方法及系统，包括：通过转发芯片向目标芯片发送写指令；其中，写指令包括目标地址信息和验证数据；接收目标芯片将验证数据写入目标地址后，通过转发芯片发送的反馈信息；通过转发芯片向目标芯片发送读指令，并通过转发芯片接收目标芯片从目标地址中读取的验证数据，并判断写入目标地址的验证数据与从目标地址读取的验证数据是否一致；若一致，则目标地址验证成功，可见，在本实施例中，进行先写后读的地址验证不仅保证的验证的正确性，也使得验证代码简短、可读性高，更大大提高了验证的速度，缩短了芯片的生产周期。
基于 bfm 快速验证大型互连芯片地址方法系统

[发明专利]一种网络互连芯片的可复用模型验证方法-CN201610365966.4在审
发明人：李拓;周恒钊;符云越 -专利权人：浪潮（北京）电子信息产业有限公司
申请日： 2016-05-27 - 公布日： 2016-11-09 - 主分类号： H04L12/26 文献下载
摘要：本发明公开了一种网络互连芯片的可复用模型验证方法，该方法包括：在模型构造阶段将芯片模型与互连网络模型进行区分，按照实际RTL验证的标准对芯片模型的接口进行寄存器级的描述；利用芯片模型和互连网络模型搭建仿真验证平台，进行模型验证；其中，仿真验证平台按照实际RTL验证的标准进行配置；在芯片的RTL代码完成之后，将仿真验证平台中的芯片模型替换成芯片的RTL代码，复用仿真验证平台，进行RTL验证。该方法实现提高模型验证的可复用程度，缩短验证周期的时间，提高验证效率。
一种网络互连芯片可复用模型验证方法

[发明专利]步进电机驱动芯片功能验证系统-CN201410385529.X在审
发明人：韩俊奇;徐建华 -专利权人：嘉兴禾润电子科技有限公司
申请日： 2014-08-07 - 公布日： 2014-11-26 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明提供一种步进电机驱动芯片功能验证系统，包括人机接口、控制板、设置步进电机驱动芯片插槽的驱动板以及步进电机；人机接口、控制板、驱动板以及步进电机依次连接；将待验证步进电机驱动芯片插接于驱动板的插座，驱动步进电机，以验证待验证步进电机驱动芯片的功能。本发明提供的步进电机驱动芯片功能验证系统，不仅能够验证基本功能，而且能够验证步进电机驱动芯片的精确步进功能；通过更换适用于不同型号的步进电机驱动芯片的驱动板，实现不同型号的步进电机驱动芯片的功能的验证；验证过程中不必改变步进电机驱动芯片的连线，只需通过人机接口发出验证命令，即可进行步进电机驱动芯片的功能验证，提高了步进电机驱动芯片功能验证的效率。
步进电机驱动芯片功能验证系统

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