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[外观设计]信息补充芯片-CN202030568758.1有效
发明人：王波 -专利权人：广州众诺电子技术有限公司
申请日： 2020-09-23 - 公布日： 2021-05-14 - 主分类号： 14-02 文献下载
摘要：1.本外观设计产品的名称：信息补充芯片。2.本外观设计产品的用途：用于与信息存储装置（例如集成电路或者芯片等电子装置）进行通信，或者与其他芯片配合使用共同完成与其他设备（例如打印机、复印机等成像设备）进行数据通信。
信息补充芯片

[发明专利]集成电路芯片防伪检测方法-CN201811548555.4在审
发明人：谢小东;杨祎;任子木 -专利权人：电子科技大学
申请日： 2016-10-27 - 公布日： 2019-05-17 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：集成电路芯片防伪检测方法，涉及集成电路技术本发明包括下述步骤：1)向集成电路芯片施加激励信号，若芯片响应则进入步骤2)，若未响应则标记芯片状态为异常；2)将芯片响应信号与芯片信息数据库内的预存芯片身份信息进行对比，若响应信号内包含与芯片信息数据库内预存芯片身份信息相符的信息，则进入步骤3)，否则标记芯片状态为异常；3)依据芯片的寿命传感器的输出信息和芯片信息数据库内预存的芯片寿命信息计算芯片的已用时间。本发明能准确的识别假劣芯片，解决克隆/伪造/回收再利用等伪劣芯片泛滥的问题，提高芯片的正品率。
芯片集成电路芯片芯片信息预存数据库标记芯片防伪检测身份信息响应信号集成电路技术寿命传感器激励信号输出信息芯片寿命信息计算再利用正品率响应相符克隆施加伪造回收

[发明专利]车载芯片的逻辑数据处理方法及相关装置-CN202211591604.9在审
发明人：陈婷;黄志文;师广涛 -专利权人：深圳曦华科技有限公司
申请日： 2022-12-12 - 公布日： 2023-05-09 - 主分类号： G06F9/4401 文献下载
摘要：本申请实施例提供一种车载芯片的逻辑数据处理方法及相关装置，应用于车载芯片，所述方法包括：获取目标用户在车载应用场景中的应用需求信息；根据所述应用需求信息，确定所述车载芯片的应用配置信息；获取所述目标芯片的芯片固有属性信息；根据所述应用配置信息和所述芯片固有属性信息，确定所述车载芯片的逻辑信息，能够根据用户的需求信息确定的芯片的应用配置信息确定出芯片的逻辑信息，从而能够适配芯片的应用场景，提升了适配度。
车载芯片逻辑数据处理方法相关装置

[发明专利]一种多类型器官芯片数据库的设计方法-CN202111009531.3在审
发明人：马欣;林文斌 -专利权人：天津工业大学
申请日： 2021-08-31 - 公布日： 2022-05-24 - 主分类号： G06F16/22 文献下载
摘要：本专利主要描述了一种包含不同器官芯片数据的数据库构建方法，多个不同类型的器官芯片数据，分别为肝芯片数据、心脏芯片数据、肠芯片数据、肺芯片数据、肾脏芯片数据、脑芯片数据、皮肤芯片数据、骨骼芯片数据等，同时还包括了各种器官芯片数据都会用到的一些公用信息，主要有药物信息、细胞信息、材料信息、生物试剂信息、器官芯片型号信息、器官芯片参数配置信息、实验结果信息。本数据库可以为各种应用于器官芯片领域的数据分析方法，包括深度学习模型等，提供更加充足、更全面的数据。
一种类型器官芯片数据库设计方法

[发明专利]一种版图元器件关键信息提取方法及终端-CN202310021934.2在审
发明人：汪昌思;蒋志超 -专利权人：成都海威华芯科技有限公司
申请日： 2023-01-06 - 公布日： 2023-08-01 - 主分类号： G06F30/398 文献下载
摘要：本发明公开了一种版图元器件关键信息提取方法及终端，属于化合物半导体版图设计及制造技术领域，包括以下步骤：对版图划片槽工艺层进行识别，获取芯片特征方框信息；根据芯片特征方框信息获取芯片尺寸信息及位置信息；根据芯片尺寸信息对芯片进行分类处理；获取各类芯片的元器件关键信息，包括特征图形信息以及坐标点信息。本发明通过依次获取芯片特征方框信息、芯片尺寸信息及位置信息，并对芯片进行分类处理，进而获取各类芯片包含的元器件关键信息，即元器件种类、尺寸以及位置分布等信息，以此实现版图元器件信息的高效化处理，能够为工艺优化提供信息参考与指导
一种版图元器件关键信息提取方法终端

[发明专利]虚拟集成电路平台及其控制方法、系统-CN202211361182.6在审
发明人：高大为;陈鼎崴;许凯;张凯;柴路芸 -专利权人：浙江创芯集成电路有限公司
申请日： 2022-10-31 - 公布日： 2023-04-11 - 主分类号： G06Q30/0601 文献下载
摘要：所述方法包括：当接收到需求方发送的芯片需求信息时，基于所述芯片需求信息，生成芯片设计订单；所述芯片需求信息包括：需求类型指示信息及芯片相关信息；所述需求类型指示信息用于指示需求方的需求类型，所述需求类型包括以下至少一种：芯片设计需求及芯片制造需求；识别所述芯片设计订单中的特征信息，得到与所述芯片设计订单匹配的版图信息；当所述需求类型指示信息指示的需求类型仅为芯片设计需求时，完成所述芯片设计订单匹配的版图信息的交付。采用上述方案，可以降低芯片成本。
虚拟集成电路平台及其控制方法系统

[发明专利]芯片信息的雕刻方法及装置、计算机可读存储介质、终端-CN202111406855.0在审
发明人：不公告发明人 -专利权人：全芯智造技术有限公司
申请日： 2021-11-24 - 公布日： 2022-03-22 - 主分类号： H01L23/544 文献下载
摘要：一种芯片信息的雕刻方法及装置、计算机可读存储介质、终端，所述方法包括：确定晶圆的身份信息以及每一个芯片的分布信息；基于所述晶圆的身份信息以及每一个芯片的分布信息，生成每一个芯片的身份信息；基于预设加密规则对每一个芯片的身份信息进行加密，获得加密后信息；自所述晶圆的背面，对各个芯片进行雕刻，其中，雕刻的芯片信息包含所述加密后信息。本发明可以有效保障芯片信息的安全性，在各个阶段，都能实现对芯片信息的简易读取。
芯片信息雕刻方法装置计算机可读存储介质终端

[实用新型]耗材芯片及耗材容器-CN201020271978.9有效
发明人：苏健强 -专利权人：珠海天威飞马打印耗材有限公司
申请日： 2010-07-27 - 公布日： 2011-03-09 - 主分类号： B41J2/175 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种耗材芯片及耗材容器，该耗材容器包括容器主体、固定在该容器主体上的耗材芯片和用于读取耗材芯片的信息存储单元内的耗材相关信息的芯片信息采集部件，该芯片信息采集部件可拆卸地附着在容器主体或芯片基板上本实用新型通过芯片的信息存储单元记录耗材相关信息，利用芯片信息采集部件读取信息存储单元中的耗材相关信息，该芯片信息采集部件可以从芯片或耗材容器上拆卸下来，便于用户将采集到的信息传送到生产商，其中也可以包含芯片上记录的生产商信息(如生产批号等)，从而保证了采集信息传送的正确性，降低了生产商处理品质问题的成本。
耗材芯片容器

[发明专利]芯片缺陷检测方法、装置、设备、存储介质和程序产品-CN202310101710.2在审
发明人：孙宸;成立业;王力纬;曲晨冰;黄云;路国光;恩云飞 -专利权人：中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））
申请日： 2023-02-08 - 公布日： 2023-04-11 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本申请涉及一种芯片缺陷检测方法、装置、设备、存储介质和程序产品。所述方法包括：获取缺陷芯片的历史芯片图像和历史芯片图像对应的标签信息，标签信息包括缺陷芯片的芯片类型和缺陷属性信息，根据历史芯片图像和历史芯片图像对应的标签信息，训练初始缺陷检测模型得到目标缺陷检测模型，根据待检测芯片的待检测图像和目标缺陷检测模型，确定待检测芯片的芯片缺陷信息根据芯片缺陷信息对待检测芯片进行缺陷检测，得到缺陷检测结果。采用本方法能够提高芯片缺陷检测的准确性。
芯片缺陷检测方法装置设备存储介质程序产品

[发明专利]一种芯片封装缺陷检测方法-CN202210225155.X在审
发明人：闫发旺;闫怀宝 -专利权人：江西誉鸿锦材料科技有限公司
申请日： 2022-03-09 - 公布日： 2022-06-10 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种芯片封装缺陷检测方法，包括如下步骤：S1、建立芯片封装缺陷模型；S2、采用工业照相机获取当前封装芯片的图像信息；S3、将S2得到的图像信息输入到芯片封装缺陷模型中，获得处理后的图像信息识别码；S4、芯片封装缺陷模型将S3得到的信息识别码进一步识别，提取信息识别码中芯片尺寸大小信息、芯片引脚位置信息、芯片引脚数量信息、引脚间距信息、外观颜色信息以及文字信息，芯片封装缺陷模型根据其内部预存的样品缺陷信息进行对比，当芯片封装缺陷模型查找到符合样品缺陷信息时，芯片封装缺陷模型将发出信号给现场控制器，控制器将该芯片缺陷信息反馈给现场PC，本发明实现了对封装芯片进行实时检测，提高了产品检测的可靠性。
一种芯片封装缺陷检测方法

[发明专利]一种存储芯片的测试方法、系统及存储介质-CN202210924318.3有效
发明人：祝欣 -专利权人：合肥康芯威存储技术有限公司
申请日： 2022-08-03 - 公布日： 2022-11-29 - 主分类号： G11C29/10 文献下载
摘要：本发明公开了一种存储芯片的测试方法，至少包括以下步骤：提供一待测芯片，并在待测芯片上配置测试单元；获取待测芯片在写入预设信息和不写入预设信息时的存储信息，并将存储信息设置为对照表信息；向待测芯片写入预设信息，测试单元根据待测芯片的器件地址信息，依次读取待测芯片的存储数据；根据器件地址信息，依次压缩存储数据，获得校验信息；以及压缩对照表信息，并对比校验信息和压缩后的对照表信息，当校验信息与压缩后的对照表信息不同时，将待测芯片作为废片处理。本发明提供了一种存储芯片的测试方法、系统及存储介质，能够低成本且高效率地检测出缺陷芯片。
一种存储芯片测试方法系统介质

[发明专利]芯片电压调节方法、装置及系统-CN201611082598.9有效
发明人：翟宏杰;张戈;杜望宁;刘宸 -专利权人：龙芯中科技术有限公司
申请日： 2016-11-30 - 公布日： 2020-08-11 - 主分类号： G06F1/26 文献下载
摘要：本发明实施例提供一种芯片电压调节方法、装置及系统，应用于芯片电压调节系统，芯片电压调节系统包括信息反馈部和控制部，其中，信息反馈部获取芯片的传输特征信息，传输特征信息包括芯片传输的信息的误码率和/或芯片的资源利用率；信息反馈部判断误码率大于预设误码率、或者资源利用率小于预设资源利用率时，向控制部发送传输特征信息；控制部根据传输特征信息，确定用于控制芯片的可变电压源的输出电压的电压控制信息，并向芯片的可变电压源发送电压控制信息，以使可变电压源根据电压控制信息调节输出电压。避免了芯片的负载较高时芯片的传输信息的质量较差的问题、以及芯片的负载较低时，浪费芯片的功耗的问题。
芯片电压调节方法装置系统

[发明专利]用于芯片测试的引脚映射方法-CN202110544902.1有效
发明人：陈永;邬刚 -专利权人：杭州加速科技有限公司
申请日： 2021-05-19 - 公布日： 2022-06-28 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于芯片测试的芯片引脚映射方法。该方法包括：解析芯片连接装置的原理图数据，获得测试机连接器类型信息、芯片类型信息以及原理图拓扑结构信息(11)；根据测试机连接器类型信息从测试机连接器资源库中获得连接器资源信息(12)；根据芯片类型信息从芯片资源库中获得芯片引脚信息(13)；根据芯片引脚信息、测试机连接器资源信息以及原理图拓扑结构信息，获得芯片引脚与测试机资源的连接关系(14)。本发明的用于芯片测试的引脚测试方法能够根据芯片连接装置的原理图自动地获得测试机资源与芯片引脚之间的连接关系，从而避免了现有技术中人工输入所带来的效率低下以及易于出错的问题。
用于芯片测试引脚映射方法

[实用新型]自动管理POS终端升级的终端管理系统-CN201120034103.1有效
发明人：周红第;林林;戴建斌;叶明统 -专利权人：福建新大陆电脑股份有限公司
申请日： 2011-02-01 - 公布日： 2011-09-07 - 主分类号： G07G1/12 文献下载
摘要：本实用新型公开了自动管理POS终端升级的终端管理系统，终端管理系统包括数据库管理芯片、数据中心芯片、系统处理芯片、接入芯片和POS终端；数据库管理芯片内拷贝有POS终端升级信息且定期更新；数据中心芯片根据数据库管理芯片中的POS终端升级信息制定下载计划任务信息并将下载计划任务信息由系统处理芯片传输给接入芯片；接入芯片根据下载计划任务信息呼叫相应的POS终端并将POS终端的反馈信息传输给系统处理芯片；系统处理芯片根据POS终端的反馈信息生成其相应的程序或参数信息，该程序或参数信息由接入芯片传输给相应的POS终端并控制其完成升级。
自动管理 pos 终端升级系统

[实用新型]一种成像设备配套装置的信息录入系统、录入装置及芯片-CN200820127452.6无效
发明人：汪栋杰;张浩 -专利权人：珠海艾派克微电子有限公司
申请日： 2008-07-23 - 公布日： 2009-08-26 - 主分类号： G03G21/18 文献下载
摘要：本实用新型提供一种成像设备配套装置的信息录入系统、录入装置及芯片，用以解决芯片的通用程度低、芯片的生产成本高的技术问题。系统主要包括芯片、信息录入装置；所述芯片，用于储存通用信息和信息录入装置传输的可选择信息；所述信息录入装置，用于储存并向所述芯片输入可选择信息。使用该系统，可以提高与成像设备配套的芯片的通用程度，降低芯片的生产成本。
一种成像设备配套装置信息录入系统芯片

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