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- [发明专利]一种芯片老化测试系统及方法-CN202310287247.5有效
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陈孝金
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深圳市宇芯数码技术有限公司
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2023-03-23
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2023-06-13
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G01R31/28
- 本发明属于芯片测试领域,涉及数据分析技术,用于解决现有的芯片老化测试系统无法根据老化测试的结果数据为芯片生成优化的使用参数的问题,具体是一种芯片老化测试系统及方法,包括老化测试平台,所述老化测试平台通信连接有干扰处理模块、老化测试模块、应用优化模块以及存储模块;所述干扰处理模块用于在芯片测试之前对芯片测试现场进行环境检测分析;所述老化测试模块用于对芯片进行老化测试:将待进行老化测试的芯片标记为测试对象;本发明可以在芯片进行老化测试之前对老化测试环境进行预处理,通过鼓风机与冷气空调等外接设备对老化测试环境进行温度、湿度的调节,将外部环境对老化测试结果的影响降到最低。
- 一种芯片老化测试系统方法
- [实用新型]一种高分子材料加速老化装置-CN202221178437.0有效
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王超;任先艳;杨森
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西南科技大学
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2022-05-17
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2022-09-09
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G01N17/00
- 为了模拟相应的测试环境,进行人工干预的极端条件下高分子材料的老化测试,发明人提供了一种高分子材料加速老化装置。该装置包括环境模拟舱、老化舱、旋转机构和控制器。所述环境模拟舱呈类圆环结构,其可模拟产生极端环境条件。所述老化舱安装在所述环境模拟舱的中部柱形中空区域内,并可承载高分子材料样品。所述旋转机构安装在所述环境模拟舱的中部柱形中空区域下方,并与所述老化舱可拆卸式连接。所述控制器与所述环境模拟舱以及所述旋转机构通讯连接。该装置可以模拟出极端环境条件,并使得高分子材料样品暴露于所述极端环境条件下,对高分子材料进行加速老化,以取代传统自然老化,可缩短测试周期,加快耐老化高分子材料的研发历程。
- 一种高分子材料加速老化装置
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