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[实用新型]一种支持老化自检测的不间断电源-CN201621234577.X有效
发明人：郜克存;隋学礼 -专利权人：青岛创统新智能源科技有限公司
申请日： 2016-11-17 - 公布日： 2017-05-03 - 主分类号： H02J9/06 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种支持老化自检测的不间断电源，设置有整流器、逆变器、电感、老化测试电源线和老化测试开关；所述整流器对交流输入电源进行整流变换，所述逆变器在老化测试时接收整流器输出的直流电源，并逆变成交流输出电源通过电感、老化测试开关并经由老化测试电源线回馈至所述的交流输入电源，所述老化测试开关仅在老化测试时导通。本实用新型的不间断电源在进行老化检测的过程中无需外接阻性负载，由此不仅避免了因受现场施工条件限制而不能执行不间断电源老化检测的问题，而且降低了测试成本。
一种支持老化检测不间断电源

[发明专利]一种老化检测器及老化测试方法-CN201911035954.5在审
发明人：曹骥;曹政;桑宏宇;严剑宁 -专利权人：浙江杭可科技股份有限公司
申请日： 2019-10-29 - 公布日： 2020-02-18 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种老化检测器及老化测试方法，所述老化检测器包括老化箱、用于向老化箱内电池提供测试电流的老化测试电源以及用于控制整个老化过程的老化检测单元，所述老化测试电源、所述老化检测单元安装在老化箱内，并且老化测试电源的供电端与老化箱的输电端电连接，老化检测单元的信号传输端口与老化箱的信号传输端口信号连接；所述方法包括以下步骤：将夹具安装在夹具板上，并与夹具板各个端口电连接；将夹具板装入夹具板支撑组件上，并与充放电处理器的电连接；对不同温度下夹具寿命、接触电阻、弹力、温升进行测定；出料，完成测试。本发明的有益效果是：可以对夹具进行老化试验，操作简单，更换方便，而且可以更换不同型号的夹具。
一种老化检测器测试方法

[实用新型]一种柴油机尾气后处理电控单元芯片老化测试装置-CN202320710753.6有效
发明人：赵振东;朱磊;臧志成;徐翊竣;邹海平;许晓巍;董孝虎 -专利权人：南京工程学院;凯龙高科技股份有限公司
申请日： 2023-04-04 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型涉及芯片老化测试技术领域，具体涉及一种柴油机尾气后处理电控单元芯片老化测试装置，包括测试盒以及盒盖，测试盒内转动抵接有多个测试筒，且彼此相邻的两个测试筒之间转动连接，测试筒内横向滑动插接有测试板，且测试板与测试筒内周侧壁转动抵接，测试板顶端以及底端均开设有多个测试槽，测试板适配测试槽处可拆卸连接有测试组件，测试筒非开放端中心可拆卸连接有通风管。本实用新型使测试板两侧的测试槽内的待老化芯片加速与流动热风的接触速度，使得热风与各个测试槽内的待老化芯片接触温度处于一个相对平衡的状态下，使得不同位置的待老化芯片的老化程度尽量保持一致，避免老化测试结果出现误差
一种柴油机尾气处理单元芯片老化测试装置

[发明专利]伺服驱动器老化测试装置及方法-CN201911390519.4在审
发明人：霍波波;郭平;丁信忠;甘佳佳;李虎修;刘虎;付博 -专利权人：上海新时达机器人有限公司
申请日： 2019-12-30 - 公布日： 2020-03-27 - 主分类号： G05B23/02 文献下载
摘要：本发明实施例涉及老化测试领域，公开了一种伺服驱动器老化测试装置及方法。本发明中伺服驱动器老化测试装置包括：伺服驱动器老化车、电抗器老化车、电源控制柜、上位机和数据采集器；伺服驱动器老化车与电抗器老化车电性连接、以驱动电抗器老化车运行，伺服驱动器老化车分别与电源控制柜、上位机和数据采集器电性连接本发明的实施方式还提供了一种伺服驱动器老化测试方法，相对于现有技术使得伺服驱动器老化车进行老化测试时，可以模拟实际使用情况、实现带载运行，提高伺服驱动器老化测试的测试效率。
伺服驱动器老化测试装置方法

[发明专利]一种新型老化测试系统-CN202110692806.1在审
发明人：李继龙;骆志锋;徐妍妍 -专利权人：深圳同兴达科技股份有限公司
申请日： 2021-06-22 - 公布日： 2021-10-29 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明公开一种新型老化测试系统，包括：PC端、控制器、网关、若干老化测试板、遥控器；所述PC端与所述控制器通信连接，所述控制器与所述网关通信连接，所述控制器通过所述网关与所述老化测试板通信连接，所述遥控器用于控制所述老化测试板，所述老化测试板包括：红外接收模块、通信模块、主控模块、存储模块、驱动模块、显示模块，所述红外接收模块、通信模块、存储模块、显示模块均与所述主控模块电性连接。本发明可以实现远程对老化测试板的控制和程序更新，无需对老化测试箱进行停机和打开老化测试箱进行操作，操作更加简单，可以提升测试的便捷性，也有助于获得更加精准的测试结果，同时还可以实现老化测试板程序的批量更新
一种新型老化测试系统

[实用新型]一种定位机构及其老化测试设备-CN201922355544.0有效
发明人：丁昌鹏;许艳刚;肖昌林;陈灵辉 -专利权人：广东利元亨智能装备股份有限公司
申请日： 2019-12-23 - 公布日： 2020-09-15 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种定位机构及其老化测试设备，包括支架，以及定位装置；其中，所述定位装置包括工作台、推拉机构、限位机构、以及压紧机构。以此结构设计的定位机构，能够方便的通过推拉机构将老化架内的测试组件推进或拉出，并通过工作台上的限位机构和压紧机构对测试组件进行定位，之后还可以通过上下运动的工作台，在推拉机构的推力作用下将测试组件推进老化架对应的老化层中，以此方式极大的提升了作业效率；此外，本实施还提供了一种老化测试设备，该老化测试设备能够自动的完成测试件装入老化架前及取出老化架后的诸多工序，极大的提升了测试件的老化效率，有效降低了测试件的生产成本。
一种定位机构及其老化测试设备

[实用新型]LED球泡灯老化设备-CN201720263386.4有效
发明人：杨鸿斌 -专利权人：深圳市振熙五金机械有限公司
申请日： 2017-03-17 - 公布日： 2017-11-24 - 主分类号： G01R31/44 文献下载
摘要：本实用新型公开一种LED球泡灯老化设备，其包括老化测试系统、支架以及设置在支架上的多个承载板层，该多个承载板层沿竖直方向等间隔层叠设置在支架上，每个承载板层均包括第一承载板和第二承载板，第一承载板与第二承载板反向倾斜设置，老化测试系统包括电控箱和多个老化测试装置，老化测试装置设有适于LED球泡灯插入的测试孔位，所述多个老化测试装置设置于第一承载板和第二承载板上通过模拟电压的方式高压、低压、冲击的测试手段对LED球泡灯进行老化测试，电控箱安装于支架上并与多个老化测试装置电连接，所述多个老化测试装置通过电控箱进行老化测试操作。
led 球泡灯老化设备

[发明专利]一种老化测试装置及测试方法-CN201010034030.6有效
发明人：王光明;蔡秀娟 -专利权人：北大方正集团有限公司;深圳方正微电子有限公司
申请日： 2010-01-12 - 公布日： 2011-07-20 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种老化测试装置及方法，用以提高老化试验的可靠性，以及准确率。该老化测试装置，包括：用以装载待测试的器件的老化座，以及用于固定所述老化座的老化板，所述老化座包括：对应所述待测试的器件的每个管脚设置的一组引脚组，其中，每一组引脚组中包括至少两个用于和对应管脚接触的引脚，其中一个用于与所述老化板上的老化测试引线相连。
一种老化测试装置方法

[发明专利]电表老化走字测试方法、装置、电子设备和存储介质-CN202310591465.8在审
发明人：张海波;李定胜;张卫东;刘国鹏 -专利权人：南京能瑞自动化设备股份有限公司
申请日： 2023-05-24 - 公布日： 2023-08-18 - 主分类号： G01R35/04 文献下载
摘要：本发明实施例公开了一种电表老化走字测试方法、装置、电子设备和存储介质，该方法包括：控制扫码装置对老化车码进行扫描，得到老化车的扫码结果；当老化车的使用状态为可用状态时，依次扫描老化车上的各个电表的电表条码，得到各个电表的扫码结果，并将各个电表的电表条码与老化车码进行绑定；当扫描到的电表条码的数量达到老化车的容量时，获取与电表规格和电表所属地区对应的老化测试方案，并基于老化测试方案对各个电表进行老化测试，得到各个电表的测试结果。本发明实施例的方法可以自动化的对电表进行老化走字测试，提高了电表的测试效率。减少了人力、设备和场地等的投入。
电表老化测试方法装置电子设备存储介质

[发明专利]一种微型片式陶瓷电容批量老化及测试方法-CN201910242261.7在审
发明人：熊焰明;高敬一 -专利权人：江苏伊施德创新科技有限公司
申请日： 2019-03-28 - 公布日： 2019-06-28 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本发明提供了一种微型片式陶瓷电容批量老化及测试方法，能够使电容在连续进行老化和测试时效率高。先将电容封装在封闭式夹具中，当要进行测试时，将其插入测试机中进行测试，其特征在于：当需要进行老化时，先将装有电容的封闭式夹具插装在老化板上，每个老化板上的封闭式夹具数量大于等于2个，再将装载有封闭式夹具的老化板插入老化机进行老化
夹具电容老化测试老化板片式陶瓷电容封装测试机老化机插装装载

[实用新型]一种老化测试基板-CN200920212174.9有效
发明人：刘云海;冯军宏 -专利权人：中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
申请日： 2009-11-10 - 公布日： 2010-07-28 - 主分类号： G01R1/02 文献下载
摘要：本实用新型提供一种老化测试基板，包括：一种老化测试基板，在老化测试试验时连接老化机台，实现老化测试功能。包括：若干器件插座，用于插接待测器件；电源接口金手指，在老化测试试验时连到老化机台的电源接口；其特征在于，每个所述器件插座连接一电阻后，通过金属互联线并联到所述电源接口金手指上。给老化测试基板上的每个器件插座串联一个电阻，在老化试验进行时，通过量测与指定待测器件串联的电阻两端的电压，进而得到待测器件的电流。
一种老化测试

[发明专利]一种基于频域介电谱的架空线老化状态分析方法及系统-CN202011445434.4在审
发明人：孟海磊;王官涛;张凯;刘海泳;吴晓东;王忠友 -专利权人：国网山东省电力公司滨州供电公司;国家电网有限公司
申请日： 2020-12-11 - 公布日： 2022-06-14 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本申请公开了一种基于频域介电谱的架空线老化状态分析方法及系统，用以解决现有的老化状态分析方法难以准确的发现架空线整体性的老化现象的技术问题。方法包括：计算机设备确定待测试品信息；频域介电谱测试仪基于预设测试频率范围，对待测试品当前老化状态下的频域介电谱进行测试，并将测试结果发送给计算机设备；计算机设备在介电谱数据库中分别确定待测试品无老化状态下以及完全老化状态下的频域介电谱；计算机设备将接收到的待测试品当前老化状态下的频域介电谱，与待测试品无老化状态下的频域介电谱以及待测试品完全老化状态下的频域介电谱进行对比，以确定待测试品的当前老化状态。通过上述方法实现了准确的发现架空线整体性的老化现象。
一种基于频域介电谱架空老化状态分析方法系统

[实用新型]一种老化测试板-CN201821756791.0有效
发明人：符兴建 -专利权人：龙芯中科技术有限公司
申请日： 2018-10-26 - 公布日： 2019-07-30 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型实施例提供了一种老化测试板，涉及电子设备技术领域。本实用新型通过在老化测试板上设置控制模块以及与控制模块连接的至少一个测试座，在测试座上设置有温度采集模块和温度调节模块，测试座用于放置待测试芯片，温度采集模块采集待测试芯片的温度信号，控制模块通过控制温度调节模块，以对测试座内的待测试芯片进行升温或降温。通过温度采集模块采集待测试芯片的温度信号，控制模块控制温度调节模块对测试座内的待测试芯片进行升温或降温，使得每个待测试芯片的温度都可单独调节，保证所有的待测试芯片都能达到所需的老化测试温度，提高老化测试结果的准确性，且无需将老化测试板放置在老化箱内进行老化测试，节省了空间和成本。
待测试芯片测试座老化测试温度采集模块温度调节模块老化测试板控制模块温度信号设置控制模块采集本实用新型单独调节电子设备老化保证

[实用新型]一种老化机台芯片测试板-CN201520121865.3有效
发明人：刘昭麟;栗振超;李威良;崔广军 -专利权人：山东盛品电子技术有限公司
申请日： 2015-03-02 - 公布日： 2015-07-22 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种老化机台芯片测试板，包括从上向下依次放置的压合盖、待测芯片、老化测试板及老化测试设备，所述老化测试板与待测芯片相接触的一面上设置有用于容纳该待测芯片的空腔结构。通过结构的老化测试板，解决不同芯片需定制开发、购买大量的测试座的问题，避免针对每种产品模具开发等大量时间、资金投入，较为快速的实现芯片老化测试。
一种老化机台芯片测试

[实用新型]一种子卡和芯片性能的测试系统-CN201720584537.6有效
发明人：彭群 -专利权人：上海捷策创电子科技有限公司
申请日： 2017-05-24 - 公布日： 2017-12-12 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本实用新型实施例公开了一种子卡和芯片性能的测试系统。所述子卡用于进行芯片性能的测试，所述芯片通过测试座插入子卡，其中，所述子卡具有封装测试接口和老化测试接口；所述封装测试接口用于与封装测试母板连接，以便对所述芯片进行封装测试；所述老化测试接口用于与老化测试母板连接，以便对所述芯片进行老化测试。通过采用本实用新型实施例的技术方案，同一块子卡可分别用于芯片的封装测试和老化测试，提高了封装测试母板和老化测试母板的可复用性，缩短了研发周期，同时也可达到降低成本的效果。
种子芯片性能测试系统

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