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[发明专利]缺陷显示方法及装置-CN201610640366.4有效
发明人：李韧;闫浩;谢丽 -专利权人：华为技术有限公司
申请日： 2016-08-05 - 公布日： 2020-08-07 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本发明提供了一种缺陷显示方法及装置，涉及计算机技术领域，该方法包括：根据代码中的待显示缺陷的标识信息和预设的缺陷的标识信息与属性信息的对应关系，确定待显示缺陷的属性信息，该属性信息包括该待显示缺陷的缺陷级别和待显示缺陷的修复耗时中至少一项，修复耗时用于指示对待显示缺陷进行修复的耗时，缺陷级别用于指示待显示缺陷的严重程度；根据待显示缺陷的属性信息，确定用于指示该待显示缺陷的属性信息的图形；显示待显示缺陷对应的图形，解决了用户无法确定出缺陷的严重程度或修复缺陷的耗时，从而无法根据缺陷的严重程度或修复缺陷的耗时确定出需要优先修复哪些缺陷，导致的缺陷的修复效果较差的问题，提高了缺陷的修复效果。
缺陷显示方法装置

[发明专利]一种用于检测显示模组缺陷的检测方法及系统-CN202111057658.2在审
发明人：刘磊;白杨 -专利权人：安徽亿普拉斯科技有限公司
申请日： 2021-09-09 - 公布日： 2021-12-31 - 主分类号： G01N21/95 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于检测显示模组缺陷的检测方法及系统，涉及显示器技术领域，解决了人工检查显示模组存在差错的技术问题；步骤一：该方法包括提供电源点亮显示模组，检测显示模组的显示屏体缺陷并生成显示屏体缺陷分析报告；步骤二：提供照射光线照亮显示模组表面，检测显示模组偏光片缺陷并生成偏光片缺陷分析报告；步骤三：综合分析模块对显示屏体缺陷分析报告和偏光片缺陷分析报告进行综合分析，然后生成综合缺陷报告；步骤四：缺陷评级模块根据综合缺陷报告生成缺陷等级本发明设计合理，便于显示模组缺陷检测。
一种用于检测显示模组缺陷方法系统

[发明专利]显示缺陷检测系统和显示缺陷检测方法-CN202210986701.1在审
发明人：金起铉;洪钟周 -专利权人：乐金显示有限公司
申请日： 2022-08-17 - 公布日： 2023-06-23 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：公开了一种显示缺陷检测系统和显示缺陷检测方法。显示缺陷检测系统包括：预处理电路，该预处理电路接收由显示面板显示的测试图案的捕获图像作为包括对角线不均的面板图像，并且对该面板图像进行预处理以输出预处理图像；以及不均检测电路，该不均检测电路基于预处理图像的边缘映射，通过将反映对角线不均的亮度差的第一特征值与反映对角线不均的形状比率的第二特征值相乘来计算对角线不均的最终特征值，并且基于对角线不均的最终特征值来检测对角线不均的显示位置。
显示缺陷检测系统方法

[发明专利]一种基于AOI的显示面板缺陷分类方法及装置-CN201710343750.2有效
发明人：吕东东;张胜森;邓标华 -专利权人：武汉精测电子集团股份有限公司
申请日： 2017-05-16 - 公布日： 2021-02-12 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于AOI的显示面板缺陷分类方法及装置，其包括：1)采集显示面板的显示画面，并提取该显示画面的缺陷特征属性向量d；2)提供一缺陷特征属性描述集合M，该缺陷特征属性描述集合M包括多种缺陷类型的特征属性描述向量m；将该缺陷特征属性向量d分别与每种缺陷类型的特征属性描述向量m进行卷积，生成一组卷积值；其中，最大的卷积值对应的缺陷类型即为该缺陷特征属性向量d的缺陷类型。本发明通过自动提取显示面板的缺陷特征信息，及自动识别显示缺陷的数量及类型，实现了显示面板的缺陷识别、等级判定的自动化程度，能极大的提升显示面板缺陷识别和等级判定的检测效率和精确度。
一种基于 aoi 显示面板缺陷分类方法装置

[发明专利]一种用于显示面板复检的方法、装置及系统-CN202110295331.2有效
发明人：王绍凯;罗川淦;金鑫;谭久彬 -专利权人：哈工大机器人（中山）无人装备与人工智能研究院
申请日： 2021-03-19 - 公布日： 2022-02-01 - 主分类号： G01N21/95 文献下载
摘要：本申请提供了一种用于显示面板复检的方法、装置及系统，涉及显示面板检测技术领域。本申请的用于显示面板复检的方法，包括：缺陷评价结果获取阶段和待检测显示面板复检阶段；缺陷评价结果获取阶段包括：根据显示面板的扫描图像确定第一缺陷评分；从第一候选缺陷中筛选第二候选缺陷，根据复检图像确定第二缺陷评分；根据第一缺陷评分和第二缺陷评分确定各类缺陷的缺陷评价结果；待检测显示面板复检阶段包括：获取待检测显示面板的扫描图像，并根据扫描图像确定缺陷和各缺陷的类型；根据预先获取的缺陷评价结果确定需复检类缺陷，从上述缺陷中挑选需复检类缺陷进行复检本申请的技术方案，能够极大提高复检的效率，并同时兼顾缺陷检测的准确性。
一种用于显示面板复检方法装置系统

[实用新型]OLED面板显示缺陷修复系统-CN201420134355.5有效
发明人：王小月;任海;张晓茗;朴章镐 -专利权人：四川虹视显示技术有限公司
申请日： 2014-03-24 - 公布日： 2014-08-06 - 主分类号： G09G3/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种OLED面板显示缺陷修复系统，包括真空吸附平台，点灯系统，显示缺陷检查装置和激光发生器，其中，显示缺陷检查装置包括显示装置、显微镜、CCD和可调节平台，显微镜固定于可调节平台上并通过CCD将图像显示于显示装置上；激光发生器的激光头与显示缺陷检查装置的显微镜镜头重叠，OLED面板显示缺陷修复时，显微镜位于真空吸附平台的正上方。本实用新型的OLED面板显示缺陷修复系统通过将激光发生器的激光头与显示缺陷检查装置的显微镜镜头重叠，避免了对OLED面板显示缺陷的重复定位，显示缺陷检查到后，无需移动OLED面板即可直接进行修复，不但提高修复效率，同时提高OLED面板显示缺陷的修复的准确率。
oled 面板显示缺陷修复系统

[发明专利]Mura缺陷补偿方法、装置、设备和存储介质-CN202111539463.1有效
发明人：张跃 -专利权人：惠州视维新技术有限公司
申请日： 2021-12-15 - 公布日： 2023-05-23 - 主分类号： G09G3/32 文献下载
摘要：本申请提供一种Mura缺陷补偿方法、装置、设备和计算机可读存储介质，本申请中的Mura缺陷补偿方法包括：对Mini‑LED显示屏中显示分区的灰阶检测画面进行Mura分析，得到显示分区的Mura缺陷信息；根据Mura缺陷信息确定显示分区的灰阶偏离等级；基于灰阶偏离等级对显示分区进行背光亮度补偿，消除显示分区的Mura缺陷。本申请中的Mura缺陷补偿方法能够实现在仅通过调整Mini‑LED显示屏的背光亮度情况下解决因显示屏Mura缺陷和Mini‑LED背光区域亮暗不均导致的显示屏整体的Mura缺陷进行Mura缺陷补偿，优化Mini‑LED显示屏显示效果，提高Mini‑LED显示屏产品的生产效率。
mura 缺陷补偿方法装置设备存储介质

[发明专利]OLED面板显示缺陷修复方法-CN201410133355.8在审
发明人：朴章镐 -专利权人：四川虹视显示技术有限公司
申请日： 2014-04-03 - 公布日： 2015-10-14 - 主分类号： G09G3/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种OLED面板显示缺陷修复方法，包括如下步骤：当需要进行OLED面板显示缺陷修复时，首先，将OLED面板用真空固定于真空吸附平台上；然后，用点灯系统将OLED面板点亮，此时，通过点亮的OLED基板，可确定可修复性的显示缺陷的大致位置，并对显示缺陷予以标记；第三步，调节显示缺陷检查装置的可调节平台使显微镜移至上一步所标记的显示缺陷的正上方，调节显微镜对显示缺陷进行准确定位，并通过显示装置获取显示缺陷的图像信息；第四步，将激光发生器打开，在显示装置的实时监控和指导下，利用发射的激光束对显示缺陷进行精准修复。
oled 面板显示缺陷修复方法

[发明专利]一种显示面板的缺陷的灰阶补偿方法及灰阶补偿系统-CN201410834528.9有效
发明人：胡厚亮;郭平昇;朱立伟 -专利权人：深圳市华星光电技术有限公司
申请日： 2014-12-29 - 公布日： 2015-03-25 - 主分类号： G09G3/32 文献下载
摘要：本发明公开一种显示面板的缺陷的灰阶补偿方法，包括步骤：A)获取显示面板的缺陷的位置坐标，并基于缺陷的位置坐标确定缺陷所在的缺陷区域；B)获取缺陷的伽马曲线、缺陷区域的背景的伽马曲线以及显示面板的背景的标准伽马曲线；C)基于缺陷的伽马曲线、缺陷区域的背景的伽马曲线以及显示面板的背景的标准伽马曲线获取缺陷的标准伽马曲线以及缺陷区域的背景的标准伽马曲线；D)基于缺陷的标准伽马曲线以及缺陷区域的背景的标准伽马曲线计算缺陷的各灰阶的灰阶补偿值本发明还公开一种显示面板的缺陷的灰阶补偿系统。本发明的显示面板的缺陷的灰阶补偿方法及灰阶补偿系统，其能够大幅度减小计算量，并且能够对缺陷的补偿达到最好的效果。
一种显示面板缺陷补偿方法系统

[发明专利]液晶显示面板缺陷的处理方法、处理系统和维修设备-CN200810119543.X有效
发明人：吕志超 -专利权人：北京京东方光电科技有限公司
申请日： 2008-09-02 - 公布日： 2010-03-10 - 主分类号： G02F1/13 文献下载
摘要：本发明提供了一种液晶显示面板缺陷的处理方法、处理系统和维修设备。其中液晶显示面板缺陷的处理方法包括：采集液晶显示面板上缺陷区域的缺陷图像；对所述缺陷图像进行分析并判定缺陷类型；根据所述缺陷类型查找对应的维修方案。液晶显示面板缺陷的处理系统包括图像采集模块、缺陷判别模块和维修选择模块。液晶显示面板缺陷的维修设备包括上述的处理系统，还包括激光系统、机电系统和至少一台控制主机。本发明提供的液晶显示面板缺陷的处理方法、处理系统和维修设备，通过对缺陷图像进行分析判别缺陷类型，然后按照相应的维修方案对液晶面板进行维修，能够提高缺陷类型判别的准确性，提高维修效率。
液晶显示面板缺陷处理方法系统维修设备

[发明专利]LED显示屏显示缺陷检测方法、电子设备及装置-CN202210188796.2有效
发明人：马宝真;王铂;蔡炜;张朝志;汪洋;郑喜凤 -专利权人：季华实验室
申请日： 2022-02-28 - 公布日： 2022-06-17 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种LED显示屏显示缺陷检测方法、电子设备及装置，属于LED显示屏质检领域，方法包括，获取LED显示屏显示纯色时的画面；识别图像中LED显示屏的边框，选取边框内的图像为第二图像；根据LED显示屏中拼接模组的排列方式，将第二图像划分成多个第三图像；筛选出有缺陷第三图像，记录对应有缺陷第三图像的有缺陷拼接模组；对有缺陷第三图像进行缺陷类型判断，并针对有缺陷拼接模组进行缺陷位置定位，该方法减少对无缺陷拼接模组的识别结算，且方便快速找到缺陷位置，拼接模组的分辨率比整个LED显示屏的分辨率低得多，先识别有缺陷拼接模组，再对拼接模组的缺陷单独进行定位，可以减少运算复杂度，提升检测速度。
led 显示屏显示缺陷检测方法电子设备装置

[发明专利]一种显示面板的检测方法及系统-CN201811168124.5在审
发明人：朱厚毅 -专利权人：惠科股份有限公司;重庆惠科金渝光电科技有限公司
申请日： 2018-10-08 - 公布日： 2019-02-22 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明公开了一种显示面板的检测方法及系统，其中方法包括，控制拍摄装置对被测显示面板表面进行拍摄；根据拍摄结果获取显示面板的缺陷信息；根据缺陷信息识别每个缺陷对应的缺陷种类并获取缺陷种类中的黑缺陷；判断黑缺陷是否满足被标记条件；若黑缺陷满足被标记条件，对黑缺陷进行标记；控制修复装置修复所标记的黑缺陷。通过识别缺陷信息中的黑缺陷，并判断黑缺陷是否满足被标记条件，若黑缺陷满足被标记条件，对黑缺陷进行标记，并修复标记的黑缺陷。从而可直接在获取显示面板缺陷信息时识别需要进行修复的黑缺陷，减少后续人力及设备产能的损失，提高显示面板制程的效率。
黑缺陷显示面板标记条件缺陷信息修复显示面板表面拍摄结果拍摄装置设备产能修复装置检测制程拍摄

[发明专利]显示不均匀缺陷显现装置、方法和检测设备-CN201610852245.6有效
发明人：王海涛;罗强强;田牛 -专利权人：合肥京东方光电科技有限公司;京东方科技集团股份有限公司
申请日： 2016-09-26 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： G02F1/13 文献下载
摘要：本发明提供一种显示不均匀缺陷显现装置、方法和检测设备。所述显示不均匀缺陷显现装置包括激光发射源、激光感应器、运动支撑单元、显示不均匀缺陷显现单元以及位置检测单元，激光发射源用于被控制而向所述显示基板上的显示不均匀缺陷处发射激光信号，并被控制而描绘出所述显示不均匀缺陷的形貌；运动支撑单元控制激光感应器运动至能够接收到激光发射源发射的激光的位置；激光感应器接收并记录激光发射源发射的激光信号；显示不均匀缺陷显现单元模拟出显示不均匀缺陷的形貌；位置检测单元检测得到显示不均匀缺陷在显示基板上的位置坐标本发明可以清楚准确的检测得到显示基板上的显示不均匀缺陷的形貌和位置。
显示不均匀缺陷显现装置方法检测设备

[实用新型]显示不均匀缺陷显现装置和检测设备-CN201621081959.3有效
发明人：王海涛;罗强强;田牛 -专利权人：合肥京东方光电科技有限公司;京东方科技集团股份有限公司
申请日： 2016-09-26 - 公布日： 2017-03-22 - 主分类号： G02F1/13 文献下载
摘要：本实用新型提供一种显示不均匀缺陷显现装置和检测设备。所述显示不均匀缺陷显现装置包括激光发射源、激光感应器、运动支撑单元、显示不均匀缺陷显现单元以及位置检测单元，激光发射源用于被控制而向所述显示基板上的显示不均匀缺陷处发射激光信号，并被控制而描绘出所述显示不均匀缺陷的形貌；运动支撑单元控制激光感应器运动至能够接收到激光发射源发射的激光的位置；激光感应器接收并记录激光发射源发射的激光信号；显示不均匀缺陷显现单元模拟出显示不均匀缺陷的形貌；位置检测单元检测得到显示不均匀缺陷在显示基板上的位置坐标本实用新型可以清楚准确的检测得到显示基板上的显示不均匀缺陷的形貌和位置。
显示不均匀缺陷显现装置检测设备

[发明专利]显示装置、面板缺陷检测系统以及面板缺陷检测方法-CN201610487008.4有效
发明人：金应圭;朴信均 -专利权人：乐金显示有限公司
申请日： 2016-06-28 - 公布日： 2019-09-24 - 主分类号： G09G3/00 文献下载
摘要：显示装置、面板缺陷检测系统以及面板缺陷检测方法。本实施方式涉及显示装置、面板缺陷检测系统以及面板缺陷检测方法，在该显示装置中，被布置在施加用于驱动显示面板的电压的位置中的控制开关元件可以识别在断开情况下在该显示面板中是否出现异常电流，以便在面板缺陷检测间隔中容易且准确地检测是否存在面板缺陷，其中，所述面板缺陷检测间隔是当不存在面板缺陷时在显示面板中不出现异常电流的间隔。
显示装置面板缺陷检测系统以及方法

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