专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]缺陷判定方法及缺陷判定装置-CN201910445000.5有效
  • 雷朋 - TCL华星光电技术有限公司
  • 2019-05-27 - 2021-07-06 - G01N21/88
  • 本发明提供了一种缺陷判定方法及缺陷判定装置,可进行在线实时缺陷判定。所述缺陷判定方法和判定装置,相较于现有技术,设置了较多的判定缺陷的数据维度,可对缺陷种类、缺陷影响线路、缺陷尺寸和缺陷像素等缺陷数据进行准确识别;在缺陷判定过程中自动套用第一数据规则表和第二数据规则表,将所述缺陷数据划分为不同的等级,进而对不同等级的缺陷执行与所述等级相应的操作;提高了缺陷判定的准确度和自动化程度,减少了缺陷判定过程中的人工参与,降低了漏判和误判的风险。
  • 缺陷判定方法装置
  • [发明专利]一种浮法玻璃等级判定方法及装置-CN202110614821.4在审
  • 墨磊;陈承新;汪洋;徐浩天;王开西;杜坤委;牛淼 - 蚌埠凯盛工程技术有限公司
  • 2021-06-02 - 2021-08-27 - G06F16/2457
  • 本发明公开了一种浮法玻璃等级判定方法及装置,所述方法包括:确定缺陷坐标是否在当前玻璃上,如果在当前玻璃上则将缺陷坐标添加到缓存区,缓存区中所有缺陷坐标形成缺陷集合S;对缺陷集合S进行筛选,剔除当前等级所能允许的缺陷范围内的缺陷坐标,形成集合Sa;对集合Sa中所有的缺陷坐标通过两点间距离判定判定浮法玻璃等级;对缺陷集合S中所有的缺陷坐标通过三点成圆直径判定判定浮法玻璃等级;将两点间距离判定判定浮法玻璃等级与三点成圆直径判定判定浮法玻璃等级中较低的等级作为浮法玻璃最终的等级;本发明的优点在于:更为准确地对浮法玻璃等级进行判定
  • 一种玻璃等级判定方法装置
  • [发明专利]一种规则缺陷分析方法及系统-CN202211545396.9在审
  • 笪仲跃;李宝同;李先军;包振健;杨艺 - 凌云光技术股份有限公司
  • 2022-12-01 - 2023-03-28 - G06T7/00
  • 本申请提供一种规则缺陷分析方法及系统,所述方法在获取物料的检测图像后,会对检测图像进行特征提取,提取检测图像中的缺陷特征,缺陷特征包括缺陷参数,再根据缺陷判定规则集确定缺陷特征的缺陷等级,以根据缺陷等级生成缺陷分析结果其中,缺陷判定规则集包括至少一个缺陷判定规则,缺陷判定规则包括缺陷参数关联的多个区间阈值,多个所述区间阈值分别用于判定不同的缺陷等级。所述方法通过对物料的检测图像进行特征提取,可以提取到物料表面缺陷缺陷特征。同时,通过多个缺陷判定规则对缺陷特征进行数据规则化处理,确定缺陷特征的缺陷等级,以生成缺陷分析结果,将质量数据和生产设备关联,预测生产趋势,降低物料报废率。
  • 一种规则缺陷分析方法系统
  • [发明专利]故障信号生成电路-CN200610162502.X无效
  • 河野英知;藤盛裕明;若杉纯 - 株式会社东芝
  • 2006-11-24 - 2007-05-30 - G11B7/00
  • 本发明的一个实施方式的故障信号生成电路具备:低通滤波电路,依照光盘的暗缺陷、明缺陷,接收信号电平从基准电平一方向高电平变化另一方向低电平变化的输入信号,输出与该输入信号相比时间常数长的低通滤波信号;计算电路,计算上述输入信号的电平和上述低通滤波信号的电平的差,输出第1计算值;缺陷判定电路,根据上述第1计算值的符号判定是暗缺陷还是明缺陷;故障检测判定电路,比较上述第1计算值的绝对值和第1基准值的绝对值,在上述第1计算值的绝对值大时,判定为检测出故障;以及输出电路,当在由上述缺陷判定电路判定为检测出故障的同时,由上述缺陷判定电路判定缺陷是暗缺陷的情况下,输出表示检测出暗缺陷的故障的第1故障信号,当在由上述故障检测判定电路判定为检测出故障的同时,由上述缺陷判定电路判定缺陷是明缺陷的情况下,输出表示检测出明缺陷的故障的第2故障信号。
  • 故障信号生成电路
  • [发明专利]图像处理装置以及固体摄像装置-CN201410347590.5在审
  • 立泽之康 - 株式会社东芝
  • 2014-07-21 - 2015-09-16 - H04N5/367
  • 本发明提供通过恰当的缺陷校正而获得高品质的图像的固体摄像装置。固体摄像装置具有缺陷校正电路(28)。缺陷校正电路(28)具备作为缺陷判定部的缺陷判定电路(34)、作为第一校正部的选择器(35)及作为第二校正部的水平插补部(30)。缺陷判定部实施对于对象像素的缺陷判定。第一校正部基于缺陷判定的结果,对于被检测到缺陷的对象像素,实施像素值的置换。第二校正部对于指定像素,实施像素值的插补处理。指定像素作为缺陷是预先登记有位置信息(44)的像素。在第二校正部实施了插补处理的情况下,缺陷判定部实施使用经插补处理后的像素值的缺陷判定
  • 图像处理装置以及固体摄像
  • [发明专利]一种共同缺陷判定方法及判定装置-CN202010437253.0有效
  • 叶巧云 - 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司
  • 2020-05-21 - 2022-09-27 - G02F1/13
  • 本申请公开了一种共同缺陷判定方法及判定装置,所述共同缺陷判定方法包括步骤:识别缺陷缺陷差异比对以及结果判定缺陷差异比对包括位置差异比对、灰度差异比对以及形态差异比对,判定发生共同缺陷需同时满足位置差异要求、灰度差异要求以及形态差异要求,该方法具有共同缺陷识别准确率高、快速的优点,有效避免“假报”现象的出现,从而提升生产线的产能,节省人力。所述的判定装置包括识别单元、存储单元和处理单元,识别单元、存储单元和处理单元之间通讯连接。所述的判定装置采用所述的共同缺陷判定方法,对液晶显示板的生产过程进行质量监控,及时拦截和判断共同缺陷,提高产品良品率和生产效率。
  • 一种共同缺陷判定方法装置
  • [发明专利]一种用于检测SQL代码缺陷的方法和装置-CN201310627037.2在审
  • 刘欣 - 阿里巴巴集团控股有限公司
  • 2013-11-29 - 2015-06-03 - G06F11/36
  • 本申请公开了一种用于检测SQL代码缺陷的方法,包括:分析待检测的SQL代码访问的源表中的数据分布情况,生成统计信息;判断所述统计信息是否含有缺陷判定规则集中的某一项或者多项缺陷判定规则对应的统计特征;若是,则判定所述待检测的SQL代码可能存在缺陷;所述缺陷判定规则,是指用于判定待检测的SQL代码可能存在缺陷的一个或者一系列统计特征;所述缺陷判定规则集,是指一个或者多个所述缺陷判定规则的集合。本申请同时提供一种用于检测SQL代码缺陷的装置。使用本申请提供的方法,能够深入到SQL代码的真实执行路径,发现潜在的SQL代码缺陷
  • 一种用于检测sql代码缺陷方法装置
  • [发明专利]自动化判定以分拣托盘的方法及托盘分拣系统-CN201911213068.7有效
  • 谭建刚 - 捷普电子(广州)有限公司
  • 2019-12-02 - 2022-07-26 - B07C5/342
  • 一种自动化判定以分拣托盘的方法,包含下述步骤:取得待判定托盘的识别信息;将所述待判定托盘的识别信息提供至处理装置;所述处理装置依据所述托盘的所述识别信息,判断所述待判定托盘所承载的电路板的缺陷检测信息记录是否符合缺陷判断标准,若所述电路板符合所述缺陷判断标准,则进一步判定所述待判定托盘有缺陷;及将所述处理装置判定缺陷的所述待判定托盘拣出。借此,能自动化判定以分拣出不良且有缺陷的托盘,以确保在生产在线使用的托盘都是正常可用的状态,能避免托盘本身的缺陷对电路板在焊接的过程造成影响,以提升电路板焊接的质量。
  • 自动化判定分拣托盘方法系统

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