专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种报文缺漏检测方法、装置、设备及介质-CN202310874006.0在审
  • 赵毅佳;李珂;吴阿妹 - 中国银行股份有限公司
  • 2023-07-17 - 2023-09-15 - H04L43/0829
  • 本申请公开了一种报文缺漏检测方法、装置、设备及介质,涉及大数据领域或金融领域。该方法包括:响应于发送系统发送的第一报文和第二报文,分别获取第一报文编号和第二报文编号;判断第二报文编号是否大于第一报文编号加1;若是,则获取缺漏报文编号,缺漏报文编号为第一报文编号加1至第二报文编号减1;根据缺漏报文编号,向发送系统发送重发请求,以使发送系统重新发送缺漏报文编号对应的报文。由此,引入报文缺漏检测机制,以便在业务处理过程中发生报文缺漏时可以重新请求发送系统发送相关报文至目标系统,以保证双边系统处理的一致性,从而保证交易能够正常处理及业务的正确性。
  • 一种报文缺漏检测方法装置设备介质
  • [发明专利]一种新型重瓦斯独立触发瓦斯继电器-CN202210465636.8在审
  • 张敏 - 陕西同基电力科技有限公司
  • 2022-04-29 - 2022-07-22 - H01H9/16
  • 本发明属于继电器技术领域,公开了一种新型重瓦斯独立触发瓦斯继电器,外壳盖通过螺栓安装固定在外壳底上端,外壳盖上端安装有排气阀、测试杆和信号输出端,测试杆外侧设置有测试杆保护盖;外壳底内部设置有轻瓦斯动作模块、缺漏油动作模块和重瓦斯动作模块,轻瓦斯动作模块用于利用轻瓦斯开口浮杯发出轻瓦斯信号,缺漏油动作模块用于利用缺漏油开口浮杯发出缺漏油信号,重瓦斯动作模块用于发出重瓦斯信号。本发明可以对轻瓦斯信号、缺漏油信号和重瓦斯信号进行输出时进行区分,能够解决现有的瓦斯继电器无法精准判定发生轻瓦斯信号、缺漏油信号和重瓦斯信号,方便作业人员对变压器的维护。
  • 一种新型瓦斯独立触发继电器
  • [发明专利]用于像素内插的系统及方法-CN201410772702.1在审
  • 胡迪特·马蒂内·包萨;斯雷尼瓦斯·瓦拉达拉扬 - 高通股份有限公司
  • 2010-07-29 - 2015-03-25 - H04N19/59
  • 本发明揭示一种内插像素值的方法,且所述方法可包含定位缺漏像素。进一步来说,所述方法可包含确定多个最接近像素、确定用于所述多个最接近像素中的每一者的值,以及确定所述缺漏像素与所述多个最接近像素中的每一者之间的距离。所述方法还可包含将所述多个最接近像素中的每一者分类为边缘像素或非边缘像素,以及至少部分基于所述多个最接近像素中的每一者的所述值、所述缺漏像素与所述多个最接近像素中的每一者之间的所述距离以及对所述多个最接近像素中的每一者的分类来确定所述缺漏像素的值
  • 用于像素内插系统方法
  • [发明专利]用于像素内插的系统及方法-CN201410771146.6在审
  • 胡迪特·马蒂内·包萨;斯雷尼瓦斯·瓦拉达拉扬 - 高通股份有限公司
  • 2010-07-29 - 2015-03-25 - H04N19/59
  • 本发明揭示一种内插像素值的方法,且所述方法可包含定位缺漏像素。进一步来说,所述方法可包含确定多个最接近像素、确定用于所述多个最接近像素中的每一者的值,以及确定所述缺漏像素与所述多个最接近像素中的每一者之间的距离。所述方法还可包含将所述多个最接近像素中的每一者分类为边缘像素或非边缘像素,以及至少部分基于所述多个最接近像素中的每一者的所述值、所述缺漏像素与所述多个最接近像素中的每一者之间的所述距离以及对所述多个最接近像素中的每一者的分类来确定所述缺漏像素的值
  • 用于像素内插系统方法
  • [发明专利]用于像素内插的系统及方法-CN201410769064.8在审
  • 胡迪特·马蒂内·包萨;斯雷尼瓦斯·瓦拉达拉扬 - 高通股份有限公司
  • 2010-07-29 - 2015-04-01 - H04N1/40
  • 本发明揭示一种内插像素值的方法,且所述方法可包含定位缺漏像素。进一步来说,所述方法可包含确定多个最接近像素、确定用于所述多个最接近像素中的每一者的值,以及确定所述缺漏像素与所述多个最接近像素中的每一者之间的距离。所述方法还可包含将所述多个最接近像素中的每一者分类为边缘像素或非边缘像素,以及至少部分基于所述多个最接近像素中的每一者的所述值、所述缺漏像素与所述多个最接近像素中的每一者之间的所述距离以及对所述多个最接近像素中的每一者的分类来确定所述缺漏像素的值
  • 用于像素内插系统方法
  • [发明专利]用于像素内插的系统及方法-CN201410772689.X在审
  • 胡迪特·马蒂内·包萨;斯雷尼瓦斯·瓦拉达拉扬 - 高通股份有限公司
  • 2010-07-29 - 2015-04-22 - H04N19/176
  • 本发明揭示一种内插像素值的方法,且所述方法可包含定位缺漏像素。进一步来说,所述方法可包含确定多个最接近像素、确定用于所述多个最接近像素中的每一者的值,以及确定所述缺漏像素与所述多个最接近像素中的每一者之间的距离。所述方法还可包含将所述多个最接近像素中的每一者分类为边缘像素或非边缘像素,以及至少部分基于所述多个最接近像素中的每一者的所述值、所述缺漏像素与所述多个最接近像素中的每一者之间的所述距离以及对所述多个最接近像素中的每一者的分类来确定所述缺漏像素的值
  • 用于像素内插系统方法
  • [发明专利]用于像素内插的系统及方法-CN201080038969.8有效
  • 胡迪特·马蒂内·包萨;斯雷尼瓦斯·瓦拉达拉扬 - 高通股份有限公司
  • 2010-07-29 - 2016-10-26 - H04N19/176
  • 本发明揭示一种内插像素值的方法,且所述方法可包含定位缺漏像素。进一步来说,所述方法可包含确定多个最接近像素、确定用于所述多个最接近像素中的每一者的值,以及确定所述缺漏像素与所述多个最接近像素中的每一者之间的距离。所述方法还可包含将所述多个最接近像素中的每一者分类为边缘像素或非边缘像素,以及至少部分基于所述多个最接近像素中的每一者的所述值、所述缺漏像素与所述多个最接近像素中的每一者之间的所述距离以及对所述多个最接近像素中的每一者的分类来确定所述缺漏像素的值
  • 用于像素内插系统方法
  • [发明专利]光学临近修正参数采集方法-CN200810203537.2有效
  • 王谨恒 - 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
  • 2008-11-27 - 2010-06-16 - G03F1/14
  • 对包括非直角弯角的测试线条进行光学临近修正,形成具有辅助线条的待曝光图形;通过实际曝光或仿真的方法获取待曝光图形曝光后所形成的成型线条;通过对比成型线条与测试线条的差异,获取辅助线条在所述测试线条在所述弯角处是否出现冗余和/或缺漏与现有技术相比,本发明在曝光测试线条上设置包含有非直角的转角,通过对比用实际曝光或仿真的方法所形成的上述测试线条的成型线条与测试线条自身的差异,可以获取辅助线条的冗余和/或缺漏,以及冗余和/或缺漏出现的位置等临近数据
  • 光学临近修正参数采集方法

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