专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]等离子处理设备与溅镀系统-CN201380039732.5有效
  • 卢多维克·葛特;阿德金·沙拉积历 - 瓦里安半导体设备公司
  • 2013-07-25 - 2017-03-22 - C23C14/34
  • 揭示一种等离子处理设备(200)与溅镀系统。所述等离子处理设备包括经配置以在处理腔室(202)中产生等离子(140)的源(206)与等离子调节器(208),处理腔室(202)具有邻近工件(138)的前表面的等离子(242)。等离子调节器控制等离子等离子之间的边界(241)的形状,使得所述边界的形状的一部分不平行于由工件的朝向等离子的前表面定义的平面(151)。金属靶材(209)附加于等离子调节器的后表面,以与等离子调节器电性地隔离,且金属靶材被电性地施加偏压,使得离开等离子且穿过等离子调节器中的孔洞的离子(102)被吸引朝向金属靶材。这些离子造成金属靶材被溅射,从而允许工件的三维金属沉积。
  • 等离子体处理设备系统
  • [发明专利]等离子起辉状态监测方法及监测装置和半导体处理设备-CN201710561903.0有效
  • 范光涛 - 北京北方华创微电子装备有限公司
  • 2017-07-11 - 2020-10-13 - H01J37/32
  • 本发明提供一种等离子起辉状态监测方法及监测装置和半导体处理设备。该等离子起辉状态监测方法包括:在等离子开始起辉时,采集形成在基片表面的等离子层的对地交流电压信号;对等离子层的对地交流电压信号进行处理,以获得等离子层的对地交流电压信号的最大峰值电压;判断等离子层的对地交流电压信号的最大峰值电压是否达到了等离子的起辉成功电压,以确定等离子是否起辉。该等离子起辉状态监测方法通过对等离子层的对地交流电压信号进行监测,能够判断等离子的起辉状态是否正常,无需再采用等离子光谱监测方法,从而不仅能够有效地监测等离子辉光放电状态,而且有效地降低了等离子起辉状态的监测成本
  • 等离子体状态监测方法装置半导体处理设备
  • [发明专利]一种产生无等离子的设备及方法-CN201810232924.2有效
  • 赵海龙;郑薇薇;林忠英 - 台州学院
  • 2018-03-21 - 2022-02-18 - H05H1/46
  • 本发明公开了一种产生无等离子的设备及方法,通过在等离子产生区域的外围设置使等离子区域外围形成涡旋气流的装置,使等离子区域向外运动的电子与等离子区域外围的高密度中性气体气流碰撞损失能量并与离子中和,进而形成无等离子。设备包括在等离子区域的外围均匀排布的多个气体射流源,多个气体射流源使等离子区域外围形成涡旋气流。本发明通过在等离子产生区域外围设置涡旋生成设备,通过高密度的中性气体流来碰撞向外运动的电子,通过碰撞中和电子,进而避免在壁面产生层的情况,从而产生无层边界的等离子,本发明可以与各种等离子发生设备相结合,为等离子特性的研究及应用提供条件。
  • 一种产生无鞘层等离子体设备方法
  • [发明专利]磁控等离子层特性研究方法-CN201910559102.X有效
  • 毛保全;白向华;李程;杨雨迎;宋瑞亮;王之千;朱锐;张天意 - 中国人民解放军陆军装甲兵学院
  • 2019-06-26 - 2022-05-10 - H05H1/10
  • 本发明公开了磁控等离子层特性研究方法,属于磁约束等离子层领域,包括以下步骤:S1:产生等离子,温度高达3000~4000k;S2:电磁线圈电流的加载;S3:产生感应电场,外加磁场产生激励电场,电场对粒子的加速效应可使高温燃气中初始的电子形成雪崩电离效应;S4:形成磁约束等离子层;S5:磁约束等离子层的隔热效应;S6:磁约束等离子层抑制动力学热流密度。该磁控等离子层特性研究方法,施加平行磁场后带电粒子的运动将变成绕磁力线的回旋运动,降低了等离子横越磁场传递的热流密度,由于燃气传递的热流密度下降,内壁面的温升也随之下降,从而提高身管抗热烧蚀的能力
  • 等离子体特性研究方法
  • [发明专利]离子-CN201080020420.6有效
  • 卢多维克·葛特;史费特那·瑞都凡诺;提摩太·J·米勒 - 瓦里安半导体设备公司
  • 2010-04-22 - 2012-05-02 - H01J37/08
  • 一种离子源,包括具有萃取孔隙的电弧室及等离子调制器。等离子调制器被装配以控制边界的形状,上述边界位于等离子与接近萃取孔隙的等离子之间。等离子调制器可包括一对绝缘,此对绝缘安置于电弧室中且藉由安置于接近萃取孔隙的间隙来隔开。具有高电流密度的聚焦良好的离子束可藉由离子源产生。高电流密度离子束可改善相关制程的产出。离子束的发射率也可被控制。
  • 离子源

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