专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [其他]竖直位移冲击式电子秤-CN86202597无效
  • 谭天佑 - 谭天佑
  • 1986-04-15 - 1987-08-26 - G01G7/02
  • 本实用新型是一种竖直位移冲击式电子秤。物料整形管,使物料集中而对称地冲击在圆锥形罩的检测板上,竖直向下的冲击力作用在位移传感器轴上,使被双弹簧卡住的位移传感器铁芯产生位移,并使线圈产生电讯号,经电路转换,显示瞬时流量和累计重量。
  • 竖直位移冲击电子秤
  • [实用新型]一种竖直位移调节机构及位移调节装置-CN202220399235.2有效
  • 徐为兵;冯欢;闫璐;林永勇;胡峰峰;朱志雄;孔双双 - 航天工程装备(苏州)有限公司
  • 2022-02-25 - 2022-06-28 - B65G13/12
  • 本实用新型涉及一种竖直位移调节机构及位移调节装置,其中竖直位移调节机构包括机架、螺旋升降机、支撑套筒、支撑板和滚轮,螺旋升降机设置于机架上,支撑套筒一端连接螺旋升降机的丝杆端,利用螺旋升降机的丝杆端带动支撑套筒纵向运动利用支撑套筒带动支撑板纵向运动,滚轮设置于支撑板上,本实用新型通过在支撑板上设置滚轮承载薄壁工件,再设置支撑套筒连接支撑板和螺旋升降机的丝杆端,利用螺旋升降机的丝杆端带动支撑板上的滚轮做纵向运动,进而实现对薄壁工件的竖直位移调节,且在配合水平位移调节机构对薄壁工件进行水平位移调节时,利用滚轮可将薄壁工件运输面的滑动摩擦转换为滚动摩擦,有效减小了运输面的摩擦力,避免了薄壁工件运输面的磨损。
  • 一种竖直位移调节机构装置
  • [发明专利]能够避免焊接过程中光纤摆动的夹紧装置-CN201710599603.1有效
  • 赖成军 - 成都聚芯光科通信设备有限责任公司
  • 2017-07-21 - 2019-11-05 - G02B6/255
  • 本发明公开能够避免焊接过程中光纤摆动的夹紧装置,包括底座,底座上设置有相互垂直的竖直位移平台和水平位移平台,且竖直位移平台能够在铅垂面内移动,水平位移平台能够在水平面内移动,竖直位移平台上设置有上夹头,水平位移平台上设置有下夹头,上夹头位于下夹头的正上方,上夹头与竖直位移平台的连接处设置有磁铁,竖直位移平台和水平位移平台之间设置有增强侧板,增强侧板通过螺纹紧固件与竖直位移平台和水平位移平台相连,增强侧板对竖直位移平台起到支撑作用,避免竖直位移平台变形。本发明上夹头拆装方便,增强侧板避免竖直位移平台变形,使对准耦合效果更好,转接头的尺寸与上夹头的尺寸不相同,适用范围更广。
  • 能够避免焊接过程光纤摆动夹紧装置
  • [实用新型]一种光栅尺检测组件-CN202123275861.5有效
  • 年佳;许新祥;黄梦凡;晏伟 - 湖南凌翔磁浮科技有限责任公司
  • 2021-12-23 - 2022-04-26 - G01B11/00
  • 本实用新型涉及一种光栅尺检测组件,包括:水平位移装置(11),承载在所述水平位移装置(11)上的竖直位移装置(12),安装在所述竖直位移装置(12)上的位移传感器(13),以及设置在所述竖直位移装置(12)上的光栅尺组件(14);所述水平位移装置(11)用于驱动所述竖直位移装置(12)在水平方向线性往复移动;所述竖直位移装置(12)用于驱动所述位移传感器(13)在竖直方向线性往复移动;所述光栅尺组件(14)用于输出所述竖直位移装置(12)的移动位置。
  • 一种光栅尺检测组件
  • [发明专利]一种可测竖直位移的两轴光栅位移测量系统-CN201310675318.5有效
  • 林杰;关健;金鹏;谭久彬 - 哈尔滨工业大学
  • 2013-12-12 - 2014-03-26 - G01B11/02
  • 一种可测竖直位移的两轴光栅位移测量系统涉及一种光栅位移测量系统;该测量系统包括单频激光光源、分光部件、干涉光路部件、光电探测及信号处理部件和一维反射式测量光栅;所述干涉光路部件包括偏振分光棱镜、测量臂四分之一波片参考臂折光元件和一维反射式参考光栅;所述一维反射式测量光栅和一维反射式参考光栅表面形貌相同;所述测量臂折光元件和参考臂折光元件的折光角度均为θi,且满足2dsinθi=±mλ;本发明不仅能够同时测量沿x轴、z轴两个方向的直线位移,而且相比已有技术该系统的z向位移量程得到了极大的扩展。
  • 一种竖直位移光栅测量系统

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