专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种轴用密封圈寿命测试设备-CN201510437904.5有效
  • 闫胜昝;苏本跃;刘奎 - 徐丹
  • 2015-07-22 - 2018-03-06 - G01M13/00
  • 本发明涉及密封圈加工制作设备,具体说是一种轴用密封圈寿命测试装置,包括机架、控制装置、传动装置和测试装置,所述的机架分为上下两个部分,且机架上方设有支撑架,机架用于提供安装位置;所述的控制装置位于机架的上方且控制装置位于机架前方,控制装置用于控制所有装置的配合运动;所述的传动装置位于控制装置后方,传动装置用于为密封圈检测提供动力;所述的测试装置位于控制装置后方,且测试装置通过螺栓与机架相连接,测试装置用于检测密封圈的寿命本发明可以模拟密封圈的工作环境,进而可以测试出比较真实的密封圈寿命,为密封圈的选用带来了很大方便,保证了许多密封设备的安全。
  • 一种密封圈寿命测试设备
  • [发明专利]PCB焊点随机振动疲劳寿命预测方法与系统-CN201510262277.6有效
  • 周斌;何小琦;恩云飞;卢桃;周振威 - 工业和信息化部电子第五研究所
  • 2015-05-20 - 2018-05-04 - G06F17/50
  • 本发明提供一种PCB焊点随机振动疲劳寿命预测方法与系统,基于正弦振动试验和谐响应仿真分析,确定PCB焊点的应力‑寿命曲线,根据PCB焊点随机振动疲劳危险部位的应力‑时间曲线或PCB板应变‑寿命曲线,采用雨流计数法,确定PCB焊点随机振动疲劳危险部位循环数、应力幅值和均值分布,再确定PCB焊点随机振动疲劳的损失量,最后基于Miner准则,根据PCB焊点随机振动疲劳的损失量,预测PCB焊点随机振动疲劳寿命。整个过程基于严谨数据处理,可操作性强,并采用雨流计数法对应力与时间响应信号进行循环数统计和排序的方法,确保PCB焊点随机振动疲劳寿命预测过程中数据获取的准确。
  • pcb随机振动疲劳寿命预测方法系统
  • [发明专利]一种母线接头寿命预测方法与实验装置-CN201410375925.4有效
  • 张荣标;王婉婉;王鹏;李文胜;杨宁 - 江苏大学
  • 2014-08-01 - 2017-02-15 - G01R31/00
  • 本发明公开一种母线接头寿命预测方法与实验装置,采用加热装置和制冷装置交替工作的方式实现温升范围内的温度冲击,实现内部温度的实时监测与调整,便于不同温升下电阻值的测量;通过建立母线接头处温升、温度冲击次数与接头电阻三者之间的非线性关系得出母线接头的阈值电阻及与其对应的温度冲击次数;在实际应用中,只需测得母线接头温升和流经母线的电流的周期即可采用BP神经网络训练得出被测母线的温度冲击次数及接头电阻,根据温度冲击次数与接头电阻的对应关系估测被测母线接头的剩余寿命
  • 一种母线接头寿命预测方法实验装置
  • [发明专利]一种净化水滤芯的寿命检测装置-CN201610131937.1有效
  • 孙丰忠 - 孙丰忠
  • 2016-03-09 - 2017-10-27 - B01D35/143
  • 本发明的净化水滤芯的寿命检测方法,将单个滤芯或串联后的多个滤芯进水口中的压力与出水口中的压力相比较,如果压力差超过了设定的阈值P,并长时间保持这个值时,则认为滤芯寿命已尽。本发明的检测方法和装置,将滤芯进水口上的压力与出水口上的压力相比较,当压力差超过设定阈值时,并长时间保持这个值时,则认为滤芯使用寿命已尽,与现有定期或按照过滤水量更换滤芯的方法相比,更加符合实际,既保证了过滤水质的质量
  • 一种净化水滤芯寿命检测方法装置
  • [发明专利]一种测试NMOS热载流子注入寿命的方法-CN200810171550.4有效
  • 彭钦宏;彭昶 - 和舰科技(苏州)有限公司
  • 2008-10-17 - 2010-06-09 - G01R31/26
  • 本发明涉及一种测试NMOS热载流子注入寿命的方法,包括以下步骤:步骤1、测试系统将测试电压应力加到被测器件的漏极,该测试电压的值为穿通电压的60%~70%之间;步骤2、漏极所加电压应力时的最大基底电流所对应的栅压为栅极电压应力得到被测器件漏极电流的退化图;步骤3、测试系统对步骤2中的数据进行拟合得到被测器件失效时间,当器件退化到5%以上,利用外差推算得到器件的失效时间;然后用公式TTF*Ids=C*(Isub/Ids)m计算热载流子注入的寿命采用本发明的技术方案可以快速地得到NMOS热载流子注入的寿命,大大缩短测试时间,而且不需要封装晶片,节省了成本。
  • 一种测试nmos载流子注入寿命方法

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