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[发明专利]一种采用比较法的非平衡光纤干涉仪臂长差测量装置及测量方法-CN201811591611.2有效
发明人：张军;赵涵;陈毅 -专利权人：中国船舶重工集团公司第七一五研究所
申请日： 2018-12-25 - 公布日： 2021-06-15 - 主分类号： G01D18/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种采用比较法的非平衡光纤干涉仪臂长差测量装置及测量方法，主要包含激光器、信号生成器、光纤拉伸器、标准非平衡光纤干涉仪、光信号接收及处理器、被测非平衡光纤干涉仪等部件，激光器连接到光纤拉伸器的光纤输入接口所述的测量方法原理是：利用干涉光相位调制幅度恒定不变条件下，非平衡光纤干涉仪臂长差与交流电信号电压成反比的关系，结合已知的标准非平衡光纤干涉仪臂长差，得到未知的被测非平衡光纤干涉仪臂长差。本发明的有益效果为：通过构成简单、成本低廉的测量装置及简便的测量方法和操作步骤能快速、准确获得被测非平衡光纤干涉仪的臂长差。
一种采用比较法平衡光纤干涉仪臂长差测量装置测量方法

[发明专利]计算全息法测量长焦距透镜透射波前的检测装置及检测方法-CN201610951248.5有效
发明人：魏小红;何宇航;柴立群;高波;徐凯源;李强;刘昂 -专利权人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请日： 2016-10-27 - 公布日： 2018-10-09 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种计算全息法测量长焦距透镜透射波前的检测装置及检测方法，属于光学测量技术领域。其主要由干涉仪、被测长焦距透镜和菲涅尔波带片组成菲索干涉光路，干涉仪输出的准直平行光通过标准平面镜时，一束由标准平面镜参考面反射形成标准参考光束，另一束透过被测长焦距透镜透射、经波带片反射沿原路返回形成测试光束；测试光束与标准参考光束发生干涉，调整被测长焦距透镜，使干涉条纹最少，即可测量得到被测长焦距透镜的透射波前。本发明适用于长焦距透镜的透射波前的检测。
计算全息测量焦距透镜透射检测装置方法

[实用新型]计算全息法测量长焦距透镜透射波前的检测装置-CN201621175839.X有效
发明人：魏小红;何宇航;柴立群;高波;徐凯源;李强;刘昂 -专利权人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请日： 2016-10-27 - 公布日： 2017-05-10 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种计算全息法测量长焦距透镜透射波前的检测装置及检测方法，属于光学测量技术领域。其主要由干涉仪、被测长焦距透镜和菲涅尔波带片组成菲索干涉光路，干涉仪输出的准直平行光通过标准平面镜时，一束由标准平面镜参考面反射形成标准参考光束，另一束透过被测长焦距透镜透射、经波带片反射沿原路返回形成测试光束；测试光束与标准参考光束发生干涉，调整被测长焦距透镜，使干涉条纹最少，即可测量得到被测长焦距透镜的透射波前。本实用新型适用于长焦距透镜的透射波前的检测。
计算全息测量焦距透镜透射检测装置

[发明专利]用于透明基板的背侧涂层-CN201980079525.X在审
发明人：赛捷·托克·加勒特·多莎;罗格·梅耶·蒂默曼·蒂杰森;卢多维克·戈代;朱明伟;拿玛·阿加曼;韦恩·麦克米兰;西达斯·克里希南 -专利权人：应用材料公司
申请日： 2019-10-25 - 公布日： 2021-07-23 - 主分类号： C23C16/56 文献下载
摘要：膜提供对特定波长的光的相长干涉。
用于透明涂层

[发明专利]一种光学防伪元件-CN201310269077.4有效
发明人：李成垚;孙凯;王晓利;朱军;曲欣 -专利权人：中钞特种防伪科技有限公司;中国印钞造币总公司
申请日： 2013-06-28 - 公布日： 2017-05-31 - 主分类号： G02B5/18 文献下载
摘要：本发明公开了一种光学防伪元件，该元件包括基层；以及位于所述基层上的微结构，该微结构被定义成当光束以一入射角照射所述微结构时，该光束中一波长或波长范围的光在透射光方向或反射光方向上干涉相长。
一种光学防伪元件

[发明专利]用来消除OLED器件中的干涉条纹的方法和设备-CN200680001484.5无效
发明人： H·D·博克;R·A·朗根斯芬 -专利权人：康宁股份有限公司
申请日： 2006-11-15 - 公布日： 2007-12-19 - 主分类号： H01L51/52 文献下载
摘要：通过使光散射而减少或消除了相长干涉的机会，从而减少或消除了牛顿环的形成。
用来消除 oled 器件中的干涉条纹方法设备

[发明专利]一种剪切散斑干涉系统-CN202010439536.9有效
发明人：张东升;叶益民 -专利权人：上海大学
申请日： 2020-05-22 - 公布日： 2021-05-18 - 主分类号： G01N21/01 文献下载
摘要：本发明公开了一种剪切散斑干涉系统，所述剪切散斑干涉系统包括：短焦距镜头、迈克尔逊干涉装置、长焦距镜头和CCD相机。通过利用短焦距镜头和长焦距镜头的组合和迈克尔逊干涉装置相结合，利用短焦距镜头将大视场范围的物体成像为缩小的实像，缩小的实像通过迈克尔逊干涉装置和长焦距镜头传递到CCD相机靶面，形成散斑干涉，从而实现大视场剪切散斑干涉测量本发明提供了一种不影响相位计算且结构简单的大视角剪切散斑干涉系统，有效地扩大检测面积，实现了全场、快速的缺陷检测。
一种剪切干涉系统

[发明专利]一种光纤干涉仪臂长差的测量装置-CN201810557019.4在审
发明人：周欢生 -专利权人：苏州维创度信息科技有限公司
申请日： 2018-06-01 - 公布日： 2018-11-16 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明涉及一种光纤干涉仪臂长差的测量装置，主要解决现有利用光学干涉方法的测量系统稳定性不高及测量精度低的问题。本发明的光纤干涉仪臂长差测量装置，包括：窄线宽激光器、保偏光纤耦合器、相位调制器、偏振态控制器、声光移频器、光纤耦合器、待测光纤干涉仪、光电探测器、频谱仪、信号处理及显示模块、微波信号发生器，通过双光频梳在微波域进行干涉，并用频谱仪测量干涉信号，通过干涉信号一个周期内的带宽即可得到待测光纤干涉仪的臂长差，同时可通过改变光频梳的频率间隔来实现测量精度的变化，提高了测量精度和系统的稳定性，弥补了利用光学干涉的方法无法实现大臂长差测量的缺点
臂长差光纤干涉仪测量装置测量待测光纤干涉信号光学干涉频谱仪保偏光纤耦合器微波信号发生器偏振态控制器窄线宽激光器光电探测器光纤耦合器声光移频器相位调制器测量系统工作流程频率间隔显示模块信号处理差测量干涉仪推广性微波域干涉大臂光频双光带宽并用

[发明专利]基于最小二乘旋转匹配的干涉标准件误差分离方法-CN201610300921.9有效
发明人：沈华;高金铭;矫苛蓉;孙越;朱日宏;李嘉;王念;谢馨 -专利权人：南京理工大学
申请日： 2016-05-09 - 公布日： 2018-07-06 - 主分类号： G01B9/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于最小二乘旋转匹配的干涉标准件误差分离方法，基于矢量光学理论对长焦透镜零位干涉测试系统构建了三维光线追迹仿真系统，利用仿真系统将干涉标准件面形偏差从长焦透镜测试结果中分离，解决了干涉标准件面形偏差在最终的长焦透镜测量结果中引入误差信息的问题，实现长焦透镜透射波前的GRMS和PSD1高精度测量。在误差分离的过程中，关键是找到三维光线追迹仿真系统中干涉标准件的空间姿态与干涉仪检测时的姿态一致处，即干涉标准件的空间姿态匹配问题。提出利用最小二乘原理，通过不断旋转三维光线追迹仿真系统中干涉标准件的空间姿态，使得仿真系统输出波前与干涉仪测试波前差值最小，完成姿态匹配。
标准件仿真系统干涉长焦三维光线追迹空间姿态误差分离匹配透镜面形偏差最小二乘最小二乘原理干涉仪测试高精度测量干涉测试光学理论匹配问题透镜测量透镜测试误差信息系统构建矢量干涉仪输出波透射波零位引入检测

[发明专利]具有衍射结构的复合光可调人工晶状体-CN202280016092.5在审
发明人： I·戈德史利格;J·康迪斯;R·M·克兹;R·什雷斯塔 -专利权人： RX视觉股份有限公司
申请日： 2022-02-11 - 公布日： 2023-10-10 - 主分类号： A61F2/16 文献下载
摘要：该衍射结构在与近视力和远视力之间的视力范围对应的至少四个相继衍射级中产生相长干涉，其中该相长干涉产生近焦点、对应于眼科晶状体的基础光焦度的远焦点、以及在该近焦点与该远焦点之间的中间焦点，并且其中该衍射级中的至少之一的衍射效率被抑制到小于百分之十
具有衍射结构复合可调人工晶状体

[发明专利]一种使用波长移相法测量超表面形貌分布的方法-CN202210134027.4有效
发明人：何婷婷;常林;于瀛洁;魏启宇;王陈 -专利权人：上海大学
申请日： 2022-02-14 - 公布日： 2023-07-18 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明公开了一种使用波长移相法测量超表面形貌分布的方法。本发明方法操作步骤：利用波长移相干涉技术对超表面进行干涉图的采集处理：干涉图的移相采集及加权平均化处理、干涉图筛选有效区域、干涉图去除背景噪声。基于时域离散傅里叶变换校正移相值：抽取干涉图特征信号、基于多点时域光照互相关系数剔除无效特征信号、时域傅里叶变换求解移相频率。
一种使用波长移相法测量表面形貌分布方法

[发明专利]一种光纤干涉仪臂长差的测量方法-CN201810560911.8在审
发明人：周欢生 -专利权人：苏州维创度信息科技有限公司
申请日： 2018-06-01 - 公布日： 2018-11-20 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于光纤干涉仪臂长差测量装置的测量方法，主要解决现有利用光学干涉方法的测量系统稳定性不高及测量精度低的问题。本测量方法通过双光频梳在微波域进行干涉，并用频谱仪测量干涉信号，通过干涉信号一个周期内的带宽即可得到待测光纤干涉仪的臂长差，同时可通过改变光频梳的频率间隔来实现测量精度的变化，提高了测量精度和系统的稳定性，弥补了利用光学干涉的方法无法实现大臂长差测量的缺点，其工作流程简单，可推广性强。
测量臂长差光纤干涉仪干涉信号光学干涉测量系统测量装置待测光纤工作流程频率间隔差测量频谱仪推广性微波域干涉大臂光频双光带宽并用

[发明专利]一种非平衡光纤M-Z干涉仪、其调节平台和制作方法-CN201811156509.X在审
发明人：胡挺;唐超;时帅;杨庆锐;杨军;程犁清 -专利权人：中国电子科技集团公司第三十四研究所
申请日： 2018-09-30 - 公布日： 2019-01-08 - 主分类号： G01D5/353 文献下载
摘要：本发明为一种非平衡光纤M‑Z干涉仪、其调节平台和制作方法，所述干涉仪包括分光调相装置、3dB光纤耦合器和臂长差调节件各一。臂长差调节件为两个光纤准直器分别插在套管两端并与之固接，调节两个光纤准直器相对端面的间距，即可调节该臂的长度。调节平台有三个光学微调架，分别固定套管和2个准直器，微调架调节二个准直器相对端面的间距，精确调节臂长差。干涉仪的制作方法，采用本调节平台，干涉仪的臂长差调节件安装于调节平台，输入端、调制端和输出端分别连接宽谱光源、信号发生器、光探测器和示波器。先得等臂长点，再达设计臂长差。本发明精确控制M‑Z干涉仪的臂长差达微米量级，制作方法易掌握，大大降低M‑Z干涉仪的成本。
臂长差干涉光纤准直器非平衡干涉仪相对端准直器制作光纤M-Z干涉仪信号发生器调相装置固定套管光探测器光学微调宽谱光源套管两端微米量级等臂长调节臂调制端示波器输出端输入端微调架分光固接光纤

[发明专利]一种基于相敏外差测量的被动式激光陀螺仪-CN202010505042.6有效
发明人：李宗阳;张洁;柳奎;冯晓华;陆泽晃 -专利权人：华中科技大学
申请日： 2020-06-05 - 公布日： 2022-02-15 - 主分类号： G01C19/72 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于相敏外差测量的被动式激光陀螺仪，包括Sagnac干涉仪，平衡探测装置以及信号提取装置；三束激光分别锁定到Sagnac干涉仪两个方向的三个不同纵模上；从Sagnac干涉仪透射的激光进入平衡探测装置进行拍频测量本发明通过利用三束激光注入被动式激光陀螺仪，避免了激光陀螺仪的后向散射噪声以及光学腔长漂移噪声，改善激光陀螺仪干涉信噪比，同时提高被动激光陀螺仪测量稳定性，获得了更好的转动测量分辨率。
一种基于外差测量被动式激光陀螺仪

[发明专利]相变平板显示器件-CN98803360.7无效
发明人：迈克尔·古尔维奇;莫里斯·哈柳瓦;亚历山大·卡斯塔尔斯基;斯尔旺·奈尔;塞尔吉·肖克霍尔 -专利权人：考贝泰利公司
申请日： 1998-01-26 - 公布日： 2000-04-12 - 主分类号： G02F1/01 文献下载
摘要：置于镜子元件上面的光调制材料(12),借助在第一和第二态之间的相变对从外光源接收的光进行预定波长的选择性调制,其中处于第一态的所述光调制材料在预定波长的光中引起相消干涉,而处于第二态的所述光调制材料在预定波长的光中引起相长干涉
相变平板显示器件