专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
专利下载VIP
公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
更多 »
专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
更多 »
钻瓜专利网为您找到相关结果1692730个,建议您升级VIP下载更多相关专利
  • [发明专利]一种低介损耗铁铌酸钡陶瓷的制备方法-CN201110127263.5无效
  • 杨海波;林营;朱建锋;王芬 - 陕西科技大学
  • 2011-05-17 - 2011-11-23 - C04B35/495
  • 一种低介损耗铁铌酸钡陶瓷的制备方法,取分析纯的BaCO3、Fe2O3和Nb2O5球磨4后烘干,过筛,压块,预烧,得低介损耗铁铌酸钡粉体;取分析纯的BaCO3和TiO2球磨后烘干,过筛,压块,预烧得低介损耗铁铌酸钡粉体;将BaFe0.5Nb0.5O3和BaTiO3粉体混合均匀后加入PVA粘合剂得低介损耗铁铌酸钡的混合粉末;将混合粉末按需要压制成型,烧结得到低介损耗铁铌酸钡陶瓷。本发明制备的低介损耗铁铌酸钡陶瓷的具有巨介电常数和非常低的介损耗,1kHz时介电常数为13300~21000,介损耗为0.14~0.32。该低介损耗铁铌酸钡陶瓷可以在1350℃的条件下烧结。该低介损耗铁铌酸钡陶瓷的制备工艺简单。
  • 一种低介电损耗铁铌酸钡陶瓷制备方法
  • [发明专利]一种窃损耗定位的精准分析算法-CN202110640494.X在审
  • 张理放;殷超;张江;石浩渊;李轩 - 内蒙古电力(集团)有限责任公司内蒙古电力科学研究院分公司
  • 2021-06-08 - 2021-08-20 - G06Q10/06
  • 本申请公开了一种窃损耗定位的精准分析算法,包括如下步骤:用电信息采集,通过信息采集系统和营配贯通系统可获得台区线损标杆值、表计开盖记录、台区供售电量、用户用电量、电压电流等数据;提取用电信息,提取台区用户用电信息特征,实现对窃损耗特征的抽离,并形成台区窃行为监测记录;电能信息综合对比,提取出窃损耗特征后,结合台区内用户的电能信息,通过对动态损耗和计量信息的综合比对,以将窃损耗特征精准定位到户;建立高准确度损耗动态实时变化特征模型,构建基于时间匹配的计量信息与动态损耗实时变化融合模型,建立基于动态损耗实时变化与计量信息综合比对的窃行为定位方法,以将窃损耗特征精准定位到户。
  • 一种损耗定位精准分析算法
  • [发明专利]用于触头模块堆叠体的接地触头模块-CN201710383676.7有效
  • B.A.钱皮恩;M.J.菲利普斯;M.E.舍克 - 泰连公司
  • 2017-05-26 - 2020-10-16 - H01R13/648
  • 一种接地触头模块包括接地引线框架和接地介本体。接地引线框架具有在对应的配合端和端接端之间延伸的接地触头,以及其之间的过渡部分。接地介本体保持接地引线框架,并且具有低损耗层,低损耗层包覆模制在接地引线框架之上、并且包封接地触头的过渡部分。接地介本体具有接收在低损耗层中的凹部中的有损耗翼部。有损耗翼部联接到对应的接地触头,并且由能够吸收通过触头模块堆叠体传播的谐振的有损耗材料制造。有损耗翼部与低损耗层分离且分立、并且附接到对应的接地触头附近的至少一个低损耗层。每个有损耗翼部仅联接到接地触头中的一个。
  • 用于模块堆叠接地
  • [发明专利]球状二氧化硅粉末-CN202080023678.5在审
  • 冈部拓人;深泽元晴 - 电化株式会社
  • 2020-01-30 - 2021-11-05 - C01B33/12
  • 本发明提供一种介损耗角正切低的球状二氧化硅粉末。更详细而言,本发明提供一种球状二氧化硅粉末,其配合于树脂而成型为片状后,由通过空腔谐振器法在频率35~40GHz的条件下测定的该片材的介损耗角正切计算的球状二氧化硅粉末的介损耗角正切中,将介损耗角正切降低处理前的球状二氧化硅粉末的介损耗角正切设为A,将介损耗角正切降低处理后的球状二氧化硅粉末的介损耗角正切设为B时,B/A为0.70以下,介损耗角正切降低处理后的球状二氧化硅粉末的比表面积为1~30m2
  • 球状二氧化硅粉末
  • [发明专利]电器元件触点损耗评估方法-CN202111310520.9在审
  • 刘利风;李湃 - 苏州迪芬德物联网科技有限公司
  • 2021-11-05 - 2022-02-08 - G01R31/327
  • 本申请适用于电器元件检测技术领域,提供了一种电器元件触点损耗评估方法,包括:获取电器元件中线圈的初始上时间,以及主回路的初始上时间;当根据线圈的初始上时间和主回路的初始上时间,判定触点未出现导通故障时,根据线圈的初始上时间、主回路的初始上时间和主回路的电流,计算触点的本次导通损耗和累计导通损耗;根据累计导通损耗,评估触点是否损耗过度。本申请实施例提供的电器元件触点损耗评估方法,将触点损耗量化,能够有效排查出触点损耗过度但仍可正常工作的电器元件,帮助用户准确识别带病工作的电器元件。
  • 电器元件触点损耗评估方法

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

400-8765-105周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top