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- [发明专利]半导体存储装置-CN98105433.1无效
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福田达哉
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三菱电机株式会社
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1998-03-09
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1998-12-30
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G11C29/00
- 在接通电源时,即使电源接通检测信号以不完全的形式产生时,也能防止设定在测试模式状态。模式设定信号发生电路(5a)根据外部信号将模式设定信号激活。测试模式激活信号发生电路(5b)根据该模式设定信号的激活取入地址信号Add,并将测试模式激活信号TME驱动到激活状态。初始化电路(5c),根据该电源接通检测信号ZPOR的不完全激活,将测试模式激活信号TME保持在非激活状态。
- 半导体存储装置
- [发明专利]一种测试系统及方法-CN202211651649.0在审
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彭毓新;黄星尧
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广州文远知行科技有限公司
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2022-12-21
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2023-03-28
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G06F11/36
- 本发明实施例公开了一种测试系统及方法。系统包括:调度模块、测试模块和至少一个待测试装置,待测试装置安装有预设应用程序;调度模块,用于确定处于激活状态的当前测试周期中的各测试任务,将各测试任务发送给测试模块,在当前测试周期中各测试任务执行完成的情况下,确定当前测试周期的结束时刻,确定下一测试周期的激活时刻,在激活时刻到达时,将下一测试周期作为当前测试周期进行激活;测试模块,用于接收调度模块发送的各测试任务,确定各待测试装置中与各测试任务对应的目标测试装置,控制目标测试装置执行预设应用程序,得到目标测试装置的性能数据,实现对待测试装置进行定时测试,以及时确定待测试装置是否存在损耗。
- 一种测试系统方法
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