专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]模幂计算的保护-CN201610104644.4有效
  • Y·特戈利亚 - 意法半导体(鲁塞)公司
  • 2016-02-25 - 2019-10-29 - H04L9/30
  • 一种使用第一寄存和第二寄存来保护由电子电路所执行的模幂计算的方法,包括连续地针对指数的每个比特:将寄存中根据指数的比特的状态从第一寄存和第二寄存之中选择的一个寄存的内容乘以第一寄存和第二寄存中的另一个寄存的内容并且将结果放置在寄存中的所述一个寄存中的第一步骤;通过将结果放置在所述另一个寄存中来对寄存中的所述另一个寄存的内容求平方的第二步骤,其中,寄存中的所述另一个寄存的内容在第一步之前被存储在第三寄存中并且在第二步之前被恢复在寄存中的所述另一个寄存
  • 计算保护
  • [发明专利]一种高精度捕获电路及捕获方法-CN202211023218.X有效
  • 吴树伟;胡红明;罗中锋 - 灿芯半导体(天津)有限公司
  • 2022-08-25 - 2023-05-26 - G04F10/06
  • 本发明提供一种高精度捕获电路及捕获方法,所述电路包括工作时钟、延迟链、捕获单元;捕获单元包括:异步事件驱动的电平、寄存组,工作时钟经过每级输出延迟后连接到寄存组的时钟端采样异步事件驱动的电平;异步事件驱动的电平连接到所述寄存组的D端,当异步事件驱动的电平翻转和驱动寄存组的时钟满足建立保持时间时,寄存D端的输入被采样到寄存的Q端输出;寄存组采样结果送到加法器求和,得到异步事件和满足建立保持时间所需的工作时钟延迟级数。本发明可对异步事件进行捕获,并计算出高精度的时间差,还具有自动校准功能,当环境温度发生变化时仍能精确工作;当应用场景不需要使用该电路功能时方便关断供电,从而实现低功耗。
  • 一种高精度捕获电路方法
  • [发明专利]一种面向指令目标操作数的寄存对分配方法及存储介质-CN201910411700.2有效
  • 胡勇华;陆浩松;周新莲;唐镇;黄友智 - 湖南科技大学
  • 2019-05-17 - 2022-12-06 - G06F8/41
  • 本发明公开一种面向指令目标操作数的寄存对分配方法及存储介质,该方法步骤包括:S1.分别将待处理指令中所有目标操作数寄存对所包含的两个符号寄存均进行独立的寄存分配;S2.依次获取各条指令进行寄存修正分配,将寄存对中错误使用寄存使用替换寄存进行替换,替换寄存根据各寄存寄存对在指令操作数字段出口处的空闲状态进行选取,并使得每个替换寄存使用后不再作为相同指令中其他目标操作数的替换寄存候选者,以及被替换出来的寄存不作为其他被替换寄存的替换寄存候选者。本发明面向指令目标操作数实现寄存对分配,具有实现方法简单、分配成功率及资源利用率高、灵活性强等优点。
  • 一种面向指令目标作数寄存器分配方法存储介质
  • [发明专利]一种寄存测试的方法和系统-CN200710175434.5无效
  • 冯备战;游明琦;艾国;占文静 - 北京中星微电子有限公司
  • 2007-09-29 - 2008-02-27 - G11C29/00
  • 本发明公开了一种实现寄存测试的系统,该系统包括:设置模块,设置寄存属性与测试参数的对应关系;信息获取模块,获取每一个被测寄存寄存信息,所述寄存信息包含寄存属性;测试参数产生模块,从所述信息获取模块获取的寄存信息中得到寄存属性,产生与所述寄存属性对应的测试参数;执行模块,利用所述测试参数产生模块产生的所述测试参数,对所述被测寄存进行测试,得到被测寄存的测试结果。本发明还公开了寄存测试的方法,使用本发明能够降低寄存测试的工作量。
  • 一种寄存器测试方法系统
  • [发明专利]寄存重命名、指令译码方法、装置、处理及电子设备-CN202211574058.8在审
  • 陈静 - 海光信息技术股份有限公司
  • 2022-12-08 - 2023-05-12 - G06F9/38
  • 本申请实施例提供一种寄存重命名、指令译码方法、处理、芯片及电子设备,其中寄存重命名方法包括:获取第一微操作和第二微操作,第一微操作依赖于第二微操作,其中,第一微操作的目的逻辑寄存和源逻辑寄存分别为第一逻辑寄存和第二逻辑寄存,第二微操作的目的逻辑寄存为第二逻辑寄存;若查询到寄存重命名表针对第二微操作,记录有第二逻辑寄存映射的第一物理寄存,则在寄存重命名表中为第一微操作设置第一逻辑寄存与第一物理寄存的映射关系本申请实施例所提供的寄存重命名、指令译码方法、处理、芯片及电子设备,可以在寄存重命名阶段提高物理寄存的利用率。
  • 寄存器重命名指令译码方法装置处理器电子设备
  • [发明专利]处理装置-CN202180064832.8在审
  • 吉恩·博迪斯特·布雷罗特;托尔比约恩·维姆·纽斯;弗雷德·彼得森 - 北欧半导体公司
  • 2021-08-10 - 2023-06-06 - G06F9/30
  • 一种处理装置(20)具有:处理(200),其包括多个延迟压入处理寄存(214)和处理寄存控制电路(220、222、224、226、228)。处理寄存控制电路(220、222、224、226、228)包括多个状态寄存(226),每个状态寄存(226)对应于各自不同的延迟压入寄存(214)。处理寄存控制电路(220、222、224、226、228)被配置成:检测向延迟压入寄存(214)中的寄存(214)写入新值;以及确定延迟压入寄存(214)的状态寄存(226)是否具有指示延迟压入寄存处理控制电路(220、222、224、226、228)被配置成,当状态寄存(226)具有第一值时:在将新值写入延迟压入寄存(214)完成之前从延迟压入寄存(214)读取当前值;将当前值写入存储(202);以及将延迟压入寄存(214)的状态寄存(226)设置为指示延迟压入寄存(214)的已保存状态的第二值。
  • 处理装置
  • [发明专利]一种计时的仿真验证装置及仿真验证方法-CN201710839662.1有效
  • 田佳 - 北京兆易创新科技股份有限公司
  • 2017-09-18 - 2020-08-04 - G06F30/20
  • 本发明实施例公开了一种计时的仿真验证装置及仿真验证方法。其中,该计时的仿真验证装置包括:寄存配置组件和断言验证组件;寄存配置组件用于生成配置计时模块的第一寄存和/或第二寄存的配置数据;断言验证组件包括寄存检查模块,寄存检查模块包括与第一寄存和/或第二寄存一一对应的寄存验证单元,任一寄存验证单元用于对比寄存数据与对应的第一寄存或第二寄存的数据,通过对比结果,检查第一寄存或第二寄存配置的正确性。本发明实施例的技术方案可实现对计时模块内部中间环节产生的数据的正确性进行检查。
  • 一种计时器仿真验证装置方法
  • [发明专利]一种寄存调试平台和调试方法-CN202210414672.1有效
  • 邵海波;贾晓龙 - 苏州浪潮智能科技有限公司
  • 2022-04-20 - 2022-07-12 - G06F11/36
  • 本发明提供了一种寄存调试平台和调试方法,寄存调试平台包括:模块总线接口,模块总线接口连接到需要调试的模块的总线接口上并配置为获取CPU发出的访问需要调试的模块的总线访问信息;寄存模型,寄存模型包括译码寄存组,译码连接到模块总线接口并配置为根据总线访问信息获取寄存地址,寄存组连接到译码并配置为根据需要调试的模块的寄存文件生成与需要调试的模块的寄存一一对应的寄存;调试模块,调试模块连接到译码并配置为获取寄存组中每个寄存的信息并根据寄存地址显示寄存的信息通过使用本发明的方案,能够方便的集成到任何仿真环境中,实现对硬件寄存的实时监测显示,能够及时改变寄存的值。
  • 一种寄存器调试平台方法
  • [发明专利]生成光模块温度查找表的方法-CN201510135047.3有效
  • 陈彪 - 青岛海信宽带多媒体技术有限公司
  • 2013-01-06 - 2017-07-11 - H01S5/068
  • 本发明公开了一种生成光模块温度查找表的方法及装置。该方法包括调整测试光模块输出的光功率及消光比至预先设置的目标值,获取测试光模块在温度点的测试温度值、测试偏置电流设定寄存值以及测试调制电流设定寄存值;对获取的电流值进行归一化处理,获取各温度点形成的温度区间电流归一化斜率参数;调整待应用光模块输出的光功率及消光比至预先设置的目标值,获取该待应用光模块在常温环境下的工作温度值、偏置电流设定寄存值以及调制电流设定寄存值;结合预先获取的电流归一化斜率参数,生成该待应用光模块的电流温度查找表,并将生成的电流温度查找表写入该待应用光模块。应用本发明,可以提高生成光模块温度查找表的效率。
  • 生成模块温度查找方法装置
  • [发明专利]生成光模块温度查找表的方法及装置-CN201510135103.3有效
  • 陈彪 - 青岛海信宽带多媒体技术有限公司
  • 2013-01-06 - 2017-09-22 - H01S5/068
  • 本发明公开了一种生成光模块温度查找表的方法及装置。该方法包括调整测试光模块输出的光功率及消光比至预先设置的目标值,获取测试光模块在温度点的测试温度值、测试偏置电流设定寄存值以及测试调制电流设定寄存值;对获取的电流值进行归一化处理,获取各温度点形成的温度区间电流归一化斜率参数;调整待应用光模块输出的光功率及消光比至预先设置的目标值,获取该待应用光模块在常温环境下的工作温度值、偏置电流设定寄存值以及调制电流设定寄存值;结合预先获取的电流归一化斜率参数,生成该待应用光模块的电流温度查找表,并将生成的电流温度查找表写入该待应用光模块。应用本发明,可以提高生成光模块温度查找表的效率。
  • 生成模块温度查找方法装置
  • [发明专利]生成光模块温度查找表的方法及装置-CN201510134606.9有效
  • 陈彪 - 青岛海信宽带多媒体技术有限公司
  • 2013-01-06 - 2017-07-11 - H01S5/068
  • 本发明公开了一种生成光模块温度查找表的方法及装置。该方法包括调整测试光模块输出的光功率及消光比至预先设置的目标值,获取测试光模块在温度点的测试温度值、测试偏置电流设定寄存值以及测试调制电流设定寄存值;对获取的电流值进行归一化处理,获取各温度点形成的温度区间电流归一化斜率参数;调整待应用光模块输出的光功率及消光比至预先设置的目标值,获取该待应用光模块在常温环境下的工作温度值、偏置电流设定寄存值以及调制电流设定寄存值;结合预先获取的电流归一化斜率参数,生成该待应用光模块的电流温度查找表,并将生成的电流温度查找表写入该待应用光模块。应用本发明,可以提高生成光模块温度查找表的效率。
  • 生成模块温度查找方法装置
  • [发明专利]生成光模块温度查找表的方法及装置-CN201310003863.X有效
  • 陈彪 - 青岛海信宽带多媒体技术有限公司
  • 2013-01-06 - 2013-05-01 - H01S5/068
  • 本发明公开了一种生成光模块温度查找表的方法及装置。该方法包括:调整测试光模块输出的光功率及消光比至预先设置的目标值,获取测试光模块在温度点的测试温度值、测试偏置电流设定寄存值以及测试调制电流设定寄存值;对获取的电流值进行归一化处理,获取各温度点形成的温度区间电流归一化斜率参数;调整待应用光模块输出的光功率及消光比至预先设置的目标值,获取该待应用光模块在常温环境下的工作温度值、偏置电流设定寄存值以及调制电流设定寄存值;结合预先获取的电流归一化斜率参数,生成该待应用光模块的电流温度查找表,并将生成的电流温度查找表写入该待应用光模块。应用本发明,可以提高生成光模块温度查找表的效率。
  • 生成模块温度查找方法装置

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