专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]雾化效率评价系统及方法-CN201911046100.7有效
  • 张瑞瑞;陈立平;唐青;李龙龙;柴舒帆;丁晨琛 - 北京农业智能装备技术研究中心
  • 2019-10-30 - 2021-08-03 - G01M9/06
  • 本发明涉及航空施药风驱雾化技术领域,提供了一种雾化效率评价系统及方法。雾化效率评价系统包括检测平台,所述检测平台上设有风洞机构和牵引力测量机构,所述牵引力测量机构设于所述风洞机构的出风口端的旁侧,所述检测平台上沿所述风洞机构提供的风场的方向依次设置雾化器机构和雾化测量机构,所述雾化器机构与所述牵引力测量机构连接。雾化效率评价方法,包括如下步骤:产生风场;测量牵引力;测量雾化参数。有效评价雾化效率,为风驱雾化器的工作性能检测提供量化评价指标;操作方便,检测准确,测量结果精确,评价指标可靠性高。
  • 雾化效率评价系统方法
  • [发明专利]阻抗测量系统及方法-CN200410104139.7无效
  • 陈柏瑞 - 英业达股份有限公司
  • 2004-12-30 - 2006-07-05 - G01R27/02
  • 本发明是一种阻抗测量系统及方法,应用在与测量主机电性连接的阻抗测量系统上,对电路板的待测点进行阻抗测量;该系统包括:接头单元、正反向单元、顺序逻辑单元以及模拟数字转换器;本发明的阻抗测量系统及方法,可更有效率地对电路板待测点进行的阻抗测量,且使其测量作业更为迅速,且简化操作的流程,缩短测试的时间,提高测量的准确度,进而大幅增加测量效率
  • 阻抗测量系统方法
  • [发明专利]一种多人协调的实测实量方法和系统-CN202211059299.9在审
  • 赵志勇;莫绪军;季永东;卢宗元;李秋怡;章益明;成卫琴 - 品茗科技股份有限公司
  • 2022-08-31 - 2022-12-23 - G01C15/00
  • 本申请涉及一种多人协同的实测实量方法,其中,该方法包括:配置用户通过远程服务端,创建测量项目、上传图纸信息并根据图纸信息,在测量项目中新建测量部位;主测量用户通过现场终端,获取并打开测量项目,并基于测量部位和现场人员信息创建并分配测量计划信息;测量用户通过蓝牙测量设备,接收测量计划信息,并根据测量计划信息执行测量任务以获取测量数据,在测量任务执行完成之后,将测量数据转发至现场终端;测量用户通过现场终端,将测量数据返回至远程服务端。通过本申请,解决了相关建筑测量方法中,数据丰富度不够、效率低下的问题,在保证数据丰富度的同时提升了测量效率
  • 一种协调实测方法系统
  • [发明专利]一种曲面薄壁件厚度的检测方法-CN202110087600.6有效
  • 郭江;康仁科;许永波;贺增旭 - 大连理工大学
  • 2021-01-22 - 2021-11-19 - G01B11/06
  • 一种曲面薄壁件厚度的检测方法,属于精密测量技术领域。首先,测量曲面薄壁件内外曲面数据,对曲面薄壁件的内外曲面规划测量轨迹,记为a、b。其次,基于精密测量机对曲面薄壁件的测量基准面以及内外曲面进行测量:获得测量基准面数据C;采用外曲面测量轨迹a测量曲面薄壁件外曲面,获得外曲面的数据A;翻转曲面薄壁件,获得测量基准面数据C’;采用内曲面测量轨迹b测量曲面薄壁件内曲面,获得内曲面的数据B。最后,对测量数据A、B、C以及C’进行处理,对处理结果进行评价。本发明可以克服人工测量测量效率低下,测量结果受到技术工人水平限制的缺点;能够提高测量精度和测量效率,同时降低测量成本。
  • 一种曲面薄壁厚度检测方法
  • [发明专利]一种半导体材料加工用的测量装置-CN202111535891.7在审
  • 任志红 - 山东元捷电子科技有限公司
  • 2021-12-15 - 2022-03-01 - G01B5/02
  • 本发明公开了一种半导体材料加工用的测量装置,涉及检测测量技术领域,本发明包括安装底座;测量操作轴,测量操作轴转动连接在安装底座的左端面;测量组件,测量组件固定连接在测量底座的顶部;测量传动机构,测量传动机构设置在安装底座的前部内侧,测量操作轴通过测量传动机构带动测量组件对物料进行测量动作。本发明通过三组均匀排布的测量组件对物料进行测量,对三组测量组件之间的距离进行调节,满足对不同长度物料的测量,同时保证三组测量点的均匀排布,能够更好的反应物品的尺寸,实现三组测量组件的同步测量,大幅度提高工作效率,解决现有测量装置在使用过程中需要反复进行测量操作,测量效率低,同时难以保证测量点均匀排布的问题。
  • 一种半导体材料工用测量装置

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