“测试区域”专利关键词查询_检索下载_查询列表_检索列表_行业专利分布_钻瓜专利网

钻瓜专利网为您找到相关结果1794207个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[发明专利]存储器测试方法、装置、计算机设备以及存储介质-CN201910366150.7有效
发明人：魏园洲;邓志欢 -专利权人：珠海市杰理科技股份有限公司
申请日： 2019-05-05 - 公布日： 2021-06-18 - 主分类号： G11C29/12 文献下载
摘要：本申请涉及一种存储器测试方法、装置、计算机设备和存储介质。方法包括：首先获取测试信号；先对未存有数据的区域进行第一内建自测测试，获取第一内建自测测试的测试结果；当第一内建自测测试通过时，迁移存有数据的区域内数据至未存有数据的区域，将第二测试信号写入测试控制模块，对存有数据的区域进行测试，根据测试的结果获取存储器的测试结果。本申请的存储器测试方法通过测试控制模块来对芯片内嵌内建自测测试进行控制，同时对存有数据的区域以及未存有数据的区域分别进行测试，使得内部存储器的内建自测测试最优化，从而缩短内建自测测试的测试时间。
存储器测试方法装置计算机设备以及存储介质

[发明专利]一种PCB测试方法及装置-CN202010780468.2在审
发明人：邹子誉 -专利权人：景旺电子科技(龙川)有限公司
申请日： 2020-08-05 - 公布日： 2020-10-23 - 主分类号： G01R31/01 文献下载
摘要：本发明公开了一种PCB测试方法及装置，涉及金属基印制线路板制作技术领域。所述的PCB测试方法，应用在n个飞针测试机串联的设备，通过测试主机将测试网络进行划分，总测试网络划分为m*n个测试子区域，测试子区域的数量与总测试轴的数量对应，每个测试轴负责一个测试子区域；当进行测试时，随着PCB的前进，各飞针测试机的测试轴对应在不同的测试子区域进行检测，当经过完所有的飞针测试机时，所有的测试子区域也被测试完，即完成对待测PCB的测试，整个测试方法高效，可进行连续自动测试。
一种 pcb 测试方法装置

[发明专利]一种测温方法及设备-CN202010582552.3有效
发明人：李聪;邹进屹;田疆;刘振华;师忠超 -专利权人：联想（北京）有限公司
申请日： 2020-06-23 - 公布日： 2022-05-31 - 主分类号： A61B5/01 文献下载
摘要：本发明公开了一种测温方法及设备，所述方法包括：检测目标对象区域中的待测温对象；对待测温对象进行分割，得到第一目标区域和第二目标区域；分别采集第一目标区域的第一测试温度和第二目标区域的第二测试温度；根据第二测试温度，调整第一测试温度，并将调整后的第一测试温度作为待测温对象的实际温度。本发明实施例对待测温对象进行分割，得到第一目标区域和第二目标区域，分别采集两个目标区域的测试温度，根据第二测试温度，调整第一测试温度，并将调整后的第一测试温度作为所述待测温对象的实际温度，自动利用第二目标区域的温度，调整第一目标区域的测试温度，避免了环境温度的变化对第一目标区域测试温度产生的较大影响，有效提高了温度测量精度。
一种测温方法设备

[发明专利]摄像头模组的检测方法及系统-CN201910870049.5有效
发明人：程芳陆;杨文冠;方发清 -专利权人：广东弘景光电科技股份有限公司
申请日： 2017-08-08 - 公布日： 2020-11-06 - 主分类号： H04N17/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种摄像头模组的检测方法，包括：生成与待测摄像头模组对应的测试标板，所述测试标板包括径向线对测试区域和切向线对测试区域，所述径向线对测试区域和切向线对测试区域相互独立；调整所述测试标板或待测摄像头模组，以使所述径向线对测试区域和切向线对测试区域与所述待测摄像头模组的取景区域对应；获取所述取景区域的raw图像；确定所述径向线对测试区域和切向线对测试区域对应的MTF值。本发明提高了测试标板对摄像头模组的检测的准确性，可有效控制产品不良率，降低了厂商的售后维护成本。
摄像头模组检测方法系统

[发明专利]一种可靠性评价多层线路板-CN201811548138.X在审
发明人：纪龙江;郑威 -专利权人：大连崇达电路有限公司
申请日： 2018-12-18 - 公布日： 2019-03-22 - 主分类号： H05K1/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种可靠性评价多层线路板，包括多个测试区，每个测试区包括钻孔区域和孔壁状态测试区域，不同测试区的钻孔区域的测试孔的孔径不同；每个钻孔区域包括由同一钻头加工的同一孔径的测试孔阵列，测试孔的内壁由内到外依次具有导电层和保护层，测试孔和测试孔之间的位于多层线路板的层间及外层的测试线路串联构成导电测试线路；钻孔区域的外层线路板上还具有两个连通性测试焊盘，分别通过一导线与导电测试线路的起始端与末端所对应的测试孔连接；每个孔壁状态测试区域包括加工测试孔的同一钻头从加工第1测试孔开始，间隔一定数量的测试孔之后在孔壁状态测试区域加工的孔壁状态测试孔。
测试孔状态测试钻孔区域孔壁测试区多层线路板可靠性评价导电测试钻头产品可靠性连通性测试外层线路板测试线路多层线路加工测试区域加工保护层导电层起始端层间焊盘内壁串联加工

[实用新型]一种测试装置-CN202320153626.0有效
发明人：胡世锋;崔岩;严伟 -专利权人：上海汽车集团股份有限公司
申请日： 2023-01-17 - 公布日： 2023-07-28 - 主分类号： G05B23/02 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种测试装置，包括壳体和安装在壳体内部的测试模块：壳体包括前面板和上盖板，前面板上安装用于外接电源的电源输入线束接口，为待测试控制器模块提供大电流的电源输入，以及用于连接待测试控制器模块的可扩展智能底盘动态控制模块连接的线束接口，以获取待测试控制器模块的输入输出信号。测试模块用于接收待测试控制器模块的输入输出信号，其划分为多个功能测试区域，每个功能测试区域与上盖板上对应的功能测试区域连接。上盖板为测试面板，包括多个功能测试区域，测试面板的每个功能测试区域与测试模块上对应的功能测试区域连接，接收测试模块上对应的功能测试区域的输入输出信号，以针对待测试控制器模块进行对应的功能测试。
一种测试装置

[发明专利]强度测量方法和样品-CN202011312363.0有效
发明人：王超;饶少凯;徐齐 -专利权人：长江存储科技有限责任公司
申请日： 2020-11-20 - 公布日： 2023-04-18 - 主分类号： G01N3/20 文献下载
摘要：其中，所述方法包括：通过提供待测半导体结构；选择所述待测半导体结构中的具有目标尺寸的部分区域作为待测试区域；去除待测试区域下方的部分结构，以使所述待测试区域悬空；对所述待测试区域施加载荷；确定所述待测试区域被破坏时，保存当前施加的载荷值；利用保存的载荷值，分析待测试区域的机械强度。
强度测量方法样品

[发明专利]包含用于测量比色测试平台的参照区域的试剂测试条-CN201680077791.5在审
发明人：普里特斯·阿尔琼布海·帕特尔 -专利权人：火花诊断有限责任公司
申请日： 2016-12-12 - 公布日： 2019-02-05 - 主分类号： C12M1/00 文献下载
摘要：本发明公开一种试剂测试条,试剂测试条包括测试区域和参照区域。参照区域显示对应用于相应测试区域的被分析物的可能浓度的预定响应。将参照区域和测试区域设置在试剂测试条上,以便于分析被分析物的定性状态,并计算在收集点上的被分析物的定量值。还公开了一种制造试剂测试条的方法,涉及以连续和交替的顺序将参照区域和测试区域打印在测试条前体基底上。该方法还包括以垂直于打印列的方式来切割测试条前体基底，以获得试剂测试条。
试剂测试条被分析物测试区域定性状态测试条基底前体打印移动应用程序比色测试区域显示预定响应交替的收集点切割测量垂直制造分析

[发明专利]自动修复逻辑坏道的磁盘压力测试系统及方法-CN201410085500.X在审
发明人：宋明敬 -专利权人：鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
申请日： 2014-03-10 - 公布日： 2015-09-16 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本发明提供一种修复逻辑坏道的磁盘压力测试系统及方法，该方法包括：当无法读取硬盘驱动器HDD中当前测试区域的第一数据时，对所述测试区域写入自定义数据进行修复；当修复成功时，读取HDD中所述当前测试区域的第一数据并将其复制后保存于存储设备；写入测试数据于所述当前测试区域并读取所述测试数据，当读写操作成功且比对写入的所述测试数据与读取的数据一致时，将所述第一数据重新写入所述当前测试区域；将HDD中下一个测试区域作为当前测试区域，然后重复执行上述步骤，直到该HDD中所有测试区域都测试完毕。
自动修复逻辑磁盘压力测试系统方法

[发明专利]阵列基板、液晶模组及液晶显示设备-CN201810960998.8有效
发明人：黄北洲 -专利权人：惠科股份有限公司
申请日： 2018-08-22 - 公布日： 2021-06-04 - 主分类号： G02F1/13 文献下载
摘要：该阵列基板包括显示区域、非显示区域和测试垫组；非显示区域环绕包围显示区域且与显示区域邻接；测试垫位于非显示区域内且远离显示区域设置，每一个测试垫组对应一个显示区域，测试垫组包括数据线测试垫、多个扫描线测试垫、第一公共电极测试垫和第二公共电极测试垫；数据线测试垫用于连接液晶模组的数据线，扫描线测试垫用于连接液晶模组的扫描线，第一公共电极测试垫用于连接液晶模组的第一公共电极，第二公共电极测试垫用于连接液晶模组的第二公共电极本公开实施例提供的阵列基板能够提高点灯测试效率。
阵列液晶模组液晶显示设备

[发明专利]生成与待测摄像头模组对应的测试标板的方法及系统-CN201910870045.7有效
发明人：程芳陆;杨文冠;方发清 -专利权人：广东弘景光电科技股份有限公司
申请日： 2017-08-08 - 公布日： 2021-08-24 - 主分类号： G03B43/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种生成与待测摄像头模组对应的测试标板的方法，所述测试标板包括径向线对测试区域和切向线对测试区域，所述径向线对测试区域和切向线对测试区域相互独立；该方法包括：根据所述待测摄像头模组的畸变信息，获取与所述畸变对应的径向线对测试区域和切向线对测试区域；根据所述径向线对测试区域和切向线对测试区域，生成所述测试标板。本发明还提供了一种生成与待测摄像头模组对应的测试标板的系统。本发明提高了测试标板对摄像头模组的检测的准确性，可有效控制产品不良率，降低了厂商的售后维护成本。
生成摄像头模组对应测试方法系统

[发明专利]闪存测试方法、装置、存储介质和终端设备-CN202110591310.5在审
发明人：李士达;雍尚刚;武甲东 -专利权人：北京集创北方科技股份有限公司
申请日： 2021-05-28 - 公布日： 2021-08-06 - 主分类号： G11C29/08 文献下载
摘要：本公开涉及闪存测试方法、装置、存储介质和终端设备，该方法包括：从闪存的待测试区域中读取第一数据；根据所述第一数据生成测试向量；根据所述测试向量对闪存进行数据写入操作，使所述待测试区域中存储有第二数据；从所述待测试区域中读取所述第二数据，根据所述第二数据与所述测试向量是否一致，确定针对所述待测试区域的测试结果。根据本申请实施例，可以实现在对待测试区域的功能进行测试时，减少闪存擦除次数，节约时间，提高闪存的使用寿命，还可以防止非待测试区域的数据被误修改。
闪存测试方法装置存储介质终端设备

[发明专利]一种无线网络质量的评估方法、装置和电子设备-CN202310402984.5在审
发明人：黄伟华;李嘉;翁晓伟 -专利权人：诺优信息技术（上海）有限公司
申请日： 2023-04-14 - 公布日： 2023-07-04 - 主分类号： H04W24/08 文献下载
摘要：本申请提供了一种无线网络质量的评估方法、系统及电子设备，涉及信息技术领域，包括获取测试记录和评估信息，所述测试记录包括若干条无线网络质量的测试信息，所述无线网络质量的测试信息包括测试区域指标值和测试区域坐标；所述评估信息包括评估区域坐标；基于所述评估区域坐标、所述测试区域坐标和所述测试区域指标值确定需过滤的测试信息，对所述测试记录进行数据清洗和数据修正，得到目标测试记录，消除客观因素干扰，得到目标测试记录；将所述目标测试记录输入网络指标评估模型，消除主观因素干扰，得到评估区域的无线网络质量的指标评估结果，提高评估的准确率和效率。
一种无线网络质量评估方法装置电子设备

[发明专利]一种区域分块环绕型航线的规划方法、系统及航摄方法-CN202110489091.X有效
发明人：程登桀;胡东;左锐;杜博文;唐飞飞 -专利权人：成都睿铂科技有限责任公司
申请日： 2021-04-30 - 公布日： 2023-04-18 - 主分类号： G01C11/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种区域分块环绕型航线的规划方法，包括如下步骤：步骤一：采用若干区域块对测试区域进行分割；步骤二：基于各所述区域块的分割布局及区域块的特征参数进行环绕型航线预规划；步骤三：确定所述环绕型航线的有效航摄区域；步骤四：剔除与测试区域无交集的有效航摄区域所对应的环绕型航线，最终形成用于对测试区域进行航摄的规划航线。本发明采用若干相连的区域块对测试区域进行分割能够确保测试区域能够被区域块完全覆盖，再结合航摄航线预规划和有效航摄区域的预测能够实现对测试区域的完全测量，同时对无效航摄区域的剔除能够确保在航摄过程中不会对测试区域以外的区域进行不必要的测量
一种区域分块环绕航线规划方法系统

[发明专利]晶圆参数的检测方法-CN201110061642.9无效
发明人：唐莉 -专利权人：上海宏力半导体制造有限公司
申请日： 2011-03-15 - 公布日： 2011-08-24 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明提供一种晶圆参数的检测方法，包括：探针单元与晶圆上的第一测试区域接触；所述探针单元与测试机台连接，开启所述测试机台上的测试键，所述测试机台利用测试模块测量所述第一测试区域中测试点的所有参数；所述探针单元移位至所述晶圆上的第二测试区域，并与所述第二测试区域接触，所述测试机台利用测试模块测量所述第二测试区域中测试点的所有参数；所述探针单元移位至所述晶圆上剩余的测试区域，直至完成所述晶圆上所有测试区域中测试点的所有参数测试。本发明提供的晶圆参数的检测方法不仅节省了晶圆参数的检测时间，并且降低了在接触性测试中探针单元的接触频率，大大延长了探针单元的使用寿命，有利于减少检测晶圆参数的成本。
参数检测方法