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[发明专利]影像感测装置及具有其的光学互动装置-CN201210068582.8无效
发明人：王文俊;大卫.E.史蒂文生;马志远;方崇仰;林宗贤;谢宗谚;叶家宏 -专利权人：联胜（中国）科技有限公司;胜华科技股份有限公司
申请日： 2012-03-15 - 公布日： 2013-09-18 - 主分类号： H04N5/232 文献下载
摘要：一种影像感测装置，用以检测不同方向的第一影像光或第二影像光。影像感测元件包括偏振分光器、液晶开关、偏光片、透镜模块及影像感测元件。偏振分光器接收第一影像光及第二影像光，并将第一影像光分离为第一穿透光及第一反射光，将第二影像光分离为第二穿透光及第二反射光。液晶开关调控第一穿透光及第二反射光的相位延迟。偏光片设于液晶开关的出光面，以选择性地使第一穿透光或第二反射光通过。透镜模块用以使第一穿透光或第二反射光聚焦于一焦点。影像感测元件设于透镜模块的焦点上，以感测聚焦的第一穿透光或第二反射光。
影像装置具有光学互动

[发明专利]一种提升成像质量的光学成像系统-CN202111030627.8在审
发明人：罗建华;师晓科;刘佳华;何李超;杨炼 -专利权人：东莞市华石晶电技术有限公司
申请日： 2021-09-03 - 公布日： 2021-11-30 - 主分类号： G01N21/95 文献下载
摘要：本申请涉及光学成像的技术领域，尤其是涉及一种提升成像质量的光学成像系统，包括：光处理模块，用于调整被测对象的特征成像光的光路传播方向；光处理模块包括：第一半透半反分光片；相机，设置于被测对象的特征成像光的光路上，用于感应被测对象的特征成像光并转为图像电信号；光源模块，用于为被测对象的外表面进行打光；光源模块包括：顶光光源组件和多角度光源组件；顶光光源组件的出射光通过第一半透半反分光片调整为从被测对象的正上方射向被测对象本申请通过光学感光原理对被测对象实现成像功能，同时通过光源模块实现对被测对象的外表面进行全部打亮的功能，防止由于出现打光盲区导致出现阴影的情况，提升图像质量。
一种提升成像质量光学系统

[发明专利]生物特征感测系统和感测方法-CN202011073477.4在审
发明人：印秉宏;王佳祥 -专利权人：广州印芯半导体技术有限公司
申请日： 2020-10-09 - 公布日： 2021-06-25 - 主分类号： G06K9/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种生物特征感测系统和感测方法。所述生物特征感测系统包括光发射器、偏光传感器以及信号处理模块，其中所述偏光传感器包括第一偏光片及第二偏光片。首先，通过光发射器，所述发射器对待测物发射多个发射光，并且经待测物反射产生反射光；接着，通过偏光传感器感测具有第一偏振方向的第一反射光及具有第二偏振方向的第二反射光；最后，信号处理模块依据偏光传感器感测到的第一反射光及第二反射光因此，本发明可通过反射率比值判断待测物的表面是否为立体，达到提升安全性以及节省成本的目的。
生物特征系统方法

[实用新型]一种检测仪光学系统-CN201820720354.7有效
发明人：罗继全;罗秦 -专利权人：三诺生物传感股份有限公司
申请日： 2018-05-15 - 公布日： 2018-12-18 - 主分类号： G01N21/01 文献下载
摘要：本实用新型涉及生化分析检测技术领域，具体指一种检测仪光学系统；包括照射光源、光通待测物、滤光机构和探测器，滤光机构设置在照射光源和光通待测物之间的入射光路上，所述光通待测物的透射光路上设有第一分光机构、多组不同波长的窄带滤光片和光信号接收器；所述与光通待测物透射光路垂直的光路上设有第二分光机构、光信号接收器和荧光接收器；本实用新型结构合理，照射光源通过透镜组成的聚光阵列产生的准直光线在滤光机构的筛选后进入光通待测物，光信号分别在不同波长的窄带滤光片和荧光滤光片的单色过滤后由探测器接收，从而实现一套系统的多重检测组合，整体结构紧凑、成本不高、使用灵活，可满足目前大部分光学检测试验的需求。
待测物光通滤光机构照射光源光信号接收器本实用新型窄带滤光片分光机构光学系统种检测波长探测器检测技术领域荧光接收器荧光滤光片多重检测光学检测聚光阵列生化分析透镜组成透射光路垂直的入射光透射光准直紧凑过滤筛选灵活试验

[发明专利]光罩检测方法-CN201410138979.9在审
发明人：何理;许向辉;郭贤权;陈超 -专利权人：上海华力微电子有限公司
申请日： 2014-04-08 - 公布日： 2014-07-09 - 主分类号： G03F1/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种光罩检测方法，包括：提供一控片，将待测光罩的图形转移到所述控片上；对所述控片进行第一次缺陷扫描；将所述控片旋转90°之后进行第二次缺陷扫描。在本发明提供的光罩检测方法中，通过将待测光罩的图形转移到控片上，并对所述控片进行垂直两个方向的扫描以消除扫描设备的检测盲点，使得所述扫描设备能够全面地检出缺陷。
检测方法

[发明专利]标记码识别装置、方法及硅片分选设备、电池片生产设备-CN202011508645.8在审
发明人：李文;王美;邵旭旭 -专利权人：无锡奥特维科技股份有限公司
申请日： 2020-12-18 - 公布日： 2021-03-16 - 主分类号： H01L21/67 文献下载
摘要：本申请揭示了一种标记码识别装置、方法及硅片分选设备、电池片生产设备，该装置包括安装支架、拍摄设备和光源，所述拍摄设备和所述光源安装于所述安装支架上，所述光源位于所述拍摄设备和待测片体之间，所述待测片体上形成有由凹坑组成的标记码，所述待测片体上的标记码在所述待测片体移动过程中至少经过所述拍摄设备的拍摄视野内，所述光源向所述待测片体的标记码提供入射光，所述光源的入射光与所述待测片体表面之间的夹角为0～30°。本申请通过设置低角度的光源，光源的入射光在经过待测片体表面反射至拍摄设备时，待测片体上的标记码与背景区域有较为明显的区别，提高了对标记码进行解码时的准确度。
标记识别装置方法硅片分选设备电池生产

[实用新型]标记码识别装置及硅片分选设备、电池片生产设备-CN202023064710.0有效
发明人：李文;王美;邵旭旭 -专利权人：无锡奥特维科技股份有限公司
申请日： 2020-12-18 - 公布日： 2021-08-20 - 主分类号： H01L21/67 文献下载
摘要：本申请揭示了一种标记码识别装置及硅片分选设备、电池片生产设备，该装置包括安装支架、拍摄设备和光源，所述拍摄设备和所述光源安装于所述安装支架上，所述光源位于所述拍摄设备和待测片体之间，所述待测片体上形成有由凹坑组成的标记码，所述待测片体上的标记码在所述待测片体移动过程中至少经过所述拍摄设备的拍摄视野内，所述光源向所述待测片体的标记码提供入射光，所述光源的入射光与所述待测片体表面之间的夹角为0～30°。本申请通过设置低角度的光源，光源的入射光在经过待测片体表面反射至拍摄设备时，待测片体上的标记码与背景区域有较为明显的区别，提高了对标记码进行解码时的准确度。
标记识别装置硅片分选设备电池生产

[实用新型]幼儿载具的摆动控制装置-CN200920150523.9有效
发明人：德瑞克·A.·金;彼得·R.·塔基;强那森·M.·帕西勒;强那森·蒙兹 -专利权人：明门香港股份有限公司
申请日： 2009-04-27 - 公布日： 2010-02-17 - 主分类号： A47D9/00 文献下载
摘要：一种幼儿载具的摆动控制装置，包含一外壳、一动力模块以及一控制模组，动力模组包括一马达、一传动单元及一与传动单元的输出连接的摆臂，马达通过传动单元与摆臂能驱动幼儿载具往复运动，控制模组包括一电路单元、一遮光片、一第一感测元件及一第二感测元件，电路单元与马达电连接，遮光片能与摆臂一起转动，遮光片具有多数个沿摆动方向间隔分布的栅条以及由所述栅条界定出的多数个栅孔，第一光感测元件及第二光感测元件设置于外壳并且配置成在遮光片转动时与遮光片的栅孔及栅条的相对位置有一相差，使第一光感测元件及该第二光感测元件能产生具有相位差的二输出讯号至电路单元，供电路单元借以控制马达的运转。
幼儿摆动控制装置

[实用新型]一种新型数字式动态光弹性仪试验系统-CN200920208989.X无效
发明人：杨国标;朱启荣;曾伟明;张林春 -专利权人：同济大学
申请日： 2009-09-21 - 公布日： 2010-12-01 - 主分类号： G01N3/00 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种新型数字式动态光弹性仪试验系统包括光源、物镜、准直镜、偏振片一、四分之一波片一、用于放置被测物的加载装置、四分之一波片二、偏振片二、聚光镜、高速CMOS摄影系统、同步触发线、计算机控制系统，所述的光源对准物镜，该物镜的出光口对准准直镜，该准直镜的出光口对准偏振片一，该偏振片一的出光口对准四分之一波片一，该四分之一波片一的出光口对准被测物，该被测物的出光口对准四分之一波片二，该四分之一波片二的出光口对准偏振片二，该偏振片二的出光口对准聚光镜，该聚光镜对准高速CMOS摄影系统，该高速CMOS摄影系统与计算机控制系统连接。
一种新型数字式动态弹性试验系统

[发明专利]显示面板和包括其的指纹感测系统-CN201910207693.4在审
发明人：郑大荣;赵相贤;黄熙创;李性穆;李种星 -专利权人：三星电子株式会社
申请日： 2019-03-19 - 公布日： 2019-10-22 - 主分类号： H01L27/32 文献下载
摘要：提供了用于将感测光提供至光学指纹传感器的显示面板和包括该显示面板的指纹感测系统。根据示例实施例的显示面板包括窗玻璃、位于窗玻璃下方并且延迟光的相位的延迟器、位于延迟器下方的偏振片、位于偏振片下方并且具有各自发光的多个像素的像素层、以及位于像素层下方并且被构造为透射感测光的基板，所述感测光通过由窗玻璃上的指纹对从所述多个像素中的至少一些发射的光进行散射而产生
显示面板窗玻璃感测光指纹感测系统偏振片像素层延迟器像素光学指纹传感器散射透射基板延迟发光发射

[实用新型]一种定向载波器-CN200620047615.0无效
发明人：杨国标;朱启荣 -专利权人：同济大学
申请日： 2006-11-09 - 公布日： 2007-11-14 - 主分类号： G01L1/24 文献下载
摘要：光源、偏振片、四分之一波片、载波片、成像屏组成，其特征在于光源对准偏振片，偏振片的出光口对准四分之一波片，四分之一波片的出光口对准被测物，被测物的出光口对准四分之一波片，四分之一波片的出光口对准载波片，载波片的出光口对准偏振片，偏振动片的出光口对准四分之一波片，四分之一波片的出光口对准成像屏。本实用新型应用于光弹性应力测试技术中，可以确认等差线之级次以及主应力方向精确位置和轨迹。
一种定向载波

[发明专利]光学检测系统及其操作方法-CN202210653794.6在审
发明人：施宏欣;叶肇懿;周蒋云;梁哲源 -专利权人：业成科技（成都）有限公司;业成光电（深圳）有限公司;业成光电（无锡）有限公司;英特盛科技股份有限公司
申请日： 2022-06-10 - 公布日： 2022-09-09 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：一种光学检测系统配置以检测具有第一线偏振片及四分之一波片的待测组件。光学检测系统包括：光源、偏光调整组件以及检测单元。光源具有出光面且配置以发射光线。偏光调整组件朝向光源的出光面。偏光调整组件配置以将光线转换为线性偏振光。第一线偏振片位于偏光调整组件与四分之一波片之间。待测组件配置以将线性偏振光转换为圆偏振光。检测单元位于待测组件背对偏光调整组件的一侧。检测单元配置以根据圆偏振光计算待测组件的第一线偏振片的吸收轴与待测组件的四分之一波片的快轴之间的相差角度。光学检测系统不需输入待测组件的材料相关参数，可节省光学检测系统进行检测的时间并降低整体操作复杂度。
光学检测系统及其操作方法

[发明专利]偏振片消光比和布儒斯特角测量装置和测量方法-CN201110220562.3有效
发明人：樊仲维;朱光 -专利权人：北京国科世纪激光技术有限公司
申请日： 2011-08-02 - 公布日： 2012-07-04 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：一种偏振片消光比和布儒斯特角测量装置，包括沿偏振光传播方向依次设置的λ/4波片、可旋转的格兰棱镜系统、可转动的偏振片载物台系统以及功率计，所述λ/4波片的光轴与所测量的偏振光的传播方向呈45度角，所述可旋转的格兰棱镜系统在预定的旋转角度范围内旋转并改变通过所述λ/4波片的偏振光的偏振方向，可转动的偏振片载物台系统承载待测偏振片并改变待测偏振片的相对偏振光的倾斜角度，所述功率计用于测量通过所述偏振片的偏振光的光强。所述偏振片消光比和布儒斯特角测量装置能够简单、精确的测量偏振片的消光比和布儒斯特角。还提供一种应用于上述偏振片消光比和布儒斯特角测量装置的测量方法。
偏振片消光布儒斯特角测量装置测量方法

[发明专利]波长测量计、测量方法及计算机可读存储介质-CN202310707251.2在审
发明人：邓国亮;蔡睿;周昊;周寿桓 -专利权人：四川大学
申请日： 2023-06-14 - 公布日： 2023-09-05 - 主分类号： G01J3/28 文献下载
摘要：该测量计包括：光入射模块、微纳结构散射片和检测器模块；光入射模块、微纳结构散射片和检测器模块依次沿入射光传播方向排列设置；微纳结构散射片具有粗糙表面，粗糙表面由飞秒激光在透明材料表面诱导产生多个不同高度的随机纳米结构形成；其中，光入射模块用于接收待测波长入射光，并将待测波长入射光准直为平行光；微纳结构散射片用于对平行光进行随机传播，并产生散射光场；检测器模块用于根据散射光场的分布生成散斑图像，并基于散斑图像重建光谱，获得待测波长入射光的波长
波长测量计测量方法计算机可读存储介质

[发明专利]一种电池片暗含填充因子的测试方法、装置、设备和介质-CN202111473415.7在审
发明人：万松博 -专利权人：阜宁阿特斯阳光电力科技有限公司;苏州阿特斯阳光电力科技有限公司;阿特斯阳光电力集团股份有限公司
申请日： 2021-11-29 - 公布日： 2023-05-30 - 主分类号： H02S50/15 文献下载
摘要：本发明公开了一种电池片暗含填充因子的测试方法、装置、设备和介质，其中，方法包括：采用光致发光方式获取第一光照强度下被测电池片的第一发光图像；采用光致发光方式获取第二光照强度下所述被测电池片的第二发光图像；根据所述第二光照强度、所述第一发光图像中各像素点的发光强度、所述第二发光图像中各像素点的发光强度计算所述被测电池片中各像素点的暗含填充因子，其中，所述被测电池片的暗含填充因子为不受所述被测电池片串阻影响的填充因子以实现对电池片的暗含填充因子的检测，有利于根据暗含填充因子分析电池低效原因、改进电池设计、优化过程工艺等。对暗含填充因子的获取可以做到无损检测。
一种电池暗含填充因子测试方法装置设备介质