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[发明专利]一种多孔介质介电常数的检测方法-CN201711358405.2在审
发明人：宋春芳;罗归一;李静;薛小雯 -专利权人：江南大学
申请日： 2017-12-17 - 公布日： 2018-05-29 - 主分类号： G01R27/26 文献下载
摘要：本发明涉及介电常数检测的技术领域，具体涉及多孔介质介电常数的计算方法。其步骤包括，将含水率较低的样品研磨成粉，并使用自制的圆柱形不锈钢测量单元对不同质量下的粉末状样品进行压实。使用与网络分析仪相连的末端开路同轴探头对压实后的样品进行介电常数测量。运用回归分析方法得出样品介电常数与频率的关系，将样品介电常数实际测量值与预先选用的介电混合方程理论值进行拟合得到一定频率下适用于多孔介质介电常数测量的数学模型。
多孔介质介电常数介电常数测量样品介电常数压实圆柱形不锈钢粉末状样品网络分析仪测量单元回归分析混合方程实际测量数学模型样品研磨含水率检测探头介电拟合同轴开路自制

[发明专利]一种修正PCB介电常数模型的建立方法和修正方法及修正系统-CN202010844533.3在审
发明人：张利华;刘诗涛;李一峰 -专利权人：深南电路股份有限公司
申请日： 2020-08-20 - 公布日： 2022-02-22 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明涉及PCB介电常数领域，具体涉及一种修正PCB介电常数模型的建立方法和修正方法及修正系统。所述建立方法包括步骤：通过阻抗测试获取PCB样品的介电常数测试结果；获取对应PCB样品阻抗线的实际参数，并根据实际参数获取介电常数反推结果；根据多个PCB样品的介电常数测试结果和介电常数反推结果的修正关系，建立修正PCB介电常数的修正模型。发明的有益效果在于，与现有技术相比，本发明建立修正模型，并将后续需要获取修正后介电常数的PCB的相关参数数据，输入至修正模型中，直接快捷方便获取所述PCB的已修正后的介电常数；同时，提供修正的准确性。
一种修正 pcb 介电常数模型建立方法系统

[发明专利]一种基于混合方程的杏仁介电常数检测方法-CN201711358409.0在审
发明人：宋春芳;罗归一;李静;薛小雯 -专利权人：江南大学
申请日： 2017-12-17 - 公布日： 2018-06-15 - 主分类号： G01R27/26 文献下载
摘要：本发明涉及介电常数检测的技术领域，具体涉及一种基于混合方程的杏仁介电常数检测方法。其步骤包括，将含水率较低的样品研磨成粉，并使用自制的圆柱形不锈钢测量单元对不同质量下的粉末状样品进行压实。使用与网络分析仪相连的末端开路同轴探头对压实后的样品进行介电常数测量。运用回归分析方法得出样品介电常数与频率的关系，将样品介电常数实际测量值与预先选用的介电混合方程理论值进行拟合得到一定频率下适用于杏仁介电常数测量的数学模型。 1
混合方程介电常数杏仁介电常数测量样品介电常数压实检测圆柱形不锈钢粉末状样品网络分析仪测量单元回归分析实际测量数学模型样品研磨含水率探头介电拟合同轴开路自制

[发明专利]一种低介电常数材料之TEM样品的制备方法-CN201610327894.4在审
发明人：陈胜;陈强;史燕萍 -专利权人：上海华力微电子有限公司
申请日： 2016-05-17 - 公布日： 2016-07-20 - 主分类号： G01N23/22 文献下载
摘要：一种低介电常数材料之TEM样品的制备方法，包括：步骤S1：提供具有表层低介电常数材料之待分析芯片样品，并将表层低介电常数材料的一侧与承载硅片粘贴；步骤S2：对待分析芯片样品之硅基衬底进行研磨，对研磨程度的控制通过硅基衬底之边缘处所露出的器件层图形进行判断；步骤S3：进一步研磨，以使得研磨面平整；步骤S4：通过聚焦离子束制样工具制备低介电常数材料之TEM样品，且从硅基衬底一侧向表层低介电常数材料一侧进行切割。本发明可有效避免离子束和电子束对稀疏、多孔的表层低介电常数材料的损伤，显著提高低介电常数材料之TEM样品的质量，利于观测表层低介电常数材料的结构形貌和层次性，进行精确的工艺参数判断。
一种介电常数材料 tem 样品制备方法

[发明专利]一种近场微波显微镜介电常数测量标定的软接触实现方法-CN202010095658.0有效
发明人：彭斌;黄和;曾慧中;张万里;鞠量 -专利权人：电子科技大学
申请日： 2020-02-17 - 公布日： 2021-04-30 - 主分类号： G01R27/26 文献下载
摘要：一种近场微波显微镜介电常数测量标定的软接触实现方法，属于近场微波显微镜的测试领域。采用至少3个已知介电常数的样品进行软接触测试，得到各样品在软接触时的谐振频率，然后通过拟合的方式得到常数A与f0，完成近场微波显微镜介电常数测量时的标定。本发明方法操作简单，误差较小，有效减小了针尖样品距离对介电常数测量的影响，很好地实现了利用近场微波显微镜测量介电常数时的标定。
一种近场微波显微镜介电常数测量标定接触实现方法

[发明专利]一种测量大损耗材料介电常数的方法-CN201810710381.0有效
发明人：刘宝江;宋开山;董航;刘鑫 -专利权人：中国科学院东北地理与农业生态研究所
申请日： 2018-07-02 - 公布日： 2021-03-19 - 主分类号： G01R27/26 文献下载
摘要：一种测量大损耗材料介电常数的方法，涉及大损耗材料介电常数的测量领域，为了解决采用圆柱形谐振腔微扰法只能对低介电常数和低损耗材料进行测量的问题。该方法包括：配制定标管，配制待测样品管，测量待测样品管内溶液的温度，升序测量，降序测量，修正环境温度的影响，确定谐振腔定标方程，计算待测盐溶液的介电常数。该发明适用于测量大损耗材料的介电常数。
一种测量损耗材料介电常数方法

[发明专利]一种介电常数测量装置及方法-CN202210402636.3在审
发明人：钱正芳;周迪;王任衡 -专利权人：深圳大学
申请日： 2022-04-18 - 公布日： 2022-08-19 - 主分类号： G01R27/26 文献下载
摘要：本申请实施例提供了一种介电常数测量装置及方法，适用于太赫兹技术领域。该方法包括：通过基于结构改进后的人工等离激元波导的介电传感器结构，在太赫兹频段对介电材料的介电常数进行测量，具体地，通过改变波导特定部分金属层几何参数，使得波导的功能由传输变为传感，然后根据不同介电常数的样品会使该介电传感器的谐振峰中心频率偏移，通过谐振峰中心频率的偏移量计算出待测样品的介电常数。该测量介电常数测量方法能够对微量小样品的介电常数进行简便快捷的测定。
一种介电常数测量装置方法

[发明专利]互耦环缝谐振结构的液体复介电常数传感器及测量方法-CN202210094395.0在审
发明人：王宸;刘小明;朱承辉;王海洋;张丹;汪佳佳;刘凯;甘露 -专利权人：安徽师范大学
申请日： 2022-01-26 - 公布日： 2022-06-07 - 主分类号： G01R27/26 文献下载
摘要：本发明公开了一种互耦环缝谐振结构的液体复介电常数传感器及测量方法，涉及射频和微波工程技术领域。该液体复介电常数传感器，包括玻璃管(4)、地线GND层(3)、介质层(2)、微带线层(1)，地线GND层(3)用于形成等效电路，并通过与液体样品所在的玻璃管(4)接触，测量液体样品的复介电常数；介质层(实现了同时测量液体样品的介电常数和损耗正切值，提高了测量复介电常数的测量精度。
互耦环缝谐振结构液体介电常数传感器测量方法

[实用新型]液体介电常数检测装置-CN201920414992.0有效
发明人：周华胜;姚光荣;冯奕龙 -专利权人：深圳市智水小荷技术有限公司
申请日： 2019-03-29 - 公布日： 2020-01-24 - 主分类号： G01R27/26 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种液体介电常数检测装置。该液体介电常数检测装置包括样品池，样品池包括一容置部，容置部为中空的柱状结构，容置部用于容置待测液体；正极板，敷设于容置部的外壁；负极板，敷设于容置部上远离正极板的外壁；其中，正极板与负极板之间无电性连接；液体介电常数检测电路，分别与正极板、负极板连接，用于获取正极板与负极板之间的电容值、并根据所述电容值获取所述待测液体的介电常数。本申请通过使样品池包括一个容置部，而容置部采用中空的柱状结构，通过在容置部的外壁上敷设正极板和负极板，再将正负极板分别与液体介电常数检测电路进行连接，可精确检测出样品池中待测液体的电容值，然后通过电容值可获取对应的介电常数
容置部正极板负极板液体介电常数样品池电容敷设外壁检测电路检测装置介电常数柱状结构中空的本实用新型无电性连接正负极板容置检测申请

[发明专利]一种煎炸油极性组分含量的快速检测方法-CN201510039227.1有效
发明人：刘睿杰;王兴国;金青哲;李徐;常明;杨培金 -专利权人：江南大学
申请日： 2015-01-26 - 公布日： 2017-05-03 - 主分类号： G01N27/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种煎炸油极性组分含量的快速检测方法，其利用频域介电谱测试仪对待检测的煎炸油样品线性测取点，获得所述煎炸油样品的复合介电常数，包括复合介电常数的实部ε’和虚部ε”，形成介电常数‑频率和介电损耗‑频率谱图；解谱并对实测得到的复介电常数进行拟合，然后根据提取的特征参数τ，判断煎炸油的极性组分含量。本发明能够在无损样品的前提下快速测定煎炸油极性组分含量，为准确评估煎炸食品安全提供可靠依据。
一种煎炸油极性组分含量快速检测方法

[发明专利]一种碳复合粉末材料的复介电常数的提取方法-CN202310306280.8在审
发明人：马巍;冉曙;李万利;杨贵锋;智福鹏;赵国宏;张珺;尹文艳 -专利权人：兰州资源环境职业技术大学
申请日： 2023-03-27 - 公布日： 2023-06-23 - 主分类号： G06F17/10 文献下载
摘要：本发明涉及材料电磁属性测试技术领域，具体公开了一种碳复合粉末材料的复介电常数的提取方法，通过测试系统的搭建、样品装入、获取被测材料的S参数、通过S参数计算复介电常数、对复介电常数进行去嵌入计算的步骤进行碳复合粉末材料的复介电常数的提取，改善了以前需要将样品作为固体可加工状态的繁琐工序，将碳复合粉末材料夹具装入后利用传输反射法对7mm同轴线中的材料进行测量反演出被测材料的介电常数，避免了粉末给夹具传输线带来污染，提高了碳复合材料复介电常数的测试效率
一种复合粉末材料介电常数提取方法

[发明专利]一种检测纤维含水率和含油率的低成本方法-CN202010381875.6有效
发明人：郑征;马剑斌;毛海良;徐锦龙;王松林 -专利权人：浙江恒逸石化研究院有限公司
申请日： 2020-05-08 - 公布日： 2022-12-06 - 主分类号： G01N27/04 文献下载
摘要：本发明涉及纤维性能检测技术领域，公开了一种检测纤维含水率和含油率的低成本方法，步骤为：（1）用国家标准方法分别测定标准纤维样品的含水率和含油率；（2）用纤维比电阻仪和介电常数测定仪分别测定标准纤维样品的比电阻值和介电常数值；（3）通过步骤（1）和（2）的测量数据分别拟合得到纤维比电阻值及介电常数值与含水率和含油率的函数关系式；（4）用纤维比电阻仪和介电常数测定仪分别测定待测纤维样品的比电阻值和介电常数值，并通过步骤（3）中得到的函数关系式计算出待测纤维样品的含水率和含油率。本发明用纤维比电阻仪和介电常数测定仪来联合检测纤维含水率和含油率，具有简单易操作、成本低、检测结果精准、重复性好的优点。
一种检测纤维含水率含油率低成本方法

[发明专利]基于基片集成波导圆形谐振腔的材料复介电常数测量方法-CN201410122761.4有效
发明人：程钰间;夏支仙;黄伟娜;钟熠辰;樊勇 -专利权人：电子科技大学
申请日： 2014-03-28 - 公布日： 2014-07-02 - 主分类号： G01R27/26 文献下载
摘要：基于基片集成波导圆形谐振腔的材料复介电常数测量方法，涉及材料复介电常数测试技术领域。首先加工具有不同谐振频率（工作频率）的基片集成波导圆形谐振腔，然后针对同一谐振频率的基片集成波导圆形谐振腔，分别加载一个与介质层2材料相同的样品，一个复介电常数已知的标准样品和待测样品，利用矢量网络分析仪分别馈入扫频信号，测试三个样品的谐振频率和品质因素，最后联立方程求解，即可得到待测样品在所述基片集成波导圆形谐振腔工作频率下的复介电常数。换用别的工作频率的基片集成波导圆形谐振腔，重复同样的测试过程，即可完成材料复介电常数的多频点测试。本发明具有谐振腔体积小、加工方便的，测量结果精度高。
基于集成波导圆形谐振腔材料介电常数测量方法

[发明专利]一种实现半导体产生负介电常数并对其进行调制的方法-CN201710971469.3在审
发明人：李芸;龚敏 -专利权人：四川大学
申请日： 2017-10-18 - 公布日： 2018-05-01 - 主分类号： H01L21/263 文献下载
摘要：本发明公开了一种半导体实现负介电常数的方法，并采用电信号对负介电常数进行调控的方法，具体为采用辐照源对半导体材料或半导体材料制作而成的半导体器件或半导体器件制作而成的电路进行辐照，与辐照前的样品相比较，辐照后的样品将会在一定频率范围内产生负介电常数；改变辐照后样品两极间的直流偏置电流或者直流偏置电压实现对负介电常数的调制。本发明实现了半导体材料器件在一定频率范围内的负介电常数，与现有采用人工周期性金属结构实现负介电常数相比，具有电学信号可调的特性，并且本发明不增加任何半导体材料和半导体器件以及电路制造的工艺步骤，不增加制作成本
一种实现半导体产生介电常数进行调制方法

[发明专利]材料介电常数测试系统及基于该测试系统的测试方法-CN201610574309.0在审
发明人：向勇;王聪;冯雪松;刘芬芬 -专利权人：电子科技大学
申请日： 2016-07-19 - 公布日： 2016-10-26 - 主分类号： G01R27/26 文献下载
摘要：本发明涉及微波测试技术领域，具体涉及一种材料介电常数测试系统及基于该测试系统的测试方法。本发明提供一种材料介电常数测试系统，其包括同轴谐振腔和控制系统。同轴谐振腔包括腔体和伸出腔体的探针；控制系统用于提供同轴谐振腔的微波输入信号，探针在腔体外形成电磁场，待测样品通过对该电磁场的干扰从而改变所述同轴谐振腔的微波输出信号；控制系统通过对放置待测样品前后的微波输出信号进行分析计算得到待测样品的介电常数该材料介电常数测试系统数据处理简单，测试效率高；并且通过伸出腔体的探针对待测样品进行扫描式检测，测试速度快。本发明还提供一种基于上述材料介电常数测试系统的测试方法，具有测试效率高，测试速度快的优点。
材料介电常数测试系统基于方法

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