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- [发明专利]一种双调节外径千分尺校检装置-CN201610565943.8有效
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彭涛;戚全利;吕琨琨
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安徽普源分离机械制造有限公司
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2016-07-18
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2018-10-09
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G01B3/18
- 本发明公开了一种双调节外径千分尺校检装置,包括:检测平台、第一升降托架、第二升降托架、第一副升降托架、第二副升降托架、第一千分表、第二千分表、第三千分表、第四千分表和标准量块,检测平台用于支撑,第一千分表、第二千分表相互配合用于对外径千分尺中测砧、测微螺杆进行校检;第三千分表、第四千分表相互配合用于对标准量块进行校检;标准量块用于作为外径千分尺校检的校准参照;第一升降托架、第二升降托架相互配合用于对小规格外径千分尺中的测砧、测微螺杆进行托举并带动其进行升降动作;第一副升降托架、第二副升降托架相互配合用于对大规格的外径千分尺中的测砧、测微螺杆进行托举并带动其进行升降动作。
- 一种调节外径千分尺装置
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