“暗场图像”专利关键词查询_检索下载_查询列表_检索列表_行业专利分布_钻瓜专利网

钻瓜专利网为您找到相关结果793770个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[发明专利]一种基于动态标定的暗场噪音处理方法、装置和电子设备-CN202210881897.8有效
发明人：陈兴旺;申晖;李有森 -专利权人：瀚湄信息科技（上海）有限公司
申请日： 2022-07-26 - 公布日： 2023-04-25 - 主分类号： H04N25/63 文献下载
摘要：本说明书实施例提供一种基于动态标定的暗场噪音处理方法，通过按照暗场标定周期在每个标定周期的预设时刻控制光源产生暗场，并在所述预设时刻采集暗场图像，对所述暗场图像进行空间与时域滤波，利用滤波后的暗场图像生成暗场标定图，在各暗场标定周期，利用实时采集处理得到的所述暗场标定图对待标定图像进行标定，通过动态地采集暗场图像进行标定，抵消了温度变化带来的影响，削弱了噪音影响。
一种基于动态标定暗场噪音处理方法装置电子设备

[发明专利]一种图像暗场校正方法和系统-CN201811573215.7在审
发明人：鄂永;崔凯;韩业成;滕万里 -专利权人：上海联影医疗科技有限公司
申请日： 2018-12-21 - 公布日： 2019-04-23 - 主分类号： G06T5/00 文献下载
摘要：本申请实施例公开了一种图像暗场校正方法和系统。所述图像暗场校正方法包括：监测探测器的实时温度，采集不同实时温度下所述探测器的暗场模板，并基于采集到的暗场模板维护一存储队列；所述存储队列用于存储采集到的暗场模板；监测采集目标图像时探测器的温度；基于采集目标图像时刻探测器的温度从所述存储队列中获取相应的暗场模板；基于所述相应的暗场模板对目标图像进行校正。本申请提供的暗场校正方法，可以实时采集暗场模板并对采集的目标图像进行校正，既不影响用户体验，又可确保图像校正的质量。
暗场校正存储队列探测器采集采集目标图像目标图像图像监测探测器模板维护实时采集图像校正影响用户申请存储监测

[发明专利]探测器暗场图像模板中震颤或敲击伪影的识别及校正方法-CN201510981661.1有效
发明人：张楠;黄细平;沈文泓 -专利权人：上海奕瑞光电子科技股份有限公司
申请日： 2015-12-23 - 公布日： 2018-12-04 - 主分类号： G06T5/50 文献下载
摘要：本发明提供一种探测器暗场图像模板中震颤或敲击伪影的识别及校正方法，包括以下步骤：1）采集具有不同采集延时的暗场图像模板作为标准图像模板；2）对标准图像模板进行坏像素查找并对坏像素进行替换处理；3）采集临床暗场图像模板；4）对临床暗场图像模板进行坏像素查找并对坏像素进行替换处理；5）对坏像素替换处理后的临床暗场图像模板进行偏移量校正；6）对偏移量校正后的所述临床暗场图像模板进行震颤或敲击伪影识别。本发明可简单快捷的完成对震颤或敲击伪影的识别与校正，能够在几乎不改变正常暗场图像的暗场图像质量的前提下，实时有效地校正震颤或敲击伪影，极大的提高了平板探测器的抗震颤或敲击性能，降低了成本。
探测器暗场图像模板震颤敲击识别校正方法

[发明专利]图像处理方法及投影系统-CN202010348014.8在审
发明人：赵鹏;许擎栋 -专利权人：深圳光峰科技股份有限公司
申请日： 2020-04-28 - 公布日： 2021-10-29 - 主分类号： H04N9/31 文献下载
摘要：本申请公开了一种图像处理方法，用于对源图像进行处理，以获得目标图像，所述目标图像叠加环境光后输出显示图像；包括：获取源图像暗场区域的对比度；根据所述源图像暗场区域的对比度确定所述显示图像暗场区域的对比度；获取显示区域内的环境光亮度；根据所述显示图像暗场区域的对比度及所述环境光亮度计算出所述目标图像暗场区域的亮度阈值；根据所述目标图像暗场区域的亮度阈值及源图像暗场区域亮度阈值通过查表法选取色调映射算法；根据所述选取的色调映射算法对所述源图像进行图像处理。本申请提供的图像处理方法可根据环境光场自动优化图像亮度分布，提高了投影画面视觉观感。
图像处理方法投影系统

[发明专利]一种平场校正参数的获取方法及装置-CN202111097720.0在审
发明人：郭慧;张见;戚涛;姚毅;杨艺 -专利权人：凌云光技术股份有限公司;北京凌云光子技术有限公司
申请日： 2021-09-18 - 公布日： 2021-12-17 - 主分类号： G06T5/00 文献下载
摘要：本申请提供一种平场校正参数的获取方法及装置，方法包括获取待校正图像的暗场图像；计算并存储暗场行均值向量和暗场列均值向量；调用存储的暗场行均值向量，计算暗场行均值矩阵；调用存储的暗场列均值向量，计算暗场列均值矩阵；将暗场行均值矩阵和暗场列均值矩阵相加，得到每一个暗场像素点的FPN参数；获取待校正图像的亮场图像中每一个亮场像素点的PRNU参数；将FPN参数和PRNU参数输出为待校正图像中每一个待校正像素点的平场校正参数本申请仅需要存储待校正图像的行均值向量和列均值向量，减小了平场校正时需要存储的参数数据量，并且本申请可得到与对待校正图像中逐个像素点进行平场校正参数计算后相同数据量的平场校正参数。
一种校正参数获取方法装置

[发明专利]暗场微滴图像识别的方法、装置、计算机设备和存储介质-CN202211303274.9在审
发明人：廖丽敏;李珍珍;王素娟;曾杰生 -专利权人：广东顺德工业设计研究院（广东顺德创新设计研究院）;佛山丁智生物科技有限公司
申请日： 2022-10-24 - 公布日： 2023-01-03 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本申请涉及一种核酸分子的暗场微滴图像识别方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。该方法包括：获取所述暗场微滴图像，从所述暗场微滴图像中提取前景标记、背景标记以及图像的梯度幅值；将所述前景标记、背景标记以及图像的梯度幅值进行叠加，获得梯度幅值图像；根据所述梯度幅值图像进行分割，获得所述暗场微滴图像中各微滴的图像采用本方法能够提高识别暗场微滴的准确率。
暗场图像识别方法装置计算机设备存储介质

[发明专利]一种经过线性修正的EMCCD倍增增益测量方法-CN202011128224.2有效
发明人：乔丽;王明富;金峥 -专利权人：中国科学院光电技术研究所
申请日： 2020-10-21 - 公布日： 2022-11-11 - 主分类号： H04N17/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种经过线性修正的EMCCD倍增增益测量方法，包括：a)给待测EMCCD相机、积分球上电，使相机工作状态稳定；b)关闭倍增增益，采集不同曝光时间下相机的多组明场、暗场图像；c)获取EMCCD相机在指定曝光时间与增益电压下的明场、暗场均值图像，并计算明、暗场均值图像之差；d)对明场、暗场均值图像之差进行线性修正后，得到施加增益修正后的明场、暗场均值图像之差；e)曝光时间不变，关闭增益，同样的方法得到不施加增益修正后的明场、暗场均值图像之差；f)施加增益经过修正后的明、暗场均值图像之差与不施加增益修正后的明、暗场均值图像之差的比值即为当前增益电压对应的真实增益倍数。
一种经过线性修正 emccd 倍增增益测量方法

[发明专利]探测器暗场图像模板中震颤或敲击伪影的识别及校正方法-CN201510980121.1有效
发明人：张楠;黄细平;沈文泓 -专利权人：上海奕瑞光电子科技股份有限公司
申请日： 2015-12-23 - 公布日： 2018-11-27 - 主分类号： G06T5/50 文献下载
摘要：本发明提供一种探测器暗场图像模板中震颤或敲击伪影的识别及校正方法，包括以下步骤：1）采集具有不同采集延时的暗场图像模板作为标准图像模板；2）对标准图像模板进行坏像素查找并对坏像素进行替换处理；3）采集临床暗场图像模板；4）对临床暗场图像模板进行坏像素查找并对坏像素进行替换处理；5）对坏像素替换处理后的临床暗场图像模板进行偏移量校正；6）对偏移量校正后的临床暗场图像模板进行震颤或敲击伪影与lag伪影及漏电流伪影区分并识别本发明可简单快捷的完成对震颤或敲击伪影的识别与校正，能够在几乎不改变正常暗场图像的暗场图像质量的前提下，实时有效地校正震颤或敲击伪影，提高了平板探测器的抗震颤或敲击性能。
探测器暗场图像模板震颤敲击识别校正方法

[发明专利]图像暗场漏电流的校正方法、装置、电子终端、存储介质-CN201911217313.1有效
发明人：杨俊越 -专利权人：上海奕瑞光电子科技股份有限公司
申请日： 2019-12-03 - 公布日： 2022-05-03 - 主分类号： H04N5/21 文献下载
摘要：本申请提供图像暗场漏电流的校正方法、装置、电子终端、存储介质，其包括：获取暗场漏电流随时间变化的关系数据；根据待校正亮场图像的曝光窗口时间数据以及所述暗场漏电流随时间变化的关系数据，计算所述待校正亮场图像所需校正的暗场漏电流数据；基于所述待校正亮场图像所需校正的暗场漏电流数据，对所述待校正亮场图像进行图像校正。本发明旨在基于校正算法来消除暗场漏电流噪声对图像质量的影响，使校正前后的图像效果大为改善，而且本发明中的校正算法计算耗时短，能够满足实时上图要求。
图像暗场漏电校正方法装置电子终端存储介质

[发明专利]一种适用于连续可变帧率的本底值补偿方法-CN201811236377.1在审
发明人：林言成;张楠 -专利权人：上海奕瑞光电子科技股份有限公司
申请日： 2018-10-23 - 公布日： 2019-03-01 - 主分类号： G06F17/50 文献下载
摘要：本发明提供一种适用于连续可变帧率的本底值补偿方法，包括：选取若干采样帧率，并采集每一所述采样帧率下的暗场图像；对所述采样帧率及其对应的暗场图像进行拟合，以获取帧率‑暗场图像拟合模型；基于所述帧率‑暗场图像拟合模型，获取实际帧率下的补偿暗场图像；并基于所述补偿暗场图像对所述实际帧率下的亮场图像进行本底值补偿，以消除漏电流引起的本底偏置。
帧率暗场图像连续可变采样拟合模型漏电流亮场拟合偏置采集图像

[发明专利]相衬成像系统信息表征方法及系统-CN201911147099.7有效
发明人：张丽;吴承鹏;高河伟;邢宇翔 -专利权人：清华大学
申请日： 2019-11-21 - 公布日： 2021-10-15 - 主分类号： A61B6/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种相衬成像信息表征方法，包括：获取相衬成像的原始数据；根据所述原始数据对相衬信息和暗场信息进行提取；对提取的所述相衬信息和暗场信息通过公式：H＝D′·sin(P′)进行表征，其中H为相衬信息和暗场信息的混合场对比度，P＇为对所述相衬信息的对应数据调整到[﹣π,π]内的相位偏移，D＇对所述暗场信息的对应数据进行指数化操作后的图像对比度降低比值。通过对提取的相衬信息和暗场信息进行处理，能够将原有的相衬信息和暗场信息表征在一张混合场图像中，该混合场图像与原有的相衬图像和暗场图像相比，图像表征清楚，相比于普通的图像融合方法具有更加明确的物理含义。
成像系统信息表征方法

[发明专利]一种X射线探测器校正方法、装置、系统及存储介质-CN201910451397.9在审
发明人：彭云;丁亮;吕广志 -专利权人：深圳市菲森科技有限公司
申请日： 2019-05-28 - 公布日： 2019-08-23 - 主分类号： G01T7/00 文献下载
摘要：本发明适用于X射线探测器自动化技术领域，提供了一种X射线探测器校正方法、装置、系统及存储介质，方法包括：获取至少一帧暗场图像组成暗场图像集；基于所述暗场图像集生成暗场校正模板，并基于所述暗场校正模板对所述探测器进行暗场校正；设置至少一个X射线剂量点，并获取对应X射线剂量点的亮场图像集；基于所述亮场图像集生成亮场校正模板，并基于所述亮场校正模板和所述暗场校正模板对所述探测器进行亮场校正。通过控制不同的X射线剂量点并曝光，控制所述探测器采集一组暗场图像集和多组不同X射线剂量点的亮场图像集，并基于采集到的图像集生成对应的校正模板，最后使用上述校正模板自动校正探测器，提高了X射线探测器校正的效率
校正亮场暗场图像图像集探测器暗场存储介质自动化技术领域采集自动校正曝光

[发明专利]平场校正方法及装置、图像验证方法及装置-CN201710933099.4有效
发明人：于媛媛;姚毅 -专利权人：凌云光技术股份有限公司
申请日： 2017-10-10 - 公布日： 2021-02-23 - 主分类号： H04N5/235 文献下载
摘要：本发明实施例提供了一种平场校正方法及装置、图像验证方法及装置。该平场校正方法利用调整曝光时间和增益后的相机获取暗场图像，避免了由于人工遮蔽镜头造成误操作，从而提高了暗场图像的质量，同时通过调整相机参数来获取暗场图像的方式减少了操作量，有效提高了暗场图像的获取效率。该平场校正方法对备用亮场图像中各个像素点的灰度值进行了均值滤波，滤除高频成分，从而减弱了白色参考物上的细粒、纹理不均匀、玻璃片有灰尘等特殊情况导致的备用亮场图像质量受损，有效提高了亮场图像的质量。本发明实施例通过提高暗场图像和亮场图像的质量提高了平场校正的校正精度，同时避免了人工操作来获取暗场图像，提高了暗场图像的获取效率。
校正方法装置图像验证

[发明专利]一种在透射电子显微镜下获取环形暗场图像的方法-CN201710312330.8有效
发明人：闫志刚;郑春雷;林耀军 -专利权人：燕山大学
申请日： 2017-05-05 - 公布日： 2019-09-10 - 主分类号： G01N23/04 文献下载
摘要：一种在透射电子显微镜下获取环形暗场图像的方法，其所包含以下步骤：首先选取需要拍摄图像的区域，采集多晶电子衍射环；然后选取需要获取环形暗场图像的衍射环，使用透射电子显微镜物镜光阑在此衍射环的半环上进行连续的暗场图像采集；最后将所采集的所有暗场图像使用软件叠加到一张图片上获取环形暗场图像。
一种透射电子显微镜获取环形暗场图像方法

[发明专利]射线影像设备的成像方法、装置、射线影像设备及介质-CN201911344989.7在审
发明人：高强 -专利权人：上海联影医疗科技有限公司
申请日： 2019-12-24 - 公布日： 2020-04-10 - 主分类号： A61B6/00 文献下载
摘要：本发明实施例公开了一种射线影像设备的成像方法、装置、射线影像设备及介质，该方法包括：在暗场图像获取流程进行中接收到成像请求时，并行执行暗场图像获取流程和成像准备流程直至所述暗场图像获取流程结束，其中，所述成像请求对应所述成像准备流程和所述成像扫描流程；在暗场图像获取流程完成时，执行成像准备流程的剩余部分，以及执行成像扫描流程；根据所述暗场图像获取到的暗场图像以及成像扫描流程中获取到的扫描数据确定目标图像。
射线影像设备成像方法装置介质

1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
下一页»
尾页
共 100000 条