专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
专利下载VIP
公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
更多 »
专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
更多 »
钻瓜专利网为您找到相关结果32824907个,建议您升级VIP下载更多相关专利
  • [发明专利]的制造方法-CN201080013184.5无效
  • 内森·G·斯托达德 - AMG艾迪卡斯特太阳能公司
  • 2010-01-13 - 2012-02-22 - C30B11/14
  • 本发明涉及用于铸造适合用于太阳能电池或太阳能模块的硅的的制造方法。所述方法包括安置边缘对齐的瓦片以在适当的表面上形成接缝的步骤以及在所述接缝处接合所述瓦片以形成的步骤。所述接合步骤包括加热所述瓦片以熔化所述瓦片的至少一部分、使所述瓦片在至少一个接缝的两端与电极接触、使用非硅的等离子体沉积、施加光子以熔化所述瓦片的一部分和/或沉积。本发明的包括宽度和长度为至少约500毫米的直线形状。
  • 晶种层制造方法
  • [发明专利]薄膜太阳能电池及其制造方法-CN201210011805.7无效
  • 李佳霖;毕建中 - 联相光电股份有限公司
  • 2012-01-04 - 2013-06-12 - H01L31/0352
  • 本发明提供一薄膜太阳能电池及其制造方法。薄膜太阳能电池包含基板以及半导体。半导体包含P型、第一I型、第一N型、第二I型以及第二N型。P型是位于基板上;第一I型是位于P型上;第一N型是位于第一I型上;第二I型是位于第一N型上;以及第二N型是位于第二I型上。其中,通过在半导体内增设第二I型及第二N型,以提升薄膜太阳能电池的光电转换效率。
  • 薄膜太阳能电池及其制造方法
  • [发明专利]半导体器件及其制造方法-CN201610384209.1有效
  • 崔康植 - 爱思开海力士有限公司
  • 2016-06-02 - 2020-10-27 - H01L27/1157
  • 半导体器件及其制造方法。该半导体器件包括:第一源;第二源,所述第二源被设置在所述第一源上方,同时与所述第一源间隔开;堆叠结构,所述堆叠结构被形成在所述第二源上;沟道,所述沟道通过穿透所述堆叠结构而延伸到所述第一源内;以及夹层源,所述夹层源延伸到所述第一源与所述第二源之间的空间中,同时接触所述沟道、所述第一源和所述第二源中的每一个。
  • 半导体器件及其制造方法
  • [发明专利]半导体芯片的共方法及共结构-CN201010261581.6有效
  • 刘英策;火东明;孙天宝 - 比亚迪股份有限公司
  • 2010-08-21 - 2011-04-20 - H01L21/58
  • 半导体芯片的共方法,包括:以基板的一面为承载面形成第一共和以半导体芯片的一面为承载面形成第二共,所述第一共或者第二共为形成有孔结构的共;对第一共和第二共进行共连接。本发明还涉及一半导体芯片的共结构,包括半导体芯片、基板,以及位于半导体芯片和基板之间的共连接,其中,所述共连接由第一连接和有孔结构的第二连接结合而成。本发明实施例提供的一半导体芯片的共方法及共结构,有孔的共和另一共,使二者之间形成更均匀结合力更强的共,进而提高芯片和基板之间的结合力。
  • 一种半导体芯片方法结构
  • [发明专利]可折叠碳电热毯-CN201711042287.4在审
  • 薛蕙心 - 无锡蓝晶电子科技有限公司
  • 2017-10-30 - 2018-04-20 - F24D13/00
  • 本发明公开了一可折叠碳电热毯,包括套体、设置在套体内部碳发热、设置在碳发热下表面的隔热和设置在碳发热上表面的导热,所述套体外表面包裹有防水面料,所述导热上表面处设有网状隔热,所述碳发热包括若干碳发热片,所述碳发热片与碳发热片之间并联电性连接,所述碳发热片与碳发热片以纵横编织构成碳发热,该碳发热片与碳发热片重叠处中间设有保温隔热,相邻的两个碳发热片之间保温,该保温宽度为碳发热片宽度的
  • 一种可折叠电热毯
  • [发明专利]集成电路组件、处理器和片上系统-CN202310672654.8在审
  • 许晗;李双辰;张喆;卓有为;魏学超;牛迪民;郑宏忠 - 阿里巴巴达摩院(杭州)科技有限公司
  • 2023-06-07 - 2023-08-29 - H10B80/00
  • 本发明实施例提供了一集成电路组件、处理器和片上系统。所述集成电路组件包括三,所述包括正面与背面,其中第一与第二正面对正面堆叠,所述第二与第三正面对背面堆叠,所述三经过硅通孔、重布线以及混合键合互相连接,所述第二或者三中的慢速包括直接内存存取主控制器,所述直接内存存取主控制器配置为接收所述其他的从端发送的数据传输请求,令所述第二或者三中的慢速的从端进行数据传输本发明实施例第二或者慢速的直接内存存取主控制器,令数据传输无需跨越三,减少了数据传输的距离。
  • 集成电路组件处理器系统
  • [发明专利]改善FinFET背工艺的方法-CN202111238559.4在审
  • 李红;郭扬扬;赵保军 - 上海华力集成电路制造有限公司
  • 2021-10-25 - 2022-02-11 - H01L21/336
  • 本发明提供一改善FinFET背工艺的方法,在圆的背上形成第一氧化;在第一氧化上形成氮化硅垫层;在氮化硅垫层上形成第一非;去除第一非;在氮化硅垫层上形成第二非;在第二非上形成第一氮化硅;在第一氮化硅上形成第二氮化硅;去除第一、第二氮化硅,将第二非暴露;在圆的正面和背同时沉积第二氧化;利用第二非作刻蚀阻挡去除所述背的所述第二氧化;在圆的正面和背同时沉积多晶硅;之后去除背的所述多晶硅和第二非;将第二氮化硅暴露。本发明通过对背沉积非硅和氮化硅,阻挡刻蚀背的氧化,使得背更加平整,有利于后续多晶硅工艺中对背的保护。
  • 一种改善finfet工艺方法
  • [发明专利]大厚度纳米‑超细‑粗表面梯度的制备方法-CN201710149764.0在审
  • 王艳飞;黄崇湘 - 四川大学
  • 2017-03-14 - 2017-07-07 - C22F3/00
  • 本发明公开了一大厚度纳米‑超细‑粗表面梯度的制备方法,包括以下几个步骤在厚度大于1mm的金属板材上,先用多重速冷搅拌摩擦加工方法获得毫米级厚度的超细和超细‑粗梯度;再用高能球束均匀撞击超细得到大厚度纳米‑超细‑粗表面梯度。本发明所述的一大厚度纳米‑超细‑粗表面梯度的制备方法,所制备表面梯度的结构特征是由表及里依次呈纳米‑变形态超细‑再结晶态超细‑变形态粗‑原始态粗多重梯度连续过渡,整个梯度的厚度达到毫米量级且表面及内部都没有裂纹
  • 一种厚度纳米超细晶表面梯度制备方法
  • [发明专利]LED磊制程-CN201210334114.0有效
  • 林雅雯;黄世晟;凃博闵 - 展晶科技(深圳)有限公司;荣创能源科技股份有限公司
  • 2012-09-12 - 2014-03-26 - H01L33/10
  • LED磊制程,包括以下的步骤:在基板的表面上生长缓冲;在第一温度下,在缓冲的表面生长第一磊;在低于第一温度的第二温度下,在第一磊的表面生长第二磊,从而使第二磊的表面粗糙化;蚀刻第二磊和第一磊,直至将第二磊的粗糙表面复刻至第一磊;在第一磊的粗糙表面沉积一二氧化硅;蚀刻二氧化硅的顶面直至暴露出第一磊,以形成多个凸起;以及在第一磊上依次成长N型磊、发光以及P型磊所述第一磊的粗糙表面以及二氧化硅的凸起可有效对发光所发出的光线进行反射及阻挡,从而提高LED晶粒的出光效率。
  • led磊晶制程
  • [实用新型]改善开路电压的非硅叠太阳能电池-CN201420847119.8有效
  • 李媛;周丽萍 - 杭州天裕光能科技有限公司
  • 2014-12-26 - 2015-04-01 - H01L31/0352
  • 本实用新型公开了一改善开路电压的非硅叠太阳能电池,属于太阳能电池技术领域,是在透明导电玻璃基板上依次沉积顶电池非硅P型、顶电池非硅缓冲、顶电池非硅本征、顶电池微硅N型、底电池非硅P1、底电池非硅P2、底电池非硅P3、底电池非硅缓冲、底电池非硅本征、底电池非硅N型、背电极薄膜和封装材料而成。相对于现有结构,本实用新型增设了底电池非硅P2与底电池非硅P3两薄膜。底电池三P型设计,改善了底电池与顶电池的界面接触,增强了内建电场,使得非硅叠电池的开路电压大大增加,同时提高了非硅叠电池的光电转换效率。
  • 一种改善开路电压非晶硅叠层太阳能电池
  • [发明专利]圆的失效分析方法-CN202010906595.2有效
  • 王君易 - 长江存储科技有限责任公司
  • 2020-09-01 - 2021-09-14 - G01R31/28
  • 本申请实施例公开了一圆的失效分析方法,包括:在所述圆的切割通道中,确定出目标测试区域,所述圆包括叠设的驱动和阵列,所述阵列包括位于所述驱动之上的堆叠和位于所述堆叠背离所述驱动一侧的衬底,所述目标测试区域包括贯穿所述阵列的贯穿触点以及形成于所述驱动内且位于所述贯穿触点下方的测试结构;对所述贯穿触点的表面进行保护处理,得到保护处理后的圆;对所述保护处理后的圆中位于所述阵列中的所述衬底进行刻蚀,得到刻蚀处理后的圆;对所述刻蚀处理后的圆进行失效分析。
  • 一种失效分析方法

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

400-8765-105周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top