专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]测试用例生成方法、装置、电子设备及存储介质-CN202111274803.2在审
  • 王立东;罗秉前 - 北京达佳互联信息技术有限公司
  • 2021-10-29 - 2022-03-01 - G06F11/36
  • 本公开关于一种测试用例生成方法、装置、电子设备及存储介质,该方法包括:获取待处理测试用例模板,待处理测试用例模板包括用例标识、归因链路类型、初始时间戳和时间条件;从待测试的配置参数中获取与归因链路类型对应的时间窗参数;根据初始时间戳和所述时间窗参数,确定满足所述时间条件的目标时间戳上限和目标时间戳下限;根据所述待处理测试用例模板、所述目标时间戳上限和所述目标时间戳下限,生成与所述用例标识对应的时间测试用例。本公开实现了根据待处理待测用例模板和配置参数自动生成对应的时间测试用例,提高了测试用例的生成效率,减少了人为错误,可以提高生成的测试用例的准确性,提高了测试用例生成的灵活性和便捷性。
  • 测试生成方法装置电子设备存储介质
  • [发明专利]一种路由器开关机自动化测试系统及方法-CN201510296621.3有效
  • 李素勤;朱渊 - 上海斐讯数据通信技术有限公司
  • 2015-06-02 - 2018-05-01 - H04L12/26
  • 本发明提供一种路由器开关机自动化测试系统及方法,包括设定上电时间下限、上电时间上限、循环次数、等待时间和间隔时间;控制路由器进行循环反复上电后,再控制路由器上电并持续一定时间;检测路由器的网关是否连接畅通;若否,判断测试失败,若是,在当前上电时间是否小于上电时间上限时,设置上电时间为当前上电时间与间隔时间的和,重复前述测试步骤;在当前上电时间是否大于上电时间上限时,判断测试成功。本发明的路由器开关机自动化测试系统及方法适用于所有SOHO无线路由器产品;能够实现全自动化开关机测试,减少测试人员的工作量,提高测试系统的运行效率;大大提高了测试效率和测试精准度。
  • 一种路由器开关机自动化测试系统方法
  • [实用新型]时间参数校准系统-CN202021934321.6有效
  • 王桥元;赵阳;钟锋浩 - 杭州长川科技股份有限公司
  • 2020-09-07 - 2021-09-14 - G01R31/28
  • 本申请涉及一种时间参数校准系统,用于校准数字测试系统的多个数字测试通道。其中,时间参数校准系统包括:示波器和时间参数校准模块;时间参数校准模块包括多个校准通道,用于通过多个校准通道输出相同波形;多个校准通道经由多条走线与多个数字测试通道一一对应地连接,多条走线中每条走线上设置有测试点;示波器包括第一测试探头和第二测试探头,第一测试探头与多条走线中一条走线上的测试点连接,第二测试探头用于分别与多条走线中每条走线上的测试点连接,以测量校准通道的路径延时信息。通过本申请,解决了由时间参数校准系统校准的数字测试系统的时间参数测试精度低的问题,能够提高数字测试系统的时间参数测试精度。
  • 时间参数校准系统
  • [发明专利]程序测试装置及方法-CN201210375517.X在审
  • 丁如敏 - 腾讯科技(深圳)有限公司
  • 2012-09-29 - 2014-04-09 - G06F11/36
  • 本发明公开了一种程序测试方法,所述方法包括以下步骤:从程序中选择可视控件并根据所述可视控件获取方法属性,以及根据所述方法属性对所述程序进行测试并获取所述程序的测试反应;记录所述程序的测试开始时间测试结束时间;计算所述程序的运行时间,以及判断所述运行时间是否符合预定要求并生成第一判断结果,所述运行时间等于所述测试结束时间与所述测试开始时间的差;在所述第一判断结果为所述运行时间符合所述预定要求时停止对所述程序进行测试本发明还公开了一种程序测试装置。本发明能避免进行不必要的测试,使得针对程序的测试更加有针对性,提高程序的测试效率。
  • 程序测试装置方法
  • [发明专利]一种准分子激光器接口的测试方法及装置-CN202111202435.0在审
  • 张琴;冯泽斌;黄利杰;马天龙;郭宁;张华;王香;梁赛 - 北京科益虹源光电技术有限公司
  • 2021-10-15 - 2023-04-18 - G01M99/00
  • 本发明实施例提供了准分子激光器接口的测试方法及装置,该方法包括:通过预定接口接收测试信号,根据所述测试信号生成触发信号,并输出所述触发信号;根据预定频率检测是否接收到测试设备基于所述触发信号返回的反馈信号,所述反馈信号用于启动测试;若接收到所述反馈信号,确定所述反馈信号的接收时间与所述触发信号的触发时间,并计算所述接收时间与所述触发时间时间差;根据所述时间差,确定所述时间差是否小于预定时间差值,若小于,通过所述预定接口发送测试命令,并根据所述测试命令启动测试设备进行测试。通过本发明,提高了准分子激光器接口测试可靠性,便利性、同时也极大地提高了准分子激光器接口测试测试效率。
  • 一种准分子激光接口测试方法装置
  • [发明专利]一种测试同步方法、装置、设备及存储介质-CN202111537596.5在审
  • 穆建元 - 北京罗克维尔斯科技有限公司
  • 2021-12-15 - 2022-05-13 - G06F11/22
  • 本申请实施例提供一种测试同步方法、装置、设备及存储介质。其中,第一测试终端可向第一处理器以及第二测试终端同步发送至少一个第一测试序列以及至少一个第一测试序列各自对应的时间发布节点;第二测试终端可根据接收到的至少一个第一测试序列各自对应的时间发布节点,对第二测试终端的时间进行更新,并根据更新后的时间以及接收到的至少一个第一测试序列对第二处理器进行测试。通过这种实施方式,可将时间发布节点以及测试序列在第一测试终端和第二测试终端之间同步,使第一测试终端和第二测试终端同步对车载域控制器进行测试,从而提高了测试结果的时间精度。
  • 一种测试同步方法装置设备存储介质
  • [发明专利]加速测试方法、装置、电子设备及存储介质-CN202310355007.4在审
  • 刘元财;张泫舜;陈浩宇 - 深圳市正浩创新科技股份有限公司
  • 2023-03-31 - 2023-07-18 - G01R31/00
  • 本发明实施例提供一种加速测试方法、装置、电子设备及存储介质,所述方法根据参考测试地区在预测历史时间段内各子时间段的温度数据,以及预设加速测试条件、预设测试加速模型,计算各子时间段对应的子加速系数,能够模拟设备在参考测试地区下在各子时间段内的真实老化数据;再根据各子时间段对应的子加速系数,计算预设时间段内对应的测试加速系数,使得测试加速系数更加准确;因此,基于该测试加速系数和预设的使用循环次数,计算得到的测试循环次数,并根据测试循环次数,对待测试设备进行加速测试,其测试结果可以更准确地预测待测试设备在参考测试地区的实际使用结果,由此,提高了加速测试试验测试结果的准确性。
  • 加速测试方法装置电子设备存储介质
  • [发明专利]压力测试流量构造方法及其系统、加压测试方法-CN202211537479.3在审
  • 顾虎;吴学亮;胡永峰 - 平安银行股份有限公司
  • 2022-12-02 - 2023-03-10 - G06F11/36
  • 本申请提供了一种压力测试流量构造方法,用于对银行软件进行压力测试,包括:接收测试时间段,测试时间段包括若干测试日期;根据测试时间段计算参考时间段,参考时间段包括若干参考日期,参考日期与测试日期一一对应;采集银行软件在参考时间段的每一参考日期的流量作为历史流量;构建构造因子;以及根据历史流量和构造因子计算测试日期的目标流量,压力测试流量包括所有测试日期的目标流量。此外,本申请还提供了一种压力测试流量构造系统、计算机设备及加压测试方法。本申请提供的压力测试流量构造方法能够高效地构造出更接近真实的压力测试流量。
  • 压力测试流量构造方法及其系统加压
  • [发明专利]一种测试集群呼叫接续性能的方法-CN200710145831.8无效
  • 荆研;陈朝晖 - 中兴通讯股份有限公司
  • 2007-08-29 - 2008-02-20 - H04M3/22
  • 本发明提供一种测试集群呼叫接续性能的方法,包括下列步骤:步骤A:对集群呼叫的接续时长的测试数据进行采集、统计,得到每次测试的接续时间样本,其中包括本接续时间样本中的测试次数及每次测试的具体时长;步骤B:依照预定的时间间隔将待分析的时间范围划分成多个时间段,并统计各接续时间样本中的各个具体时长分布在各个时间段内的数目,然后计算得到不同测试组的呼叫接续时间落入各个时间段的百分比M;步骤C:将不同测试组在预定的时间范围内分别落入各时间段的百分比M相加,将相加结果进行比较,进而得到对测试集群呼叫接续性能评价。本发明能够提高测试集群呼叫接续性能的准确度。
  • 一种测试集群呼叫接续性能方法
  • [发明专利]测试程序调用方法-CN202310634096.6在审
  • 李晶晶;谢晋春;陈培申 - 上海华虹宏力半导体制造有限公司
  • 2023-05-31 - 2023-08-22 - G06F11/36
  • 本发明提供了一种测试程序调用方法,包括:提供用于测试产品的测试程序,测试程序包括能使用该测试程序的批号以及有效时间;提供待测试产品的批号;判断待测试产品的批号是否为能使用该测试程序的批号;如果是,则判断提供待测试产品时的时间是否在有效时间内;如果是,则调用测试程序对待测试产品进行测试。本发明在对产品测试之前通过对产品批号的检测,检测其是否属于该程序能测试的批号,从而防止了不属于该程序的产品发生误测的情况。在对产品批号的检测之后,继续对此时的自然时间进行判断,若还在测试程序的有效时间内,则可以对产品进行测试,从而防止了已超时间范围的产品的发生误测的情况。
  • 测试程序调用方法
  • [发明专利]一种用于老化测试的方法、装置和设备-CN201711212555.2有效
  • 杨涛 - 英特尔产品(成都)有限公司;英特尔公司
  • 2017-11-28 - 2019-06-07 - G01R31/00
  • 本发明涉及一种用于老化测试的方法、装置和设备,该方法包括:在对电子产品进行老化测试时,在所述老化测试的具有至少一个时间段的第一组时间段中的每一个时间段期间,向所述电子产品的至少一个功能区施加第一组测试电压中的其中一个测试电压;以及,在所述老化测试的具有至少一个时间段的第二组时间段中的每一个时间段期间,向所述至少一个功能区施加第二组测试电压中的其中一个测试电压,其中,在所述老化测试中所述第一组时间段在所述第二组时间段之前,以及,所述第一组测试电压中的测试电压大于所述第二组测试电压中的测试电压。该方法、装置和设备能够在不增大电子产品出现热失控的风险且确保老化测试效果的情况下减少电子产品的老化测试时间
  • 一种用于老化测试方法装置设备
  • [发明专利]一种测试的方法、装置和系统-CN200810242206.X无效
  • 王琳;赵天博 - 华为技术有限公司
  • 2008-12-31 - 2010-07-07 - H04L12/26
  • 本发明提供了一种测试的方法,包括:向媒体服务器发送测试指令;接收来自所述媒体服务器根据所述测试指令传输的携带预先插入时间信息的媒体流;根据所述接收到的媒体流的预先插入时间信息,测试所述携带预先插入时间信息的媒体流本发明还公开一种测试装置,包括:测试指令发送单元,用于向媒体服务器发送测试指令;媒体流接收单元,用于接收来自所述媒体服务器根据所述测试指令传输的携带预先插入时间信息的媒体流;测试单元,用于根据所述接收到的媒体流的预先插入时间信息,测试所述携带预先插入时间信息的媒体流。测试装置利用预先插入时间信息对媒体流进行测试,性能测试结果的准确性较高。
  • 一种测试方法装置系统

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