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[外观设计]数字测试装置（MS7050）-CN201830169458.9有效
发明人：赵坤岭;李全任 -专利权人：上海宏测半导体科技有限公司
申请日： 2018-04-23 - 公布日： 2018-11-30 - 主分类号： 10-05 文献下载
摘要：1．本外观设计产品的名称：数字测试装置（MS7050）。2．本外观设计产品的用途：本外观设计产品用于测试各类数字集成电路的功能、直流参数、管脚特性和交流参数，适合芯片设计公司进行设计验证或封测工厂进行大批量晶圆或成品测试。
外观设计数字测试装置数字集成电路成品测试交流参数设计验证芯片设计整体形状直流参数管脚晶圆测试图片

[外观设计]数字测试装置（MS7050）-CN201730029804.9有效
发明人：李全任;邵凌明 -专利权人：上海宏测半导体科技有限公司
申请日： 2017-01-24 - 公布日： 2017-07-28 - 主分类号： 10-05 文献下载
摘要：1．本外观设计产品的名称数字测试装置（MS7050）。2．本外观设计产品的用途本外观设计产品用于测试各类数字集成电路的功能、直流参数、管脚特性和交流参数，适合芯片设计公司进行设计验证或封测工厂进行大批量晶圆或成品测试。
数字测试装置 ms7050

[发明专利]一种基于MDPCM的集成电路高速数字接口模块-CN201210516087.9有效
发明人：何胜阳;赵雅琴;任广辉 -专利权人：哈尔滨工业大学
申请日： 2012-12-05 - 公布日： 2013-03-27 - 主分类号： H04L27/00 文献下载
摘要：一种基于MDPCM的集成电路高速数字接口模块，涉及一种集成电路高速数字接口模块。是为了在保证高速集成电路芯片接口速率的前提下，降低信道中传输的脉冲的频率与个数，进而达到降低脉冲速率但不减小数据速率的目的。本发明适用于高速数字集成电路中。
一种基于 mdpcm 集成电路高速数字接口模块

[发明专利]一种基于二级倒排表的树状音频特征索引库建立方法-CN201810455198.0在审
发明人：张卫强;袁庆升;刘艺;包秀国;张鸿;汪立东;杜翠兰;刘洋;刘加 -专利权人：国家计算机网络与信息安全管理中心;清华大学
申请日： 2018-05-14 - 公布日： 2018-10-16 - 主分类号： G06F17/30 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于二级倒排表的树状音频特征索引库建立方法，所述音频特征索引库建立方法在数字集成电路芯片中进行以下步骤：步骤1：对音频数据库中的所有特征分段进行粗量化；步骤2：对步骤1中的粗量化残差进行二级粗量化
索引库建立音频特征倒排表量化残差数字集成电路芯片音频数据库矢量量化分段

[实用新型]全集成电路双积分型开方比例积算器-CN87213942.5无效
发明人：郭欣 -专利权人：郭欣
申请日： 1987-10-06 - 公布日： 1989-08-09 - 主分类号： G06G7/12 文献下载
摘要：本实用新型全集成电路双积分型开方比例积算器是采用数字集成电路的双积分型开方比例积算器。有一个可擦可编只读存储器(EPROM)用于8位二进制数字的开平方计算用，有一个D/A转换器和运算放大器配合的双积分型数字/频率转换器(VFC)。
集成电路积分开方比例积算器

[实用新型]基于数字集成电路设计的广告流水灯-CN201220671458.6有效
发明人：文涵灵 -专利权人：成都卓程科技有限公司
申请日： 2012-12-09 - 公布日： 2013-07-10 - 主分类号： H05B37/02 文献下载
摘要：本实用新型公开了基于数字集成电路设计的广告流水灯，包括与数字控制电路相连的LED显示系统，在所述的数字控制电路中设有电源，所述的数字控制电路为由依次相连的时钟脉冲产生电路、计数器以及译码器组成的数字集成模块，所述的时钟脉冲产生电路与电源相连接，而所述的LED显示系统则连接在译码器上。
基于数字集成电路设计广告流水

[发明专利]一种数字集成电路设计中存储模块的重构方法及系统-CN202210099756.0在审
发明人：程振洪;秦信刚;秦泰;熊庭刚 -专利权人：中国船舶重工集团公司第七0九研究所
申请日： 2022-01-27 - 公布日： 2022-05-10 - 主分类号： G06F8/72 文献下载
摘要：本发明提供了一种数字集成电路设计中存储模块的重构方法及系统，该方法提取RTL(寄存器传输级)源码中存储模块的例化参数，然后根据全局参数对例化参数解析，生成满足设计时序要求的前端存储模块库文件。本发明实现了对存储模块的RTL行为级重构，具有准确度高、能快速反复迭代优化的特点，可以提高数字集成电路设计的效率。
一种数字集成电路设计存储模块方法系统

[发明专利]一种数字集成电路测试总线接口-CN201310006983.5有效
发明人：赵明琦;谢朝辉;王德坤;刘海南;黑勇;周玉梅 -专利权人：中国科学院微电子研究所
申请日： 2013-01-08 - 公布日： 2013-04-17 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本发明提供的一种数字集成电路测试总线接口，包括由N个信号单元构成的矩阵，N为不小于30的正整数，N个信号单元中的每个信号单元均包括有呈2×2矩阵均匀分布的四个信号端。因此，本发明可以在一个数字集成电路测试总线接口中设置比现有技术更多的且满足要求的信号端，给使用者带来了方便。
一种数字集成电路测试总线接口

[发明专利]数字集成电路测试系统中采集通道同步性检测方法-CN201811581423.1有效
发明人：杨万渝;戴志坚;韩熙利;尹坤;邓可为 -专利权人：电子科技大学
申请日： 2018-12-24 - 公布日： 2020-10-16 - 主分类号： G01R35/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种数字集成电路测试系统中采集通道同步性检测方法，根据需要选择一个通道作为基准通道，其余作为待检测通道，将数字集成电路测试系统的工作时钟降频后作为校准信号，将校准信号进行延时后发送到基准通道和待检测通道
数字集成电路测试系统采集通道同步检测方法

[发明专利]灵活接口技术-CN97193441.X无效
发明人： B·W·斯特尔曼 -专利权人：哈罗迪雷克特公司
申请日： 1997-03-27 - 公布日： 2003-08-20 - 主分类号： H04M1/00 文献下载
摘要：这是通过使用由全部定制的模拟集成电路与半定制的数字集成电路组成的“灵活接口技术”(SIT)集成电路芯片来完成的。SIT引入三种不同方法，用于“学习”在所有电话站装置中见到的4-线端口模块接口的特性。
灵活接口技术

[实用新型]用锁相环构成倍频电路的数字频率计-CN94217782.7无效
发明人：杨东明 -专利权人：杨东明
申请日： 1994-08-03 - 公布日： 1995-11-22 - 主分类号： G01R23/02 文献下载
摘要：一种用锁相环构成倍频电路的数字频率计，由脉冲取样、整形、倍频、时间控制与计数、锁存、译码、显示及电源电路组成。其中倍频电路由锁相环集成电路与N进计数器电路组成，在锁相环锁定时，可在计数器电路的时钟输入端得到对被测脉冲信号的N倍频输出信号，从而使频率计的测量精度也相应提高N倍，该装置选用通用数字集成电路构成，电路结构简单
用锁相环构成倍频电路数字频率计

[发明专利]一种时钟频率检测电路-CN201510311887.0有效
发明人：何乐年;殷樱;孙可旭;奚剑雄 -专利权人：浙江大学
申请日： 2015-06-09 - 公布日： 2017-09-12 - 主分类号： G01R23/09 文献下载
摘要：本发明公开了一种时钟频率检测电路，由数字电路模块和模拟电路模块组成；数字电路模块由编码电路、时钟分频电路和充放电控制电路组成；模拟电路模块由偏置电流模块、充放电电路、比较器模块和触发器模块组成；档位选择信号进入编码电路，待检测的时钟信号和编码电路输出的编码信号进入时钟分频电路，时钟分频电路的输出信号进入充放电控制电路，充放电控制电路输出的高低频充放电信号进入充放电电路，采样信号分别进入触发器模块；充放电电路三个输出引脚分别连接比较器模块本发明时钟频率检测电路以数字集成电路与模拟集成电路相结合，减小了芯片面积，拓展性强，检测范围广。
一种时钟频率检测电路

[实用新型]一种用于检测Flash芯片与底座接触状态的装置-CN201520255988.6有效
发明人：刘强;金长新;赵素梅 -专利权人：浪潮集团有限公司
申请日： 2015-04-23 - 公布日： 2015-08-12 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种用于检测Flash芯片与底座接触状态的装置，属于数字集成电路领域，本实用新型要解决无法快速检测Flash芯片与Flash底座是否接触不良的问题。技术方案为：其结构包括CPLD芯片、LPC总线、LPC总线接口、SPI总线、SPI总线接口、反馈装置，CPLD芯片上引出有LPC总线与SPI总线，LPC总线、SPI总线分别接有LPC总线接口、SPI总线接口，CPLD芯片连接并驱动反馈装置；反馈装置为LED数码管、指示灯或报警装置其中的一种或几种。
一种用于检测 flash 芯片底座接触状态装置

[实用新型]单片机数字集成电路测试仪-CN93200756.2无效
发明人：朱梅;黄宇星 -专利权人：朱梅;黄宇星
申请日： 1993-01-08 - 公布日： 1994-01-19 - 主分类号： G01R31/318 文献下载
摘要：本实用新型公开一种属于电子测量设备领域的单片机数字集成电路测试仪，它由单片机，程序存储器，测试插座，接口电路及键盘与显示电路组成。本实用新型小巧轻便，易于携带，操作方便，其体积与价格均与一台普通数字万用表相当，可以象万用表一样普及。
单片机数字集成电路测试仪

[发明专利]一种带延迟检测的低功耗寄存器单元电路-CN201610321765.4有效
发明人：贺雅娟;艾国润;史兴荣;刘俐宏;甄少伟;罗萍;张波 -专利权人：电子科技大学
申请日： 2016-05-16 - 公布日： 2018-08-24 - 主分类号： H03K19/003 文献下载
摘要：本发明属于电子电路技术领域，具体的说涉及一种带延迟检测的低功耗寄存器单元电路。本发明主要为基于错误传播的Razor电路设计提供了具有数据转存功能的寄存器单元电路，该电路能完成数据存储，在数据指定窗口跳变的检测和数据转存的功能，数据从输入D到输出端口Q与数据从QS经过三态门到输出端口本发明的有益效果为，相对于传统的基于触发器电路，本发明的寄存器单元电路与基于错误传播的Razor纠错电路相配合，可以在保持电路工作频率不变的情况下，降低供电电压，使电路正常工作。由于数字集成电路的功耗与供电电压成正比，供电电压下降就可以降低电路的功耗，对一般的数字集成电路供电电压可以下降10％以上，功耗降低15％以上。
一种延迟检测功耗寄存器单元电路

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