专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]-CN202221526786.7有效
  • 董荣;黄俊;谢建;胡加林;谢波 - 成都士兰半导体制造有限公司
  • 2022-06-17 - 2022-11-11 - H01L21/683
  • 本实用新型提供了一种,包括基和支撑件;所述基的下表面设置有若干个支撑槽,所述支撑槽内具有第一平面和第一曲面,所述第一曲面指向第一平面的方向与所述基旋转时的转动方向一致;所述支撑件包括若干个与各所述支撑槽一一配合的支撑杆,所述支撑杆具有第一支撑面,所述支撑杆插入所述支撑槽内对所述基形成支撑;所述第一曲面被配置为:所述支撑杆插入所述支撑槽内时,所述第一曲面引导所述支撑杆沿所述基的转动方向滑动使得所述第一支撑面与所述第一平面贴合本实用新型的,保证了支撑件与基连接处的紧密配合,可有效的改善由于支撑件与基连接位置处配合不良导致的基晃动现象。
  • 承片台
  • [发明专利]晶圆测试装置-CN201210545311.7无效
  • 龚虎;张伟;梁锦昌;江耀燕;门洪达 - 深圳市天微电子有限公司
  • 2012-12-14 - 2013-04-03 - G01R1/04
  • 本发明提供一种晶圆测试装置,该晶圆测试装置包括具有探针的针卡、承载晶圆的、固定固定板、固定固定板的固定板安装板及驱动固定板安装板移动的移动机构,固定板为电性绝缘的板材。该晶圆测试装置采用固定板来代替常用的采用3个固定座来承载的方式,由于固定板为电性绝缘的板材,所以其受力会比较均匀。这样就不易出现变形,该晶圆测试装置也就具有测试准确,针卡使用寿命长的优点。
  • 测试装置
  • [实用新型]芯片-CN200820092499.3无效
  • 王云锋;王军胜 - 深圳深爱半导体有限公司
  • 2008-03-04 - 2009-01-28 - H01L21/683
  • 本实用新型公开了一种芯片,该芯片台上设有至少一环形槽,在芯片放在芯片台上后,该芯片边缘在环形槽上。本实用新型设有环形槽使打点器的管芯处在环形槽上,不会碰到芯片的台面上,这样需要新加工的芯片的背面不会被油墨污染,提高了产品质量。其次,因为本实用新型可以设有多个环形槽,可以适应多个芯片的尺寸,增大了芯片的使用范围。
  • 芯片承片台
  • [实用新型]一种半导体芯片测试探针-CN201420329686.4有效
  • 高新华 - 高新华
  • 2014-06-19 - 2014-10-29 - G01R1/067
  • 本实用新型涉及测试设备领域,具体的说是涉及一种半导体芯片测试探针,它包括探针主体、探针和打点器、显微镜组件,所述探针主体包括底座、、探针和打点器安装盘、显微镜支架,移动机构安装在底座上,所述探针主体还包括移动手柄、高度手柄、转动手轮,所述移动手柄安装于底座右边上,并与台上的轴承连接,所述高度手柄、转动手轮设置有底座的左侧,所述高度手柄与的底板连接,通过旋转高度手柄控制的升降,所述转动手轮连接在的左侧轴承上,控制旋转。
  • 一种半导体芯片测试探针
  • [发明专利]一种液体涂覆装置-CN201410223103.4在审
  • 尹宁;卢继奎 - 沈阳芯源微电子设备有限公司
  • 2014-05-23 - 2015-11-25 - B05C5/00
  • 本发明涉及半导体行业晶片处理设备,具体地说是一种液体涂覆装置,包括工作、底板、方形、主轴电机、升降气缸、主轴及液杯,主轴电机、升降气缸及液杯分别安装在工作台上,主轴电机驱动主轴旋转,并且主轴与升降气缸相连、通过升降气缸驱动升降;主轴的顶端依次穿过工作及液杯,与位于液杯内的底板及方形连接,底板及方形由主轴带动同步旋转,且方形升降气缸驱动的主轴带动、可相对于底板升降;被涂覆的方形晶片或圆形晶片被吸附在方形台上,随方形旋转或升降。
  • 一种液体装置
  • [实用新型]晶圆测试用探针-CN202320775388.7有效
  • 孙洪涛;宋悦培;沈月海 - 盛合晶微半导体(江阴)有限公司
  • 2023-04-10 - 2023-10-13 - G01R31/28
  • 本实用新型提供一种晶圆测试用探针,通过设置与晶圆同轴设置的延伸件,且延伸件与晶圆非常接近,当需要进行高温CP测试时,探针的温控单元同时控制晶圆台中的加热结构及延伸件中的加热结构,以对晶圆延伸件供电加热,相当于增大了探针的温针面积,当探针卡,尤其是悬臂式探针卡,测试待测晶圆的边缘部分时,延伸件能有效覆盖探针卡的边缘,解决探针卡的局部失温问题,从而使探针卡的所有区域温度保持一致
  • 测试探针
  • [发明专利]一种-CN200810228372.4无效
  • 王冲 - 沈阳芯源微电子设备有限公司
  • 2008-10-29 - 2010-06-09 - H01L21/683
  • 本发明涉及半导体领域,具体为一种。在半导体工业中,需要旋转加工的时候所使用的,当工艺要求只允许晶片边缘和接触时,可以使用本发明的,保证晶片中心图形区域和不接触,防止因为问题给加工图形造成的损坏。该设有环形、真空吸盘、槽、真空通道和本体,本体顶部设有环形,环形开有可以方便I形机械手进入取送晶片的槽,环形台上表面分布有真空吸盘,本体内开设有与真空吸盘相通的真空通道。本发明只在晶片边缘环形带上进行真空吸附,这种不和晶片的图形区域接触,可靠性高,晶片吸附稳定,不会出现偏移、掉等情况。
  • 一种承片台
  • [发明专利]自动化探针测试-CN202011487298.5在审
  • 吴建锋;阮越;许森;尉理哲;叶芳芳;徐振宇;江俊;王金铭 - 浙江树人学院(浙江树人大学)
  • 2020-12-16 - 2021-03-16 - G01D11/00
  • 自动化探针测试,包括、探针显微镜、CCD摄像头和PC机,底座上固定有Y向直线导轨,支架插套在Y向直线导轨上,Y向电机固定在底座上,Y向电机的转轴上固定有Y向丝杆,支架上固定有Y向螺母,Y向丝杆与Y向螺母螺接在一起;支架上固定有X向直线导轨,支座插套在X向直线导轨上,X向电机固定在支架上,X向电机的转轴上固定有X向丝杆,X向丝杆与支座螺接在一起;它采用步进电机驱动X向和Y移动,还可以转动让物料自动调节到合适的位置,它的探针装置绝缘性好,调节方便。
  • 自动化探针测试

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