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[发明专利]一种利用扫描电镜观察含LPSO相镁合金位错滑移迹线的方法-CN202111170459.2在审
发明人：周小杰;郭子杭;张健;黄伟颖;王俊;杨小东 -专利权人：长沙理工大学
申请日： 2021-10-08 - 公布日： 2022-01-07 - 主分类号： G01Q30/20 文献下载
摘要：本发明公开了一种利用扫描电镜观察含LPSO相镁合金位错滑移迹线的方法，其特征在于，包括以下步骤：1)、将含LPSO相的镁合金加工成片状拉伸试样；2)、将拉伸试样的中部板面进行机械研磨；3)、对研磨后的拉伸试样的中部板面进行电解抛光；4)、对电解抛光后的拉伸试样进行拉伸试验，将拉伸试样拉断；5)、利用扫描电镜观察拉伸试样平行于拉伸方向的板面。
一种利用扫描电镜观察 lpso 镁合金滑移方法

[发明专利]弹簧钢奥氏体晶粒度检测方法-CN202011171150.0有效
发明人：袁桥军;邢耀进;杜江;汪贺模;杨小军;郭泽尧 -专利权人：湖南华菱湘潭钢铁有限公司
申请日： 2020-10-28 - 公布日： 2022-07-26 - 主分类号： G01N23/2202 文献下载
摘要：放入快速流动的水中淬火，以获得完全的马氏体组织；（3）制样：把热处理后的试样中间锯切1~2mm深度的裂口，用稀硫酸溶液侵泡过的棉花包裹在裂口处放置24~30小时后，将试样沿着裂口处敲断造成断口；（4）检测：用扫描电镜观察其断口本发明用断口法制取直接淬火试样后侵氢，制成沿晶断口断面，采用扫描电镜对沿晶形貌进行观察，利用软件和截点法获得晶粒尺寸信息。
弹簧钢奥氏体晶粒检测方法

[实用新型]一种扫描电镜用载样台-CN202120768480.1有效
发明人：皮晓宇 -专利权人：欧波同科技产业有限公司
申请日： 2021-04-15 - 公布日： 2021-12-28 - 主分类号： G01N23/2204 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种扫描电镜用载样台，包括工作箱，所述工作箱的顶部固定连接有外壳，所述外壳内腔的底部通过轴承活动连接有传动杆，所述传动杆的表面固定连接有从动齿轮，所述外壳内腔底部的右侧固定连接有电机，所述电机的输出端固定连接有主动齿轮本实用新型通过工作箱、外壳、传动杆、从动齿轮、电机、主动齿轮、工作台、转盘、壳体、托台、安装槽、电动推杆、夹块和螺纹杆的配合使用，能够有效的解决传统扫描电镜采用的载样台缺乏限位功能，导致观察的稳定性较差的问题，该装置能够方便对样品进行限位，同时达到可升高和调节方位的目的，为观察作业提供更好的操作空间，使用更加方便。
一种扫描电镜用载样台

[实用新型]扫描电镜样品台-CN202220244436.5有效
发明人：赵迎新;任辉 -专利权人：贺利氏光伏科技（上海）有限公司
申请日： 2022-01-27 - 公布日： 2022-09-02 - 主分类号： G01N23/2204 文献下载
摘要：本实用新型提供一种扫描电镜样品台(1)，其包括基座(2)和可拆卸地固定连接到所述基座的样品台本体(3)，所述样品台本体(3)具有用于粘贴样品(S)的贴样部(4)和用于将该样品台本体(3)连接到该基座(2这种扫描电镜样品台可将样品侧向垂直粘贴，观察量更多，粘贴面积更大，效果更稳定，速度更快，可节省大量时间，提高观察效果。
扫描电镜样品

[发明专利]一种扫描电镜原位加热和电学测试装置及方法-CN202211477044.4在审
发明人：彭金兰;周成刚;周典法;王秀霞;彭芳芳 -专利权人：中国科学技术大学
申请日： 2022-11-23 - 公布日： 2023-03-07 - 主分类号： G01N23/2251 文献下载
摘要：本发明提供一种扫描电镜原位加热和电学测试装置及方法，装置包括丁字样品台，原位加热和电学测试芯片，探针卡，导线，含BNC接口的真空法兰，信号源表，插针，固定螺柱；原位加热和电学测试芯片置于丁字样品上；探针卡按压接触原位加热和电学测试芯片上的加热电极和测试电极并引出导线同时固定原位加热和电学测试芯片本发明提供扫描电镜原位加热、电学测试和微结构观察的功能，具备快速升降温、热飘移和电磁干扰低等优势，为微纳米材料性能测试提供平台，为透射电镜样品初步筛选提供实验平台。
一种扫描电镜原位热和电学测试装置方法

[实用新型]可同时观察载网样品和圆柱形样品断面的扫描电镜样品台-CN202222629599.8有效
发明人：陈志民;曹凤阳;汪新凯;邵普;朱昊;刘浩彬;陈永;陈加福;付建伟 -专利权人：郑州大学
申请日： 2022-10-08 - 公布日： 2023-04-07 - 主分类号： H01J37/20 文献下载
摘要：本实用新型属于扫描电镜用样品台技术领域，具体是可同时观察载网样品和圆柱形样品断面的扫描电镜样品台，包括主台、上副台、下副台、紧固螺柱、钢珠、弹簧、调位底座、连接螺柱、压板、U型夹、U型卡管、紧固螺钉，主台和下副台通过连接螺柱连接本实用新型既保证了载网样品固定的稳定性，又能装载不同直径或不同长度的圆柱形样品，扩大了样品台的使用范围，是扫描电镜用样品台方面的创新。
同时观察样品圆柱形断面扫描电镜

[发明专利]一种钨灯丝扫描电子显微镜的检测方法及装置-CN202110653575.3在审
发明人：孙魄 -专利权人：安徽工业大学
申请日： 2021-06-11 - 公布日： 2021-10-26 - 主分类号： G01Q30/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种钨灯丝扫描电子显微镜的检测方法及装置，包括箱体、气密性检测机构、强度检测机构、夹持机构和旋转机构，所述气密性检测机构设置于箱体的顶部，所述强度检测机构设置于箱体内腔的下端，旋转机构设置于箱体的底部本发明通过气泵和输气管构成了气密性检测机构，用于对扫描电镜组件的气密性进行检测的效果，通过气缸、固定杆、限位环、固定架、固定环和敲击锤构成了强度检测机构，用于对扫描电镜组件的气密性和强度进行检测的效果，实现了对扫描电镜组件进行气密性和强度检测的目的，提高了装置的创造性和使用性，增强了使用者的使用体验，解决了目前还未出现对扫描电镜组件进行气密性和强度检测装置的问题。
一种灯丝扫描电子显微镜检测方法装置

[发明专利]一种扫描电子显微镜及其样品微观结构演化的观测方法-CN202310278300.5在审
发明人：李隆玉;张跃飞;张泽 -专利权人：浙江大学
申请日： 2023-03-21 - 公布日： 2023-08-01 - 主分类号： G01N23/2251 文献下载
摘要：本发明公开一种扫描电子显微镜及其样品微观结构演化的观测方法，包括能够观测待处理样品表面微观结构形貌的扫描电镜腔体，扫描电镜腔体上设有可变输出功率的激光辐照机构、用于测试待处理样品表面温度的红外测温仪，激光辐照机构发射的激光光斑聚焦在待处理样品表面上，红外测温仪与激光辐照机构形成反馈调节的电连接，扫描电镜腔体内可移动设有样品台，样品台上设有用于盛放待处理样品的坩埚，样品台的内部穿设有配合激光辐照机构对待处理样品降温的冷却液管路，冷却液管路与坩埚传热接触，其进液端和出液端均伸出扫描电镜腔体并连通有冷却液供给机构，能够更加真实且方便的模拟热处理过程中，对样品的微观结构演化与物相转变的观测和记录。
一种扫描电子显微镜及其样品微观结构演化观测方法

[实用新型]一种扫描电镜样品台-CN200720157306.3无效
发明人：郭红;李正民;冯柳;杜守旭;陈志伟 -专利权人：山东理工大学
申请日： 2007-11-16 - 公布日： 2008-09-24 - 主分类号： G01N13/10 文献下载
摘要：本实用新型提供一种扫描电镜样品台，包括样品座和圆台，其中圆台的底部设有与扫描电镜样品室螺纹连接的螺杆，其顶端中心设有安装样品座的孔，其特征在于：样品座为一组，尺寸大小不一，孔为螺孔，样品座插入孔的端部设有螺纹用于做扫描SEM和能谱EDS时，圆台螺杆与扫描电镜样品室连接为一体，然后根据样品的多少，选择一大小相应的样品座螺纹旋入圆台的孔中固定，最后把样品固定到样品座上，即可进行SEM和EDS的观测；用于做EBSD时，圆台经螺杆与扫描电镜样品室连接为一体，电子背散射衍射专用座插入圆台顶端中心设置的孔中，再将样品座安装到专用座的插孔中固定，最后把样品固定到样品座上，即可对样品进行EBSD检测。
一种扫描电镜样品

[发明专利]一种基于环境扫描电镜的沥青二维形貌测定方法-CN202210027764.4在审
发明人：齐小飞;单丽岩;贾正浩;阳虎;谢紫菀 -专利权人：哈尔滨工业大学
申请日： 2022-01-11 - 公布日： 2022-04-15 - 主分类号： G01B15/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种基于环境扫描电镜的沥青二维形貌测定方法，属于沥青微观结构确定方法技术领域。本发明包括如下步骤：首先制备沥青试样；然后基于环境扫描电镜的一次电子束扫描获取沥青二维形貌图像；最后利用Matlab软件对环境扫描图像进行二值化、降噪及填充处理，提取沥青二维形貌特征参数。本发明规范了基于扫描电镜的沥青二维形貌测试方法，避免电子束对沥青表面形貌造成影响，提高沥青二维形貌图像质量，有助于建立沥青宏微观性能关系，对沥青的评价及改性具有重要意义。
一种基于环境扫描电镜沥青二维形貌测定方法

[发明专利]扫描电镜探测器的成像效果演示装置及方法-CN202011101836.2在审
发明人：张伟;许佳佳;彭璟;邓伟;焦广胜;肖飞;樊申腾;黄险;王红;齐涛;张涛;彭荣 -专利权人：深圳市美信检测技术股份有限公司
申请日： 2020-10-14 - 公布日： 2021-01-05 - 主分类号： G09B23/22 文献下载
摘要：本发明提供一种扫描电镜探测器的成像效果演示装置及方法，属于演示教具技术领域。扫描电镜探测器的成像效果演示装置，包括：第一箱体、第二箱体、第一光源以及第二光源，第一箱体的一侧表面开设有第一通孔，第二箱体通过第一通孔与第一箱体连通设置，第二箱体背离第一箱体的一侧表面开设有第二通孔，第二通孔与第一通孔同轴设置，第一箱体内用于设置对应于第一通孔的演示样品，第一光源设置于第一箱体内，第二光源设置于第二箱体内，第一光源和第二光源分别向演示样品出射光束，用于模拟扫描电镜内不同探测器的成像效果该申请能够对不同位置的扫描电镜探测器的成像效果进行模拟和演示，便于比较分析不同位置的扫描电镜探测器的成像特点。
扫描电镜探测器成像效果演示装置方法

[实用新型]扫描电镜探测器的成像效果演示装置-CN202022290098.2有效
发明人：张伟;许佳佳;彭璟;邓伟;焦广胜;肖飞;樊申腾;黄险;王红;齐涛;张涛;彭荣 -专利权人：深圳市美信检测技术股份有限公司
申请日： 2020-10-14 - 公布日： 2021-07-06 - 主分类号： G09B23/22 文献下载
摘要：本实用新型提供一种扫描电镜探测器的成像效果演示装置，属于演示教具技术领域。扫描电镜探测器的成像效果演示装置，包括：第一箱体、第二箱体、第一光源以及第二光源，第一箱体的一侧表面开设有第一通孔，第二箱体通过第一通孔与第一箱体连通设置，第二箱体背离第一箱体的一侧表面开设有第二通孔，第二通孔与第一通孔同轴设置，第一箱体内用于设置对应于第一通孔的演示样品，第一光源设置于第一箱体内，第二光源设置于第二箱体内，第一光源和第二光源分别向演示样品出射光束，用于模拟扫描电镜内不同探测器的成像效果该申请能够对不同位置的扫描电镜探测器的成像效果进行模拟和演示，便于比较分析不同位置的扫描电镜探测器的成像特点。
扫描电镜探测器成像效果演示装置

[发明专利]一种纳米纤维非织造布分布均匀性观察方法-CN201210430904.9无效
发明人：潘如如;刘基宏;高卫东;王鸿博;张江涛 -专利权人：江南大学
申请日： 2012-10-31 - 公布日： 2013-01-23 - 主分类号： D06H3/00 文献下载
摘要：纳米纤维非织造布分布均匀性观察方法属于新型纺织测试领域。纳米纤维技术发展非常迅速，尤其是静电纺丝技术的发展，使其应用越来越广泛。在扫描电镜图中可以观察到纤维的排布，但缺少更为直观的观察方法，尤其是纳米纤维非织造布之间的比较。为此，本发明提出一种基于时频变换技术的纳米纤维非织造布分布均匀性观察方法。首先通过傅里叶变换将纳米纤维非织造布的扫描电镜图变换到频域，然后在频谱中统计各个角度上频率信号的强度，最后将统计结果绘制在一张标准图表中进行纳米纤维非织造布分布均匀性观察，更为有效的比较纳米纤维非织造布的均匀性
一种纳米纤维织造分布均匀观察方法

[发明专利]一种用于扫描电镜观察背散射电子像的装置和方法-CN202010557381.9在审
发明人：周固;李崧 -专利权人：北京师范大学
申请日： 2020-06-16 - 公布日： 2021-12-17 - 主分类号： G01N23/20025 文献下载
摘要：本发明属于材料微观测试领域，目的在于提供一个使用扫描电镜样品室内己有的E.T.检测器观察背散射电子像的装置和方法。该装置由高角度样品预倾斜放置面和背散射电子反射板组成。与原有的用扫描电镜E.T.检测器接收背散射电子成像的技术相比可以收到样品更多的背散射电子，提高检测效率，得到更好原子序数分辨的背散射电子像。本发明的观察装置具有结构简单，性能可靠，便于操作的特点，可以方便地对各种材料样品进行背散射电子图像观察，还可以记录材料的微观成分相，具有直观的检测特性，便于结合X射线能谱选点和面分布进一步对应分析，为新材料的检测和开发提供可靠的性能参数
一种用于扫描电镜观察散射电子装置方法

[发明专利]一种邦定失效分析方法-CN201610008578.0有效
发明人：况东来;周波;胡梦海 -专利权人：广州兴森快捷电路科技有限公司;深圳市兴森快捷电路科技股份有限公司;广州市兴森电子有限公司
申请日： 2016-01-01 - 公布日： 2019-08-20 - 主分类号： G01N23/00 文献下载
摘要：本发明公开一种邦定失效分析方法，包括如下步骤：S1：使用X‑ray测厚仪测量镀层厚度；S2：用扫描电镜观察表面形貌是否存在异常；S3：若表面形貌异常，则用线扫分析表面是否存在局部无金，若是则判定为表面形貌异常是导致邦定不良的因素之一本发明通过扫描电镜可快速观察经过邦定工艺之后的产品表面是否存在形貌异常，得出邦定不良的真实原因与表面形貌异常的关系，为邦定工艺的进一步改进提供基础。使用本方法，还能观察到产品表面是否存在异常污染，再经过针对性地清洗异常污染之后，检测、对比产品前后的邦定性能，可得知邦定不良的真实原因与异常元素污染的关系，为邦定工艺的进一步改进提供基础。
一种失效分析方法