专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]用于光学测量装置的校正设备及校正方法-CN201510145996.X有效
  • 今泉良一;谷口一郎 - 株式会社三丰
  • 2015-03-30 - 2019-07-23 - G01B11/00
  • 用于光学测量装置的校正设备及校正方法。用于光学测量装置的校正设备为来自光学测量装置的光束的每个扫描位置获得校正数据,所述光学测量装置包括光束扫描部和光接收部,所述光束扫描部用光束扫描放置测量对象物用的测量区域,所述光接收部接收来自所述测量区域的透过光束所述校正设备包括:透光性的刻度尺,其具有以预定节距配置的刻度标记;和支撑台,其构造成以所述刻度标记的配置方向为所述光束的扫描方向的方式将所述刻度尺安装于所述测量区域。
  • 用于光学测量装置校正设备方法
  • [发明专利]基于应答模式的光电扫描测量系统的坐标测量方法-CN202211413266.X在审
  • 杨凌辉;郭安瑞;杨朔;邓睿;邾继贵 - 天津大学
  • 2022-11-11 - 2023-03-03 - G01S17/74
  • 本发明公开了一种基于应答模式的光电扫描测量系统坐标测量方法,包括:应答式发射站在每个测量周期起始时,通过导线传输同步信号到处理器,记录传输时间;应答式发射站向测量空间中发射扫描激光,由中继应答单元捕获扫描光,中继应答单元处理扫描光信号并向空间发射应答激光,由发射站记录应答激光的接收时间tpi;构建应答式发射站几何测量模型,由传输时间接收时间和发射站参数得到扫描光平面的旋转角度本发明获取精确的测量扫描光到达时间,突破了传统测量机制的测量距离受限的问题,可行性好、构建灵活、成本低,可实现测量系统工作距离的有效增长。
  • 基于应答模式光电扫描测量系统坐标测量方法
  • [实用新型]单目可旋转激光扫描测量-CN200420120210.6无效
  • 费斌;佘刚;段宣治;张磊;张超;杨洪涛 - 深圳市鑫磊鐳瑞精密仪器有限公司
  • 2004-12-20 - 2006-03-08 - G01B11/03
  • 本实用新型公开一种单目可旋转激光扫描测量头,其包括测量头本体、测量头座;测量头本体包括测量头外壳、镜头、面阵式CCD、支架、半导体激光发生器;测量头座包括上接头体、下接头体、设于下接头体的固定座,其中:上下接头体间设置一旋转机构,下接头体内也设置一上下旋转机构;与习用相比,本实用新型不仅可以向前移动扫描,而且能够达到向左右旋转扫描、可上下移动扫描的效果;另外,由于在测量头本体内支架上孔槽背面设置一单CCD的结构,从而有效避免因激光扫描测量头外型大而扫描出不完整的数据。
  • 单目可旋转激光扫描测量
  • [发明专利]一种多结构光测量单元在线测量方法及系统-CN202210220284.X在审
  • 唐正宗;张一弛;任茂栋;杨鹏斌 - 新拓三维技术(深圳)有限公司
  • 2022-03-08 - 2022-06-17 - G06T7/00
  • 本发明提供一种多结构光测量单元在线测量方法及系统,方法包括:对多结构光测量单元在线测量系统进行标定得到标定结果,系统包括多个结构光测量单元和旋转载物台;旋转载物台,用于承载待测物体并调整所述待测物体的位置;将待测物体的CAD模型和实际测量的三维模型进行对齐;基于对齐后的所述待测物体的CAD模型,以系统代价函数最小为目标获得最优扫描路径;基于所述扫描路径对所述待测物体进行示教扫描检测并将示教扫描检测过程中的扫描检测参数保存为扫描检测模板;基于扫描检测模板对待测物体进行批量检测,能够快速便捷地获得完整模型数据,实现快速高效的三维测量
  • 一种结构测量单元在线测量方法系统
  • [发明专利]管材测量设备-CN201410081700.8有效
  • 刘大江 - 北京动力源创科技发展有限公司
  • 2014-03-06 - 2014-06-04 - G01B15/02
  • 本发明公开了一种管材测量设备,包括机架和设置于机架上的测量装置,其中,测量装置还包括一用于测量管材的外径信息的激光扫描装置,激光扫描装置包括激光扫描发射装置和激光扫描接收装置,激光扫描发射装置与X射线管设置于第二测量腔的同一端;激光扫描接收装置与X射线图像传感器并列设置用于接收未被待测管材遮挡的激光光线并形成管材的外径信息。本发明通过附加激光扫描装置可以用于测量管材外径,通过附加旋转机构可以直接寻找和测量管材壁厚最薄和最厚处的位置和大小,同时可以解决固定式装置需要两套X射线成像装置所产生的偏心计算误差和成本高的问题。
  • 管材测量设备
  • [实用新型]管材测量设备-CN201420100832.6有效
  • 刘大江 - 北京动力源创科技发展有限公司
  • 2014-03-06 - 2014-08-06 - G01B15/02
  • 本实用新型公开了一种管材测量设备,包括机架和设置于机架上的测量装置,其中,测量装置还包括一用于测量管材的外径信息的激光扫描装置,激光扫描装置包括激光扫描发射装置和激光扫描接收装置,激光扫描发射装置与X射线管设置于第二测量腔的同一端;激光扫描接收装置与X射线图像传感器并列设置用于接收未被待测管材遮挡的激光光线并形成管材的外径信息。本实用新型通过附加激光扫描装置可以用于测量管材外径,通过附加旋转机构可以直接寻找和测量管材壁厚最薄和最厚处的位置和大小,同时可以解决固定式装置需要两套X射线成像装置所产生的偏心计算误差和成本高的问题。
  • 管材测量设备
  • [发明专利]基于超精密回转扫描的大口径非球面测量装置与方法-CN200810137281.X无效
  • 谭久彬;郎治国;刘俭 - 哈尔滨工业大学
  • 2008-10-10 - 2009-03-04 - G01B11/24
  • 基于超精密回转扫描的大口径非球面测量装置与方法属于宏观轮廓测量技术,该装置包括超精密气浮转台、精密转角及测角系统,超精密直线气浮导轨、测长装置和倾斜度测量系统;倾斜度测量系统包括线偏振He-Ne激光器或半导体激光器、衍射元件、扫描头和图像接收单元;线偏振He-Ne激光器或半导体激光器与图像接收单元分别固定于基座横梁的两侧,扫描头固定于超精密直线气浮导轨上;所述扫描头中包括径向倾斜度测量扫描头和切向倾斜度测量扫描头,且均包含误差补偿光路,两个子扫描头所在工作平面正交;本发明还公开了一种基于超精密回转扫描的大口径非球面测量方法。
  • 基于精密回转扫描口径球面测量装置方法

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