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[发明专利]合成孔径激光成像雷达的矩形孔径望远镜天线-CN200910045127.4有效
发明人：刘立人 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2009-01-09 - 公布日： 2009-06-24 - 主分类号： G01S7/481 文献下载
摘要：一种合成孔径激光成像雷达的矩形孔径望远镜天线，其构成依次是物镜瞳孔、物镜、目镜和目镜瞳孔，所述的物镜瞳孔位于所述的物镜的前焦面，所述是目镜瞳孔位于所述的目镜的后焦面，所述的物镜瞳孔、物镜、目镜或目镜瞳孔具有矩形孔径本发明可以产生符合合成孔径激光成像雷达扫描方式的矩形光学足趾，能够消除光学足趾的运动垂直方向上的方位向成像分辨率不均匀和分辨率降低现象，可以设计最佳的矩形孔径的尺度分别控制激光雷达光学足趾在方位向及其垂直方向上的尺度，得到大扫描宽度和高方位向分辨率。
合成孔径激光成像雷达矩形望远镜天线

[实用新型]合成孔径激光成像雷达的矩形孔径望远镜天线-CN200920066703.9无效
发明人：刘立人 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2009-01-09 - 公布日： 2009-10-21 - 主分类号： G01S7/481 文献下载
摘要：一种合成孔径激光成像雷达的矩形孔径望远镜天线，其构成依次是物镜瞳孔、物镜、目镜和目镜瞳孔，所述的物镜瞳孔位于所述的物镜的前焦面，所述是目镜瞳孔位于所述的目镜的后焦面，所述的物镜瞳孔、物镜、目镜或目镜瞳孔具有矩形孔径本实用新型可以产生符合合成孔径激光成像雷达扫描方式的矩形光学足趾，能够消除光学足趾的运动垂直方向上的方位向成像分辨率不均匀和分辨率降低现象，可以设计最佳的矩形孔径的尺度分别控制激光雷达光学足趾在方位向及其垂直方向上的尺度，得到大扫描宽度和高方位向分辨率。
合成孔径激光成像雷达矩形望远镜天线

[发明专利]透镜系统的制造方法，光学扫描机构和光学播放机-CN99800487.1无效
发明人： J·P·巴尔特曼;J·W·阿尔茨 -专利权人：皇家菲利浦电子有限公司
申请日： 1999-04-06 - 公布日： 2003-03-26 - 主分类号： G02B7/105 文献下载
摘要：本发明涉及一种透镜系统的制造方法，该透镜系统用于光学播放机的扫描机构中。通过该透镜系统，光束聚焦到信息载体上的扫描点，以便于扫描机构的扫描。上述透镜系统包括主透镜或物镜，使透镜系统具有较大数值孔径的辅助透镜或固态浸液透镜，故该扫描机构适合于扫描具有高信息密度的信息载体。
透镜系统制造方法光学扫描机构播放机

[发明专利]一种束张角可调的扫描电子束成像系统及电子束控制方法-CN202310873845.0在审
发明人：于文霞;葛子银;王猛 -专利权人：无锡亘芯悦科技有限公司
申请日： 2023-07-14 - 公布日： 2023-09-22 - 主分类号： H01J37/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种束张角可调的扫描电子束成像系统及电子束控制方法，属于扫描电子束成像技术领域。所述系统通过合理设置多级透镜与可移动孔径光阑的位置，一方面实现电子束束流调节以及束张角高度优化控制，使得高斯像，球差，色差，衍射等像差得到优化，从而得到电子束成像系统的最佳分辨率；另一方面各级透镜以及可移动孔径光阑结构和功能相对独立本申请提供的扫描电子束成像系统，能够在保证低能扫描电子束高分辨成像的同时能够满足高能电子束不受浸没式复合物镜工作距离限制，实现最优高分辨成像；而且既可以针对磁性样品进行扫描成像，又可以对非磁性样品进行扫描成像
一种张角可调扫描电子束成像系统控制方法

[发明专利]一种多功能复合型扫描探头-CN202310885880.4在审
发明人：马冬林;赵浩宇;徐智谋;刘晓军 -专利权人：华中科技大学;深圳华中科技大学研究院
申请日： 2023-07-18 - 公布日： 2023-10-24 - 主分类号： G02B26/10 文献下载
摘要：本发明涉及光学显微扫描领域，具体涉及多功能复合型扫描探头。本发明包含探头壳体、第一传输光纤、第二传输光纤、穿孔光纤固定组件、第一固定组件、第一透镜组、第二固定组件、第二透镜组，其中第一透镜组的所述第一数值孔径大于与所述第二透镜组的所述第二数值孔径，第一透镜组的光轴与第二透镜组的光轴存在固定夹角该发明将大数值孔径的可见光探头和小数值孔径的多波长红外探头固定集成，平移或旋转透镜组时不需要二次标定，具有较高的工作效率和较强的系统稳定性。主要用于微结构和微纳光学元件测量。
一种多功能复合型扫描探头

[发明专利]一种页岩微纳米孔隙的扫描电镜孔隙特征定量统计方法-CN202010971365.4有效
发明人：张昊天;金文辉;刘瑞崟;王勃力;曹茜 -专利权人：宜宾学院
申请日： 2020-09-16 - 公布日： 2023-09-15 - 主分类号： G01N23/2251 文献下载
摘要：本发明公开了一种页岩微纳米孔隙的扫描电镜孔隙特征定量统计方法，包括以下步骤：确定多级次放大倍数；绘制各个级次放大倍数下的平均孔径分布曲线；绘制全孔径分布曲线；确定面孔率参数的统计截止值；以统计截止值为界限统计各个级次放大倍数下的平均面孔率本发明利用不同放大倍数扫描电镜照片全孔径分布曲线绘制和不同放大倍数下的面孔率统计，以全孔径分布曲线作为参考值，实现了不同放大倍数下面孔率参数的叠合统计，只需要较少电镜照片的快速统计就可以实现多尺度微纳米孔隙的定量统计
一种页岩纳米孔隙扫描电镜特征定量统计方法

[发明专利]直视合成孔径激光成像雷达反射式电光扫描装置-CN201410161278.7有效
发明人：卢智勇;孙建锋;职亚楠;周煜;许倩;刘立人 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2014-04-22 - 公布日： 2014-07-30 - 主分类号： G01S7/481 文献下载
摘要：一种置于激光光源和发射主镜之间的直视合成孔径激光成像雷达反射式电光扫描装置，其构成包括：半波片、第一偏振分束器、第二偏振分束器、第一法拉第旋光器、第一电光扫描器、第一反射镜、第一柱面镜、第三偏振分束器、第二法拉第旋光器、第二电光扫描器、第二发射镜、第二柱面镜、第四偏振分束器。本发明能够通过反射式电光扫描器产生两倍于透射式的电光线性扫描范围，最终实现两偏振正交光束在远场目标处的抛物等位线波面相位差分布，用于扫描目标，且结构简单，无机械扫描，电光相位调制波面的响应速度快，体积小，重量轻，适合于机载等高速运行搭载平台上的直视合成孔径激光成像雷达的发射系统。
直视合成孔径激光成像雷达反射电光扫描装置

[发明专利]一种光扫描装置和成像装置-CN03121564.5无效
发明人：樫村秀树 -专利权人：富士施乐株式会社
申请日： 2003-03-31 - 公布日： 2004-03-24 - 主分类号： G02B26/10 文献下载
摘要：通过以光阑元件的孔径部分限制激光束沿主扫描方向的宽度的方式，减少激光束在有效扫描区域的外侧在主扫描方向的宽度。因此，抑制闪烁光的产生，并且提高了光量的均匀度。即，采用饱和光学系统的光扫描装置可以抑制由闪烁光而引起的图像质量的降低。
一种扫描装置成像

[发明专利]激光处理系统，载物件和激光处理方法-CN201110084517.X有效
发明人：霍尔格·多默 -专利权人：卡尔蔡司NTS有限责任公司
申请日： 2011-02-17 - 公布日： 2011-11-02 - 主分类号： B23K26/02 文献下载
摘要：本发明涉及一种处理系统，包括：共同基座(53)；载物件(101)，被配置为承载用于检查或处理的物体；提供在所述载物件上的至少一个孔径板，具有至少一个孔径；安装在所述共同基座上的激光装置(15)，被配置为在扫描区域(13)上扫描激光束(17)；输送装置(103)，其被配置为相对于所述共同基座将所述载物件从第一位置位移到第二位置，其中，当所述载物件在所述第一位置时，所述物体和所述至少一个孔径位于所述激光装置的扫描区域内；设置在所述载物件上的至少一个光导，其中所述光导具有出口以及由所述至少一个孔径提供的入口；以及至少一个光检测器(151)，被安装在相对于所述共同基座的固定位置处，并被配置为检测从所述光导的出口出射的光。
激光处理系统物件方法

[发明专利]星载SAR实现扫描地面运动目标指示的方法、装置及系统-CN201510397794.4在审
发明人：郑明洁;齐向阳;王宇;侯丽丽;祁丽娟 -专利权人：中国科学院电子学研究所
申请日： 2015-07-08 - 公布日： 2015-11-18 - 主分类号： G01S13/90 文献下载
摘要：本发明公开了一种星载合成孔径雷达(SAR)实现扫描地面运动目标指示(GMTI)的方法，包括：设计星载SAR实现扫描GMTI的参数；上传携带有所述星载SAR实现扫描GMTI的参数的第一脉冲信号至所述星载SAR；所述星载SAR根据所述星载SAR实现扫描GMTI的参数多次扫描观测区域。本发明还同时公开了一种星载SAR实现扫描GMTI的装置和系统。
星载 sar 实现扫描地面运动目标指示方法装置系统

[发明专利]一种大范围曲面圆孔测量方法-CN202210935692.3在审
发明人：易定容;吴栋梁;袁涛;叶一青;刘奕乐;谢佳豪;林泽金 -专利权人：华侨大学;宁波五维检测科技有限公司
申请日： 2022-08-04 - 公布日： 2022-11-29 - 主分类号： G01B11/12 文献下载
摘要：本发明提供一种大范围曲面圆孔测量方法，确定轴向扫描次数、X向扫描最小次数以及Y向扫描最小次数，采用横向扫描采图外加纵向扫描采图的扫描方法，并采用图像中单位范围内环形分割加环形拼接，多阈值分层式计算直径；测量速度快，测量精度高，可以达到工业快速检测的要求，且测量方法鲁棒性强，可以大批量测出大变化范围孔径。
一种范围曲面圆孔测量方法

[发明专利]共聚焦线检验光学系统-CN201580020492.3有效
发明人：马克·S·王;克里斯·柯克;安德烈·哈里索夫 -专利权人：科磊股份有限公司
申请日： 2015-04-22 - 公布日： 2020-08-11 - 主分类号： G01N21/95 文献下载
摘要：本发明提供一种线扫描晶片检验系统，其包含用于移除旁瓣并增强所述扫描方向上的分辨率的共聚焦狭缝孔径滤波器。与所述狭缝孔径滤波器相关联的位置检测器监测并校正相对于所述狭缝孔径的照明线图像位置以将图像位置变化保持于容许极限内。
聚焦检验光学系统

[发明专利]角度可变的准直器-CN201380043499.8有效
发明人： M.罗梅尔 -专利权人：美国科技工程公司
申请日： 2013-07-02 - 公布日： 2017-05-10 - 主分类号： G21K1/02 文献下载
摘要：不同实施例提供了X射线准直器，其允许独立于孔径材料厚度地形成具有期望尺寸和通量的扫描X射线射束，而不必移动孔径或产生孔径的物理部件。一些实施例提供了X射线准直器，其允许独立于射束角地形成具有期望尺寸和通量的扫描X射线射束。
角度可变准直器

[发明专利]一种基于二维邻域合成孔径聚焦的超声C扫描成像方法-CN201110458080.1有效
发明人：李雄兵;胡宏伟;倪培君;徐向群;杨岳;张维国;张杨 -专利权人：中南大学
申请日： 2011-12-31 - 公布日： 2012-07-04 - 主分类号： G01N29/06 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于二维邻域合成孔径聚焦的超声C扫描成像方法，包括探头声束扩散角的可视化、建立聚焦处理点邻域的数学模型、采集超声A波信号、合成聚焦处理超声A波信号、对缺陷进行超声C扫描成像五个步骤，本发明的技术效果在于，通过以目标点为中心的二维邻域进行聚焦，同时考虑探头的晶片直径、近场长度、声束扩散角来决定合成孔径聚焦处理点的邻域，使扫描结果相比现有的SAFT方法更加精确，有效地抑制声束扩散角对超声无损检测的不利影响，从而提高了超声C扫描成像的精度。
一种基于二维邻域合成孔径聚焦超声扫描成像方法

[实用新型]一种薄层色谱扫描仪检定用标准板-CN201520233619.7有效
发明人：郭毅;孙喜荣 -专利权人：陕西省计量科学研究院
申请日： 2015-04-17 - 公布日： 2015-08-26 - 主分类号： G01N30/90 文献下载
摘要：本实用新型提供一种薄层色谱扫描仪检定用标准板，包括方形薄层板，薄层板上设有六个圆形小孔，六个小孔沿与薄层板长边平行的对称轴线性排列，相邻的小孔的圆心之间的距离相等；六个小孔的孔径依次增大，小孔的孔径为0本实用新型提供的薄层色谱扫描仪检定用标准板通过对其形状、尺寸等各项技术参数进行严格控制，从而使其具有使用简单、量值准确稳定、效率高、携带方便等特点，可以检定薄层色谱扫描仪的测量重复性和测量线性等指标，保证了对薄层色谱扫描仪的仪器性能的全面检定
一种薄层色谱扫描仪检定标准

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