专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]通过式微波信号的提取和测量装置-CN03223814.2无效
  • 徐玉锁;冯汉炯;尹应增;叶荣安 - 徐玉锁
  • 2003-02-24 - 2004-03-10 - G01R27/06
  • 本实用新型公开了一种通过式微波信号的提取和测量装置,要解决的技术问题是对微波的信号进行准确测量,采用以下技术方案:一种通过式微波信号的提取和测量装置,工作于甚高频和超高频频段,包括分贝差驻波比测量电路、微波功率测量电路、微波功分器、微波频率测量电路、微波测试信号提取电路、微波合路器、微波同频相位相消电路、线性检波和放大,测量装置串接于被测设备和天馈系统之间或端接在被测设备的输出端,在微波信号提取电路的端口耦合功率、频率及驻波比测量用的测试信号,能够在线实时的监测大功率发射机的工作状态,在线测量其输出功率、频率和设备与天馈系统间的匹配状态等相关参数,而不影响被测系统。
  • 通过式微信号提取测量装置
  • [发明专利]测量设备-CN200480016575.7无效
  • 多田光男;须藤康成 - 株式会社荏原制作所
  • 2004-06-10 - 2006-07-19 - G01B15/02
  • 本发明涉及一种用于测量形成在诸如半导体晶片等的基片表面上的薄膜厚度等的测量设备测量设备包括用于发射微波到物体的微波发射装置(40)、用于供给微波微波发射装置(40)的微波发生器(45)、用于检测已从物体反射或穿过物体的微波的振幅或相位的检波器(47)、和用于基于所述检波器(47)已检测的微波的振幅或相位来分析物体结构的分析器(48)。
  • 测量设备
  • [实用新型]一种利用微波加热的自动干燥装置-CN202122990153.3有效
  • 李巍;秦泽琪 - 陕西科技大学
  • 2021-11-30 - 2022-05-06 - F26B23/08
  • 一种利用微波加热的自动干燥装置,包括微波屏蔽外壳、位置可调的微波发生装置、温度测量装置、湿度测量装置以及干燥过程自动化控制装置;所述的微波屏蔽外壳提供封闭空间,制品能够置于微波屏蔽外壳的内部,位置可调的微波发生装置在微波屏蔽外壳内部产生微波散射能量,温度测量装置对制品表面温度进行测量,湿度测量装置对微波屏蔽外壳内部空气湿度进行测量;干燥过程自动化控制装置采集温度测量装置和湿度测量装置的数据,并动态调整微波发生装置的微波发射功率、微波发射时长以及空间位置本实用新型有效解决了各类型大中型制品的干燥过程场地占用面积大、干燥过程时间长、干燥程度不易控制等问题,简化了设备成本,提高了干燥效率和质量。
  • 一种利用微波加热自动干燥装置
  • [发明专利]微波设备和方法-CN201080061697.3有效
  • E·麦克利恩;G·比尔 - 恩布莱申有限公司
  • 2010-11-17 - 2012-10-03 - A61B18/18
  • 微波设备包括:微波源,用于提供微波信号,该微波源能够连接到负载;控制装置,在操作中被配置成在频率范围内改变由所述源提供的所述微波信号的频率;微波检测器,用于执行微波测量,该微波检测器在操作中被布置成接收来自所述负载的反射和/或到所述负载的传输,并执行多个测量,每个测量对应于所述频率范围内的多个不同频率中的各自的一个频率;以及用于根据所述多个测量来确定反射的测量和/或传输的测量的装置。
  • 微波设备方法
  • [发明专利]测量载流子的寿命的方法和设备-CN200880106589.6有效
  • 佛雷德里克·阿利伯特;奥列格·科农丘克 - 硅绝缘体技术有限公司
  • 2008-09-08 - 2010-08-11 - G01R31/265
  • 一种测量载流子寿命的设备包括测量探针,所述测量探针包括用于将紫外辐射引导至测量位置的装置。所述测量探针还包括至少一个电极,所述至少一个电极被设置为与所述测量位置成预定空间关系。所述设备还包括:微波源,所述微波源被设置为将微波辐射引导至所述测量位置;微波检测器,所述微波检测器被设置为测量响应于所述紫外辐射在所述测量位置反射的微波辐射的强度的改变;以及半导体结构支架,所述半导体结构支架被设置为容纳半导体结构另外,提供了用于相对于所述测量探针来移动所述半导体结构支架以将所述半导体结构的至少一部分定位在所述测量位置的装置。所述设备还包括电源,所述电源被设置为在所述半导体结构支架与所述电极之间施加偏置电压。
  • 测量载流子寿命方法设备
  • [发明专利]一种微波诱导微观热点处温度的原位测量方法和设备及应用-CN202111253478.1在审
  • 高鑫;赵振宇;李洪 - 天津大学
  • 2021-10-27 - 2022-03-04 - G01K11/20
  • 本发明公开一种微波诱导微观热点处温度的原位测量设备,所述设备包括微波发生器及配套矩形波导、过渡波导、圆筒形微波截留结构、光纤温度计、单模微波腔、紫外灯、荧光光谱仪、石英样品槽和可调节短路活塞,所述单模微波腔的水平一端通过过渡波导与微波发生器及配套矩形波导紧密相连通设置,该单模微波腔的水平另一端通过过渡波导与可调节短路活塞相连接设置。本发明设备不仅可以实现微波场中热点的原位测量,而且测量灵敏度高、测试温度范围广,可以适用于各种体系的微波诱导微观热点的测量,可为微观尺度微波效应的理论研究提供直接而有力的实验验证和支撑,有助于揭示微波加速化学反应、微波强化材料合成、微波强化分离过程的内在机理。
  • 一种微波诱导微观热点温度原位测量方法设备应用
  • [发明专利]用于对设备的管道系统中的沉积物进行识别的方法和装置-CN201780050873.5有效
  • G·瓦特斯;I·亨尼希;S·瓦格勒纳;E·詹妮;H·莱布 - 巴斯夫欧洲公司
  • 2017-08-03 - 2022-08-05 - G01N22/00
  • 提出一种用于对设备的管道系统中的沉积物进行识别的方法,其中该设备由流体流过。该方法以这样的方式将至少一个微波探针引入管道系统中,即流体朝向微波探针的对微波辐射透明的窗口(102)流动,并且微波经由至少一个微波探针耦合到管道系统中,其中使用一个或两个微波探针进行反射测量,和/或将至少两个微波探针彼此相距一定距离地引入管道系统中并进行透射测量,其中使用测量数据与基准或在先测量结果的比较来推断管道系统节段中的收缩部并确定收缩部处的自由横截面,其中从收缩部的识别来推导沉积物的有无。本发明的又一些方面涉及一种用于将微波辐射耦合到设备的管道系统中的微波探针以及用于执行所述方法的测量装置,该测量装置包括至少一个这种类型的微波探针。
  • 用于设备管道系统中的沉积物进行识别方法装置

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