专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种DOS下BMC显存的测试方法及系统-CN202010443689.0有效
  • 郭淑珍 - 苏州浪潮智能科技有限公司
  • 2020-05-22 - 2023-01-06 - G06F11/34
  • 本申请公开了一种DOS下BMC显存的测试方法及系统,该测试方法包括:搭建BMC显存测试环境;设定显存测试的迭代系数以及循环次数记录参数,迭代系数用于描述显存加压测试循环次数,循环次数记录参数用于记录已经执行的显存加压测试的次数;执行一个循环的显存加压测试;利用循环次数记录参数更新循环次数;判断循环次数是否小于迭代系数;如果是,继续执行下一个循环的显存加压测试;如果否,获取测试日志;根据测试日志,确定BMC显存测试结果。该测试系统包括:测试环境搭建模块、参数设置模块、显存加压测试模块、更新模块、日志获取模块和测试结果确定模块。通过本申请,能够提高BMC显存测试效率和测试结果的准确性。
  • 一种dosbmc显存测试方法系统
  • [发明专利]一种电池包循环寿命测试方法-CN201910848657.6在审
  • 孟浩阳;古伟鹏;秦哲;杨昭;张媛媛;陈静;贾明正 - 河南森源重工有限公司
  • 2019-09-09 - 2021-03-09 - G01R31/385
  • 本发明提供了一种电池包循环寿命测试方法,该方法在设定工况下对电池包进行循环寿命测试循环测试X次后,检测电池包的实际容量;在标准工况下对与电池包中的单体电池同一批次的单体电池进行循环寿命测试循环测试X次后,检测单体电池的实际容量;判断循环测试X次后电池包的实际容量是否大于等于循环测试X次后单体电池的实际容量的Y倍:若大于等于,则判定电池包循环寿命测试达标。本发明将电池包的循环寿命测试结果与电池包中单体电池的循环寿命测试结果进行分析比较,以对电池包进行较少次的循环寿命测试便可判定电池包的循环寿命测试结果是否达标,极大的缩短了测试周期,节约了研发成本。
  • 一种电池循环寿命测试方法
  • [实用新型]一种保护电力接线装置-CN201620779688.2有效
  • 杜海湖 - 帕西·西姆公司
  • 2016-07-22 - 2017-11-24 - G01R31/00
  • 控制电路配置成间或地自动进行测试循环,每个测试循环包括确定所述保护组件的操作状态的一系列测试测试循环中的至少一个连续测试配置成测试测试循环中的前一测试测试了的保护组件的至少一部分。控制电路构造成针对一系列测试中的每个测试建立测试结果,每个测试结果存储在测试结果表中。控制电路配置成通过根据预定投票方案评估测试结果表中的测试结果的至少一部分,产生或不产生寿命终止状态。
  • 一种保护电力接线装置
  • [发明专利]一种循环老化测试和数据收集的方法、系统及介质-CN202011437031.5在审
  • 李园园 - 苏州浪潮智能科技有限公司
  • 2020-12-07 - 2021-04-09 - G06F11/22
  • 本发明公开了一种循环老化测试和数据收集的方法,包括部署测试环境;根据老化测试配置信息选择老化测试程序,执行老化测试循环检测老化测试时是否出现异常;若老化测试时未出现异常,则计算测试时间;判断测试结果日志文件或老化测试时是否出现异常;若测试结果日志文件中存在异常关键字,或老化测试时出现异常,则保留当前测试环境;若测试结果日志文件中不存在异常关键字及老化测试时未出现异常,且累计测试时间小于总测试时间,则进入下轮老化测试;进行数据收集;本发明能够针对服务器进行循环老化测试测试数据收集,优化测试自动部署、循环测试和数据交互机制,为服务器测试中的长时间定时循环老化测试需求提供极大的便利性。
  • 一种循环老化测试数据收集方法系统介质
  • [发明专利]通讯设备性能测试方法-CN02144189.8无效
  • 李科锋 - 华为技术有限公司
  • 2002-10-18 - 2004-04-21 - H04B17/00
  • 一种通讯设备性能测试方法,包括如下步骤:在老化测试的同时进行内建成自测试BIST,系统设置有能获取老化信息的控制位,CPU通过控制位检测单板是否处于老化测试状态,根据老化测试状态相应地控制单板进行内建成自测试BIST,内建成自测试BIST采用循环测试,其测试结果保存在相应的存储空间;测试结果的保存采用双备份数据并加上相应的标志位,双备份数据包括循环测试中前两轮的测试结果,标志位则显示取得测试结果时相应的测试状态,测试结果以最新一轮的有效测试结果为准。
  • 通讯设备性能测试方法
  • [发明专利]一种电动汽车动力电池加速循环寿命测试方法-CN202010863389.8有效
  • 丁鹏飞;孙坚;徐红伟 - 中国计量大学
  • 2020-08-25 - 2023-04-07 - G01R31/392
  • 本发明公开了一种电动汽车动力电池加速循环寿命测试方法。设定标准测试转速和加速循环测试转速,循环测试转速大于标准测试转速;启动并设定控制参数,控制电机以循环测试转速的恒定速度运转,不断重复循环充放电,循环充放电过程中实时采集充放电数据和负载数据;当电池容量到达截止容量时,停止测试,关闭;建立电池加速测试模型以及寿命和转速特征关系,对加速测试下采集获得的充放电数据和负载数据进行处理,获得电池寿命测试结果,作为等效于标准测试下进行测试的电池寿命测试结果。本发明弥补了传统的电动汽车电池加速循环测试装置和方法的不足,能够完成对电动汽车实际转速工况下的动力电池寿命的准确又快速的测量。
  • 一种电动汽车动力电池加速循环寿命测试方法

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