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- [发明专利]测试结构-CN202210597526.7在审
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李阳
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华虹半导体(无锡)有限公司
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2022-05-30
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2022-09-20
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H01L23/544
- 本申请公开了一种测试结构,该测试结构形成于晶圆上,该晶圆用于集成半导体器件,该测试结构用于对本层图形的工艺制程进行监控,本层图形包括至少两种关键尺寸不同的本层图形,测试结构位于工程图形区,工程图形区用于形成工程图形,工程图形是不具备功能的图形,测试结构包括至少两种关键尺寸不同的测试图形,不同关键尺寸的测试图形中每种测试图形的关键尺寸与本层图形的关键尺寸相对应。本申请通过在工程图形区形成测试结构,该测试结构的测试图形的关键尺寸与本层图形的关键尺寸相对应,从而能够通过测试结构对本层图形的工艺制程进行监控,而不需要芯片制造完成后通过WAT才能发现工艺的问题,在一定程度上提高了产品的良率
- 测试结构
- [发明专利]工程图纸融膜防腐工艺-CN201711044723.1在审
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张铎;张广富;管青红;张晓
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中国水利水电第四工程局有限公司
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2017-10-31
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2018-03-23
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B32B37/10
- 本发明公开一种工程图纸融膜防腐工艺,包括如下步骤步骤1、准备水平台面,将完成晒图步骤的图纸在水平台面上展平,对图纸上有褶皱的位置用热压的方式抚平,其中,水平台面的尺寸大于图纸的尺寸;步骤2、将画有图形的图纸面向上放置;步骤3、裁出与工程图纸的尺寸一致的热熔胶膜,将热熔胶膜覆盖在工程图纸上,将工程图纸和热熔胶膜之间的气泡排出;步骤4、将字画裱装机通电加热;步骤5、进行热熔胶膜和工程图纸的热合;步骤6、热合完成后,取出工程图纸本发明所述的工程图纸融膜防腐工艺能够有效的延长工程图纸的使用时间,使工程图纸不易损坏;在工程图纸留档储存的过程中,工程图纸不易发霉,返潮。
- 工程图纸防腐工艺
- [发明专利]用于在工程系统中生成工程图的方法和系统-CN202080096498.X在审
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E·安东尼
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西门子股份公司
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2020-12-11
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2022-09-13
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G06F8/10
- 本发明涉及一种用于在工程系统(102、900)中生成工程图的方法和系统。该方法包括接收一个或多个物理组件的规范。此外,该方法包括从数据源获得表示技术设施(106)的部分的第一工程图。该方法进一步包括基于一个或多个物理组件(108A‑N)的规范来标识第一工程图中的一个或多个物理组件、物理连接以及参数值中的偏差。此外,该方法包括基于第一工程图中的一个或多个物理组件(108A‑N)、物理连接以及参数值中的所标识的偏差来生成第一工程图的工程图分析模型。此外,该方法包括基于所生成的工程图分析模型来生成表示技术设施(106)的升级部分的第二工程图。附加地,该方法包括在图形用户接口上输出表示技术设施(106)的升级部分的第二工程图。
- 用于工程系统生成工程图方法
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