专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种用于电力能源的芯片损耗优化方法及系统-CN202211007459.5有效
  • 王嘉诚;张少仲;张栩 - 中诚华隆计算机技术有限公司
  • 2022-08-22 - 2022-11-11 - G06F30/20
  • 本发明提供了一种用于电力能源的芯片损耗优化方法及系统,涉及电力损耗优化技术领域,其方法包括:确定不同工作设备中的每个工作芯片的历史工作模式集合;按照设备功能匹配机制,并结合历史工作模式集合,获取得到同个工作设备中可组合工作芯片的允许工作模型,并对允许工作模型进行损耗分析,确定电能损耗信息;按照多设备联合工作的最小损耗原则并结合多设备对应的电能损耗信息,得到同个允许工作模型中工作芯片的芯片模式调配策略;按照芯片模式调配策略对对应工作芯片进行模式调整,实现最优损耗。可以有效实现对不同工作芯片的模式的策略调配,实现芯片的最优损耗,可以有效保证对电能的合理利用,降低能源浪费的可能性。
  • 一种用于电力能源芯片损耗优化方法系统
  • [发明专利]一种基于人工智能的能源分析方法及系统-CN202211645498.8有效
  • 刘敏 - 睿至科技集团有限公司
  • 2022-12-21 - 2023-05-23 - G06F30/27
  • 所述系统包括能源分析平台和多个能源工作站;所述能源分析方法包括接收各能源工作站上传的能源数据;将能源数据输入预先构建的能源分析模型中,输出能源损耗量;比对输出的能源损耗量与能源系统预先设定的能源损耗标准值,若能源损耗量大于能源损耗标准值,则确定该能源工作站能源损耗超标,派遣专家进行能源损耗修复,若能源损耗量小于能源损耗标准值,则确定该能源工作站能源损耗正常。采用本发明提供的技术方案,能够根据能源工作站上传的数据精确计算出每个工作站的能源损耗量,以此来指导技术人员进行对应工作站的能源耗损修复。
  • 一种基于人工智能能源分析方法系统
  • [发明专利]一种机电设备谐波能耗的分析方法-CN201310418633.X有效
  • 江海 - 珠海派诺科技股份有限公司
  • 2013-09-15 - 2013-12-25 - G01R22/10
  • 本发明提出一种机电设备谐波能耗的分析方法,主要包括以下步骤:设定机电设备的谐波总损耗ETHD由静态谐波损耗Ebase与动态谐波损耗E’两部分组成;获取一个工作周期中N个采样时间段的谐波总损耗ETHD和静态谐波损耗Ebase,计算出动态谐波损耗系数k';通过动态谐波损耗系数计算出动态谐波损耗变化速度L;通过判断所述一个工作周期中k'和L的值,分析机电设备谐波损耗情况,并进行相应处理。本发明可以在一个工作周期中就发现由于设备的老化等造成的新增损耗,进行专项的改善措施,并且评估改善效果,从而使用户减少能源浪费,提升电能传输质量,提高用电效率。
  • 一种机电设备谐波能耗分析方法
  • [发明专利]用于微波炉的控制方法和微波炉-CN201510745277.1在审
  • 张斐娜;孙宁;栾春 - 广东美的厨房电器制造有限公司;美的集团股份有限公司
  • 2015-11-03 - 2016-01-27 - F24C7/08
  • 本发明提出一种用于微波炉的控制方法和微波炉,该用于微波炉的控制方法包括以第一功率开启微波炉进行微波加热;在微波炉进行加热过程中,随机或根据预设规律调整微波炉的工作频率和工作相位,以获取调整后的工作频率和调整后的工作相位;根据调整后的工作频率和调整后的工作相位计算微波炉在第一功率下的回波损耗值;判断回波损耗值是否大于预设损耗阈值,并在大于预设损耗阈值时,获取大于预设损耗阈值的回波损耗值对应的工作频率和工作相位,以获取目标工作频率和目标工作相位;将微波炉的工作功率调节至第二功率,并控制微波炉以目标工作频率和目标工作相位进行微波烹饪。
  • 用于微波炉控制方法
  • [发明专利]平衡半导体光波导中的损耗-CN201880084723.0有效
  • S·法维尔 - 朗美通技术英国有限公司
  • 2018-12-21 - 2023-06-27 - H04B10/67
  • 一种在所需工作波长下均衡光电子器件中的波导段中的光损耗的方法,所述光电子器件包括第一半导体波导段和第二半导体波导段,所述方法包括:确定具有所需工作波长的信号通过所述第一波导段的第一光损耗(1301);确定所述信号通过所述第二波导段的第二光损耗(1302);确定所述第一光损耗和所述第二光损耗之间的损耗差(1303);基于所述损耗差和所述工作波长来确定第一偏压,使得所述损耗差减小(1304);以及将所述偏压施加到所述第一波导段(1305)。
  • 平衡半导体波导中的损耗
  • [发明专利]衰减装置及测试系统-CN202111087359.3有效
  • 陈哲凡;王典;李珊;庄凯杰;黄雪娟 - 加特兰微电子科技(上海)有限公司
  • 2021-09-16 - 2023-08-04 - H01P1/22
  • 该衰减装置包括信号传输通道及至少一个辐射损耗结构,信号传输通道用于对所传输信号的能量进行传输衰减;辐射损耗结构设置于所述信号传输通道中;所述辐射损耗结构具有第一工作状态和第二工作状态;所述辐射损耗结构被配置为:当处于所述第一工作状态时,所述辐射损耗结构用于对所述信号传输通道所传输信号的能量进行辐射衰减;当处于所述第二工作状态时,所述辐射损耗结构用于对所述信号传输通道所传输信号的能量进行传输衰减。上述实施例提供的衰减装置可以通过辐射损耗结构有效地改变衰减装置产生的衰减值,使用简单,成本低廉,并且能够给测试系统带来更大的设计空间。
  • 衰减装置测试系统
  • [发明专利]MOS管的通态损耗获取方法、装置、存储介质以及电子设备-CN202111004817.2在审
  • 廖胜峰;任文 - 广州视源电子科技股份有限公司
  • 2021-08-30 - 2023-03-03 - G06F30/18
  • 本申请实施例提供一种MOS管的通态损耗获取方法、装置、存储介质以及电子设备,方法包括:构建MOS管通态损耗计算模型;MOS管通态损耗计算模型包括MOS管的通态损耗与温度系数、导通电压和导通电流的关系函数,MOS管在各个工作温度下的导通电压和导通电流的关系函数以及MOS管的温度系数函数;获取待测MOS管的工作参数;拓扑电路参数用于指向待测MOS管的导通电流;将待测MOS管的工作参数输入至MOS管通态损耗计算模型,根据拓扑电路参数、待测MOS管的工作温度、以及待测MOS管的工作温度对应的导通电压和导通电流模型、待测MOS管的工作温度对应的温度系数,获得待测MOS管的通态损耗。本申请实施例可使计算出的MOS管的通态损耗更加准确。
  • mos损耗获取方法装置存储介质以及电子设备

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